特許 6369864 エックス線検出具及びエックス線検出方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6369864

(24)【登録日】2018年7月20日

(45)【発行日】2018年8月8日

(54)【発明の名称】エックス線検出具及びエックス線検出方法

(51)【国際特許分類】

   G01T 1/10 20060101AFI20180730BHJP

【ＦＩ】

   G01T1/10

【請求項の数】10

【全頁数】22

(21)【出願番号】特願2014-219556(P2014-219556)

(22)【出願日】2014年10月28日

(65)【公開番号】特開2015-111110(P2015-111110A)

(43)【公開日】2015年6月18日

【審査請求日】2017年8月3日

(31)【優先権主張番号】特願2013-223468(P2013-223468)

(32)【優先日】2013年10月28日

(33)【優先権主張国】JP

【新規性喪失の例外の表示】特許法第３０条第２項適用 第１ 刊行物による発表（学会予稿集） （１）発行者名 Ｔｈｅ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｎｕｃｌｅａｒ Ｔｒａｃｋ Ｓｏｃｉｅｔｙ ａｎｄ Ｋｏｂｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ （２）刊行物名 ２６ｔｈ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ ｏｎ Ｎｕｃｌｅａｒ Ｔｒａｃｋｓ ｉｎ Ｓｏｌｉｄｓ ＢＯＯＫ ＯＦ ＡＢＳＴＲＡＣＴＳ ａｎｄ ｐｒｏｇｒａｍ （３）頁数 ｐ．８８ （４）発行年月日 平成２６年８月 第２ 上記第１に伴う学会における発表 （１）学会名 ２６ｔｈ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ ｏｎ Ｎｕｃｌｅａｒ Ｔｒａｃｋｓ ｉｎ Ｓｏｌｉｄｓ （２）主催者名 Ｔｈｅ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｎｕｃｌｅａｒ Ｔｒａｃｋ Ｓｏｃｉｅｔｙ ａｎｄ Ｋｏｂｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ （３）開催日 平成２６年９月１５日

(73)【特許権者】

【識別番号】304020292

【氏名又は名称】国立大学法人徳島大学

(73)【特許権者】

【識別番号】301074388

【氏名又は名称】株式会社 サンルックス

(74)【代理人】

【識別番号】100078721

【弁理士】

【氏名又は名称】石田 喜樹

(74)【代理人】

【識別番号】100124420

【弁理士】

【氏名又は名称】園田 清隆

(72)【発明者】

【氏名】三好 弘一

(72)【発明者】

【氏名】長谷 仁

(72)【発明者】

【氏名】来田 文夫

【審査官】 道祖土 新吾

(56)【参考文献】

【文献】 特表２００６−５１９３８３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０２−２４５６８９（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｔ １／１０

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を基材として形成されている
ことを特徴とするエックス線検出具。

【請求項2】

ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を主成分とする材料に対し、ＵＶ吸収剤を、６００ｐｐｍ以上４０００ｐｐｍ以下で分散させて形成されている
ことを特徴とするエックス線検出具。

【請求項3】

ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を主成分とする材料に対し、蛍光色素、シリカナノ粒子、蛍光色素内包シリカナノ粒子、又はシリカナノカプセルの少なくとも何れかを分散させて形成されている
ことを特徴とするエックス線検出具。

【請求項4】

前記シリカナノカプセルは、金微粒子内包シリカナノカプセル、メチルビオロゲン分子内包シリカナノカプセルの少なくとも一方を含む
ことを特徴とする請求項３に記載のエックス線検出具。

【請求項5】

ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を主成分とする材料に対し、パルミチン酸イソプロピル（ＩＰＰ）を分散させて形成されている
ことを特徴とするエックス線検出具。

【請求項6】

前記ＩＰＰが濃度２７％の希釈液において２．０重量％以上６．０重量％以下で含まれている
ことを特徴とする請求項５に記載のエックス線検出具。

【請求項7】

前記ＰＥＤＣは、アリルジグリコールカーボネート（ＡＤＣ）である
ことを特徴とする請求項１ないし請求項６の何れかに記載のエックス線検出具。

【請求項8】

請求項１ないし請求項７の何れかに記載のエックス線検出具からエックス線照射痕を認識することでエックス線を検出する
ことを特徴とするエックス線検出方法。

【請求項9】

請求項１ないし請求項７の何れかに記載のエックス線検出具に対し、コヒーレント光を照射しながらエックス線照射痕を認識することでエックス線を検出する
ことを特徴とするエックス線検出方法。

【請求項10】

請求項１ないし請求項７の何れかに記載のエックス線検出具に対し、偏光した光を照射しながらエックス線照射痕を認識することでエックス線を検出する
ことを特徴とするエックス線検出方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、エックス線（Ｘ線）の検出具ないし検出方法に関する。

【背景技術】

【0002】

下記特許文献１に示されるような、ルミネセンス固体線量計測法が知られている。
この方法では、中性子、ガンマ線、Ｘ線光子、並びにベータ、アルファ、及び他の電離放射線の線量が決定される。
線量の決定は、放射線を受けたルミネセンス材料の１つ以上の高空間分解能蛍光画像を空間周波数領域分析することによりなされる。
ルミネセンス材料としては、ルミネセンスを呈する任意の材料とされている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特表２０１２−５０７００６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

上記ルミネセンス固体線量計測法では、Ｘ線を身近な材料において低コストに検出することができない。
又、高空間分解能蛍光画像について空間周波数領域分析をすることが必要となり、Ｘ線の検出に手間がかかる。
そこで、本発明の目的は、Ｘ線を低コストで簡単に検出可能な検出具・検出方法を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0005】

請求項１に記載の発明は、エックス線検出具にあって、ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を基材として形成されていることを特徴とするものである。
請求項２に記載の発明は、ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を主成分とする材料に対し、ＵＶ吸収剤を、６００ｐｐｍ以上４０００ｐｐｍ以下で分散させて形成されていることを特徴とするものである。
請求項３に記載の発明は、ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を主成分とする材料に対し、蛍光色素、シリカナノ粒子、蛍光色素内包シリカナノ粒子、又はシリカナノカプセルの少なくとも何れかを分散させて形成されていることを特徴とするものである。
請求項４に記載の発明は、上記発明において、前記シリカナノカプセルは、金微粒子内包シリカナノカプセル、メチルビオロゲン分子内包シリカナノカプセルの少なくとも一方を含むことを特徴とするものである。
請求項５に記載の発明は、ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を主成分とする材料に対し、パルミチン酸イソプロピル（ＩＰＰ）を分散させて形成されていることを特徴とするものである。
請求項６に記載の発明は、上記発明において、前記ＩＰＰが濃度２７％の希釈液において２．０重量％以上６．０重量％以下で含まれていることを特徴とする。ここで、濃度２７％の希釈液とは、ＰＥＤＣのモノマーに対してＩＰＰを２７重量％の濃度で含んでいるものである。又、２．０重量％以上６．０重量％以下で含まれるとは、濃度２７％の希釈液が全体に対して２．０重量％以上６．０重量％以下の濃度で含まれることを言い、全体に対するＩＰＰの濃度を特定する趣旨であって、全体に対する濃度が同じ範囲であれば、２７％以外の濃度の希釈液を用いても良いものである。
請求項７に記載の発明は、前記ＰＥＤＣがアリルジグリコールカーボネート（ＡＤＣ）であることを特徴とするものである。

【0006】

請求項８に記載の発明は、エックス線検出方法にあって、上記のエックス線検出具からエックス線照射痕を認識することでエックス線を検出することを特徴とするものである。
請求項９に記載の発明は、上記のエックス線検出具に対し、コヒーレント光を照射しながらエックス線照射痕を認識することでエックス線を検出することを特徴とするものである。
請求項１０に記載の発明は、上記のエックス線検出具に対し、エックス線検出具に対し、偏光した光を照射しながらエックス線照射痕を認識することでエックス線を検出することを特徴とするものである。

【発明の効果】

【0007】

本発明では、ＰＥＤＣ（ＡＤＣ）を用いることで、Ｘ線を低コストで簡単に検出可能な検出具・検出方法を提供することができる、という効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】実施例１−１，１−２に係るスキャナ取り込み画像である。

【図2】実施例１−１，１−２に係る（ａ）５５５ｎｍ，（ｂ）４８８ｎｍ，（ｃ）６４７ｎｍでレーザー励起しつつフルオロアナライザーで取得した画像である。

【図3】実施例２−１，２−２に係る４８８ｎｍでレーザー励起した画像である。

【図4】実施例２−２に係る図３の画像中の横長着色部分を長手方向に沿って通る線分上の位置と濃度（黒の濃さ）の関係を示すグラフである。

【図5】実施例２−３〜２−５に係る検出具のフルオロアナライザー画像を並べたものである。

【図6】実施例２−６〜２−９に係る検出具のフルオロアナライザー画像を並べたものである。

【図7】実施例２−６に係る図６における上下の線（全ての黒色部分のほぼ中央を通る１本の直線）における黒色の濃さを示すグラフである。

【図8】実施例３−１〜３−４に係るフルオロアナライザー画像を順に左から右へ並べたものである。

【図9】実施例３−１〜３−４に係る蛍光発光の各強度変化量を示すグラフである。

【図10】実施例４に係る横長黒色部分における蛍光のスペクトル（分光相対発光強度）を示すグラフである。

【図11】実施例５−１〜５−１０に係る検出具のフルオロアナライザー画像を並べたものである。

【図12】図１１を画像解析ソフトウェアに取り込んで、黒色部分の中央を直交する線分上の濃度に関する画素値の変化を互いに比較したグラフである。

【図13】実施例５−１１〜５−１８に係る検出具のフルオロアナライザー画像を並べたものである。

【図14】図１３についてコントラスト調整を施した後の画像である。

【図15】図１４を画像解析ソフトウェアに取り込んで、黒色部分の中央を直交する線分上の発光強度変化を互いに比較したグラフである。

【図16】実施例５−２１〜５−２８に係る検出具のフルオロアナライザー画像を並べたものである。

【図17】図１６を画像解析ソフトウェアに取り込んで、黒色部分の中央を直交する線分上の発光強度変化を互いに比較したグラフである。

【図18】実施例５−２１〜５−２８に係るＩＰＰの重量％と強度変化の関係を示すグラフである。

【図19】実施例５−３１〜５−３８，５−４１〜５−４６，５−５１〜５−５８に係る検出具のフルオロアナライザー画像を並べたものである。

【図20】図１９を画像解析ソフトウェアに取り込んで、黒色部分の中央を直交する線分上の発光強度変化を互いに比較したグラフである。

【図21】実施例６に係るＸ線検出具観測装置の模式図である。

【図22】（ａ）は実施例７−１〜７−３に係る照射直後の蛍光強度を１００％とした場合の規格化した蛍光強度に係る時間変化を示すグラフであり、（ｂ）は実施例７−１〜７−３に係る蛍光強度の相対的な度合に係る時間変化を示すグラフである。

【図23】（ａ）は実施例７−１〜７−９に係る照射直後の蛍光強度を１００％とした場合の規格化した蛍光強度に係る時間変化を示すグラフであり、（ｂ）は実施例７−１〜７−９に係る蛍光強度の相対的な度合に係る時間変化を示すグラフである。

【図24】（ａ）は実施例７−１０〜７−１４に係る照射直後の蛍光強度を１００％とした場合の規格化した蛍光強度に係る時間変化を示すグラフであり、（ｂ）は実施例７−１０〜７−１４に係る蛍光強度の相対的な度合に係る時間変化を示すグラフである。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、本発明に係る実施の形態の例につき説明する。なお、本発明の形態は、これらの例に限定されない。

【0010】

本発明では、合成樹脂であるポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート（ＰＥＤＣ）を用い、好適にはその一例であるアリルジグリコールカーボネート（ＡＤＣ，慣用名ＣＲ−３９）を用いる。
この材料を用いて例えば板状のＸ線検出具を形成し、当該検出具を、Ｘ線が到達し得る箇所（Ｘ線を検出したい箇所，Ｘ線の到達の有無や線量を調べたい箇所）に置く。又、この材料を用いて眼鏡を作製し、Ｘ線が到達し得る箇所で装用して、眼鏡に対するＸ線の到達の有無や線量を調べることができる。

【0011】

当該検出具は、Ｘ線を受けると、微視的な変化を生ずる。
この微視的な変化は、Ｘ線照射により、照射を受けた部分において電子やホールが生成することで生ずるものと考えられる。又、電子やホールの生成状況（個数や分布等）は、照射されたＸ線の強度や線量により変わるものと考えられ、（検出具の肉厚や重合態様や添加物の有無ないし種類等の特性に合わせ）所定線量以上のＸ線を受けると、自然光や室内照明光等の通常の環境下において肉眼でも目視することが可能となる。

【0012】

又、Ｘ線を受けた上記検出具に対し、所定の波長（例えば４８８ｎｍ（ナノメートル），５５５ｎｍ，又は６４７ｎｍ）の光を照射すると、上記検出具は、Ｘ線を（所定線量以上）受けた部分のみにおいて蛍光を発せず、あるいはＸ線を（所定線量未満しか）受けなかった部分において生じた蛍光の態様と異なる態様で、Ｘ線を（所定線量以上）受けた部分において蛍光を生じる。この場合の光は、コヒーレント光であり、例えばレーザー光である。
加えて、受けたＸ線の線量（域）により、蛍光の態様が更に変わることもある。例えば、受けた線量が多い程、蛍光の明度が低くなる（蛍光が暗くなる）。線量と明度（蛍光態様）の関係は、比例関係、二次関数の関係、指数関数の関係等、種々の関数の関係が有り得、検出具（の素材）毎に様々な線量における明度（蛍光態様）変化を予め取得しておくことで把握できる。
従って、上記検出具に所定波長の光を照射した場合の、検出具における蛍光の態様を見れば、Ｘ線を受けたか否かが分かり、Ｘ線を検出することができる。又、Ｘ線の線量（域）により蛍光の態様が変わる場合、Ｘ線の線量（域）を検出することができる。

【0013】

上記検出具には、蛍光によるＸ線照射の検出をより行い易くする等の目的で、各種の染料を始めとする添加物を混入することができる。
添加物の例として、ローダミンＢを始めとするローダミン類並びにフルオレセイン類等の蛍光色素、二酸化シリコン（シリカ，ＳｉＯ_２）、ヨウ素、紫外線（ＵＶ）吸収剤が挙げられる。ＵＶ吸収剤の例として、ハリマ化成株式会社製Ｕ１０１が挙げられる。シリカは、好適には、溶媒に分散した状態で適用され、より好適には、粒径の平均が１０００ナノメートル未満である粉状のもの（シリカナノ粒子）である。
又、添加物を分散させる目的で、上記検出具の成形時等に分散剤を加えることができる。分散剤の例として、エタノールを始めとするアルコールや水分散が挙げられる。

【0014】

更に、上記検出具に対し、コヒーレント光に代えて、偏光（された所定色の光）を当てても、Ｘ線を（所定線量以上）受けた部分のみにおいて偏光を透過せず、あるいはＸ線を（所定線量未満しか）受けなかった部分において生じた透過の態様と異なる態様で、Ｘ線を（所定線量以上）受けた部分において偏光を透過することとなる。
線量と偏光透過状態との関係についても、コヒーレント光の場合と同様である。

【実施例1】

【0015】

次に、本発明に係る各種の実施例を適宜図面に基づいて示す。但し、これらの実施例は、本発明の範囲を限定するものではない。

【0016】

実施例１において、次に示すＡＤＣ樹脂（ＡＤＣ，慣用名ＣＲ−３９）を主成分とする材料（ＡＤＣ基材）からＸ線検出具（検出具）を２つ形成した。ＡＤＣを主成分とするとは、例えば材料全体におけるＡＤＣの割合（体積及び／又は重量）が最も大きいこと（ＡＤＣのみを材料とする場合を適宜含む）を指す。尚、検出具は、何れも厚さ１ミリメートル（ｍｍ）の扇形状の平板とした。
１つは、材料としてシリカナノ粒子分散液（ＳｉＯ_２，１グラム（ｇ））を含有するＡＤＣ（シリカを含めない重量９ｇ）を用いたものであり（実施例１−１）、もう１つは、材料としてローダミンＢ（約１ミリモル（ｍｍｏｌ）のローダミン溶液で１ｇ，溶媒はアルコール）と等モルのヨウ素溶液（１ｇ，両者併せて２ｇ）を含有するＡＤＣ（１１ｇ）を用いたものである（実施例１−２）。
実施例１−１におけるシリカや、実施例１−２におけるローダミンは、ＡＤＣ中において分散している。

【0017】

実施例１−１，１−２のそれぞれに対し、管電圧３０キロボルト（ｋＶ），管電流１５ミリアンペア（ｍＡ）のＸ線を照射した。Ｘ線は、スリットから射出され、実施例１−１，１−２の各中央部分に当たるようにした。Ｘ線の照射時間は、実施例１−１で１時間、実施例１−２で２時間とした。実施例１−１が受けるＸ線の線量は、約４８〜９６グレイ（Ｇｙ）である。
その後、室内において目視で実施例１−１，１−２を観察したところ、何れもＸ線の照射前と変わらず一様に透明であることが見て取れた。又、図１に示すように、可視光を検知するスキャナで実施例１−１，１−２をスキャンしても、一様に透明であった。尚、図１につき実施例１−１，１−２の扇形の中心角を上にして見た場合の、左の検出具が実施例１−１であり、右の検出具が実施例１−２である。
そして、実施例１−１，１−２を、４８８，５５５，６４７ｎｍの各レーザー光で順に照射して、発生した蛍光の様子を観察した。
より具体的には、フルオロアナライザーに実施例１−１，１−２を並べてセットし、特定波長のレーザー光で実施例１−１，１−２を励起しながら画像を記録した。

【0018】

図２はその画像を示すものであって、図２（ａ）は５５５ｎｍでレーザー励起した場合であり、図２（ｂ）は４８８ｎｍでレーザー励起した場合であり、図２（ｃ）は６４７ｎｍでレーザー励起した場合である。何れにおいても、実施例１−１が左で、実施例１−２が右である。
５５５ｎｍの場合、実施例１−１では、中央部分に横長の長方形状の蛍光発光部分（白色）が生じている。この発光部分の周りは、透明になっている。一方、実施例１−２では、全体が一様に濃い赤色で発光している。この発光は、ローダミンヨウ素が励起されて蛍光を生じていることによるものである。よって、実施例１−１に対し５５５ｎｍでレーザー励起させて白色の蛍光を発生するか否かを見れば、Ｘ線の有無が分かり、Ｘ線の検出が可能となる。
４８８ｎｍの場合、実施例１−１では、中央部分に横長の長方形状の蛍光発光部分（濃淡のある白色）が生じている。この発光部分の周りは、透明になっている。又、発光部分中の中央部は濃い白色となっており、両側部は（中央部に比べ）薄い白色となっていて、脇に行くほど（中央部から離れるほど）濃度が薄くなるような状態（端へ行くほど薄くなるグラデーションの状態）となっている。よって、実施例１−１に対し４８８ｎｍでレーザー励起させて白色の蛍光を発生するか否かを見れば、Ｘ線の有無が分かり、Ｘ線の検出が可能となるし、白色蛍光発光の濃淡を見れば、Ｘ線の強弱の検出が可能となる。一方、実施例１−２では、ローダミンヨウ素の励起により全体が一様に濃い赤色で発光している。
６４７ｎｍの場合、実施例１−１では、Ｘ線照射部分か非照射部分かにかかわらず、画像が全体として透明となった。一方、実施例１−２では、中央部分以外が白色に発光する中で中央部分に透明な（殆ど発光していない）横長長方形部分を生じている。よって、実施例１−２に対し６４７ｎｍでレーザー励起させて白色の蛍光中に透明部分が発生するか否かを見れば、Ｘ線の有無が分かり、Ｘ線の検出が可能となる。

【実施例2】

【0019】

実施例２において、厚さを２ｍｍとし又エタノールを１ｇ加えシリカを１ｇ加えたことを除き、実施例１−１と同様に形成した検出具（総重量９ｇ）に対し、実施例１と同様のＸ線を４時間照射した（実施例２−１）。又、シリカを１ｇとしたことを除き、実施例１−１と同様に形成した検出具（１．５ｇ）に対し、実施例１と同様のＸ線を４時間照射した（実施例２−２）。
そして、実施例１と同様に、４８８ｎｍのレーザー光により励起しつつフルオロアナライザーで画像を取得した。

【0020】

図３はその画像を示すものである。
実施例２−１（図中左）では、検出具の厚さの増加によりシリカが比較的に不均一に分散しており、結果波長４８８ｎｍの光がシリカにより散乱されて、全体に亘り黒色のスポットが散らばっている。そして、中央部分に、実施例１−１と同様、濃淡のある黒色蛍光発光部分が生じている。
一方、実施例２−２（図中右）では、スポット群は発生しておらず、中央部分に、実施例１−１と同様、濃淡のある黒色蛍光発光部分が生じている。
そして、実施例２−２の画像における蛍光発光部分の濃度について、画像処理ソフトウェアを用い、相対的な濃淡の度合を解析した。
その結果を図４に示す。図４は、横長長方形状の蛍光発光部分の横長中心線上の位置（横軸）と相対的な濃さ（縦軸，上に行くほど濃く下に行くほど薄い）の関係を示すグラフである。
図４によれば、蛍光発光部分の中央に行くほど濃い蛍光発光が起こっていることが分かる。これは、Ｘ線の照射強度、即ちスリットを直線的に通過して検出具に当たる箇所に強く当たり、スリットと検出具を結ぶ直線から横方向に外れるに従い徐々に強度が低下する状態で回折したＸ線が検出具に当たる状況によく対応している。
従って、特に実施例２−１では、Ｘ線の照射状況、即ち照射履歴を記録することができると言える。

【0021】

又、実施例２において、上述と同様のローダミン溶液（０．５ｇ）とヨウ素溶液（０．５ｇ，両者併せて１ｇ）を投入し、脱気・薄色のもとで形成したＡＤＣ（１１ｇ）に対し、実施例２−１と同様にＸ線を照射した後、各種の照射波長（励起波長）における光をそれぞれ照射して、実施例１と同様に画像を得た（実施例２−３）。
更に、ローダミン溶液とヨウ素溶液の代わりにフルオレセイン溶液（１ｇ，溶媒や濃度はローダミン溶液と同様）としたことを除き実施例２−３と同様に成る実施例２−４を用意した（１１ｇ）。
加えて、ローダミン溶液とヨウ素溶液に代えてローダミン溶液のみ（１ｇ）としたことを除き実施例２−３と同様に成る実施例２−５を用意した（１１ｇ）。

【0022】

図５は、実施例２−３〜２−５に係る検出具のフルオロアナライザー画像を４行３列に並べたものである。
上から１行目は、画像取得時に波長４８８ｎｍのレーザー光を照射したものであり、２行目は、波長５５５ｎｍの光を照射したものであり、３行目は、波長６４７ｎｍの光を照射したものであり、４行目は、フルオレセイン励起光を照射したものである。
又、左の列は、実施例２−３に係る画像であり、中の列は、実施例２−４に係る画像であり、右の列は、実施例２−５に係る画像である。

【0023】

波長６４７ｎｍの光（３行目）では、実施例２−３〜２−５の何れも検出具が蛍光発光していない。
波長５５５ｎｍの光（２行目）では、実施例２−４がさほど蛍光発光していないが、実施例２−３，２−５においては全体的に蛍光発光しており、更に中央部分において横長の蛍光発光強度低下部が発生している。波長５５５ｎｍの光は、ローダミンが発光する波長に近いので、ローダミン入りの実施例２−３，２−５の検出具が全体的に発光し、更に中央部分に対するＸ線の照射により、ローダミンの蛍光発光が妨げられて強度低下部を生じたと考えられる。
波長４８８ｎｍの光（１行目）やフルオレセイン励起光（４行目）では、実施例２−３において同様に蛍光発光強度低下部が発生し、Ｘ線の照射を把握することができる。又、実施例２−５において、全体的な発光強度が弱く、更に強度が弱いものの強度低下部を生じており、実施例２−３と比較すると濃淡差が小さい（感度が低い）ものの、Ｘ線の照射を検知することができる。更に、実施例２−４においても、実施例２−３と同様にＸ線の照射を検知することができる。

【0024】

更に、実施例２において、シリカ粒子分散液（１ｇ，濃度や溶媒は上述と同様）を投入したＡＤＣ（総重量１１ｇ）に対し、照射時間を様々（４種）として異なる部位にそれぞれ照射したことを除き実施例２−１と同様にＸ線を照射した後、４種の照射波長における光を照射して、実施例１と同様に４種の画像を得た（照射波長別に実施例２−６〜２−９）。

【0025】

図６は、実施例２−６〜２−９に係る検出具のフルオロアナライザー画像を並べたものである。
図における左上が、画像取得時に波長４８８ｎｍのレーザー光を照射したものであり（実施例２−６）、右上が、波長５３２ｎｍの光を照射したものであり（実施例２−７）、左下が、波長５５５ｎｍの光を照射したものであり（実施例２−８）、右下が、波長６４７ｎｍの光を照射したものである（実施例２−９）。励起光照射時（画像取得時）の検出具は、実施例２−６〜２−９において共通である。

【0026】

実施例２−６（波長４８８ｎｍ）の場合、検出具において全体的に蛍光発光する中で４個の横長黒色部分（蛍光により全く発光しないか又は僅かにしか発光しない部分）が出ている。各黒色部分は、Ｘ線の照射部位と対応する。
又、４個の黒色部分は、図における上から下へ並んでおり、上の黒色部分ほど濃くなっている。最も上の黒色部分は照射時間が６０分であるＸ線照射部位と対応し、そのすぐ下の黒色部分は照射時間が３０分であるＸ線照射部位と対応し、更にそのすぐ下の黒色部分は照射時間が２０分であるＸ線照射部位と対応し、最も下の黒色部分は照射時間が１０分であるＸ線照射部位と対応する。
実施例２−７（波長５３２ｎｍ）の場合も、波長４８８ｎｍの場合と同様、Ｘ線の照射時間の長時間化に応じ下から上に行くほど濃くなる４個の黒色部分がある。但し、同じ照射時間同士で黒色部分の濃さを比べると、波長４８８ｎｍの場合よりも波長５３２ｎｍの場合の方が薄くなっている。
実施例２−８（波長５５５ｎｍ）の場合も、Ｘ線の照射時間の長時間化に応じ下から上に行くほど濃くなる４個の黒色部分がある。但し、同じ照射時間同士で黒色部分の濃さを比べると、波長５３２ｎｍの場合よりも波長５５５ｎｍの場合の方が更に薄くなっている。
実施例２−９（波長６４７ｎｍ）の場合、Ｘ線照射に対応する黒色部分は見られない。

【0027】

図７は、実施例２−６（波長４８８ｎｍ）の場合において、検出具の図における上下の線（全ての黒色部分のほぼ中央を通る１本の直線）における黒色の濃さを示すグラフである。横軸が当該直線上の位置（図の上のある点からの距離，インチ）であり、縦軸が相対的な濃さ（最も濃い濃度を０とし最も薄い濃度を１２８として正比例的に１２８段階で区切った濃度）である。
検出具の図における上には、最も濃い黒色部分に相当する箇所が有り、濃度０の箇所が比較的に長く続いている（横軸約０．０５〜０．１の部分）。そして、濃度９０程度の箇所を経て、上から２番目の黒色部分に応じた箇所に至る。この黒色部分に応じた箇所では、濃度０の箇所が僅かに存在する程度である。更に、濃度９０〜１２８の箇所を経て、上から３番目の黒色部分に応じた箇所に至る。この黒色部分に応じた箇所では、濃度４８程度となっている。そして、濃度９０〜１２８の箇所を経て、最も下の黒色部分に応じた箇所に至る。この黒色部分に応じた箇所では、濃度７５〜９０程度となっている。
それぞれの黒色部分に相当する各箇所の最も濃い点を結ぶと、図において点線で示すように、比例的な関係となる。
又、照射時間１０分でも明確に黒色部分が現れ、Ｘ線照射（約８Ｇｙ）の検出が充分に可能となっている。

【実施例3】

【0028】

実施例３において、ＡＤＣのみとしたことを除き実施例１−１と同様に形成した検出具（１．５ｇ）を作成した（実施例３−１）。又、同様に、シリカナノ粒子分散液（１ｇ）を分散させた検出具（ＡＤＣ１１ｇ）を作成した（実施例３−２）。更に、同様に、ローダミンを内包したシリカナノ粒子分散液（１ｇ）を分散させた検出具（ＡＤＣ１．５ｇ）を作成した（実施例３−３）。加えて、同様に、フルオレセインを内包したシリカナノ粒子分散液（１ｇ）を分散させた検出具（ＡＤＣ１．５ｇ）を作成した（実施例３−４）。
そして、それぞれに対して実施例１と同様に、Ｘ線を３０分間照射し、各種波長のレーザー光により励起しつつフルオロアナライザーで画像を取得した。
又、各検出具に生成した横長黒色部分における全体的な蛍光発光の相対的な強度を、当該画像から得た。

【0029】

図８は、実施例３−１〜３−４に係る画像を順に左から右へ並べたものである。
尚、図における最上行は、波長４８８ｎｍの光で励起したものであり、上から２行目は、波長４９４ｎｍの光で励起したものであり、上から３行目は、波長５３２ｎｍの光で励起したものであり、最下行は、波長５５５ｎｍの光で励起したものである。
図に現れているように、４８８ｎｍでは、実施例３−１〜３−３でＸ線照射状況に対応する横長黒色部分が発生している。又、４９４ｎｍでも同様に、実施例３−１〜３−３でＸ線照射状況に対応する横長黒色部分が発生している。一方、５３２ｎｍ，５５５ｎｍでは、実施例３−１，３−２，３−４でＸ線照射状況に対応する横長黒色部分が発生している。

【0030】

図９は、蛍光発光の相対的な強度を示すグラフである。横軸は励起光の波長であり、縦軸は５５５ｎｍに係る実施例３−１での蛍光発光強度を１００とした場合の相対的な蛍光発光強度である。尚、実施例２−９の結果に鑑み、６４７ｎｍでの蛍光発光強度を０としている。
図に現れているように、４８８ｎｍを除くどの励起光の波長においても、実施例３−１〜３−４にかけて順に蛍光発光強度が減少している。従って、ＡＤＣに対する添加物の有無や種類により、蛍光強度を制御することが可能となる。
尚、Ｘ線照射による黒色部分の蛍光強度の差は、添加物（特にローダミンやフルオレセイン）への電子又はイオンの移動が優先して起こった結果であると考えられる。

【実施例4】

【0031】

実施例４において、実施例３−１と同じ検出具（同様のＸ線照射状況）の横長黒色部分における蛍光のスペクトル（分光相対発光強度）を測定した。
その結果を図１０に示す。図１０のグラフの横軸が波長であり、縦軸が相対発光強度である。又、左側が励起側（Ｅｘ）であり、右側が蛍光側（Ｅｍ）である。更に、励起側の折線の実線が励起スペクトルを、蛍光側の折線の実線が蛍光スペクトルを示す。加えて、励起側の破線（ＮｏＸｒａｙ）は、Ｘ線を照射していない試料の励起側の励起スペクトルを示し、蛍光側の破線（ＮｏＸｒａｙ）は、Ｘ線を照射していない試料の蛍光側の蛍光スペクトルを示す。
この図によれば、５７８ｎｍ付近に蛍光発光強度のピークが来ることが分かる。

【実施例5】

【0032】

実施例５において、次の各種の検出具を用意し、実施例１と同じＸ線を２０〜２４分間照射した後、５５０ｎｍの励起光を照射してフルオロアナライザー画像を得た。
即ち、実施例５−１（Ａ Ｔｏｋｕｄａｉ ＰＶＡ ＋Ａｇ ０．１ｇ ＣＲ １０ｇ）として、ＡＤＣ（１０ｇ）にポリビニルアルコール溶液（１ｇ）と銀溶液（０．１ｇ，溶媒：水，銀の濃度０．１Ｍ）を加えたもの（厚み１ｍｍの扇形状）を用意し、実施例５−２（Ｂ Ｔｏｋｕｄａｉ ＳｉＯ_２ ＋Ａｇ ０．１ｇ ＣＲ １０ｇ）として、ＰＶＡの代わりにシリカナノ粒子分散液（１ｇ）としたことを除き実施例５−１と同様に形成したものを用意した。
又、実施例５−３（ＣＲ−３９ １０ｇ Ｆｌｕｏ ０．１ｇ ＲＦ １ｍｍ）として、ＰＶＡと銀の代わりにフルオレセイン溶液（０．１ｇ）及びＩＰＰ２７％希釈液（パルミチン酸イソプロピル，総重量１．１ｇ）を分散させたもの（厚み１ｍｍの円盤状）を用意し、実施例５−４（ＣＲ−３９ １０ｇ Ｆｌｕｏ ０．１ｇ ＲＦＫ １ｍｍ）として、実施例５−３と同様のもの（但しＩＰＰ２７％希釈液１．１ｇ）を用意し、実施例５−５（ＣＲ−３９ １０ｇ Ｆｌｕｏ ０．１ｇ Ｇ １ｍｍ）として、実施例５−３と同様のもの（但しＩＰＰ２７％希釈液１．１ｇ）を用意した。ここで、ＩＰＰ２７％希釈液とは、ＡＤＣのモノマーに対して２７重量％の濃度でＩＰＰを希釈したものである。
更に、実施例５−６（ＣＲ−３９ １０ｇ Ｆｌｕｏ ０．１ｇ Ｐ １ｍｍ）として、実施例５−３と同様のもの（但しＩＰＰ２７％希釈液１．１ｇ）を用意し、実施例５−７（ＣＲ−３９ １０ｇ Ｆｌｕｏ ０．１ｇ ＲＦ−１ １ｍｍ）として、実施例５−３と同様のもの（但しＩＰＰ２７％希釈液１．１ｇ）を用意し、実施例５−８（ＣＲ−３９ １０ｇ Ｆｌｕｏ ０．１ｇ ＰＳ １ｍｍ）として、実施例５−３と同様のもの（但しＩＰＰ２７％希釈液１．１ｇ）を用意した。
加えて、実施例５−９（Ｌｉｎｅ−ｙｏ Ｊｙｕｕｇｏｒｏ ＣＲ−３９ １ｍｍ）として、ライン用重合炉で重合したＡＤＣ単独のもの（厚さ１ｍｍの矩形板状，１．５ｇ）を用意した。又、実施例５−１０（Ｔｅｓｔ−ｙｏ Ｋｏｕｓｈｕｕｈａ ＣＲ−３９ １ｍｍ）として、ライン用重合炉ではなく高周波の電磁波を照射することにより重合する高周波重合炉で重合したことを除き実施例５−９と同様に形成したものを用意した。

【0033】

図１１は、実施例５−１〜５−１０に係る画像を並べたものである。
図中、左下の２個の扇形の上が実施例５−１であり、下が実施例５−２である。又、左上が実施例５−９であり、右上が実施例５−１０であり、これらの下の６個の円盤が、左上から時計回りで順に実施例５−３，５−４，５−５，５−６，５−７，５−８である。
何れの検出具においても、中央部分に横長（縦長）黒色部分が生じている。

【0034】

図１２は、図１１を画像解析ソフトウェアに取り込んで、黒色部分の中央を直交する線分上の画素値（画素毎の輝度の値）の変化を互いに比較したグラフである。縦軸が相対的な輝度（蛍光発光している黒色部分の外部に対する黒色部分の暗くなる度合の差）を表し、横軸が上記線分上の位置である。なお、横軸に関し、比較のため、実施例５−１〜５−１０で順に輝度変化を表す線を横に並べている。又、縦軸に関し、黒色部分の外部（蛍光発光している部分）の強度は互いに若干異なるものの、グラフでは０に揃えてある。
本図より、実施例５−９（ライン用重合炉で形成したＡＤＣ）が最も明暗差（濃さの変化の度合，蛍光発光強度の差）が大きく、実施例５−１０の明暗差の５倍程度の差があることが分かった。
又、蛍光剤入りの実施例では、Ｇ（実施例５−５）とＲＦ（実施例５−３）とＰＳ（実施例５−８）における蛍光発光強度変化がほぼ等しく、実施例５−９の約半分の強度変化であった。更に、ＲＦＫ（実施例５−４）とＰ（実施例５−６）とＲＦ−１（実施例５−７）の明暗差がほぼ等しく、実施例５−１０の約３分の１の明暗差であった。

【0035】

更に、実施例５において、厚みや混入するＩＰＰ２７％希釈液の量を互いに異ならせた次の各種の検出具（何れも円盤状）を用意し、実施例１と同じＸ線を５分間照射（約４Ｇｙ）した後、５５５ｎｍの励起光を照射してフルオロアナライザー画像を得た。
即ち、実施例５−１１として、ＡＤＣ１８．２２ｇ（厚さ０．８６ｍｍ）にＩＰＰ２７％希釈液を１．３ｇ入れたものを用意し、実施例５−１２として、ＡＤＣ１８．２２ｇ（厚さ０．８６ｍｍ）にＩＰＰ２７％希釈液を１．５ｇだけ入れたものを用意し、実施例５−１３として、ＡＤＣ１８．２２ｇ（厚さ０．８９ｍｍ）にＩＰＰを１．７ｇだけ入れたものを用意し、実施例５−１４として、ＡＤＣ１８．２２ｇ（厚さ０．９０ｍｍ）にＩＰＰ２７％希釈液を１．９ｇ入れたものを用意した。又、実施例５−１５として、ＡＤＣ１８．２２ｇ（厚さ０．８８ｍｍ）にＩＰＰ２７％希釈液を２．６ｇ入れたものを用意し、実施例５−１６として、ＡＤＣ１８．２２ｇ（厚さ１．０８ｍｍ）にＩＰＰを３．０ｇ入れたものを用意し、実施例５−１７として、ＡＤＣ１８．２２ｇ（厚さ１．１８ｍｍ）にＩＰＰ２７％希釈液を３．４ｇ入れたものを用意し、実施例５−１８として、ＡＤＣ１８．２２ｇ（厚さ１．１０ｍｍ）にＩＰＰ２７％希釈液を３．８ｇだけ入れたものを用意した。

【0036】

図１３は、実施例５−１１〜５−１８に係る画像であり、図１４は、図１３についてコントラストを調整したものである。何れにおいても、左上から右へ順に実施例５−１０〜５−１４が並び、左下から右へ順に実施例５−１５〜５−１８が並んでいる。
図１３に比べ、図１４において明確に横長黒色部分を目視できた。
図１４に対し、実施例５−１〜５−１０と同様に蛍光発光の強度変化量を解析した結果を示すグラフを、図１５に示す。本図において、左から順に、実施例５−１１〜５−１８を並べている。尚、縦軸は、画像における輝度の値（０〜２５５の２５６段階中の約４０〜１７０の領域，数字が小さいほど輝度が低く色が黒い）を示す。
本図より、実施例５−１６，５−１７において黒色部分をはっきりと生じており、ＩＰＰ２７％希釈液を減らした実施例５−１２，５−１３，５−１８において強度変化が低下した。
実施例５−１６，５−１７にあっては、それぞれ差が１１０程有ったことから、実施例５−１１〜５−１８において照射したＸ線の線量より更に低い線量でも検出可能であると予測される。

【0037】

加えて、実施例５において、ＩＰＰ２７％希釈液の量を互いに異ならせた次の各種の検出具（円盤状）を用意し、実施例１と同じＸ線を５分間照射（約４Ｇｙ）した後、５５５ｎｍの励起光を照射してフルオロアナライザー画像を得た。尚、実施例５−１９，５−２０は分かり易くするために欠番とする。
即ち、実施例５−２１として、ＩＰＰ２７％希釈液を１．３ｇ（１．７５重量％）入れたものを用意し、実施例５−２２として、ＩＰＰ２７％希釈液を１．５ｇ（２．００重量％）入れたものを用意し、実施例５−２３として、ＩＰＰ２７％希釈液を１．７ｇ（２．３０重量％）入れたものを用意し、実施例５−２４として、ＩＰＰ２７％希釈液を１．９ｇ（２．５６重量％）入れたものを用意した。又、実施例５−２５として、ＩＰＰ２７％希釈液を２．６ｇ（３．５重量％）入れたものを用意し、実施例５−２６として、ＩＰＰ２７％希釈液を３．０ｇ（４．００重量％）入れたものを用意し、実施例５−２７として、ＩＰＰ２７％希釈液を３．４ｇ（４．５０重量％）入れたものを用意し、実施例５−２８として、ＩＰＰ２７％希釈液を３．８ｇ（５．１０重量％）入れたものを用意した。

【0038】

図１６は、実施例５−２１〜５−２８に係る画像である。色の比較的に濃い４枚を上とした場合の本図において、左上から右へ順に実施例５−２５〜５−２８が並び、左下から右へ順に実施例５−２１〜５−２４が並んでいる。
図１６において、実施例５−２３〜５−２８で横長黒色部分を目視で確認でき、Ｘ線の検出ができた。実施例５−２１，５−２２では、今回の線量や手法では、目視で確認し難かった。尚、実施例同士で比較すると、他の実施例の方が黒色がより一層濃い。
図１６に対し、実施例５−１１〜５−１８と同様に蛍光発光の強度変化量を解析した結果を示すグラフを、図１７に示す。本図において、左から順に、実施例５−２３〜５−２８を並べている。尚、本図において、実施例５−２１，５−２２は省略している。
本図より、実施例５−２７が最大の強度変化を呈していることが分かる。
図１８に、ＩＰＰ２７％希釈液の重量％と強度変化の関係を示す。
ＩＰＰ２７％希釈液が３．５重量％以上となると（実施例５−２５〜２８）、強度変化量が３０以上となり、より良好にＸ線を検知することができる。

【0039】

更に、実施例５において、厚みやＩＰＰの濃度やＵＶ吸収剤（上述のＵ１０１）の濃度を次の表１の通り互いに異ならせた各種の検出具（円盤状，ＡＤＣ７５ｇ）を用意し、実施例１と同じＸ線を３分間照射した後、５５５ｎｍの励起光を照射してフルオロアナライザー画像を得た。尚、実施例５−２９，５−３０，５−３９，５−４０，５−４７〜５−５０は欠番とする。

【0040】

【表1】

【0041】

図１９は、実施例５−３１〜５−３８，５−４１〜５−４６，５−５１〜５−５８に係る画像を５行に亘り並べたものである。本図において、最も上の１行目の左から右へ順に実施例５−５７，５−５８が並び、すぐ下の２行目の左から順に実施例５−５１〜５−５４，５−５６が並び、更に３行目の左から順に実施例５−４１〜５−４４，５−５５が並び、次いで４行目の左から順に実施例５−３５〜５−３８，５−４５が並び、最も下の５行目の左から順に実施例５−３１〜５−３４，５−４６が並んでいる。
図１９において、それぞれ横長黒色部分を目視することができ、３分間（約２．４Ｇｙ）であってもＸ線の照射を検出することが可能である。
図２０は、図１９に対し、実施例５−１１〜５−１８と同様に蛍光発光の強度変化量を解析した結果を示すグラフである。
本図より、実施例５−４１〜５−４６が比較的に強度変化が大きく、検出具における黒色部分と他の部分とのコントラストがより大きくて黒色部分を一層認識し易いことが分かる。従って、ＵＶ吸収剤が６００ｐｐｍ以上４０００ｐｐｍ以下であると、発光強度差をより一層高くすることができ、Ｘ線検出感度がより一層良好になると言える。
又、ＩＰＰに関し、特に実施例５−３１〜５−３８，５−５１〜５−５８によれば、４重量％から５．７重量％において発光強度変化に顕著な差は見受けられない。このことに、実施例５−２１〜５−２８（特に実施例５−２５〜５−２８）の結果を合わせて考えると、ＩＰＰの濃度が３．５重量％以上５．７重量％以下であると、発光強度差をより一層高くすることができ、Ｘ線検出感度がより一層良好になると言える。

【実施例6】

【0042】

実施例６において、実施例４と同じ検出具（同様のＸ線照射状況）について偏光フィルタを通じて観察するため、図２１に示す装置（ＡＤＣ基材を用いた検出具に対するＸ線の照射を検出するためのＸ線検出具観測装置）を作成した。
即ち、Ｘ線検出具観測装置Ｄは、ＡＤＣのみから成りあるいはＡＤＣを主成分（最も重量又は体積の割合の大きい成分）とする検出具Ａを観察するための装置であって、ＬＥＤランプＬを搭載した基板Ｂと、ＬＥＤランプＬ側において間隔を置いて重ねられた２枚の偏光フィルタＰ１，Ｐ２を備えている。
ＬＥＤランプＬは、緑色であり、点灯により緑色光を照射可能である。基板Ｂは、図示しない電源を有するか若しくは電源と接続されており、図示しないスイッチによりＬＥＤランプＬの点消灯を切替可能である。尚、ＬＥＤランプＬの明るさを段階的に切替可能としても良い。又、ＬＥＤランプＬは、基板Ｂに搭載されていなくても良い。更に、ＬＥＤランプＬの色を緑以外の様々な色に変えることができるし、ＬＥＤランプＬ以外のランプ（蛍光管や有機エレクトロルミネッセンス等）を用いることができる。
偏光フィルタＰ１，Ｐ２は、ＬＥＤランプＬの光を偏光して透過する。偏光フィルタＰ１，Ｐ２は、何れも水平であり、互いに平行に配置されている。
ＬＥＤランプＬに近い（下の）偏光フィルタＰ１の上に、検出具Ａが載せられる。尚、少なくとも検出具Ａを載せる部分（の一部）において光を透過可能である台を別途設けても良く、当該台につき、検出具Ａを回転可能に載置するものとしても良い。
ＬＥＤランプＬからより離れている（上の）偏光フィルタＰ２は、円盤状であり、その円の中心を中心とし水平を維持した状態で回転可能に設置されている。尚、偏光フィルタＰ１，Ｐ２が相対的に回転できれば良く、偏光フィルタＰ１のみ回転可能としたり、双方を回転可能としたりすることができる。又、偏光フィルタＰ１を円盤状として良いし、偏光フィルタＰ１，Ｐ２を円盤状以外の他の形状とすることができる。更に、偏光フィルタＰ１，Ｐ２と検出具ＡをＬＥＤランプＬの光で観察できれば良く、偏光フィルタＰ１，Ｐ２は水平でなくて良いし、互いに平行でなくても良い。ＬＥＤランプＬ、偏光フィルタＰ１、検出具Ａ、偏光フィルタＰ２が直線上に並べば、これらの配置は如何様にもできる。
尚、偏光フィルタＰ２を通過した光に係る画像を取得可能なカメラを設置すると共に、当該カメラにより取得した画像において最も広い範囲における画像の様子（輝度が所定範囲内に収まり均一になっている等）とは異なる部分が存在しているか否かを判定可能な処理装置を設置して、当該処理装置が当該異なる部分が存在していると判定すると、Ｘ線照射可能性が有る旨のメッセージをランプやディスプレイ等に表示する（表示装置を設ける）ようにすることができる。
又、ＬＥＤランプＬ、偏光フィルタＰ１，Ｐ２、検出具Ａを覆う機枠を設けることができ、当該機枠に沿うように（当該機枠の窓として）偏光フィルタＰ２を設けることができる。当該機枠には、検出具Ａを出し入れするための扉を設けることができる。

【0043】

Ｘ線検出具観測装置Ｄに対し、実施例４と同じ材料やＸ線照射状況である検出具Ａをセットし、ＬＥＤランプＬを点灯して、偏光フィルタＰ２を適宜回転しつつ偏光フィルタＰ２の上（ＬＥＤランプＬと反対側）から観察すると、偏光フィルタＰ２が特定の回転状態（回転開始から所定範囲内の角度で回転した状態）となった場合に、検出具Ａにおいて緑色光の透過状態が他の部分（ベース部分）と異なる横長の変化部分（他の部分に比べて光を透過せず曇っている部分）が明瞭に観察できた。この横長変化部分は、実施例４における横長黒色部分と対応し、よってＸ線検出具観測装置Ｄにより、ＡＤＣ基材を用いたＸ線検出具Ａにおいて、Ｘ線照射痕をより明瞭に検出することができる。Ｘ線検出具観測装置Ｄでは、レーザー光ではなく、偏光フィルタＰ１，Ｐ２により偏光したＬＥＤランプＬの光により検出具Ａを観測してＸ線の照射を検出するので、レーザー光を用意する必要がないし、検出具Ａにレーザー光を当てて発生した蛍光を観察する必要もない。
偏光フィルタＰ１，Ｐ２により、方向の揃った光で検出具Ａを観測することができ、方向の揃った光がＸ線照射痕のみにより充分に妨げられ、ベース部分を良く通る方向の揃った光の中で、透過の妨害によりＸ線照射痕が浮き上がって見えるものと考えられる。
又、実施例４と同程度の線量（８Ｇｙ程度）のＸ線を照射したＡＤＣのみを材料とする検出具Ａを、Ｘ線検出具観測装置Ｄで観察すると、目視では殆ど認識できないＸ線照射痕を観測することができた。尚、１．６Ｇｙの線量でも、Ｘ線照射痕を観測することができた。

【実施例7】

【0044】

実施例７において、次の各種の検出具を用意し、実施例１と同じＸ線を１０分間照射した後、５５５ｎｍの励起光を照射してフルオロアナライザー画像を得た。フルオロアナライザー画像は、照射直後及びおよそ２０分間ずつの間隔で照射後約１００分まで各５個の画像を得た。そして、当該画像から、蛍光強度等を得た。
即ち、実施例７−１として、ＡＤＣ（８．５ｇ）に、ＩＰＰ２７％希釈液５．５重量％と、上記ＵＶ吸収剤０．４重量％と、金微粒子を内包したシリカナノカプセル（Ａｕ＠ＳｉＯ_２）１０重量％を加えたもの（厚み１．０３ｍｍ）を用意し、実施例７−２として、厚みを０．８５ｍｍとしたことを除き実施例７−１と同様に形成したものを用意した。尚、実施例７−３として、Ａｕ＠ＳｉＯ_２を加えないことを除き実施例７−１と同様に形成したものを用意した。

【0045】

図２２（ａ）は、照射直後の蛍光強度を１００％とした場合の規格化した蛍光強度に係る時間変化を示すグラフであり、図２２（ｂ）は、蛍光強度の相対的な度合に係る時間変化を示すグラフである。
図２２（ａ）によれば、１．０３ｍｍ厚の検出具において、Ａｕ＠ＳｉＯ_２を加えることにより、加えない場合に比べ、どの経過時間にあっても蛍光強度が約１〜３割増しとなっており、例えば１１０分後では、実施例７−３（Ａｕ＠ＳｉＯ_２なし）が２８％となっているのに対し、実施例７−１（Ａｕ＠ＳｉＯ_２あり）が４４％となっていることが分かる。
又、図２２（ｂ）によれば、実施例７−１（Ａｕ＠ＳｉＯ_２あり，１．０３ｍｍ厚）が最も蛍光強度が高くなっており、実施例７−３（Ａｕ＠ＳｉＯ_２なし）に比べ約３倍の強度を有することが分かる。
よって、Ａｕ＠ＳｉＯ_２を加えることにより、どのようなＸ線の検出線照射後の経過時間であっても蛍光強度が比較的大幅に増し、もってＸ線の検出をより容易に行うことができる。

【0046】

又、実施例７において、次の各種の検出具を更に用意し、同様にフルオロアナライザー画像ないし蛍光強度を得た。
即ち、実施例７−４として、ＡＤＣ（８．５ｇ）に、上記ＵＶ吸収剤（４０００ｐｐｍ）５．６重量％と、内径１５ｎｍのシリカナノカプセル（＠ＳｉＯ_２）１０重量％を加えたもの（厚み１．０３ｍｍ）を用意し、実施例７−５〜７−９として、実施例７−４と同様に形成したものを用意した。
実施例７−４にあっては、Ｘ線照射後３０分間暗室に据え置いて光を当てないようにし、その後室内光下でＸ線照射３０分後，Ｘ線照射５０分後，Ｘ線照射８０分後の蛍光画像を取得した。
実施例７−５にあっては、Ｘ線照射直後の蛍光画像を取得した。
実施例７−６にあっては、Ｘ線照射後３０分間光を当てないようにし、その後蛍光画像を取得した。
実施例７−７にあっては、Ｘ線照射後６０分間光を当てないようにし、その後蛍光画像を取得した。
実施例７−８にあっては、Ｘ線照射後９０分間光を当てないようにし、その後蛍光画像を取得した。
実施例７−９にあっては、Ｘ線照射後１２０分間光を当てないようにし、その後蛍光画像を取得した。

【0047】

図２３（ａ）は、実施例７−１〜７−９に係る図２２（ａ）と同様のグラフであり、図２３（ｂ）は、実施例７−１〜７−９に係る図２２（ｂ）と同様のグラフである。尚、図２３（ａ）において、実施例７−４ではＸ線照射終了３０分後の蛍光強度を１００％（基準）としており、実施例７−６〜７−９では実施例７−５の蛍光強度を１００％としている。
図２３（ａ），（ｂ）によれば、＠ＳｉＯ_２を加えることにより、加えない場合やＡｕ＠ＳｉＯ_２を加えた場合に比べ、更に蛍光強度が強くなっていることが分かる。
又、照射後３０分間暗所に保存した実施例７−６では、照射直後の実施例７−５の蛍光強度に比べ蛍光強度が増しており（規格化強度約１３６％）、シリカナノカプセルに照射履歴保存効果があったことが分かる。これは、シリカナノカプセルがＸ線照射により動いた電子を取り込んで電子やホールの移動を保存した（Ｘ線照射部分に０いて電子やホールを有効に分離した）ことによるものと考えられる。
更に、照射後６０分間暗所に保存した実施例７−７では、実施例７−５に対する規格化強度が約１００％となっており、シリカナノカプセルを加えるとおよそ１時間は極めて安定することが分かる。

【0048】

更に、実施例７において、次の各種の検出具（実施例７−１０〜７−１４）を別途用意し、同様にフルオロアナライザー画像ないし蛍光強度を得た。実施例７−１０〜７−１４では、フルオロアナライザー画像は、照射直後及びおよそ２０分間ずつの間隔で照射後約１２０分まで各６個の画像を得て、当該画像からそれぞれ蛍光強度を得た。
即ち、実施例７−１０として、ＡＤＣ（８．５ｇ）に、上記ＵＶ吸収剤（４０００ｐｐｍ）５．６重量％と、メチルビオロゲン内包シリカナノカプセル（ＭＶ＠ＳｉＯ_２）２重量％（０．２ｇ）を加えたものを用意した。ＭＶ＠ＳｉＯ_２は、内径１５ｎｍのシリカナノカプセルに、電子受容体であるメチルビオロゲン分子を入れたものである。又、実施例７−１０の厚みは０．８５ｍｍである。
又、実施例７−１１として、実施例７−１０におけるＭＶ＠ＳｉＯ_２の量と検出具の厚みのみを変えたものを用意した。実施例７−１１のＭＶ＠ＳｉＯ_２の分量は、３重量％（０．３ｇ）であり、検出具の厚みは１ｍｍである。
更に、実施例７−１２として、実施例７−１１におけるＭＶ＠ＳｉＯ_２の量のみを変えたものを用意した。実施例７−１２のＭＶ＠ＳｉＯ_２の分量は、５重量％（０．５ｇ）である。
又更に、実施例７−１３として、実施例７−１１におけるＭＶ＠ＳｉＯ_２の量のみを変えたものを用意した。実施例７−１３のＭＶ＠ＳｉＯ_２の分量は、１０重量％（１ｇ）である。
加えて、実施例７−１４として、実施例７−１１におけるＭＶ＠ＳｉＯ_２の量のみを変えたものを用意した。実施例７−１４のＭＶ＠ＳｉＯ_２の分量は、２０重量％（２ｇ）である。

【0049】

図２４（ａ）は、実施例７−１０〜７−１４に係る図２２（ａ）と同様のグラフであり、図２４（ｂ）は、実施例７−１０〜７−１４に係る図２２（ｂ）と同様のグラフである。図２４（ａ），（ｂ）において、□は実施例７−１０であり、△は実施例７−１１であり、○は実施例７−１２であり、◇は実施例７−１３であり、▽は実施例７−１４である。尚、図２４（ａ）において、実施例７−１０〜７−１４のそれぞれの照射直後の蛍光強度を１００％としており、図２４（ｂ）において、実施例７−１１における照射終了から４０分後の蛍光強度を１００としている。
図２４（ａ），（ｂ）によれば、ＭＶ＠ＳｉＯ_２を加えることにより、加えない場合や＠ＳｉＯ_２を加えた場合に比べ、更に蛍光強度が強くなっていることが分かる。
ＭＶ＠ＳｉＯ_２を加えれば、蛍光強度が増すのであるが、特に蛍光強度の大小やその持続時間の観点から、ＭＶ＠ＳｉＯ_２を基板全体に対して５重量％以上加えることが好ましく（実施例７−１２〜実施例７−１４）、又１０重量％以下加えることが好ましく（実施例７−１０〜実施例７−１３）、これらを合わせた範囲として５重量％以上１０重量％以下とすることが更に好ましい（実施例７−１２〜実施例７−１３）。
ＭＶ＠ＳｉＯ_２の添加により、実施例７−１２，実施例７−１３では１２０分（２時間）後でもＸ線照射直後と同等の照射強度を呈しており（図２４（ａ）で何れも約１００％）、実施例７−１１でも１２０分後で約７０％、実施例７−１０，実施例７−１４でも１２０分後で約７０％と、更に充分に安定したＸ線検出性（照射痕保持性）を具備させることができる。これは、電子受容体であるメチルビオロゲン分子をシリカナノカプセルに内包することにより、電子やホールの移動の保存をより一層有効に行うことができたことによるものと考えるのが合理的である。尚、電子やホールの移動を保存する作用は共通であるから、ＭＶ＠ＳｉＯ_２，Ａｕ＠ＳｉＯ_２，＠ＳｉＯ_２の少なくとも何れか二つを混在させたり、他のマイクロカプセルや他の添加物と混在させても、検出性の向上を図れる。

【実施例8】

【0050】

実施例１〜７と同様にして、ＡＤＣの代わりにＰＥＤＣに属する他の樹脂を基材としてＸ線の検出具を作成し、Ｘ線を照射した場合においても、実施例１〜７と同様の結果となり、レーザー光や偏光によりＸ線照射痕を検出することができた。

【産業上の利用可能性】

【0051】

既存のＰＥＤＣ（ＡＤＣ）の製造工程に、シリカやＵＶ吸収剤、ＩＰＰ等の添加や分散の工程を適宜改良・追加して、Ｘ線の検出具の作製工程を形成することができ、検出具を大量且つ安価に生産し供給することが可能となる。
又、医療の分野において、透視やＩＶＲ等でＸ線を患者に照射しながら行う手技に際し、Ｘ線照射部分に検出具を設置すれば、目視でＸ線の照射部位や照射方向、線量を確認できる。
工業の分野においても、Ｘ線結晶回折装置等におけるＸ線の可視化等に使用することができる。
その他、Ｘ線を用いる様々な産業において、本発明を利用することが可能である。

【符号の説明】

【0052】

Ａ （ＡＤＣを基材とするＸ線の）検出具
Ｂ 基板
Ｄ Ｘ線検出具観測装置
Ｌ ＬＥＤランプ
Ｐ１，Ｐ２ 偏光フィルタ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】

【図21】

【図22】

【図23】

【図24】