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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6385929
(24)【登録日】2018年8月17日
(45)【発行日】2018年9月5日
(54)【発明の名称】ＥＩＴ測定装置、ＥＩＴ測定方法及びプログラム
(51)【国際特許分類】
A61B 5/05 20060101AFI20180827BHJP
A61B 5/0408 20060101ALI20180827BHJP
A61B 5/0492 20060101ALI20180827BHJP
A61B 5/0478 20060101ALI20180827BHJP
A61B 5/107 20060101ALI20180827BHJP
【ＦＩ】
A61B5/05 B
A61B5/04 300J
A61B5/107 100
A61B5/05ZDM
【請求項の数】9
【全頁数】36
(21)【出願番号】特願2015-525246(P2015-525246)
(86)(22)【出願日】2014年7月1日
(86)【国際出願番号】JP2014067590
(87)【国際公開番号】WO2015002210
(87)【国際公開日】20150108
【審査請求日】2017年2月27日
(31)【優先権主張番号】特願2013-139164(P2013-139164)
(32)【優先日】2013年7月2日
(33)【優先権主張国】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】598041566
【氏名又は名称】学校法人北里研究所
(74)【代理人】
【識別番号】100106909
【弁理士】
【氏名又は名称】棚井 澄雄
(74)【代理人】
【識別番号】100188558
【弁理士】
【氏名又は名称】飯田 雅人
(72)【発明者】
【氏名】根武谷 吾
(72)【発明者】
【氏名】一二三 奏
【審査官】
多田 達也
(56)【参考文献】
【文献】
特開２００５−１５２０６１（ＪＰ，Ａ）
【文献】
特開２０１２−０９０８８０（ＪＰ，Ａ）
【文献】
特開２００３−３３９６５８（ＪＰ，Ａ）
【文献】
国際公開第２０１２／１６８８３６（ＷＯ，Ａ１）
【文献】
国際公開第２０１２／０４５１８８（ＷＯ，Ａ１）
【文献】
米国特許出願公開第２００５／００５９９０３（ＵＳ，Ａ１）
【文献】
国際公開第２００９／１１８７０１（ＷＯ，Ａ１）
【文献】
国際公開第２００７／０７０９９７（ＷＯ，Ａ１）
【文献】
特開２０１２−２２８５１４（ＪＰ，Ａ）
【文献】
米国特許出願公開第２０１０／０１９８１０１（ＵＳ，Ａ１）
【文献】
J.M. Khor et al.，Development of a Sensor Network for Dynamic Boundary Measurement in Neonatal Electrical Impedance Tomography (EIT)，IFMBE Proceedings，２００９年，第２５／ＩＩ巻，第３８６−３８９頁
(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）
Ａ６１Ｂ ５／００ − ５／２２
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
並べて配置される複数の電極パッドと、当該複数の電極パッドと並列して配置される複数の歪みゲージと、を一体として貼着しながら、生体の測定対象とする部分に巻きつけられて使用される測定用ベルトと、
前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号の取得をしながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御部と、
前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定部と、
を備え、
前記輪郭推定部は、
前記曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対位置特定処理において、
並べて配置される複数の前記歪みゲージのうち、一つ以上の前記歪みゲージを隔てた所定間隔ごとに指定される歪みゲージの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、
前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す歪みゲージの中間に配される何れかの歪みゲージの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、
一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記歪みゲージの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、
前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す歪みゲージの両隣に配される歪みゲージの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、
を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対座標値を、前記基準点から前記従属点までの間に既知の間隔に配されるｎ個（ｎは２以上の整数）の座標位置Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）それぞれにおける曲率半径Ｒｉの円弧に基づいて特定し、
前記曲率半径Ｒｉは、前記基準点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒａから前記従属点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒｂまでの間において、前記座標位置Ｑｉと前記基準点及び前記従属点との位置関係によって特定される
ＥＩＴ測定装置。
前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号の取得をしながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御部と、
前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定部と、
を備え、
前記輪郭推定部は、
前記曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対位置特定処理において、
並べて配置される複数の前記歪みゲージのうち、一つ以上の前記歪みゲージを隔てた所定間隔ごとに指定される歪みゲージの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、
前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す歪みゲージの中間に配される何れかの歪みゲージの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、
一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記歪みゲージの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、
前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す歪みゲージの両隣に配される歪みゲージの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、
を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対座標値を、前記基準点から前記従属点までの間に既知の間隔に配されるｎ個（ｎは２以上の整数）の座標位置Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）それぞれにおける曲率半径Ｒｉの円弧に基づいて特定し、
前記曲率半径Ｒｉは、前記基準点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒａから前記従属点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒｂまでの間において、前記座標位置Ｑｉと前記基準点及び前記従属点との位置関係によって特定される
ＥＩＴ測定装置。
【請求項2】
前記輪郭推定部は、
前記形状特定処理の後に、さらに、前記推定された輪郭形状の周囲長が、別途測定された前記測定対象とする部分の周囲長と一致するように、前記推定された輪郭形状を拡大または縮小するサイズ特定処理を実行する
請求項１に記載のＥＩＴ測定装置。
前記形状特定処理の後に、さらに、前記推定された輪郭形状の周囲長が、別途測定された前記測定対象とする部分の周囲長と一致するように、前記推定された輪郭形状を拡大または縮小するサイズ特定処理を実行する
請求項１に記載のＥＩＴ測定装置。
【請求項3】
前記輪郭推定部は、
前記相対位置特定処理の前記第１ステップにおいて、前記複数の歪みゲージのうち、前記測定対象とする部分の対称軸上に配される歪みゲージを示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する
請求項１に記載のＥＩＴ測定装置。
前記相対位置特定処理の前記第１ステップにおいて、前記複数の歪みゲージのうち、前記測定対象とする部分の対称軸上に配される歪みゲージを示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する
請求項１に記載のＥＩＴ測定装置。
【請求項4】
前記輪郭推定部は、
前記測定対象とする部分に巻き付けられた前記測定用ベルト上の、当該測定対象とする部分の対称軸上に配される位置に歪みゲージが配されない場合において、当該測定対象とする部分の対称軸上に配される位置に歪みゲージが配されているものとみなして、前記相対位置特定処理を実行する
請求項３に記載のＥＩＴ測定装置。
前記測定対象とする部分に巻き付けられた前記測定用ベルト上の、当該測定対象とする部分の対称軸上に配される位置に歪みゲージが配されない場合において、当該測定対象とする部分の対称軸上に配される位置に歪みゲージが配されているものとみなして、前記相対位置特定処理を実行する
請求項３に記載のＥＩＴ測定装置。
【請求項5】
前記輪郭推定部は、前記形状特定処理において、
一の歪みゲージの位置と、当該一の歪みゲージに隣接する他の歪みゲージの位置と、を結ぶ曲線を特定する複数の補完点を設定するとともに、前記複数の補完点の原点からの距離は、当該補完点と、原点と、前記一の歪みゲージの位置と、が成す角度についての所定の関数によって定められる
請求項１から請求項４の何れか一項に記載のＥＩＴ測定装置。
一の歪みゲージの位置と、当該一の歪みゲージに隣接する他の歪みゲージの位置と、を結ぶ曲線を特定する複数の補完点を設定するとともに、前記複数の補完点の原点からの距離は、当該補完点と、原点と、前記一の歪みゲージの位置と、が成す角度についての所定の関数によって定められる
請求項１から請求項４の何れか一項に記載のＥＩＴ測定装置。
【請求項6】
前記複数の電極パッドと並列して配置されながら、前記測定用ベルトに貼着される周囲長計測用電極パッドと、
前記周囲長計測用電極パッドを介して取得される電圧信号に基づいて、前記測定対象とする部分の周囲長を計測する周囲長測定部と、
を備える請求項１から請求項５の何れか一項に記載のＥＩＴ測定装置。
前記周囲長計測用電極パッドを介して取得される電圧信号に基づいて、前記測定対象とする部分の周囲長を計測する周囲長測定部と、
を備える請求項１から請求項５の何れか一項に記載のＥＩＴ測定装置。
【請求項7】
並べて配置される複数の電極パッドと、当該複数の電極パッドに沿って配置される複数の歪みゲージと、が一体として貼着された測定用ベルトを、生体の測定対象とする部分に巻きつけ、
ＥＩＴ測定制御部が、前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号を取得しながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得し、
輪郭推定部が、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記測定対象とする部分の輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、前記輪郭形状及びその大きさを推定し、
前記輪郭推定部は、前記相対位置特定処理において、
並べて配置される複数の前記歪みゲージのうち、一つ以上の前記歪みゲージを隔てた所定間隔ごとに指定される歪みゲージの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、
前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す歪みゲージの中間に配される何れかの歪みゲージの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、
一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記歪みゲージの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、
前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す歪みゲージの両隣に配される歪みゲージの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、
を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対座標値を、前記基準点から前記従属点までの間に既知の間隔に配されるｎ個（ｎは２以上の整数）の座標位置Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）それぞれにおける曲率半径Ｒｉの円弧に基づいて特定し、
前記曲率半径Ｒｉは、前記基準点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒａから前記従属点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒｂまでの間において、前記座標位置Ｑｉと前記基準点及び前記従属点との位置関係によって特定される
ＥＩＴ測定方法。
ＥＩＴ測定制御部が、前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号を取得しながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得し、
輪郭推定部が、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記測定対象とする部分の輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、前記輪郭形状及びその大きさを推定し、
前記輪郭推定部は、前記相対位置特定処理において、
並べて配置される複数の前記歪みゲージのうち、一つ以上の前記歪みゲージを隔てた所定間隔ごとに指定される歪みゲージの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、
前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す歪みゲージの中間に配される何れかの歪みゲージの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、
一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記歪みゲージの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、
前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す歪みゲージの両隣に配される歪みゲージの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、
を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対座標値を、前記基準点から前記従属点までの間に既知の間隔に配されるｎ個（ｎは２以上の整数）の座標位置Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）それぞれにおける曲率半径Ｒｉの円弧に基づいて特定し、
前記曲率半径Ｒｉは、前記基準点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒａから前記従属点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒｂまでの間において、前記座標位置Ｑｉと前記基準点及び前記従属点との位置関係によって特定される
ＥＩＴ測定方法。
【請求項8】
並べて配置される複数の電極パッドと、当該複数の電極パッドに沿って配置される複数の歪みゲージと、を一体として貼着するとともに、生体の測定対象とする部分に巻きつけられて使用される測定用ベルトと、を備えるＥＩＴ測定装置のコンピュータを、
前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号を取得しながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御手段、
前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定手段、
として機能させ、
前記輪郭推定手段は、
前記曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、
前記輪郭推定手段は、前記相対位置特定処理において、
並べて配置される複数の前記歪みゲージのうち、一つ以上の前記歪みゲージを隔てた所定間隔ごとに指定される歪みゲージの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、
前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す歪みゲージの中間に配される何れかの歪みゲージの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、
一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記歪みゲージの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、
前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す歪みゲージの両隣に配される歪みゲージの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、
を実行し、
前記輪郭推定手段は、前記相対座標値を、前記基準点から前記従属点までの間に既知の間隔に配されるｎ個（ｎは２以上の整数）の座標位置Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）それぞれにおける曲率半径Ｒｉの円弧に基づいて特定し、
前記曲率半径Ｒｉは、前記基準点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒａから前記従属点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒｂまでの間において、前記座標位置Ｑｉと前記基準点及び前記従属点との位置関係によって特定される
プログラム。
前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号を取得しながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御手段、
前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定手段、
として機能させ、
前記輪郭推定手段は、
前記曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、
前記輪郭推定手段は、前記相対位置特定処理において、
並べて配置される複数の前記歪みゲージのうち、一つ以上の前記歪みゲージを隔てた所定間隔ごとに指定される歪みゲージの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、
前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す歪みゲージの中間に配される何れかの歪みゲージの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、
一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記歪みゲージの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、
前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す歪みゲージの両隣に配される歪みゲージの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、
を実行し、
前記輪郭推定手段は、前記相対座標値を、前記基準点から前記従属点までの間に既知の間隔に配されるｎ個（ｎは２以上の整数）の座標位置Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）それぞれにおける曲率半径Ｒｉの円弧に基づいて特定し、
前記曲率半径Ｒｉは、前記基準点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒａから前記従属点に位置する歪みゲージが取得した曲率半径Ｒｂまでの間において、前記座標位置Ｑｉと前記基準点及び前記従属点との位置関係によって特定される
プログラム。
【請求項9】
並べて配置される複数の電極パッドと、当該複数の電極パッドと並列して配置される複数の曲率センサと、を一体として貼着しながら、生体の測定対象とする部分に巻きつけられて使用される測定用ベルトと、
前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号の取得をしながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御部と、
前記曲率センサを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定部と、
を備え、
前記輪郭推定部は、
前記曲率データに基づいて、前記曲率センサごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された曲率センサ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対位置特定処理において、
並べて配置される複数の前記曲率センサのうち、一つ以上の前記曲率センサを隔てた所定間隔ごとに指定される曲率センサの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、
前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す曲率センサの中間に配される何れかの曲率センサの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記曲率センサを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、
一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記曲率センサの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、
前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す曲率センサの両隣に配される曲率センサの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、
を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対座標値を、前記基準点から前記従属点までの間に既知の間隔に配されるｎ個（ｎは２以上の整数）の座標位置Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）それぞれにおける曲率半径Ｒｉの円弧に基づいて特定し、
前記曲率半径Ｒｉは、前記基準点に位置する曲率センサが取得した曲率半径Ｒａから前記従属点に位置する曲率センサが取得した曲率半径Ｒｂまでの間において、前記座標位置Ｑｉと前記基準点及び前記従属点との位置関係によって特定される
ＥＩＴ測定装置。
前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号の取得をしながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御部と、
前記曲率センサを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定部と、
を備え、
前記輪郭推定部は、
前記曲率データに基づいて、前記曲率センサごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された曲率センサ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対位置特定処理において、
並べて配置される複数の前記曲率センサのうち、一つ以上の前記曲率センサを隔てた所定間隔ごとに指定される曲率センサの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、
前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す曲率センサの中間に配される何れかの曲率センサの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記曲率センサを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、
一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記曲率センサの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、
前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す曲率センサの両隣に配される曲率センサの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、
を実行し、
前記輪郭推定部は、前記相対座標値を、前記基準点から前記従属点までの間に既知の間隔に配されるｎ個（ｎは２以上の整数）の座標位置Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）それぞれにおける曲率半径Ｒｉの円弧に基づいて特定し、
前記曲率半径Ｒｉは、前記基準点に位置する曲率センサが取得した曲率半径Ｒａから前記従属点に位置する曲率センサが取得した曲率半径Ｒｂまでの間において、前記座標位置Ｑｉと前記基準点及び前記従属点との位置関係によって特定される
ＥＩＴ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、生体の断層画像を測定する電気インピーダンストモグラフィ（Electrical Impedance Tomography）測定装置、断面形状取得方法及びプログラムに関する。本願は、２０１３年７月２日に、日本に出願された特願２０１３−１３９１６４号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
【背景技術】
【0002】
電気インピーダンストモグラフィ（以下、単にＥＩＴと記載する）測定装置は、体表面上に貼付した電極対から微弱電流を流すとともに、体表面上に生じた電位差から、生体内の導電率分布または導電率変化の分布を画像化する技術である。ＥＩＴは、微弱電流を流すだけで断層画像を取得できるので、Ｘ線ＣＴ（Computed tomography）と比較して、被曝の問題がなく、小型化や長時間測定、リアルタイムの測定が容易であるという利点がある。
【0003】
ＥＩＴ測定では、一般的に、８個から６４個の電極を用いる。これらの電極を測定対象部位の周囲に貼着し、かつ、それらの電極に対して個々に接続された信号ケーブルを引き回して、測定用回路に接続する。近年では、これら複数の電極並びに信号ケーブルをモジュールとして単一化し、電極の着脱、測定装置のセッティングを容易にする方法が試みられている。【0004】
さらに、そのような方法の中で、ＥＩＴで使用する多数の電極ケーブルを、複数個ごとにモジュール化して電極と接続する技術や、ＥＩＴ測定の際に必要である多数の電極を体表面に接続する手続きを簡略化させるために、複数個ごとに電極をモジュール化する技術が提案されている（例えば、特許文献１、特許文献２参照）。【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開２０１２−２２８５１４号公報
【特許文献2】特開２００９−５２３０３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかしながら、上述のＥＩＴ測定において、複数の電極パッドを介して取得した電気信号を基に生成した断層画像には、その電極パッドが、いかなる位置関係で配されていたかを示す情報が含まれていない。すなわち、ＥＩＴ測定装置が生成した断層画像は、電極パッド間の相対的な位置関係を仮想して生成されたものであり、断層画像における各座標位置と、測定対象における実際の断層面における各位置との絶対的な位置関係が特定されたものとはなっていない。そうすると、ＥＩＴ測定装置のオペレータ（診療を行う者）は、輪郭の形状や大きさが異なる種々の測定対象について、生成された断層画像に基づいて正確な診断を行うことができない。
【0007】
これに対し、ＥＩＴ測定装置のオペレータは、専用のノギスなどを用いて測定対象部の横の長さに対する縦の長さの比（ｅ値という）を測定する等の対応を行う等して、測定対象部の形状を把握する作業を行っていたが、これでは手間が煩雑となるばかりでなく測定誤差も大きくなる可能性があった。また、この手法では、身体を起こすことが困難な患者に対しては対応が困難であった。【0008】
本発明は、輪郭の形状や大きさが異なる種々の測定対象に対しても、簡素で、かつ、より正確な診断を行うことができるＥＩＴ測定装置、ＥＩＴ測定方法及びプログラムを提供する。【課題を解決するための手段】
【0009】
本発明の第１の態様によれば、ＥＩＴ測定装置は、並べて配置される複数の電極パッドと、当該複数の電極パッドと並列して配置される複数の歪みゲージと、を一体として貼着しながら、生体の測定対象とする部分に巻きつけられて使用される測定用ベルトと、前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号の取得をしながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御部と、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定部と、を備え、前記輪郭推定部は、前記曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行する。【0010】
本発明の第２の態様によれば、上述のＥＩＴ測定装置において、前記輪郭推定部が、前記形状特定処理の後に、さらに、前記推定された輪郭形状の周囲長が別途測定された前記測定対象とする部分の周囲長と一致するように、前記推定された輪郭形状を拡大または縮小するサイズ特定処理を実行する。【0011】
本発明の第３の態様によれば、上述のＥＩＴ測定装置において、前記輪郭推定部が、前記相対位置特定処理において、並べて配置される複数の前記歪みゲージのうち、一つ以上の前記歪みゲージを隔てた所定間隔ごとに指定される歪みゲージの位置を示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する第１ステップと、前記基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す歪みゲージの中間に配される何れかの歪みゲージの位置を示す従属点の座標位置を示す相対座標値を、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて算出する第２ステップと、一の前記基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される第１従属点と、他の基準点の座標位置に対する相対座標値から座標位置が特定される従属点であって前記第１従属点と同一の前記歪みゲージの位置を示す第２従属点と、の座標位置が最も近くなるように、前記一の基準点及び前記他の基準点の座標位置を変更する第３ステップと、前記第３ステップによって変更した後の前記第１従属点と前記第２従属点との中点を、前記基準点が示す歪みゲージの両隣に配される歪みゲージの位置を示す２つの従属点の座標位置と特定する第４ステップと、を実行する。【0012】
本発明の第４の態様によれば、上述のＥＩＴ測定装置において、前記輪郭推定部が、前記相対位置特定処理の前記第１ステップにおいて、前記複数の歪みゲージのうち、前記測定対象とする部分の対称軸上に配される歪みゲージを示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する。【0013】
本発明の第５の態様によれば、上述のＥＩＴ測定装置において、前記輪郭推定部が、前記測定対象とする部分に巻き付けられた前記測定用ベルト上の、当該測定対象とする部分の対称軸上に配される位置に歪みゲージが配されない場合において、当該測定対象とする部分の対称軸上に配される位置に歪みゲージが配されているものとみなして、前記相対位置特定処理を実行する。【0014】
本発明の第６の態様によれば、上述のＥＩＴ測定装置において、前記輪郭推定部が、前記形状特定処理において、一の歪みゲージの位置と、当該一の歪みゲージに隣接する他の歪みゲージの位置と、を結ぶ曲線を特定する複数の補完点を設定するとともに、前記複数の補完点の原点からの距離は、当該補完点と、原点と、前記一の歪みゲージの位置と、が成す角度についての所定の関数によって定められる。【0015】
本発明の第７の態様によれば、上述のＥＩＴ測定装置は、前記複数の電極パッドと並列して配置されながら、前記測定用ベルトに貼着される周囲長計測用電極パッドと、前記周囲長計測用電極パッドを介して取得される電圧信号に基づいて、前記測定対象とする部分の周囲長を計測する周囲長測定部と、を備える。【0016】
本発明の第８の態様によれば、ＥＩＴ測定方法は、並べて配置される複数の電極パッドと、当該複数の電極パッドに沿って配置される複数の歪みゲージと、が一体として貼着された測定用ベルトを、生体の測定対象とする部分に巻きつけ、ＥＩＴ測定制御部が、前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号を取得しながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得し、輪郭推定部が、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記測定対象とする部分の輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行し、前記輪郭形状及びその大きさを推定する。【0017】
本発明の第９の態様によれば、プログラムは、並べて配置される複数の電極パッドと、当該複数の電極パッドに沿って配置される複数の歪みゲージと、を一体として貼着するとともに、生体の測定対象とする部分に巻きつけられて使用される測定用ベルトと、を備えるＥＩＴ測定装置のコンピュータを、前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号を取得しながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御手段、前記歪みゲージを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定手段、として機能させ、前記輪郭推定手段は、前記曲率データに基づいて、前記歪みゲージごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された歪みゲージ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行する。【0018】
本発明の第１０の態様によれば、ＥＩＴ測定装置は、並べて配置される複数の電極パッドと、当該複数の電極パッドと並列して配置される複数の曲率センサと、を一体として貼着しながら、生体の測定対象とする部分に巻きつけられて使用される測定用ベルトと、前記複数の電極パッドへの通電、及び、当該電極パッド間に生じる電圧信号の取得をしながら、前記測定対象とする部分の断層画像を取得するＥＩＴ測定制御部と、前記曲率センサを介して取得される曲率データに基づいて、前記測定対象とする部分の輪郭形状及びその大きさを推定する輪郭推定部と、を備え、前記輪郭推定部は、前記曲率データに基づいて、前記曲率センサごとの相対的な位置関係を特定する相対位置特定処理と、当該相対的な位置関係が特定された曲率センサ間を、所定の関数曲線で結び合わせながら前記輪郭形状を特定する形状特定処理と、を実行する。【発明の効果】
【0019】
輪郭の形状や大きさが異なる種々の測定対象に対しても、簡素で、かつ、より正確な診断を行うことができる。【図面の簡単な説明】
【0020】
【図1】第１の実施形態に係るＥＩＴ測定装置の全体構成を示す図である。
【図2】第１の実施形態に係る測定用ベルトの機能構成を示す図である。
【図3】第１の実施形態に係るＥＩＴ測定本体部の機能構成を示す図である。
【図4】第１の実施形態に係るＥＩＴ測定制御部の機能を説明する第１の図である。
【図5】第１の実施形態に係るＥＩＴ測定制御部の機能を説明する第２の図である。
【図6】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理フローを示す図である。
【図7】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第１の図である。
【図8】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第２の図である。
【図9】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第３の図である。
【図10】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第４の図である。
【図11】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第５の図である。
【図12】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第６の図である。
【図13】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第７の図である。
【図14A】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第８の図である。
【図14B】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第８の図である。
【図15】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第９の図である。
【図16】第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理結果を示す図である。
【図17A】第１の実施形態に係るＥＩＴ測定制御部による画像生成処理の例を説明する図である。
【図17B】第１の実施形態に係るＥＩＴ測定制御部による画像生成処理の例を説明する図である。
【図18】第２の実施形態に係る測定用ベルトの機能構成を示す図である。
【図19】第２の実施形態に係る周囲長測定部の機能を説明する図である。
【図20】第３の実施形態に係る測定用ベルトの機能構成を示す図である。
【図21】第３の実施形態に係る測定用ベルトが巻かれた状態を示す図である。
【図22】第３の実施形態に係る輪郭推定部の機能を説明する図である。
【図23】第３の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第１の図である。
【図24】第３の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第２の図である。
【図25】第３の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第３の図である。
【図26】第３の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第４の図である。
【図27】第３の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第５の図である。
【図28】第３の実施形態の変形例に係る測定用ベルトが巻かれた状態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0021】
＜第１の実施形態＞以下、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定装置を、図面を参照して説明する。
図１は、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定装置の全体構成を示す図である。図１において、ＥＩＴ測定装置１を示している。
【0022】
ＥＩＴ測定装置１は、測定用ベルト１０と、ＥＩＴ測定本体部２０と、から構成される。図１に示すように、測定用ベルト１０は、例えば測定対象者（生体）の胸部等、測定対象とする部分（以下、測定対象部Ｘと記載）に巻きつけられて使用される。測定用ベルト１０は、測定回路１１及び信号ケーブル１９を介してＥＩＴ測定本体部２０に接続されている。測定用ベルト１０は、巻きつける長さの調整が可能な構成となっており、胸部などの他、頭部や腕、脚等にも巻かれて使用されてもよい。測定用ベルト１０は、後述するように、ＥＩＴ測定を行うための電極パッド等が同一のフレキシブル基板に設けられており、これら電極パッド等を一体として扱うことが可能な構成となっている（例えば、特許文献、特願２０１０−２０５９８８参照）。
【0023】
ＥＩＴ測定本体部２０は、測定用ベルト１０及び測定回路１１を介して取得した電気信号に基づいて所定の演算処理を行い、測定対象者の測定用ベルト１０が巻かれた部分（測定対象部Ｘ）の断層画像を表示する機能部である。ＥＩＴ測定装置１のオペレータは、ＥＩＴ測定本体部２０に備えられる操作入力部を介してＥＩＴ測定のための条件等を設定したり、或いは、ＥＩＴ測定本体部２０に備えられるモニタ（画像表示部）を介して断層画像を認知したりすることができる。ＥＩＴ測定本体部２０の詳細な機能構成については後述する。【0024】
図２は、第１の実施形態に係る測定用ベルトの機能構成を示す図である。図２に示すように、測定用ベルト１０は、帯状のフレキシブル基板１４上において８個の電極パッド１２Ａ〜１２Ｈが等間隔の距離Ｐで並べて配置（周期配列）される構成となっている。また、同じくフレキシブル基板１４上において、当該８個の電極パッド１２Ａ〜１２Ｈと並列して８個の歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈが等間隔の距離Ｐで周期配列されている。
測定用ベルト１０は、これら複数の電極パッド１２Ａ〜１２Ｈ、及び、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈを一体として貼着しながら、測定対象者の測定対象部Ｘに巻きつけられて使用される。各電極パッド１２Ａ〜１２Ｈは、測定用ベルト１０が巻きつけられた際に、測定対象部Ｘの周囲を囲む体表面に接触される仕組みとなっている。
このような構成とすることで、ＥＩＴ測定装置１のオペレータは、測定用ベルト１０を測定対象部Ｘへ巻きつけて取り付ける作業を行うのみで測定を開始することができるので、電極パッドの取り付けの手間を大幅に削減し、ＥＩＴ測定の作業効率を改善することができる。
なお、測定用ベルト１０は、測定時における測定対象者の負担を軽減する等の目的で、フレキシブル基板１４が、さらに非導電性のベルト状の布に覆われた態様を成していてもよい。
また、この場合において、測定用ベルト１０は、上記布ベルトのうち電極パッド１２Ａ〜１２Ｈと接する部分が導電性ゲルや導電性繊維電極で構成されるとともに、測定装置１は、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈと体表面との間に当該導電性ゲルまたは導電性繊維電極を介在させながらＥＩＴ測定を行ってもよい。このようにすることで、測定用ベルト１０の構成を、布ベルト部分のみを取り外して洗濯あるいは廃棄できるような構成とすることができ、衛生面での使い勝手を一層向上させることができる。
また、測定用ベルト１０は、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈそれぞれの裏面の同じ位置に、同じ特性のひずみゲージを有していてもよい。これら測定箇所毎の一対の歪みゲージを一つのブリッジ回路に接続する２アクティブゲージ法を用いることで、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの温度補正自動化と高感度化、高精度化を実現することができる。
或いは、測定用ベルト１０は、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈそれぞれの裏面の同じ位置に、温度センサを有していてもよい。そして測定装置１は、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈによって取得される曲率データを、当該温度センサによって取得される温度データに基づいて、曲率データの温度補正を行ってもよい。このようにすることで、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの高感度化、高精度化を実現することができる。
【0025】
また、測定回路１１は、ＥＩＴ測定本体部２０と、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈ及び歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈと、の電気信号のやり取りを仲介する電気回路である。例えば、測定回路１１には、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈにおいて出力される電気信号を増幅したり、Ａ／Ｄ（Analog/Digital）変換したりする回路が備えられている。【0026】
図３は、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定本体部の機能構成を示す図である。本実施形態に係るＥＩＴ測定本体部２０は、汎用のパーソナルコンピュータ（パソコン）及び一般的な周辺機器（パソコンモニタ等）で構成される。
【0027】
図３に示すように、ＥＩＴ測定本体部２０は、全体の動作を司るＣＰＵ（Central Processing Unit：中央演算装置）２００と、ＥＩＴ測定に使用される測定用プログラム等の実行時においてＣＰＵ２００のワークエリアとなるＲＡＭ（Random Access Memory）２１０と、各種プログラム及びＥＩＴ測定制御部２０１が取得した断層画像等を記憶する記憶手段としてのＨＤＤ（Hard Disk Drive）２１１と、を備えている。また、操作入力部２１２は、例えばマウス、キーボード、タッチパネル等から構成され、オペレータによる各種操作の入力を受け付ける。画像表示部２１３は、液晶ディスプレイ等であって、ＥＩＴ測定時において必要な情報や、取得された断層画像等を表示する。
外部インターフェイス２１４は、外部装置との通信を行うための通信インターフェイスであり、特に本実施形態においては、専用の通信ケーブルを介して測定用ベルト１０と接続され、測定用ベルト１０から種々の信号を取得する機能部である。
ＣＰＵ２００、ＲＡＭ２１０、ＨＤＤ２１１、操作入力部２１２、画像表示部２１３、外部インターフェイス２１４は、システムバス２１５を介して相互に電気的に接続されている。
【0028】
図３に示すように、ＣＰＵ２００は、所定の測定用プログラム実行時において、ＥＩＴ測定制御部２０１、輪郭推定部２０２としての機能を発揮する。ＥＩＴ測定制御部２０１は、複数の電極パッド１２Ａ〜１２Ｈへの通電、及び、当該電極パッド１２Ａ〜１２Ｈ間に生じる電圧信号の取得をしながら、測定対象部Ｘの断層画像を取得する。
また、輪郭推定部２０２は、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈを介して取得される曲率データに基づいて、測定対象部Ｘの輪郭形状及びその大きさを推定する。
【0029】
図４は、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定制御部の機能を説明する第１の図である。また、図５は、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定制御部の機能を説明する第２の図である。
以下、図４、図５を参照しながら、ＥＩＴ測定制御部２０１の機能について説明する。図４は、測定対象部Ｘの例として、例えば測定対象者の胸部に測定用ベルト１０が巻かれ、体表面に電極パッド１２Ａ〜１２Ｈが接触した状態を示している。図４に示すように、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈの間には電流源Ｉと電圧計Ｖが接続される構成となっており、また、ＥＩＴ測定制御部２０１は、この電流源Ｉと電圧計Ｖを制御する機能を有している。
【0030】
ＥＩＴ測定制御部２０１は、電流源Ｉを介して、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈのうちの一対の電極パッドの間（例えば、電極パッド１２Ａと電極パッド１２Ｂの間）に所定の微弱電流を流す制御を行う。ＥＩＴ測定制御部２０１は、一対の電極パッドに微弱電流を流す間に、電圧計Ｖを介して、他の電極パッド（電極パッド１２Ｃ〜１２Ｈ）の各々の間に生じる電位差を測定する。電流を流す電極パッドを１２Ｂと１２Ｃ、１２Ｃと１２Ｄ、・・・と順次変更しながら回転させることで、測定対象部Ｘの断層における抵抗率分布を取得することができる。【0031】
ＥＩＴ測定制御部２０１は、上記のようにして取得した測定対象とした断層面における抵抗率分布を基に、例えば、一般的な逆投影法を用いて断層画像を生成する。ＥＩＴ測定制御部２０１は、生成した断層画像を画像表示部２１３に表示させることで、オペレータに断層画像を視認させる。なおＥＩＴ測定制御部２０１において断層画像を生成する手法は公知の技術が用いられてよい。図５は、ＥＩＴ測定制御部２０１が生成した断層画像の例を示している。図５は、ＥＩＴ測定制御部２０１によって取得された測定対象者の胸部における断層画像であり、電気インピーダンスが高い領域ほど濃い色合いで示している。図５によれば、空気の存在によって電気インピーダンスが高く測定される肺野が、左右に存在している様子を知ることができる。
なお、ＥＩＴ測定制御部２０１が断層画像を生成する手法としては、上述した逆投影法の他に有限要素法（Finite Element Method：ＦＥＭ）を用いる手法、または、有限要素法と逆投影法を組み合わせる手法が考えられる。逆投影法を用いた場合、ＥＩＴ測定制御部２０１は、ある状態を基準とした相対的な変化のみしか画像化することができないが、有限要素法を用いることで、断層面における絶対的な電気抵抗率［Ωｍ］に基づいた断層画像を形成することができる。
【0032】
図５のように取得された断層画像は、あくまで電極パッド１２Ａ〜１２Ｈを介して取得された電気信号のみに基づいて生成されたものであり、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈが、実際にいかなる位置関係で配されているかを示す情報が含まれていない。すなわち、この断層画像は、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈ間の相対的な位置関係を仮想して生成されたものに過ぎない。したがって、ＥＩＴ測定制御部２０１が取得した断層画像は、断層画像における各座標位置と、測定対象における実際の断層面における各位置との絶対的な位置関係が特定されたものとはなっていないため、オペレータは、この断層画像に基づいて正確な診断を行うことができない。
そこで、本実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、まず、測定用ベルト１０に設けられた歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈと、輪郭推定部２０２とにより、測定対象部Ｘの断層面の輪郭の形状を推定する処理を行う。そして、上述したＥＩＴ測定制御部２０１は、輪郭推定部２０２によって推定された輪郭の形状に基づいた断層画像を生成する。
【0033】
図６は、第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理フローを示す図である。また、図７〜図１５は、各処理の具体的な内容を説明する第１〜第９の図である。
次に、本実施形態に係る輪郭推定部２０２が、測定対象部Ｘの断層面の輪郭形状を推定する処理を具体的に説明する。
図６に示すように、輪郭推定部２０２は、相対位置特定処理Ｓ１、形状特定処理Ｓ２、サイズ特定処理Ｓ３を経て、測定対象部Ｘの輪郭形状及び大きさを推定する。以下、各処理Ｓ１〜Ｓ３の内容について、図６及び図７〜図１５を参照しながら、詳細に説明する。
【0034】
（相対位置特定処理について）まず、輪郭推定部２０２は、相対位置特定処理Ｓ１において、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈごとの相対的な位置関係を特定する。
具体的には、図７に示すように、輪郭推定部２０２は、第１ステップＳ１０（図６）において、まず所定のｘｙ座標を設定するとともに、測定用ベルト１０の長手方向に沿って並べて配置される歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈのうち、一つおきに指定される歪みゲージ（歪みゲージ１３Ａ、１３Ｃ、１３Ｅ、１３Ｇ）それぞれについてのｘｙ座標上の座標位置を仮想的に示す基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｃ、Ｎ１３Ｅ、Ｎ１３Ｇを、所定のｘｙ座標上に仮決めする処理を行う。
【0035】
ここで、輪郭推定部２０２は、上記仮決めの処理において、例えば図７に示すように、原点Ｏを中心として、ｘ軸、ｙ軸上の上下左右に各基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｃ、Ｎ１３Ｅ、Ｎ１３Ｇの座標位置を特定する。具体的には、輪郭推定部２０２は、例えば、基準点Ｎ１３Ａ〜Ｎ１３Ｇごとに予め記憶された初期座標値をＨＤＤ２１１から読み出して、原点Ｏを中心とする座標上に設定する。ここで、例えば、基準点Ｎ１３Ａについての初期座標値は（０［ｃｍ］、５０［ｃｍ］）、Ｎ１３Ｃの初期座標値は（-５０［ｃｍ］、０［ｃｍ］）、Ｎ１３Ｅの初期座標値は（０［ｃｍ］、-５０［ｃｍ］）、Ｎ１３Ｇの初期座標値は（５０［ｃｍ］、０［ｃｍ］）などと記憶されている。【0036】
次に、輪郭推定部２０２は、第２ステップＳ１１（図６）において、基準点Ｎ１３Ａ〜Ｎ１３Ｇと、各基準点Ｎ１３Ａ〜Ｎ１３Ｇが示す歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｇ各々の両隣に配される２つの歪みゲージの位置を仮想的に示す従属点と、の相対的な位置関係を特定する。なお、相対的な位置関係によって関連付けられた１つの基準点（例えばＮ１３Ａ）と、当該基準点の両隣の２つの従属点（例えばＮ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｈ２）との組み合わせを一組の「束」と定義する。
【0037】
輪郭推定部２０２は、第２ステップＳ１１において、歪みゲージ１３Ａの位置を示す基準点Ｎ１３Ａについて、測定用ベルト１０が測定対象者に巻きつけられた際に歪みゲージ１３Ａの両隣に配される歪みゲージ１３Ｂ、１３Ｈの位置を仮想的に示す点をそれぞれ従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｈ２として、基準点Ｎ１３Ａとの相対的な位置関係を特定する。ここで、輪郭推定部２０２は、基準点に対する各従属点の相対的な位置関係を特定するにあたり、各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈから取得した曲率データを測定回路１１より入力して参照する。【0038】
図８は、例として、輪郭推定部２０２が、基準点Ｎ１３Ａに対する従属点Ｎ１３Ｂ１の相対的な位置関係を特定する具体的な処理を示している。まず、ＨＤＤ２１１は、既知のデータとして、歪みゲージ１３Ａと歪みゲージ１３Ｂとの間隔が距離Ｐであることを記憶している。そして輪郭推定部２０２は、ＨＤＤ２１１を参照して、歪みゲージ１３Ａと歪みゲージ１３Ｂとの間隔を示す距離Ｐを読み取る。また、輪郭推定部２０２は、歪みゲージ１３Ａと歪みゲージ１３Ｂによって検出された曲率データから、各々が配される箇所における曲率半径を取得する。
ここで、歪みゲージ１３Ａが配される箇所における曲率半径がＲａ、歪みゲージ１３Ｂが配される箇所における曲率半径がＲｂであったとする。
【0039】
次に、輪郭推定部２０２は、歪みゲージ１３Ａと歪みゲージ１３Ｂとの間隔を示す距離Ｐに基づいて、予め設定された微小距離ｄＰを算出する。この微小距離ｄＰは、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈが配される間隔の距離Ｐをｎ等分（ｎは２以上の整数）して微小に分割したものである。そして輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａが配される点Ｑ１（図８）から、距離ｄＰだけ従属点Ｎ１３Ｂ１に近づいた点Ｑ２の座標位置を特定する。ここで輪郭推定部２０２は、点Ｑ１（＝基準点Ｎ１３Ａ）における曲率半径がＲ１（＝Ｒａ）であることから、点Ｑ１（＝基準点Ｎ１３Ａ）と原点Ｏとを結ぶ直線上において、点Ｑ１を基準とした当該曲率半径Ｒ１によって定まる中心Ｏ１を特定し、その中心Ｏ１，半径Ｒ１で定まる円弧上の点であって、点Ｑ１から従属点Ｎ１３Ｂ１の方向に微小距離ｄＰだけ離れた点Ｑ２の座標位置を特定する（図８参照）。なお、輪郭推定部２０２は、微小距離ｄＰを十分に小さく設定した場合、点Ｑ１と点Ｑ２の間の微小距離ｄＰを円弧の長さとしてではなく、点Ｑ１と点Ｑ２の直線距離と近似して点Ｑ２の座標位置を特定する処理を行ってもよい。
【0040】
次に、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａから従属点Ｎ１３Ｂ１にかけて、曲率半径がＲａからＲｂへ徐々に変化するものと仮定して、点Ｑ２における曲率半径Ｒ２を算出する。例えば、輪郭推定部２０２は、距離Ｐをｎ等分して微小距離ｄＰを設定した場合、点Ｑ２における曲率半径Ｒ２を、Ｒ２＝Ｒａ＋（Ｒｂ−Ｒａ）／ｎの式により算出する。次に、輪郭推定部２０２は、点Ｑ２から微小距離ｄＰだけ従属点Ｎ１３Ｂ１に近づいた点Ｑ３の座標位置を特定する。この点Ｑ３の座標位置の特定において輪郭推定部２０２は、点Ｑ２における曲率半径がＲ２であることから、点Ｑ２と中心Ｏ１とを結ぶ直線上において、点Ｑ２を基準とした曲率半径Ｒ２によって定まる中心Ｏ２を特定し、その中心Ｏ２，半径Ｒ２で定まる円弧上の点であって、点Ｑ２から従属点Ｎ１３Ｂ１の方向に微小距離ｄＰだけ離れた点Ｑ３の座標位置を特定する（図８参照）。
【0041】
輪郭推定部２０２は、以上の処理を繰り返しながら、Ｑ３、Ｑ４、・・・と微小距離ｄＰごとに座標位置を特定していき、微小距離ｄＰの総和が距離Ｐとなったときの点Ｑｎを従属点Ｎ１３Ｂ１と決定する。なお、点Ｑｉ（１≦ｉ≦ｎ）における曲率半径Ｒｉを求める一般式は、Ｒｉ＝Ｒａ＋（Ｒｂ−Ｒａ）×ｉ／ｎで与えられる。以上の処理により、基準点Ｎ１３Ａと従属点Ｎ１３Ｂ１との相対的な位置関係を示す、従属点Ｎ１３Ｂ１についての相対座標値が特定される。同様に、輪郭推定部２０２は、従属点Ｎ１３Ｈ２についての相対座標値を特定する。輪郭推定部２０２は、このようにして、相対的な位置関係が特定された基準点Ｎ１３Ａと、２つの従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｈ２と、を一組の束として関連付ける。
輪郭推定部２０２は、以上のような処理により、実際の体表面の形状を精度よく反映する仮定（歪みゲージ間の各点における曲率半径がなだらかに変化するものと仮定）のもと、基準点に対する従属点の相対的な位置関係を特定することができる。
【0042】
図９は、各基準点Ｎ１３Ａ〜Ｎ１３Ｇと、当該基準点Ｎ１３Ａ〜Ｎ１３Ｇに関する従属点Ｎ１３Ｂ１〜Ｎ１３Ｈ２と、をｘｙ座標上に示した図である。図９に示すように、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａの座標位置（ｘａ、ｙａ）を基準とした相対座標値（ｄｘｂ、ｄｙｂ）、（ｄｘｈ、ｄｙｈ）から、２つの従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｈ２の座標位置（ｘｂ、ｙｂ）、（ｘｈ、ｙｈ）を特定する。そして輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａの座標位置（ｘａ、ｙａ）と、２つの従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｈ２の座標位置（ｘｂ、ｙｂ）、（ｘｈ、ｙｈ）とを、束Ｔ１の情報として関連付けてＲＡＭ２１０に一時的に記録する。従属点Ｎ１３Ｂ１の座標位置（ｘｂ、ｙｂ）は、この段階において、ｘｂ＝ｘａ＋ｄｘｂ、ｙｂ＝ｘａ＋ｄｙｂで算出できる。
このように、束Ｔ１においては、基準点Ｎ１３Ａと、基準点Ｎ１３Ａに関連付けられた２つの従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｈ２の相対的な位置関係が特定されている。
同様に、輪郭推定部２０２は束Ｔ２の情報として、基準点Ｎ１３Ｃの座標位置の情報と、基準点Ｎ１３Ｃに関連付けられた２つの従属点Ｎ１３Ｄ１、Ｎ１３Ｂ２の各座標位置の情報とを対応付けてＲＡＭ２１０に一時的に記録する。
さらに、輪郭推定部２０２は束Ｔ３、束Ｔ４の情報として、基準点Ｎ１３Ｅ、Ｎ１３Ｇの座標位置の情報と、基準点Ｎ１３Ｅ及びＮ１３Ｇに関連付けられた２つの従属点Ｎ１３Ｆ１、Ｎ１３Ｄ２及びＮ１３Ｈ１、Ｎ１３Ｆ２の各座標位置の情報とを対応付けてＲＡＭ２１０に一時的に記録する。
【0043】
ここで上述したように、束Ｔ１において、従属点Ｎ１３Ｂ１は、歪みゲージ１３Ａの隣に配される歪みゲージ１３Ｂの位置を仮想的に示す点である。一方、束Ｔ２において、従属点Ｎ１３Ｂ２は、歪みゲージ１３Ｃの隣に配される歪みゲージ１３Ｂの位置を仮想的に示す点である。今、基準点の位置に対応する歪みゲージそれぞれの間に一つのみの電極パッドが存在し、体に貼着している電極パッドの数が合計８個であるとすると、異なる束（Ｔ１またはＴ２）に属する２つの従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｂ２は、同一の歪みゲージ１３Ｂの位置を示す。したがって、この場合、２つの従属点Ｎ１３Ｂ１（第１従属点）、Ｎ１３Ｂ２（第２従属点）は、本来、同一の座標位置で表されるものと考えられる。
また、図９において、束Ｔ２に属する従属点Ｎ１３Ｄ１と束Ｔ３に属する従属点Ｎ１３Ｄ２は、同一の歪みゲージ１３Ｄの位置を示している。同様に、従属点Ｎ１３Ｆ１とＮ１３Ｆ２は、同一の歪みゲージ１３Ｆの位置を示すもの、そして、従属点Ｎ１３Ｈ１とＮ１３Ｈ２は、同一の歪みゲージ１３Ｈの位置を示している。
したがって、これらの従属点Ｎ１３Ｄ１とＮ１３Ｄ２、Ｎ１３Ｆ１とＮ１３Ｆ２、及び、Ｎ１３Ｈ１とＮ１３Ｈ２についても同様の考えが成り立つ。
【0044】
ここで、輪郭推定部２０２は、第３ステップＳ１２として、束Ｔ１に含まれる従属点Ｎ１３Ｂ１と、束Ｔ２に含まれる従属点であって束Ｔ１に含まれる従属点Ｎ１３Ｂ１と同一の歪みゲージ１３Ｂの位置を示す従属点Ｎ１３Ｂ２と、を一致させるように、束Ｔ１、Ｔ２のそれぞれに含まれる各点（基準点、従属点）の座標位置を変更して、ｘｙ座標上における位置を移動させる処理を行う。この際、輪郭推定部２０２は、束Ｔ１、束Ｔ２それぞれに含まれる各基準点と各従属点の相対的な位置関係を維持したまま各点の座標位置を変更する。【0045】
図１０は、輪郭推定部２０２が、束Ｔ１と、束Ｔ２に含まれる各点（基準点、従属点）の座標位置を変更して、同一の歪みゲージ１３Ｂの位置を示す従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｂ２の座標位置を一致させる処理を示している。具体的には、図１０に示すように、輪郭推定部２０２は、束Ｔ１をｙ軸に沿って平行移動させるように座標位置を変更する処理を行う。「平行移動させるように」とは、例えば、基準点Ｎ１３Ａのｙ座標値を所定の値だけ加算または減算して座標位置を変更したときに、同時に、従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｈ２のｙ座標値についても、同一の値の加算または減算を行い、各点の相対的な位置関係を維持しながら座標位置を変更する処理を指す。ただし、本実施形態においては、従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｈ２の座標位置は、基準点Ｎ１３Ａの座標位置を基準とした相対座標値によって特定されているので、輪郭推定部２０２は、実質的には、基準点Ｎ１３Ａの座標位置のみを変更する処理を行うことで、束Ｔ１を平行移動させるように座標位置を変更する処理とすることができる。同様に、輪郭推定部２０２は、束Ｔ２をｘ軸に沿って原点Ｏに平行移動させるように座標位置を変更する処理を行う。
ここで、輪郭推定部２０２は、束Ｔ１、Ｔ２をそれぞれｙ軸及びｘ軸に沿って平行移動させた場合に、従属点Ｎ１３Ｂ１とＮ１３Ｂ２とが重なる一致点Ｋ（図１０）の座標位置を特定する。ここで、輪郭推定部２０２は、従属点Ｎ１３Ｂ１の現時点における座標位置が（ｘｂ１、ｙｂ１）であって、従属点Ｎ１３Ｂ２の現時点における座標位置が（ｘｂ２、ｙｂ２）であった場合に、一致点Ｋの座標位置を（ｘｂ１、ｙｂ２）と特定する。
そして、輪郭推定部２０２は、各従属点Ｎ１３Ｂ１と一致点Ｋとのｙ座標値についての差分（ｙｂ１−ｙｂ２）を算出し、束Ｔ１に含まれる基準点Ｎ１３Ａのｙ座標値について、差分（ｙｂ１−ｙｂ２）を減算する処理を行う。同様に、輪郭推定部２０２は、各従属点Ｎ１３Ｂ２と一致点Ｋとのｘ座標値についての差分（ｘｂ１−ｘｂ２）を算出し、束Ｔ２に含まれる基準点Ｎ１３Ｃのｘ座標値について、差分（ｘｂ１−ｘｂ２）を加算する処理を行う。
このようにして、輪郭推定部２０２は、従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｂ２の座標位置を一致させるように、各束Ｔ１、Ｔ２の座標位置を変更する。
【0046】
図１１は、次いで、輪郭推定部２０２が束Ｔ３に含まれる各点の座標位置を変更して、同一の歪みゲージ１３Ｄの位置を示す従属点Ｎ１３Ｄ１、Ｎ１３Ｄ２の位置を一致させる処理を示している。図１１に示すように、輪郭推定部２０２は、束Ｔ３をｙ軸に沿って平行移動させた際に、束Ｔ３の従属点Ｎ１３Ｄ２が、束Ｔ２の従属点Ｎ１３Ｄ１に最も接近するように、束Ｔ３各点の座標位置を変更する処理を行う。なお、この段階では束Ｔ２の座標位置は既に固定されているので、従属点Ｎ１３Ｄ１とＮ１３Ｄ２の座標位置は完全には一致せず、幾分の誤差を有するものとなる。
この処理の後、輪郭推定部２０２は、さらに、束Ｔ４をｘ軸に沿って平行移動させた際に、束Ｔ４の従属点Ｎ１３Ｆ２が束Ｔ３の従属点Ｎ１３Ｆ１に最も接近するように、束Ｔ４の各点の座標位置を変更する処理を行う。この段階では、上記と同様に、束Ｔ３の座標位置は既に固定されているので、従属点Ｎ１３Ｆ１とＮ１３Ｆ２の座標位置は完全に一致しない。また、束Ｔ４の従属点Ｎ１３Ｈ１と束Ｔ１の従属点Ｎ１３Ｈ２の座標位置も一致しない。
したがって、この段階では、各従属点の対、Ｎ１３Ｂ１とＮ１３Ｂ２、Ｎ１３Ｄ１とＮ１３Ｄ２、Ｎ１３Ｆ１とＮ１３Ｆ２、Ｎ１３Ｈ１とＮ１３Ｈ２、における座標位置の誤差量が不均一な状態となっている。よって、輪郭推定部２０２は、各従属点の対における座標位置の誤差量が均一化されるように、各束Ｔ１〜Ｔ４の座標位置を再度微調整する。例えば、輪郭推定部２０２は、各束Ｔ１〜Ｔ４のそれぞれについて、束Ｔ１〜Ｔ４に含まれる各点の相対的な位置関係を維持したまま微小移動を行い、当該微小移動ごとに誤差量を算出しつつ、その誤差量が均一化された時点で微小移動を停止する。
【0047】
図１２は、各束Ｔ１〜Ｔ４についての平行移動が完了した直後の状態を示している。図１２に示すように、各従属点の対、Ｎ１３Ｂ１とＮ１３Ｂ２、Ｎ１３Ｄ１とＮ１３Ｄ２、Ｎ１３Ｆ１とＮ１３Ｆ２、Ｎ１３Ｈ１とＮ１３Ｈ２における誤差量が均一化されたところで、各束Ｔ１〜Ｔ４の最終的な位置が特定される。
そして、輪郭推定部２０２は、従属点Ｎ１３Ｂ１とＮ１３Ｂ２各々が示す座標位置の中点を算出し、ここで算出された中点の座標位置を、歪みゲージ１３Ｂの位置を示す点Ｎ１３Ｂとして特定する（図６、第４ステップＳ１３）。輪郭推定部２０２は、同様の処理を、他の従属点の対（Ｎ１３Ｄ１とＮ１３Ｄ２、Ｎ１３Ｆ１とＮ１３Ｆ２、Ｎ１３Ｈ１とＮ１３Ｈ２）に対しても行う。
【0048】
図１３は、上述した第４ステップＳ１３の処理が完了した直後の状態を示している。図１３に示すように、輪郭推定部２０２は、相対位置特定処理Ｓ１（第１ステップＳ１０〜第３ステップＳ１２）の処理を経て、各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの相対的な位置関係を示す点Ｎ１３Ａ〜Ｎ１３Ｈを、座標上において特定する。
なお図１０〜１３を用いて説明した処理は、より一般的に説明すると、各束Ｔ１〜Ｔ４が示す基準点（Ｎ１３Ａ〜Ｎ１３Ｇ）の座標位置それぞれを原点Ｏ方向に移動させた場合において、当該基準点と従属点との相対的な位置関係が当該移動前の相対的な位置関係を保持した状態の各束における同一の歪みゲージを示す各従属点の座標位置の距離が最も近くなるような、各束を構成する基準点と従属点の移動後の座標位置を算出する。そして、輪郭推定部２０２はその同一の歪みゲージを示す従属点間の中点を、当該歪みゲージの位置を示す点として特定する。
【0049】
（形状特定処理について）本実施形態に係る輪郭推定部２０２は、相対位置特定処理Ｓ１を完了して、各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの相対的な位置関係を特定した後、これらを所定の関数曲線で結び合わせながら、測定対象部Ｘの輪郭形状を特定する形状特定処理Ｓ２を実行する（図６）。
【0050】
図１４Ａ、図１４Ｂは、形状特定処理Ｓ２の処理の具体的な内容を説明する図である。図１４Ａに示すように、輪郭推定部２０２は、歪みゲージ１３Ａの位置を示す点Ｎ１３Ａと、歪みゲージ１３Ａに隣接する歪みゲージ１３Ｂの位置を示す点Ｎ１３Ｂとを結ぶ曲線ＡＢを特定する。ここで輪郭推定部２０２が特定する曲線ＡＢは、歪みゲージ１３Ａと歪みゲージ１３Ｂの間における輪郭の形状を推定するものとなる。
【0051】
具体的には、輪郭推定部２０２は、点Ｎ１３Ａと点Ｎ１３Ｂとの間において、曲線ＡＢを特定する複数の補完点Ｈ１、Ｈ２、・・・を設定する処理を行う。まず、輪郭推定部２０２は、点Ｎ１３Ａと原点Ｏとを結ぶ長さｒＡの線分と、点Ｎ１３Ｂと原点Ｏとを結ぶ長さｒＢの線分と、が原点Ｏにおいて成す角度θＡＢを特定する（図１４Ａ参照）。
次に、輪郭推定部２０２は、ＨＤＤ２１１を参照して、予め設定された微小角度ｄθを特定する。この微小角度ｄθは、角度θＡＢを均等にｍ等分（ｍは２以上の整数）して微小に分割した角度を示している。そして、輪郭推定部２０２は、点Ｎ１３Ａと原点Ｏとを結ぶ線分を微小角度ｄθだけ傾けた直線上において補完点Ｈ１を特定する。次いで、輪郭推定部２０２は、さらに微小角度ｄθだけ傾けた直線上において補完点Ｈ２を特定する。このように、輪郭推定部２０２は、微小角度ｄθごとに特定される原点Ｏを通る複数の直線の各々について、補完点Ｈ１、Ｈ２、・・・を特定する（図１４Ａ参照）（図６、ステップＳ２０）。
【0052】
ここで、輪郭推定部２０２は、補完点Ｈ１、Ｈ２、・・・の位置を、所定の関数（２次関数ｆ（θ））に基づいて特定する。この２次関数ｆ（θ）は、補完点Ｈ１、Ｈ２、・・・と、原点Ｏと、歪みゲージ１３Ａの位置を示す点Ｎ１３Ａと、が成す角度θについての関数であって、補完点Ｈ１、Ｈ２、・・・と原点Ｏとを結ぶ線分の長さｒ１、ｒ２、・・・を解として特定する。また、輪郭推定部２０２は、相対位置特定処理Ｓ１を経て点Ｎ１３Ａ、点Ｎ１３Ｂの座標位置を特定しているので、その座標位置から点Ｎ１３Ａと原点Ｏとの距離ｒＡ、点Ｎ１３Ｂと原点Ｏとの距離ｒＢを算出する。そして、輪郭推定部２０２は、ｆ（０）＝ｒＡ、ｆ（θＡＢ）＝ｒＢとなる拘束条件を満たすように２次関数ｆ（θ）を設定する（図１４Ｂ参照）。
【0053】
例えば、補完点Ｈ１と、原点Ｏと、歪みゲージ１３Ａの位置を示す点Ｎ１３Ａとの成す角度はｄθである。よって、図１４Ｂに示すように、補完点Ｈ１と原点Ｏとを結ぶ線分の長さｒ１は、ｒ１＝ｆ（ｄθ）によって算出される。同様に、補完点Ｈ２と原点Ｏとを結ぶ線分の長さｒ２は、ｒ２＝ｆ（２×ｄθ）によって算出される。輪郭推定部２０２は、上記処理を繰り返して、補完点Ｈ１、Ｈ２、・・・の全てについての位置を特定する（図６、ステップＳ２１）。
【0054】
このようにすることで、輪郭推定部２０２は、各補完点Ｈ１、Ｈ２、・・・を結ぶ曲線ＡＢを特定することができる。輪郭推定部２０２は、同様にして、歪みゲージ１３Ｂと歪みゲージ１３Ｃとの間を結ぶ曲線ＢＣなど、他の歪みゲージ間における全ての曲線を特定する。輪郭推定部２０２は、最終的に、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの全てを結ぶ閉曲線、すなわち測定対象部Ｘの輪郭の形状を特定することができる。【0055】
（サイズ特定処理について）本実施形態に係る輪郭推定部２０２は、形状特定処理Ｓ２を完了して、測定対象となる部分の輪郭の形状を推定した後、当該輪郭の形状の大きさが現実の測定対象となる部分の大きさと一致するように、そのサイズを特定するサイズ特定処理Ｓ３を実行する（図６）。
【0056】
具体的には、輪郭推定部２０２は、サイズ特定処理Ｓ３において、形状特定処理Ｓ２により推定された輪郭形状の周囲長が、別途測定された測定対象部Ｘの周囲長と一致するように、推定された輪郭形状を拡大または縮小する処理を行う（図６、ステップＳ３０）。ここで別途測定された周囲長とは、ＥＩＴ測定装置１を用いたＥＩＴ測定とは別に、例えばメジャー等を用いて実測された、測定対象部Ｘの周囲長である。
【0057】
図１５は、輪郭推定部２０２が、推定された輪郭形状を拡大または縮小する処理の様子を示している。輪郭推定部２０２は、形状特定処理Ｓ２により形状が推定された輪郭の周囲長を算出し、これを、メジャー等を用いて別途測定された測定対象部Ｘの周囲長と比較する。そして、推定された輪郭の周囲長と、上記実測された周囲長とが異なる場合には、推定された輪郭形状を維持したまま、全体のサイズを拡大または縮小して、推定された輪郭の周囲長と、上記実測された周囲長とが一致するように調整する。
【0058】
輪郭推定部２０２は、以上の処理を経て、測定対象部Ｘの輪郭形状及びその大きさを推定する。【0059】
（効果）図１６は、第１の実施形態に係る輪郭推定部の処理結果を示す図である。
図１６は、輪郭推定部２０２が上記各処理Ｓ１〜Ｓ３を経て推定した測定対象者の胸郭の輪郭形状Ａと、当該胸郭について別途Ｘ線ＣＴによって取得されたＣＴ画像と、を重ね合わせた図を示している。図１６に示すように、輪郭推定部２０２が、測定用ベルト１０に備えられた歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈに基づいて推定した輪郭形状Ａは、ＣＴ画像に示される胸郭の輪郭形状と概ね一致している。
【0060】
図１７Ａ、図１７Ｂは、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定制御部による画像生成処理の例を説明する第１、第２の図である。ここで、ＥＩＴ測定制御部２０１が、輪郭推定部２０２によって推定された輪郭形状Ａに基づいて断層画像を生成する具体的な手法について簡単に説明する。ここで、ＥＩＴ測定制御部２０１が上述した有限要素法に基づいて断層画像を生成する場合を考える。
まず、ＥＩＴ測定制御部２０１は、予めＨＤＤ２１１に記憶された所定のＦＥＭモデルβ（図１７Ａ左）を指定する。このＦＥＭモデルβは、他の被測定者によるＣＴ画像等に基づいて予め作成されたものであって、ＥＩＴ測定における測定対象部Ｘと同一の部位（例えば胸部）が指定される。そして、ＥＩＴ測定制御部２０１は、輪郭推定部２０２によって推定された輪郭形状Ａと、指定したＦＥＭモデルβの輪郭形状Ｂ（図１７Ａ右）と、を重ね合わせて比較する（図１７Ｂ参照）。
【0061】
次に、ＥＩＴ測定制御部２０１は、輪郭形状Ａと、輪郭形状Ｂとの差分が最小となるように、輪郭形状Ｂを、Ｘ方向、Ｙ方向それぞれについて一定比率で伸縮する処理を行う。具体的には、ＥＩＴ測定制御部２０１は、輪郭形状Ａを構成する各点（図１７Ｂ黒丸で示す点）の位置と、輪郭形状Ｂ上において当該黒丸で示す各点に対応する点（図１７Ｂ白丸で示す点）の位置と、の差分ｄＬを全周囲で積分し、当該差分ｄＬの積分値が最小となるＸ方向、Ｙ方向それぞれについての伸縮比率（ｒｘ、ｒｙ）を算出する。次いで、ＥＩＴ測定制御部２０１は、算出された伸縮比率（ｒｘ、ｒｙ）を、最初に指定したＦＥＭモデルβに適用し、同比率でＸ方向、Ｙ方向にそれぞれ伸縮されたＦＥＭモデルβ’を生成する。
そして、ＥＩＴ測定制御部２０１は、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈを介して取得した電圧信号に対し、ＦＥＭモデルβ’についての有限要素法を適用することで、測定対象部Ｘの輪郭形状及び大きさに即した断層画像を取得する。
【0062】
なお、ＨＤＤ２１１には、複数の被測定者のＣＴ画像に基づいて作成された複数の異なるＦＥＭモデルβ１、β２、・・・が予め記憶されていてもよい。この場合、ＥＩＴ測定制御部２０１は、輪郭推定部２０２によって推定された輪郭形状Ａに最も近いＦＥＭモデルを選択する処理を行ってもよい。具体的には、ＥＩＴ測定制御部２０１は、複数のＦＥＭモデルβ１、β２、・・・のうち、例えば胸部において、輪郭形状Ａの周囲長と一致する周囲長を有するＦＥＭモデルβａを選択する。そして、周囲長が一致するＦＥＭモデルβａについて、上記と同様の伸縮処理を行う。【0063】
以上のように、ＥＩＴ測定装置１を用いることで、オペレータは、測定用ベルト１０を測定対象者における測定対象部Ｘに巻きつけるのみで、当該部分の輪郭形状を推定するとともに、推定された輪郭形状に基づいた断層画像を取得できる。したがって、オペレータは、その断層画像と、測定対象とした部分の絶対的な位置関係を特定することができるので、測定対象ごとに形状や大きさが異なっていたとしても、当該断層画像に基づいて正確な診断を行うことができる。
【0064】
以上、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定装置によれば、輪郭の形状や大きさが異なる種々の測定対象に対しても、簡素で、かつ、より正確な診断を行うことができる。【0065】
なお、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、上述した態様に限定されることはなく、以下のように変形可能である。【0066】
例えば、輪郭推定部２０２は、第３ステップＳ１２（図１０〜図１２参照）において、束Ｔ１〜Ｔ４を平行移動させて各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの相対的な位置関係を特定する処理は、上述した処理の内容に限定されない。例えば、輪郭推定部２０２が平行移動させる束Ｔ１〜Ｔ４を動かす順番は任意であり、図９に示す状態から図１２に示す状態へと移行することができれば、その間の処理内容は特に限定されない。
【0067】
また、輪郭推定部２０２は、形状特定処理Ｓ２のステップＳ２１（図１４Ａ、図１４Ｂ参照）において、相対的な位置関係が特定された各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈを示す点の間の輪郭を、２次関数に基づく複数の補完点をもって推定するものとした。しかし、本実施形態の変形例として、補完点の位置は、２次関数ではなく、他の関数（１次関数、３次関数等）をもって特定されるものであってもよい。また、経験則等に基づいて、複数の関数候補の中から適切な関数や必要なパラメータを適宜選択可能とする機能を有していてもよい。【0068】
また、上述の説明によれば、ＥＩＴ測定本体部２０は、信号ケーブル１９を介して測定用ベルト１０の測定回路１１に接続されている態様としている。しかし、本実施形態の他の変形例において、この態様に限定されることはない。例えば、ＥＩＴ測定本体部２０は、測定回路１１上に実装されている態様であってもよい。またこの場合において、ＥＩＴ測定本体部２０の機能が実装された測定回路１１は、さらに外部機器との無線または有線通信機能を有しているとともに、取得された断層画像を、種々の端末装置（スマートフォン、タブレット型コンピュータ、小型ゲーム機等）に無線あるいは有線で送信する機能を備えていてもよい。
【0069】
＜第２の実施形態＞次に、第２の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１について、図面を参照しながら説明する。なお、第１の実施形態と同一の機能構成については、同一の符号を付してその説明を省略する。
【0070】
図１８は、第２の実施形態に係る測定用ベルトの機能構成を示す図である。なお、図１８において、図面が煩雑となるのを避けるため、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈ及び歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの表記を省略しているが、実際には、第１の実施形態と同様に、フレキシブル基板１４上に周期配列された構成となっている。
図１８に示すように、本実施形態に係る測定用ベルト１０は、その長手方向に沿って（電極パッド１２Ａ〜１２Ｈ等と並列して）、間隔αで周期配列されながら測定用ベルト１０に貼着された首位長計測用電極パッド３０１、３０２、・・・、３０ｆを備えている。
【0071】
図１９は、第２の実施形態に係る周囲長測定部の機能を説明する図である。図１９に示すように、本実施形態に係るＥＩＴ測定本体部２０は、さらに、周囲長測定部２０３を備えている。周囲長測定部２０３は、周囲長計測用電極パッド３０１〜３０ｆを介して取得される電圧信号に基づいて、測定対象部Ｘの周囲長を計測する機能を有している。周囲長測定部２０３は、第１の実施形態におけるＥＩＴ測定制御部２０１、輪郭推定部２０２と同様に、ＥＩＴ測定本体部２０全体の動作を司るＣＰＵ２００が、測定用プログラム実行時においてその機能を発揮する態様であってもよい。
【0072】
周囲長測定部２０３は、予め、測定用ベルト１０に周期配列された周囲長計測用電極パッド３０１〜３０ｆの間隔α（図１８）を予め把握している。そして、周囲長測定部２０３は、周囲長計測用電極パッド３０１〜３０ｆにおける電極対ごとの電気インピーダンスを測定する。例えば、図１９に示すような状態のとき、周囲長計測用電極パッド３０１と周囲長計測用電極パッドとが密接しているため、当該周囲長計測用電極パッド３０１、３０ｂ間の電気インピーダンスは、両電極の容量結合に基づいて低下する。他の電極パッド対である３０２と３０ｃの間、３０３と３０ｅの間、３０４と３０ｆの間についても同様の結果となる。一方、周囲長計測用電極パッド３０ａ、３０５は、他の電極パッドとの容量結合が成されないため、周囲長測定部２０３は、周囲長計測用電極パッド３０ａ、３０５については高い電気インピーダンス値を検出する。
なお周囲長計測用電極パッドの間隔αは、必ずしも電極パッドの間隔と同じ必要はなく、間隔αを小さくすることで周囲長測定精度を向上させることができる。
【0073】
このようにして、周囲長測定部２０３は、周囲長計測用電極パッド３０１〜３０ｆの対ごとの電気インピーダンス値の相違から、測定用ベルト１０が巻きつけられて位置が重なった領域を特定し、測定対象部Ｘの周囲長を割り出す。【0074】
このＥＩＴ測定装置１は、ＥＩＴ測定とともに測定対象部Ｘの周囲長も同時に取得することが可能なので、ＥＩＴ測定装置１のオペレータは、第１の実施形態において測定対象部Ｘの周囲長を、別途メジャーなどを用いて実測していた手間（図６、ステップＳ３０参照）を省くことができる。よって、第２の実施形態に係るＥＩＴ測定装置によれば、ＥＩＴ測定を行う手順を一層簡素化することができる。
【0075】
なお、測定対象者や測定対象とする部分によって周囲長が異なる場合には、例えば、電極パッド間の距離等が変更された複数の測定用ベルト１０を予め用意しておき、その中から最適な長さのものを一つ選択して用いる態様であってもよい。また、測定用ベルト１０に伸縮可能な機構（ゴムバンド等）を備えたものがあってもよい。また、上述の説明において、各実施形態に係る測定用ベルト１０は、電極パッド１２Ａ〜１２Ｈ及び歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈを長手方向に８個ずつ周期配列した構成であるとし、また、輪郭推定部２０２における各処理Ｓ１〜Ｓ３の内容は、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの配列数が８個であることを前提として説明した。
しかし、他の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、例えば、電極パッド及び歪みゲージを１６個または３２個備える態様としてもよい。例えば測定用ベルト１０が伸縮可能な機構を備えていない場合には、測定対象部Ｘの大きさによって予め測定用ベルト１０に複数設けられた電極パッド１２Ａ〜１２Ｈや歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈのうち測定対象部Ｘの体表面に接触する電極パッド１２Ａ〜１２Ｈや、これに並列して配置される歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの数が変化することが考えられる。
このような態様の場合、例えば、輪郭推定部２０２は、測定用ベルト１０上の周期配列において一つ以上の歪みゲージを隔てた所定間隔ごとに指定される歪みゲージの位置を示す、予め定められた基準点の座標位置を、ＨＤＤ２１１から読み取り、その読み取った座標位置を初期座標値と特定する（第１ステップＳ１０）。
そして、当該基準点の座標位置に対する、当該基準点が示す歪みゲージの中間に配される何れかの歪みゲージの位置を示す従属点の座標位置を特定する相対座標値を、歪みゲージを介して取得した曲率データに基づいて算出する（第２ステップＳ１１）。
以下、第１の実施形態で説明した第３ステップＳ１２及び第４ステップＳ１３を行うことで、各歪みゲージの相対的な位置関係を特定することができる。
【0076】
＜第３の実施形態＞上述したように、第１の実施形態に係る相対位置特定処理Ｓ１では、一つおきに指定される歪みゲージ（歪みゲージ１３Ａ、１３Ｃ、１３Ｅ、１３Ｇ（図２））のｘｙ座標上における仮想位置を仮決めする際、ＥＩＴ測定装置１は、基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｅ、及び、基準点Ｎ１３Ｃ、Ｎ１３Ｇを、それぞれ、互いに直交するｘ軸上及びｙ軸上に配する（図７参照）。すなわち、第１の実施形態に係るＥＩＴ装置１は、測定用ベルト１０が測定対象部Ｘに巻かれる際、当該測定用ベルト１０上に周期配列される歪みゲージのうちの４つ（歪みゲージ１３Ａ、１３Ｃ、１３Ｅ、１３Ｇ）は、常に、互いに直交する軸（ｘ軸、ｙ軸）上に配されることを前提として計算を行っている。
【0077】
しかしながら、測定用ベルト１０に周期配列される歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈの周期間隔（距離Ｐ）は固定であるのに対し、測定対象部Ｘの周の長さは、測定対象者の体格によって変化する。したがって、必ずしも、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｈのうちの一部が互いに直交する軸上に配されるとは限らない。したがって、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、歪みゲージの一部が互いに直交する軸上に存在しない場合、形状の推定結果に誤差を生じさせる可能性がある。【0078】
これに対し、第３の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、歪みゲージの一部が互いに直交する軸上に存在しない場合であっても、輪郭形状を精度よく推定することができる。【0079】
以下、図面を参照しながら、第３の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１について詳細に説明する。【0080】
図２０は、第３の実施形態に係る測定用ベルトの機能構成を示す図である。図２０に示すように、測定用ベルト１０は、帯状のフレキシブル基板１４上において、１６個の歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐが等間隔の距離Ｐで周期配列されている。なお、図２０においては、図面が煩雑となるのを避けるため、測定回路１１及び電極パッド１２Ａ〜１２Ｈの表記を省略しているが、実際には、第１の実施形態と同様に設けられている。
【0081】
以下の説明においては、測定対象物Ｘとして胸囲Ｌ１の胸部に測定用ベルト１０を巻き付ける場合を説明する。ここで、胸囲Ｌ１は、測定用ベルト１０の一端に配される歪みゲージ１３Ａから他方の端部に配される歪みゲージ１３Ｐまでの長さよりも短い長さとする（図２０参照）。【0082】
図２１は、第３の実施形態に係る測定用ベルトが巻かれた状態を示す図である。図２１に示すように、測定用ベルト１０は、当該測定用ベルト１０の端部に配される歪みゲージ１３Ａを測定対象物Ｘの胸部の中心（胸骨体）に合わせながら巻き付けられている。この場合、各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐごとの間隔（距離Ｐ）の整数倍（本実施形態では１６倍）が胸囲Ｌ１に一致しないため、測定対象物Ｘ（測定対象者）の前後方向の対称軸にｘ軸を、左右方向の対称軸にｙ軸を定義した場合に、歪みゲージ１３Ａ以外の歪みゲージがｘ軸上、ｙ軸上からずれた位置に配される。
したがって、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１のように、歪みゲージのうちの４つが、常に、互いに直交するｘ軸及びｙ軸上に配されることを前提として輪郭（胸郭）の推定処理を行うと誤差が生じてしまう。
そこで、本実施形態に係る輪郭推定部２０２は、このような場合であっても、高精度で測定対象物Ｘの輪郭を推定可能とすべく以下の処理を実行する。
【0083】
図２２は、第３の実施形態に係る輪郭推定部の機能を説明する図である。本実施形態に係るＥＩＴ装置１を扱うオペレータは、まず、測定用ベルト１０の一端側に配された歪みゲージ（本実施形態では、歪みゲージ１３Ａ）を第１基点αとして、測定対象物Ｘ（測定対象者）の胸部の中心（胸骨体上）に配する。
次に、オペレータは、測定用ベルト１０における第１基点αを測定対象物Ｘの胸骨体上に固定したまま、当該測定用ベルト１０を測定対象物Ｘに巻き付ける。
【0084】
上述したように、測定対象物Ｘの胸囲Ｌ１が距離Ｐの整数倍に一致しない場合、各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐは、測定対象物Ｘに対して非対称に配される。したがって、図２２に示すように、測定対象物Ｘの背中の中心（背骨突起）には、歪みゲージが配されない。そこで、オペレータは、測定対象物Ｘの背骨突起の位置に一致する測定用ベルト１０上の位置を第２基点βとして特定する。具体的には、オペレータは、各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐのうち、測定対象物Ｘの背骨突起を間に配する歪みゲージの対を特定する（本実施形態では、歪みゲージ１３Ｈと歪みゲージ１３Ｉ）。更に、オペレータは、当該歪みゲージ（歪みゲージ１３Ｈ）から測定対象物Ｘの背骨突起（第２基点β）までの距離Ｐ１Ａを計測する。【0085】
次いで、オペレータは、測定用ベルト１０を測定対象物Ｘに巻き付けて一周させたときに、測定用ベルト１０の他端側において、測定対象物Ｘに接触する歪みゲージの中で第１基点αに最も近い歪みゲージ（本実施形態では、歪みゲージ１３Ｏ）の位置を特定する。具体的には、オペレータは、歪みゲージ１３Ｏから第１基点αまでの距離Ｐ１Ｂを計測する。これにより、測定用ベルト１０上における各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｏと、別途規定された第１基点α及び第２基点βと、の位置関係を特定することができる。なお、この場合、測定用ベルト１０の他端側の余りの部分に配される歪みゲージ１３Ｐは、輪郭の形状の推定処理には用いられない。
【0086】
本実施形態に係るＥＩＴ測定装置１の輪郭推定部２０２は、オペレータが計測した歪みゲージ１３Ｈから第２基点βまでの距離Ｐ１Ａと、歪みゲージ１３Ｏから第１基点αまでの距離Ｐ１Ｂと、の入力を受け付ける。オペレータは、ＥＩＴ測定装置１の操作入力部２１２を操作して、ＥＩＴ測定装置１に対し、歪みゲージ識別情報（歪みゲージ１３Ｈ、歪みゲージ１３Ｏを特定する情報）及び計測した距離Ｐ１Ａ、距離Ｐ１Ｂを示す情報を入力する。【0087】
図２３〜図２７は、第３の実施形態に係る輪郭推定部の処理の具体的な内容を説明する第１〜第５の図である。次に、本実施形態に係る輪郭推定部２０２が、測定対象部Ｘの断層面の輪郭形状を推定する処理を具体的に説明する。
【0088】
（相対位置特定処理について）第１の実施形態と同様に、輪郭推定部２０２は、相対位置特定処理Ｓ１において、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｏごとの相対的な位置関係を特定する。
具体的には、図２３に示すように、輪郭推定部２０２は、第１ステップＳ１０（図６）において、まず所定のｘｙ座標を設定するとともに、第１基点αに配される歪みゲージ１３Ａがｙ軸上に配されるものとして、当該歪みゲージ１３Ａについてのｘｙ座標上の座標位置を示す基準点Ｎ１３Ａを、ｘｙ座標上に仮決めする。
【0089】
次に、輪郭推定部２０２は、第２基点βに配される歪みゲージに対応するｘｙ座標上の基準点を仮決めする。ここで、第２基点β上には、実際には歪みゲージは存在しない（図２２参照）。したがって、輪郭推定部２０２は、仮想の歪みゲージ１３Ｑが第２基点βに存在するものとみなして、当該仮想の歪みゲージ１３Ｑの位置を示す基準点Ｎ１３Ｑをｙ軸上に仮決めする。即ち、第１基準点α上に配される歪みゲージ１３Ａと第２基点β上に（仮想的に）配される歪みゲージ１３Ｑとは、共に、測定対象物Ｘの前後方向の対称軸、即ち、胸骨体及び背骨突起を結ぶ対称軸上に配される。したがって、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａ及び基準点Ｎ１３Ｑが測定対象物Ｘの前後方向の対称軸に相当する軸（ｙ軸）に存在するものとしてｘｙ座標上の位置の仮決めを行う。【0090】
このように、本実施形態に係る輪郭推定部２０２は、相対位置特定処理Ｓ１の第１ステップＳ１０において、まず、複数の歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐのうち、測定対象物Ｘの対称軸（胸骨体及び背骨突起を結ぶ軸）上に配される歪みゲージ１３Ａを示す基準点の座標位置を、予め定められた初期座標値と特定する。また、輪郭推定部２０２は、測定対象物Ｘに巻かれた測定用ベルト１０の、測定対象物Ｘの上記対称軸上に配される位置（第２基点β）に歪みゲージが配されない場合において、当該第２基点β上に仮想の歪みゲージ１３Ｑが配されているものとみなして、相対位置特定処理Ｓ１を実行する。【0091】
ここで、輪郭推定部２０２は、原点Ｏを中心として、ｙ軸上の上下に基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｑの座標位置を特定する。具体的には、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｑごとに予め記憶された初期座標値をＨＤＤ２１１から読み出して、原点Ｏを中心とする座標上に設定する。例えば、ＨＤＤ２１１において、基準点Ｎ１３Ａについての初期座標値は（０［ｃｍ］、５０［ｃｍ］）、Ｎ１３Ｑの初期座標値は（０［ｃｍ］、-５０［ｃｍ］）などと記憶されている。【0092】
次に、輪郭推定部２０２は、第２ステップＳ１１（図６）において、基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｑと、基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｑに対応する歪みゲージ１３Ａ、１３Ｑ各々の両隣に配される２つの歪みゲージのｘｙ座標上における位置を示す従属点と、の相対的な位置関係を特定する。なお、本実施形態に係る輪郭推定部２０２は、上記相対的な位置関係によって関連付けられた１つの基準点（例えば、基準点Ｎ１３Ａ）と、当該基準点の両側に、直列に連続して配される従属点（例えば、Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｃ１、Ｎ１３Ｄ１・・・等）との組み合わせを一組の「束」と定義する。
【0093】
ここで、歪みゲージ１３Ａの両側に隣接して配される歪みゲージは、歪みゲージ１３Ｂと、歪みゲージ１３Ｏである（図２１、図２２参照）。この場合において、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａの位置（ｘａ、ｙａ）を基準とした歪みゲージ１３Ｂの相対的な位置を示す従属点を従属点Ｎ１３Ｂ１、基準点Ｎ１３Ａの位置を基準とした歪みゲージ１３Ｏの相対的な位置を示す従属点を従属点Ｎ１３Ｏ１として、各従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｏ１のｘｙ座標上の位置を特定する。また、仮想の歪みゲージ１３Ｑの両側に隣接して配される歪みゲージは、歪みゲージ１３Ｈと、歪みゲージ１３Ｉである（図２１、図２２参照）。この場合において、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ｑの位置（ｘｑ、ｙｑ）を基準とした歪みゲージ１３Ｈの相対的な位置を示す従属点を従属点Ｎ１３Ｈ２、基準点Ｎ１３Ｑの位置を基準とした歪みゲージ１３Ｉの相対的な位置を示す従属点を従属点Ｎ１３Ｉ２として、各従属点Ｎ１３Ｈ２、Ｎ１３Ｉ２のｘｙ座標上の位置を特定する。
【0094】
本実施形態に係る輪郭推定部２０２による、基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｑに対する各従属点の相対的な位置関係を特定する処理については、第１の実施形態と同様である（図８参照）。ただし、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａに対する従属点Ｎ１３Ｏ１の相対的位置を特定する場合においては、基準点Ｎ１３Ａから従属点Ｎ１３Ｏ１までの距離が、オペレータによって入力された距離Ｐ１Ｂ（＜距離Ｐ）であることを利用する。具体的には、輪郭推定部２０２は、図８において、基準点Ｎ１３Ａからの微小距離ｄＰの積算量が距離Ｐ１Ｂとなった地点を従属点Ｎ１３Ｏ１とする。なお、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａに対する従属点Ｎ１３Ｂ１の相対的位置を特定する場合は、基準点Ｎ１３Ａから基準点Ｎ１３Ｂ１までの距離が距離Ｐであることを利用する。
【0095】
同様に、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ｑから従属点Ｎ１３Ｈ２までの距離がオペレータによって入力された距離Ｐ１Ａ（＜距離Ｐ）であることを利用して、従属点Ｎ１３Ｈ２との相対的位置を特定する。具体的には、輪郭推定部２０２は、図８において、基準点Ｎ１３Ｑからの微小距離ｄＰの積算量が距離Ｐ１Ａとなった地点を従属点Ｎ１３Ｈ２とする。更に、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ｑから従属点Ｎ１３Ｉ２までの距離が距離（Ｐ−Ｐ１Ａ）であることを利用して、従属点Ｎ１３Ｉ２との相対的位置を特定する。具体的には、輪郭推定部２０２は、図８において、基準点Ｎ１３Ｑからの微小距離ｄＰの積算量が距離（Ｐ−Ｐ１Ａ）となった地点を従属点Ｎ１３Ｉ２とする。
なお、上記の場合において、本実施形態に係る輪郭推定部２０２は、第２基点βに配される仮想の歪みゲージ１３Ｑにより取得される曲率がゼロ（曲率半径が無限大）であると仮定した上で、基準点Ｎ１３Ｑに対する従属点Ｎ１３Ｈ２、Ｎ１３Ｉ２の相対的位置を特定する。
【0096】
図２４は、以上の処理によって、輪郭推定部２０２が、基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｑを基準として、当該基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｑに隣接する各従属点の位置を特定した状態を示している。図２４に示すように、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ａの位置（ｘａ、ｙａ）を基準とした従属点Ｎ１３Ｂ１の相対的な位置（ｘｂ、ｙｂ）、及び、従属点Ｎ１３Ｏ１の相対的な位置（ｘｏ、ｙｏ）を特定する。同様に、輪郭推定部２０２は、基準点Ｎ１３Ｑの位置（ｘｑ、ｙｑ）を基準とした従属点Ｎ１３Ｈ２の相対的な位置（ｘｈ、ｙｈ）、及び、従属点Ｎ１３Ｉ２の相対的な位置（ｘｉ、ｙｉ）を特定する。
【0097】
さらに、本実施形態に係る輪郭推定部２０２は、図８に示す処理を繰り返して、各従属点に更に従属する従属点の位置を特定する。例えば、輪郭推定部２０２は、従属点Ｎ１３Ｂ１の位置（ｘｂ、ｙｂ）を基準として、当該従属点Ｎ１３Ｂ１に隣接する従属点Ｎ１３Ｃ１（歪みゲージ１３Ｃに対応する従属点）の位置（ｘｃ、ｙｃ）を特定する。同様に、輪郭推定部２０２は、従属点Ｎ１３Ｏ１の位置（ｘｏ、ｙｏ）を基準として、当該従属点Ｎ１３Ｏ１に隣接する従属点Ｎ１３Ｎ１（歪みゲージ１３Ｎに対応する従属点）の位置（ｘｎ、ｙｎ）を特定する。輪郭推定部２０２は、上記処理を繰り返して、基準点Ｎ１３Ａの一方側において直列に従属する従属点Ｎ１３Ｂ１〜Ｎ１３Ｅ１の各々の位置、及び、基準点Ｎ１３Ａの他方側において直列に従属する従属点Ｎ１３Ｌ１〜Ｎ１３Ｏ１の各々の位置を特定する。これにより、基準点Ｎ１３Ａを中心とした束Ｔ１の位置が仮決めされる（図２５参照）。
【0098】
同様に、輪郭推定部２０２は、従属点Ｎ１３Ｈ２の位置（ｘｈ、ｙｈ）を基準として、当該従属点Ｎ１３Ｈ２に隣接する従属点Ｎ１３Ｇ２（歪みゲージ１３Ｇに対応する従属点）の位置（ｘｇ、ｙｇ）を特定する。同様に、輪郭推定部２０２は、従属点Ｎ１３Ｉ２の位置（ｘｉ、ｙｉ）を基準として、当該従属点Ｎ１３Ｉ２に隣接する従属点Ｎ１３Ｊ２（歪みゲージ１３Ｊに対応する従属点）の位置（ｘｊ、ｙｊ）を特定する。輪郭推定部２０２は、上記処理を繰り返して、基準点Ｎ１３Ｑの一方側において直列に従属する従属点Ｎ１３Ｄ２〜Ｎ１３Ｈ２の各々の位置、及び、基準点Ｎ１３Ｑの他方側において直列に従属する従属点Ｎ１３Ｉ２〜Ｎ１３Ｍ２の各々の位置を特定する。これにより、基準点Ｎ１３Ｑを中心とした束Ｔ２の位置が仮決めされる（図２５参照）。
【0099】
ここで上述したように、束Ｔ１に属する従属点Ｎ１３Ｄ１、Ｎ１３Ｅ１は、それぞれ、測定用ベルト１０上に配された歪みゲージ１３Ｄ、歪みゲージ１３Ｅの位置を仮想的に示す点である。一方、束Ｔ２に属する従属点Ｎ１３Ｄ２、Ｎ１３Ｅ２も、それぞれ、測定用ベルト１０上に配された歪みゲージの１３Ｄ、歪みゲージ１３Ｅの位置を仮想的に示す点である。つまり、異なる束（Ｔ１またはＴ２）に属する２つの従属点Ｎ１３Ｄ１、Ｎ１３Ｄ２は、同一の歪みゲージ１３Ｄの位置を示す。また、異なる束に属する２つの従属点Ｎ１３Ｅ１、Ｎ１３Ｅ２は、同一の歪みゲージ１３Ｅの位置を示す。同様に、異なる束に属する２つの従属点Ｎ１３Ｌ１、Ｎ１３Ｌ２は、同一の歪みゲージ１３Ｌの位置を示す。そして、異なる束に属する２つの従属点Ｎ１３Ｍ１、Ｎ１３Ｍ２は、同一の歪みゲージ１３Ｍの位置を示す。
【0100】
したがって、この場合、従属点Ｎ１３Ｄ１と従属点Ｎ１３Ｄ２、従属点Ｎ１３Ｅ１と従属点Ｎ１３Ｅ２、従属点Ｎ１３Ｌ１と従属点Ｎ１３Ｌ２、従属点Ｎ１３Ｍ１と従属点Ｎ１３Ｍ２は、それぞれ、同一の座標位置で表されるべきものと考えられる。【0101】
よって、輪郭推定部２０２は、第３ステップＳ１２（図６）において、束Ｔ１に含まれる従属点Ｎ１３Ｄ１、Ｎ１３Ｅ１、Ｎ１３Ｌ１、Ｎ１３Ｍ１の各々の位置と、束Ｔ２に含まれる従属点Ｎ１３Ｄ２、Ｎ１３Ｅ２、Ｎ１３Ｌ２、Ｎ１３Ｍ２の各々の位置と、が一致するように、束Ｔ１、Ｔ２のそれぞれに含まれる各点（基準点及び従属点）の座標位置を変更して、ｘｙ座標上における位置を移動させる処理を行う。この際、輪郭推定部２０２は、束Ｔ１、束Ｔ２それぞれに含まれる各基準点と各従属点の相対的な位置関係を維持したまま各点の座標位置を変更（平行移動）する。【0102】
図２６は、輪郭推定部２０２が、束Ｔ１と、束Ｔ２に含まれる各点（基準点、従属点）の座標位置を平行移動する処理を示している。このとき、輪郭推定部２０２は、同一の歪みゲージ１３Ｄの位置を示す従属点Ｎ１３Ｄ１、Ｎ１３Ｄ２、同一の歪みゲージ１３Ｅの位置を示す従属点Ｎ１３Ｅ１、Ｎ１３Ｅ２、同一の歪みゲージ１３Ｌの位置を示す従属点Ｎ１３Ｌ１、Ｎ１３Ｌ２、同一の歪みゲージ１３Ｍの位置を示す従属点Ｎ１３Ｍ１、Ｎ１３Ｍ２の各々の座標位置の誤差の合計が最も小さくなる位置に移動する。
【0103】
具体的には、輪郭推定部２０２は、束Ｔ１をｙ軸に沿って−ｙ方向に平行移動させるように座標位置を変更する処理を行う。ここで、輪郭推定部２０２は、束Ｔ１の基準点Ｎ１３Ａの座標（ｘａ、ｙａ）を座標（ｘａ、ｙａ’）に変更する（ｙａ＞ｙａ’）。同様に、輪郭推定部２０２は、束Ｔ２をｙ軸に沿って＋ｙ方向に平行移動させるように座標位置を変更する処理を行う。ここで、輪郭推定部２０２は、束Ｔ２の基準点Ｎ１３Ｑの座標（ｘｑ、ｙｑ）を座標（ｘｑ、ｙｑ’）に変更する（ｙｑ＜ｙｑ’）。図２６に示すように、束Ｔ１と束Ｔ２とがオーバーラップする領域に属する各従属点の対であるＮ１３Ｄ１とＮ１３Ｄ２、Ｎ１３Ｅ１とＮ１３Ｅ２、Ｎ１３Ｌ１とＮ１３Ｌ２、Ｎ１３Ｍ１とＮ１３Ｍ２における位置の誤差の合計が最小となるところで、各束Ｔ１、Ｔ２の最終的な位置が特定される。
【0104】
次いで、輪郭推定部２０２は、同一の歪みゲージを示す束Ｔ１、束Ｔ２の各々に属する従属点間の中点を、当該歪みゲージの位置を示す点として特定する（ステップＳ１３（図６））。図２７は、上述した第４ステップＳ１３の処理が完了した直後の状態を示している。なお、図２７において、従属点Ｎ１３Ｂ〜Ｎ１３Ｏは、それぞれ、歪みゲージ１３Ｂ〜１３Ｏに対応するｘｙ座標上の位置を示している。ここで、従属点Ｎ１３Ｂ、Ｎ１３Ｃ、Ｎ１３Ｎ、Ｎ１３Ｏは、それぞれ、束Ｔ１に属していた従属点Ｎ１３Ｂ１、Ｎ１３Ｃ１、Ｎ１３Ｎ１、Ｎ１３Ｏ１の位置と同一の位置とされる。また、従属点Ｎ１３Ｆ、Ｎ１３Ｇ、Ｎ１３Ｈ、Ｎ１３Ｉ、Ｎ１３Ｊ、Ｎ１３Ｋは、それぞれ、束Ｔ２に属していた従属点Ｎ１３Ｆ２、Ｎ１３Ｇ２、Ｎ１３Ｈ２、Ｎ１３Ｉ２、Ｎ１３Ｊ２、Ｎ１３Ｋ２と同一の位置とされる。そして、束Ｔ１と束Ｔ２とがオーバーラップする領域に属する従属点Ｎ１３Ｄ、Ｎ１３Ｅ、Ｎ１３Ｌ、Ｎ１３Ｍは、それぞれ、束Ｔ１、Ｔ２の各々に属する従属点Ｎ１３Ｄ１、Ｎ１３Ｄ２、従属点Ｎ１３Ｅ１、Ｎ１３Ｅ２、従属点Ｎ１３Ｌ１、Ｎ１３Ｌ２、従属点Ｎ１３Ｍ１、Ｎ１３Ｍ２の中点の位置とされる。
輪郭推定部２０２は、以上の第１ステップＳ１０〜第４ステップＳ１３の処理を経て、１５個の歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｏ（及び仮想の歪みゲージ１３Ｑ）のｘｙ座標上における位置を特定する。
【0105】
なお、相対位置特定処理Ｓ１以降の処理である形状特定処理Ｓ２、サイズ特定処理Ｓ３については、第１の実施形態と同様であるため説明を省略する。【0106】
（効果）以上のように、第３の実施形態に係る輪郭推定部２０２は、相対位置特定処理Ｓ１の第１ステップＳ１０において、複数の歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐのうち、測定対象物Ｘの対称軸（胸骨体と背骨突起を結ぶ軸）上の所定位置（第１基点α）に配される歪みゲージ１３Ａの座標位置を予め定められた初期座標値と特定する。そして、この場合における初期座標値は、上記測定対象物Ｘの対称軸に対応する軸（ｙ軸）上の所定位置とされる。
これにより、当該歪みゲージ１３Ａが測定対象物Ｘの対称軸に対応する軸上に配されることを拘束条件として相対位置特定処理Ｓ１を実行する際に、精度よく輪郭の推定を行うことができる。
【0107】
また、第３の実施形態に係る輪郭推定部２０２は、測定対象物Ｘに巻き付けられた測定用ベルト１０上の、当該測定対象物Ｘの対称軸上に配される位置（第２基点β）に歪みゲージが配されない場合において、当該測定対象物Ｘの対称軸上に配される位置に仮想の歪みゲージ１３Ｑが配されているものとみなして、相対位置特定処理Ｓ１を実行する。即ち、輪郭推定部２０２は、測定対象物Ｘの対称軸上の位置（第２基点β）に配される仮想の歪みゲージ１３Ｑ（基準点Ｎ１３Ｑ）の座標位置を予め定められた初期座標値と特定する。そして、この場合における初期座標値も、測定対象物Ｘの対称軸に対応する軸（ｙ軸）上の所定位置とされる。このようにすることで、輪郭推定部２０２は、当該仮想の歪みゲージ１３Ｑが測定対象物Ｘの対称軸に対応する軸上に配されることを拘束条件として相対位置特定処理Ｓ１を実行する。これにより、測定用ベルト１０を測定対象物Ｘに巻き付けた場合に、測定対象物Ｘの対称軸上に歪みゲージが配されていない場合であっても、精度よく輪郭の推定を行うことができる。
【0108】
さらに、輪郭推定部２０２は、巻き付けられた測定用ベルト１０上に配される複数の歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐの、第１基点α、第２基点βとの距離（距離Ｐ１Ａ、Ｐ１Ｂ）を別途取得する。これを用いることで、輪郭推定部２０２は、第２ステップＳ１１において、基準点Ｎ１３Ａ、Ｎ１３Ｑの座標位置に対する各従属点の座標位置を示す相対座標値（例えば、基準点Ｎ１３Ｑに対する従属点Ｎ１３Ｈ２、Ｎ１３Ｉ２の相対座標値）を、精度よく算出することができる。【0109】
以上、第３の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１について詳しく説明したが、本実施形態に係るＥＩＴ測定装置１の具体的な態様は、上述のものに限定されることはなく、要旨を逸脱しない範囲内において種々の設計変更等を加えることは可能である。【0110】
図２８は、第３の実施形態の変形例に係る測定用ベルトが巻かれた状態を示す図である。図２８は、測定対象物Ｘとして胸囲Ｌ２の胸部に測定用ベルト１０を巻き付けた場合を示している。ここで、胸囲Ｌ２は、測定用ベルト１０の一端に配される歪みゲージ１３Ａから他方の端部に配される歪みゲージ１３Ｐまでの長さよりも長い長さである。
この場合も、測定用ベルト１０は、当該測定用ベルト１０の端部に配される歪みゲージ１３Ａを測定対象物Ｘの胸部の中心（胸骨体）に合わせながら巻き付けられている。また、この場合、各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐごとの間隔（距離Ｐ）の整数倍（本実施形態では１６倍）が胸囲Ｌ２に一致しないため、測定対象物Ｘ（測定対象者）の前後方向の対称軸にｘ軸を、左右方向の対称軸にｙ軸を定義した場合に、歪みゲージ１３Ａ以外の歪みゲージがｘ軸上、ｙ軸上からずれた位置に配される。
したがって、第１の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１のように、歪みゲージのうちの４つが、常に、互いに直交するｘ軸及びｙ軸上に配されることを前提として輪郭（胸郭）の推定処理を行うと誤差が生じてしまう。
【0111】
この場合も、オペレータは、測定対象物Ｘの背骨突起の位置に一致する測定用ベルト１０上の位置を第２基点βとして特定する。具体的には、オペレータは、各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐのうち、測定対象物Ｘの背骨突起を間に配する歪みゲージの対を特定する（本実施形態では、歪みゲージ１３Ｉと歪みゲージ１３Ｊ）。更に、オペレータは、当該歪みゲージ（歪みゲージ１３Ｉ）から測定対象物Ｘの背骨突起（第２基点β）までの距離Ｐ１Ａを計測する。【0112】
次いで、オペレータは、測定用ベルト１０を測定対象物Ｘに巻き付けて一周させたときに、測定用ベルト１０の他端側において、測定対象物Ｘに接触する歪みゲージの中で第１基点αに最も近い歪みゲージ（本実施形態では、歪みゲージ１３Ｐ）の位置を特定する。具体的には、オペレータは、歪みゲージ１３Ｐから第１基点αまでの距離Ｐ１Ｂを計測する。これにより、測定用ベルト１０上における各歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐと、別途規定された第１基点α及び第２基点βと、の位置関係を特定することができる。【0113】
以降は、第３の実施形態で説明した処理と同様の処理を実行することで測定対象物Ｘの輪郭の形状を推定することができる。【0114】
したがって、測定対象物Ｘの胸囲（胸囲Ｌ２）が大きい場合であっても、一つの測定用ベルト１０で対応することができる。これにより、測定対象物Ｘ（測定対象者）の体格に合わせて、複数種類の測定用ベルトを用意する必要がないため、装置のコストを低減することができる。【0115】
また、第３の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、オペレータ自身が、第１基点α、第２基点βから、隣接する歪みゲージまでの距離（距離Ｐ１Ａ、Ｐ１Ｂ）を計測するものとして説明した。しかし、第３の実施形態の変形例に係るＥＩＴ測定装置１は、上記距離Ｐ１Ａ、Ｐ１Ｂを自動で取得する態様としてもよい。
【0116】
例えば、当該変形例に係るＥＩＴ測定装置１は、測定用ベルト１０上に、歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐが配される間隔（距離Ｐ）よりも密な間隔で周期配列される電極パッドを備えていてもよい。この場合、ＥＩＴ測定装置１は、当該周期配列される電極パッド間の各々に生じる電気インピーダンスを取得する。ＥＩＴ測定装置１は、測定対象物Ｘに巻き付けられた測定用ベルト１０が、当該測定対象物Ｘと密接する範囲を、当該周期配列される電極パッド間に生じる電気インピーダンスの変化に基づいて検出する。ここで、上記電極パッド間のインピーダンスは、当該電極パッドに対し、生体である測定対象物Ｘが密接しているか否かに応じて変化する。
これにより、ＥＩＴ測定装置１は、測定対象物Ｘに密接する電極パッドと歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐとの相対的な位置関係に基づいて、一端側の歪みゲージ（歪みゲージ１３Ａ）に隣接して配される他端側の歪みゲージ、及び、当該他端側の歪みゲージとの距離Ｐ１Ｂを自動的に特定することができる。
【0117】
更に、ＥＩＴ測定装置１は、周期配列される上記電極パッドのうち、測定対象物Ｘの背骨突起部分に配される電極パッド間に生じる特有の電気インピーダンスを検出して、測定用ベルト１０上における第２基点βの位置を特定してもよい。ここで、測定対象物Ｘの背骨突起部分では、上記電極パッドと生体内の骨とが密接するため、測定対象物Ｘの他の部分に接する電極パッド間とは異なる特有の電気インピーダンスを示す。これにより、ＥＩＴ測定装置１は、第２基点βの位置及び当該第２基点βに隣接する歪みゲージ、及び、当該歪みゲージとの距離Ｐ１Ａを自動的に特定することができる。【0118】
また、第３の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、第２基点βに配される仮想の歪みゲージ１３Ｑにより取得される曲率がゼロであると仮定した上で、基準点Ｎ１３Ｑに対する従属点Ｎ１３Ｈ２、Ｎ１３Ｉ２の相対的位置を特定するものとして説明したが、他の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、この態様に限定されない。例えば、ＥＩＴ測定装置１は、従属点Ｎ１３Ｉ２と従属点Ｎ１３Ｈ２との間を微小距離ｄＰで分割するとともに、同従属点間に配される基準点Ｎ１３Ｑに対応する位置における曲率を、歪みゲージ１３Ｉ、１３Ｈの各々が取得した曲率（実測値）を用いて補間することで求めてもよい。【0119】
なお、第１〜第３の実施形態及びその変形例に係るＥＩＴ測定装置１は、測定用ベルト１０上に周期配列された「歪みゲージ」（歪みゲージ１３Ａ〜１３Ｐ）から取得される曲率データに基づいて、測定対象物Ｘの輪郭の形状を精度よく推定する旨を説明したが、「歪みゲージ」は、当該歪みゲージの各々が配される位置における曲率データを取得するための一態様に過ぎない。上述の各実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、曲率データを取得するために必ずしも歪みゲージを用いる必要はなく、曲率データを取得可能な他の曲率センサを用いても構わない。曲率センサの一態様としては、例えば、導電性インクを応用した曲率センサ等が挙げられる。この導電性インクを用いた曲率センサは、湾曲自在な基板の表面に塗布（プリント）された導電性インクが当該基板の湾曲に伴って伸長又は圧縮されることで、当該導電性インクの電気抵抗が変化することを利用して作製される。【0120】
また、第１〜第３の実施形態及びその変形例に係るＥＩＴ測定装置１は、測定用ベルト１０において、電極パッド１２Ａ、１２Ｂ、・・・、及び、歪みゲージ１３Ａ、１３Ｂ、・・・がいずれも等間隔（間隔Ｐ）で周期配列されているものとして説明したが、他の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１において、電極パッド１２Ａ、１２Ｂ、・・・、歪みゲージ１３Ａ、１３Ｂ、・・・は必ずしも周期配列されなくともよい。即ち、他の実施形態に係るＥＩＴ測定装置１は、電極パッド１２Ａ、１２Ｂ、・・・、及び、歪みゲージ１３Ａ、１３Ｂ、・・・の各々の間隔が既知でさえあれば、互いに異なる間隔で配置されていてもよい。【0121】
また、上述の説明において、各実施形態に係るＥＩＴ測定本体部２０は、上述した通り、内部にコンピュータシステムを有している。そして、上述したＥＩＴ測定本体部２０の各処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここで、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）または半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。【0122】
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものとする。【産業上の利用可能性】
【0123】
上述の各実施形態によれば、輪郭の形状や大きさが異なる種々の測定対象に対しても、簡素で、かつ、より正確な診断を行うことができる。【符号の説明】
【0124】
１ ＥＩＴ測定装置１０ 測定用ベルト
１１ 測定回路
１２Ａ〜１２Ｈ 電極パッド
１３Ａ〜１３Ｐ 歪みゲージ
１４ フレキシブル基板
１９ 信号ケーブル
２０ ＥＩＴ測定本体部
２００ ＣＰＵ
２０１ ＥＩＴ測定制御部
２０２ 輪郭推定部
２０３ 周囲長測定部
２１０ ＲＡＭ
２１１ ＨＤＤ
２１２ 操作入力部
２１３ 画像表示部
２１４ 外部インターフェイス
３０１〜３０ｆ 周囲長計測用電極パッド