特許6383792金型用離型剤の膜厚計測方法

発明の名称　金型用離型剤の膜厚計測方法

出願人　株式会社青木科学研究所　（識別番号 304028645）

　　　　特許公開件数ランキング 13870 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 11686 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6383792

公報発行日　2018年8月29

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6383792

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