(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
前記第一電子素子の上方に設けられ、前記第二電子素子の下方に設けられる1つ以上の第三電子素子をさらに備えることを特徴とする請求項1又は2のいずれかに記載の電子装置。
前記ヘッド部は、前記第二電子素子側に突出した第二凸部と、前記第二凸部から前記第二電子素子側に突出した第一凸部とを有していることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の電子装置。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
このような点に鑑み、本発明は、電子素子からの発熱を効率よく放熱できる電子装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明による電子装置は、
基板と、
前記基板に設けられた第一導体層及び第二導体層を有する導体層と、
前記第一導体層に設けられた第一電子素子と、
前記第一電子素子に設けられた第二電子素子と、
前記第二導体層に設けられた基端部と、前記基端部と一体に形成され、前記第二電子素子のおもて面電極に導電性接着剤を介して接続されたヘッド部とを有する接続子と、
を備え、
前記基端部の前記第二導体層に載置される面積が、前記ヘッド部の前記第二電子素子に載置される面積よりも大きくなり、
前記基端部が前記ヘッド部よりも前記基板側に位置付けられ、前記接続子の重心位置が前記接続子の前記基端部側にある。
【0006】
本発明による電子装置において、
前記第一電子素子及び前記第二電子素子はパワー半導体素子であり、
前記第一電子素子の発熱量は前記第二電子素子の発熱量よりも大きくてもよい。
【0007】
本発明による電子装置は、
前記第一電子素子の上方に設けられ、前記第二電子素子の下方に設けられる1つ以上の第三電子素子をさらに備えてもよい。
【0008】
本発明による電子装置において、
前記ヘッド部は、前記第二電子素子側に突出した第二凸部と、前記第二凸部から前記第二電子素子側に突出した第一凸部とを有してもよい。
【0009】
本発明による電子装置において、
前記ヘッド部は、前記第二電子素子側に突出した第二凸部を有し、
前記基端部は支持面を有し、
前記第二凸部の平面形状は長円形であり、
前記支持面の平面形状は矩形であってもよい。
【0010】
本発明による電子装置において、
前記基端部は、支持面と、前記支持面の周縁に設けられた凹部と、を有してもよい。
【0011】
本発明による電子装置において、
前記基端部は、おもて面側に曲がって延びた屈曲部を有し、
前記凹部は、少なくとも前記屈曲部までおもて面側に延びてもよい。
【発明の効果】
【0012】
本発明では、接続子の基端部の第二導体層上に載置される面積が、接続子のヘッド部の第二電子素子上に載置される面積よりも大きくなっている。また、接続子の重心位置が接続子の基端部の上方にあることから、接続子のヘッド部が傾くことを防止できる。これらのことから、第一電子素子又は第二電子素子から出た熱を第二導体層へと安定した状態で効率よく伝達して逃がすことができる。
【0013】
また、前述したように接続子の重心位置が接続子の基端部の上方にあることから、接続子のヘッド部が傾くことを防止でき、その結果、ヘッド部での周縁部の導電性接着剤の厚さが薄くなることによる信頼性の低下を防止できる。
【発明を実施するための形態】
【0015】
実施の形態
《構成》
図1に示すように、本実施の形態の電子装置の一例である半導体装置は、例えば絶縁性材料からなる基板5と、基板5上に設けられ、銅等からなる導体層70と、を有してもよい。基板5の裏面には、銅等からなる放熱板79が設けられてもよい。半導体装置は、封止樹脂等からなる封止部80(
図11参照)と、封止部80内に設けられた電子素子の一例である半導体素子91,92と、を有してもよい。封止部80からは導体層70に接続された端子(図示せず)が外部に突出していてもよい。
【0016】
導体層70は、基板5上に設けられた第一導体層71及び第二導体層72を有してもよい。また、半導体素子91,92は、第一導体層71上に設けられ、第一電子素子の一例である第一半導体素子91と、第一半導体素子91の上方に設けられ、第二電子素子の一例である第二半導体素子92と、を有してもよい。本実施の形態では、電子装置として半導体装置を用い、第一電子素子として第一半導体素子91を用い、第二電子素子として第二半導体素子92を用いた態様を用いて説明するが、これに限られるものではなく、特に半導体である必要はない。
【0017】
図2に示すように、半導体装置は、第二導体層72にはんだ等の導電性接着剤75を介して設けられた基端部45と、基端部45と一体に形成され、第二半導体素子92のおもて面に導電性接着剤75を介して設けられたヘッド部40とを有する接続子50を有してもよい。第一半導体素子91の裏面と第一導体層71及び第二半導体素子92の裏面と第一半導体素子91のおもて面とは、はんだ等の導電性接着剤75を介して接続されてもよい。
【0018】
基端部45の第二導体層72上に載置される面積は、ヘッド部40の第二半導体素子92上に載置される面積よりも大きくなってもよい。一例としては、基端部45の第二導体層72上に載置される面積は後述する支持面46の面積であり、ヘッド部40の第二半導体素子92上に載置される面積は後述する第二凸部42の面積である。基端部45はヘッド部40よりも下方(基板5側)に位置付けられ、接続子50の重心位置が接続子50の基端部45側にあってもよい(
図4及び
図11参照)。なお、
図11に示した半球状の凸部は、シュミレーションした結果、算出された重心の位置を示している。
【0019】
第一半導体素子91はカスコード接続されるスイッチング素子であり、第二半導体素子92は制御素子であってもよい。この場合には、スイッチング素子の発熱量は、制御素子の発熱量よりも大きくなっていてもよい。一例としては、第一半導体素子91は炭化ケイ素パワーデバイス又は窒化ガリウムパワーデバイスであり、第二半導体素子92はMOSFETであってもよい。また、第二半導体素子92は、集積回路、スイッチング素子又は整流素子であってもよい。
図1に示すように、導体層70は第三導体層73を有してもよい。この第三導体層73は、一例として、第二半導体素子92がスイッチング素子の場合に利用されることになる。また、第一半導体素子91及び第二半導体素子92の各々はパワー半導体素子であってもよい。
【0020】
本実施の形態のような接続子50を用いることで、配線抵抗を小さくすることができる。なお、一般的にワイヤはアルミから形成されているが、接続子50は銅を含む材料(銅のみを含む。)で形成することができる。このように銅を含む材料を採用することで、配線抵抗をさらに小さくすることができ、ひいては、スイッチング素子から出されるノイズを低減できる。特に第一半導体素子91がカスコード接続されるスイッチング素子(炭化ケイ素パワーデバイス又は窒化ガリウムパワーデバイス)である場合には、スイッチの切り替え速度が高速となるので、ノイズの影響が大きくなる傾向にある。この点、銅を含む材料からなる接続子50を採用することで、前述したノイズの影響を減らすことができる。また、配線抵抗を小さくできる分、スイッチング素子の切り替え速度を遅くしても電流が流れることになり、この結果からもノイズの発生を低減できる。
【0021】
また、
図7(a)(b)に示すように、半導体素子(電子素子)は3段以上に積み重ねられてもよく、第一半導体素子91の上方に設けられ、第二半導体素子92の下方に設けられる1つ以上の第三半導体素子(第三電子素子)93が設けられてもよい。このように3段以上となった場合には熱がより籠りやすくなる。このため、本実施の形態の接続子50を採用することの技術的意義は大きくなる。
図7(a)では、第三半導体素子93が1つだけ設けられた態様を示しており、
図7(b)では、第三半導体素子93a,93bが2つ設けられた態様を示している。これらに限られることはなく、第三半導体素子は3つ以上設けられてもよい。
【0022】
図3に示すように、ヘッド部40は、第二半導体素子92側に突出する第一凸部41を有してもよい。第一凸部41は、導電性接着剤75に対して沈み込み、第二半導体素子92のおもて面に点で接触してもよい。基端部45は、導体層70に接触する又は導体層70上の導電性接着剤75に設けられる支持面46を有してもよい。
【0023】
ヘッド部40は、
図3に示すように、第一凸部41の他に第二半導体素子92側に突出する第二凸部42を有してもよいし、
図8に示すように、第二凸部42だけを有し第一凸部41を有さなくてもよい。また、
図9に示すように、第一凸部41だけを有し第二凸部42を有さなくてもよい。ヘッド部40が第一凸部41及び第二凸部42を有する場合には、第二凸部42から第二半導体素子92側に第一凸部41が突出することになる。
【0024】
図3に示すように、基端部45は、支持面46の周縁に設けられた凹部47を有してもよい。凹部47は、支持面46の全体を取り囲むように設けられてもよいが、
図3に示すように、支持面46のうち、基端側の3辺を連続的に取り囲むようにして形成されてもよい。また、凹部47は、支持面46を連続的にではなく断続的に取り囲むように形成されてもよい。また、基端部45はおもて面側(
図4の上方側)に曲がって延びた屈曲部48を有してもよい。凹部47は、支持面46からおもて面側に延びた屈曲部48に沿っておもて面側に延びてもよい。このように凹部47が屈曲部48に沿っておもて面側に延びている態様を採用した場合には、屈曲部48に設けられた凹部47に沿って導電性接着剤75を設けることができ、フェレットを形成しやすくなる点で有益である。
【0025】
また、屈曲部48に凹部47の先端(上端)が設けられている場合には、屈曲部48を形成する際に凹部47の形状が潰れてしまうことがある。この点、
図4に示すように、屈曲部48よりも高い位置に凹部47の端部を位置づけることで、屈曲部48を形成する際に凹部47の形状が潰れてしまうことを未然に防止できる。
【0026】
基端部45の幅方向(
図3の上下方向)の中心とヘッド部40の幅方向の中心とを結んだ直線を第一方向(
図3の左右方向)とした場合に、支持面46の第一方向に沿った長さは第二凸部42の第一方向に沿った長さよりも長くなっていてもよい(
図3参照)。一例としては、支持面46の第一方向に沿った長さは第二凸部42の第一方向に沿った長さの2倍〜3倍となってもよい。
【0027】
第一凸部41は、ヘッド部40の幅方向の中心に位置付けられてもよい。
【0028】
第二半導体素子92のおもて面電極のうち、ヘッド部40と接続される第一おもて面電極92aの平面形状は縦長形状となっていてもよく、一例としては長方形となってもよいし、
図10に示すように、第二おもて面電極92bが設けられる部分だけ凹んだ切欠き付き長方形となってもよい。第二おもて面電極92bは、例えば第二半導体素子92がスイッチング素子である場合に利用される。封止部80から外部に出ている制御端子(図示せず)が第三導体層73に接続され、この第三導体層73にワイヤ19(
図1参照)を介して第二おもて面電極92bが接続されてもよい。この制御端子は、第二半導体素子92を制御するために用いられてもよい。
【0029】
図3に示すように、第二凸部42の平面形状は長円形となってもよい。また、支持面46の平面形状は矩形になってもよい。第二半導体素子92のおもて面電極92aの平面形状に合わせて、第二凸部42の平面形状を長方形又は切欠き付き長方形とすることも考えられるが、角を有する形状を採用すると、第二凸部42と第二半導体素子92との間に設けられた導電性接着剤75(
図2参照)にクラックが入る可能性がある。この点、第二凸部42の平面形状を長円形とすることで、第二凸部42と第二半導体素子92との間に設けられた導電性接着剤75にクラックが入ることを未然に防止できる。
【0030】
なお、接続子50が銅を含む材料(銅のみを含む。)からなり、導体層70も銅を含む材料(銅のみを含む。)からなる場合のように、接続子50と導体層70とが同じ材料又は実質同じ材料からなる場合には、接続子50の熱膨張と導体層70の熱膨張との差が小さくなる。このため、支持面46の平面形状が正方形又は長方形のような矩形となる場合でも、接続子50の基端部45と第二導体層72との間に設けられた導電性接着剤75(
図2参照)にクラックは入り難い。また、接続子50のヘッド部40側では第一半導体素子91及び第二半導体素子92が発熱するのに対して、接続子50の基端部45側ではそのような発熱がないことから、その意味でも、接続子50の基端部45と第二導体層72との間に設けられた導電性接着剤75にクラックは入り難い。他方、支持面46の平面形状を矩形とすることで、支持面46の大きさを極力大きくすることができ、より確実に基端部45側に重心を位置づけることができるようになる。この点から、第二凸部42の平面形状を長円形とし、他方、支持面46の平面形状を矩形とする態様を採用することは有益である。
【0031】
第二半導体素子92のおもて面電極92aの平面形状と第一凸部41の平面形状とは対応するようになってもよい。例えば、おもて面電極92aの平面形状が長方形となり、第二凸部42の平面形状が長円形となっている場合には、おもて面電極92aの長方形の短辺L1(
図10参照)が第二凸部42の長円形の短径R1(
図3参照)に対応し、及び/又は、おもて面電極92aの長方形の長辺L2が第二凸部42の長円形の長径R2(
図3参照)に対応してもよい。ここで「対応」するとは、全体の長さの±5%の範囲になっていることを意味し、L1=(1±0.1)×R1となり、L2=(1±0.1)×R2となることを意味している。
図10に示すように第二おもて面電極92bが切欠き付き長方形となっている場合には、おもて面電極92aの切欠き付き長方形の短辺L1が第二凸部42の長円形の短径R1に対応し、おもて面電極92aの切欠き付き長方形の長辺L2は第二凸部42の長円形の長径R2に対応していなくてもよいし、又は、おもて面電極92aの切欠き付き長方形のうち切欠きが設けられていない箇所に対応する長辺が第二凸部42の長円形の長径R2に対応してもよい。なお、本実施の形態における「長円形」には、
図3に示されるように、直線部分と半円形又は円弧とを有する形状も含まれている。
【0032】
《作用・効果》
次に、上述した構成からなる本実施の形態による作用・効果のうち、まだ説明していないものを中心に説明する。
【0033】
本実施の形態において、接続子50の基端部45の第二導体層72上に載置される面積が、接続子50のヘッド部40の第二半導体素子92上に載置される面積よりも大きくなり(
図3参照)、
図4及び
図11に示すように、接続子50の重心位置が接続子50の基端部45の上方にある態様を採用した場合には、接続子50のヘッド部40が傾くことを防止できる。このため、第一半導体素子91及び/又は第二半導体素子92から出た熱を第二導体層72へと安定した状態で効率よく伝達して逃がすことができる。
【0034】
また、
図4及び
図11に示すように、接続子50の重心位置が接続子50の基端部45の上方にある態様を採用することで、接続子50のヘッド部40が傾くことを防止でき、その結果、ヘッド部40での周縁部のはんだ厚が薄くなることによる信頼性の低下を防止できる。
【0035】
本実施の形態のように、2つ以上の半導体素子が積み重ねられ、最も上方に位置する半導体素子(第二半導体素子92)にヘッド部40が載置される態様では、ヘッド部と基端部とが同一又は実質同一の高さに位置する態様と比較して、重心が上方に移動することから、接続子50が不安定になる。この点、本実施の形態のように、基端部45の第二導体層72上に載置される面積を大きくし、接続子50の重心位置が接続子50の基端部45の上方にある態様とすることで、接続子50が不安定になることを極力防止できる。
【0036】
また、第一凸部41を採用することで、第一凸部41が設けられていない箇所に導電性接着剤75を位置付けることができ、信頼性の低下を防止できる。特に接続子50の重さによってヘッド部40が導電性接着剤75に対して沈み込み、第一凸部41と第二半導体素子92のおもて面とが接触する態様においては、第一凸部41の厚み(高さ)を適切な値にすることで、ヘッド部40と第二半導体素子92のおもて面との間に適切な厚みの導電性接着剤75を設けることができる。
【0037】
また、
図3に示すように、ヘッド部40が第二半導体素子92側に突出する第二凸部42を有し、第一凸部41が第二凸部42から第二半導体素子92側に突出する態様を採用した場合には、第一凸部41が設けられていない箇所ではんだ等の導電性接着剤75の厚みを一定程度厚くすることができ、さらに第一凸部41及び第二凸部42が設けられていない箇所で導電性接着剤75の厚みをさらに厚くすることができる。特に接続子50の重さによってヘッド部40が導電性接着剤75に対して沈み込み、第一凸部41と第二半導体素子92のおもて面とが接触する態様においては、第一凸部41及び第二凸部42の厚み(高さ)を適切な値にすることで、ヘッド部40と半導体素子91,92のおもて面との間に適切な厚みの導電性接着剤75を設けることができる。また、第二凸部42の幅を適切な値にすることで、電流経路の幅を確保することができる。
【0038】
基端部45は、支持面46で導体層70に接触するか又は(硬化する前の)導電性接着剤75にバランスよく浮くことができる。支持面46が導体層70に接触する場合には、より確実に、接続子50のバランスが崩れることを防止できる。他方、支持面46が導電性接着剤75に浮いている場合には、導電性接着剤75が固まったときに、基端部45と導体層70とをより確実に接着できるし、導電性接着剤75の厚みを確保できることから、導電性接着剤75にクラックが入ることを防止できる。
【0039】
基端部45が導体層70にはんだ等の導電性接着剤75を介して接続される態様において、基端部45が、
図3に示すように、支持面46と、支持面46の周縁に設けられた凹部47とを有する態様を採用した場合には、凹部47に導電性接着剤75を入れ込むことができ、導電性接着剤75によるフィレット(例えばはんだフェレット)を形成しやすくできる。このため、導電性接着剤75の量が不十分となって、導電性接着剤75が硬化した後で、クラックが入ってしまうことを防止できる。特に支持面46が導体層70に接触するほど接続子50が重い場合には、このような凹部47を設けることで、導電性接着剤75によって基端部45と導体層70とを接着できる点で有益である。また、このような場合には、
図4に示すように、凹部47が屈曲部48に沿っておもて面側に延びている態様を採用することも有益である。この態様を採用することで、より厚みの厚い導電性接着剤75によってフィレットを形成できるためである。
【0040】
また、第二半導体素子92のおもて面に塗布できる導電性接着剤75の量や、第二半導体素子92のおもて面に載置できるヘッド部40の大きさに制約がある。この点、導電性接着剤75と必要な接触面積分だけの(面内方向の)大きさからなる第二凸部42を設けることで、導電性接着剤75との適切な接触面積を確保でき、導電性接着剤75の量を適切なものにすることができる。
【0041】
また、
図3に示すように、第二半導体素子92のおもて面電極92aの平面形状が縦長形状となり、第二凸部42の平面形状が長円形となっている場合であって、おもて面電極92aの長手方向に沿って第二凸部42の長円形の長辺が設けられる場合には、おもて面電極92aと第二凸部42を通過する電流経路の幅を広くすることができる点で有益である。また、第二凸部42の平面形状を長円形とすることで、ヘッド部40が傾く可能性を低減できる。特に、ヘッド部40の幅方向(
図3の上下方向)に沿って長円形の長径が設けられる態様では、ヘッド部40が幅方向で傾く可能性を低減できる点で有益である。
【0042】
第一凸部41がヘッド部40の幅方向(
図3の上下方向)の中心に位置付けられる態様を採用することによっても、ヘッド部40が幅方向で傾くことを防止できる。特に接続子50の重さによってヘッド部40が導電性接着剤75に対して沈み込み、第一凸部41と第二半導体素子92のおもて面とが接触する態様においては、第一凸部41を中心として幅方向でヘッド部40が傾いてしまう可能性がある。この点、本態様を採用することで、幅方向でヘッド部40が傾いてしまう可能性を低減できる。
【0043】
図5及び
図6に示すように、第一凸部41が、その根元側に位置し、縦断面形状が直線となった直線部41aと、直線部41aの先端側に位置し、縦断面形状が半球又は円弧となった半球形状部41bとを有する態様を採用した場合には、半球形状部41bにおける径を小さくことができる。このため、ヘッド部40が導電性接着剤75に沈み込んで第一凸部41が第二半導体素子92のおもて面と接触する場合でも、より小さな面積(点)で第一凸部41と第二半導体素子92のおもて面とを接触させることができる。この結果、ヘッド部40と第二半導体素子92のおもて面との間に位置する導電性接着剤75を増やすことができ、ひいては、硬化した際に導電性接着剤75にクラックが入る等の不具合が発生することを未然に防止できる。
【0044】
図6に示すように、直線部41aとして先端に向かって幅の狭くなったテーパー状となっている態様を採用した場合には、先端側で導電性接着剤75を増やすことができる。このため、第二半導体素子92に近い先端側において、硬化した際に導電性接着剤75にクラックが入る等の不具合が発生することを未然に防止できる。また、先端側に向かって徐々に導電性接着剤75の量を増やすことができるので、第一凸部41の周りに均等かつ確実に導電性接着剤75を位置付けることができる。このため、接続子50の重さによってヘッド部40が導電性接着剤75に対して沈み込み、第一凸部41と半導体素子91,92のおもて面とが接触する態様であっても、ヘッド部40が傾いてしまう可能性を低減できる。なお、
図5に示すように、直線部41aは円柱形状となっていてもよい。
【0045】
最後になったが、上述した実施の形態の記載及び図面の開示は、請求の範囲に記載された発明を説明するための一例に過ぎず、上述した実施の形態の記載又は図面の開示によって請求の範囲に記載された発明が限定されることはない。また、出願当初の請求項の記載はあくまでも一例であり、明細書、図面等の記載に基づき、請求項の記載を適宜変更することもできる。
電子装置は、基板5と、第一導体層71に設けられた第一電子素子91と、前記第一電子素子91に設けられた第二電子素子92と、第二導体層72に設けられた基端部45と、前記第二電子素子92のおもて面電極92aに導電性接着剤75を介して接続されたヘッド部40とを有する接続子50と、を有している。前記基端部45の前記第二導体層72上に載置される面積は、前記ヘッド部40の前記第二電子素子92上に載置される面積よりも大きくなる。前記基端部45は前記ヘッド部40よりも基板5側に位置付けられ、前記接続子50の重心位置が前記接続子50の前記基端部45側にある。