特許6413460IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体発光素子と内部配線を有する樹脂部材とを備える発光装置及びその製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ここで、前記したような、電極側に樹脂層を設けた発光装置を、導電性の接着部材として、例えば半田を用いてリフロー法などによって実装基板に実装する際に、溶融した半田が発光装置の外部接続用の電極と実装基板の配線パターンとの間からはみ出ることがある。特に半田が過剰に供給された場合には、発光装置の外部接続用の電極と実装基板の配線パターンとの間からはみ出した半田が、樹脂層の側面に沿って這い上がることがある。そして、樹脂層の側面を這い上がった半田により、発光装置と実装基板との接合不良が発生したり、光取り出し面が汚損されて光取り出し効率が低下したりすることがある。
そこで、本発明は、実装時に溶融した半田などの接着部材のはみ出し量を低減して、信頼性の高い実装が可能な発光装置及びその製造方法を提供することを課題とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

前記した課題を解決するために、本発明の発光装置は、半導体積層体と、前記半導体積層体の一方の面に設けられる電極と、を有する半導体発光素子と、前記半導体積層体の前記一方の面側に設けられる樹脂部材と、を備え、前記樹脂部材は、内部に前記電極と電気的に接続される金属層を有するとともに、上面に凹部が設けられ、前記金属層の上部が、前記樹脂部材の上面から突出するとともに、平面視で前記凹部の少な・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明の発光装置によれば、実装時において、過剰な接着部材が、樹脂部材の凹部と、樹脂部材から突出した金属層上部によって当該凹部の少なくとも一部を囲むように設けられることで形成される空間とに収容されることで、実装面である金属層の配置領域から半田がはみ出す量を低減することができる。その結果として、信頼性の高い実装が可能となる。
また、本発明の発光装置の製造方法によれば、樹脂部材の凹部と、当該凹部の少なくとも一部を囲む金属層上部により形成される空間とを有する前記した発光装置を製造することができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本発明の発光装置の構成を示す模式図であり、(a)は斜視図、(b)は平面図である。

【図2】本発明の発光装置の構成を示す模式図であり、(a)は図1(b)のII−II線における断面図、(b)は図1(b)のIII−III線における断面図である。

【図3】本発明の発光装置の構成を示す模式図であり、(a)は図1(b)のIV−IV線における断面図、(b)は図1(b)のV−V線における断面図である。

【図4】本発明の発光装置の構成を示す模式図であり、図1(b)のI−I線における断面図である。

【図5】本発明の発光装置の層構造を示す模式的平面図であり、(a)はp型半導体層及びカバー電極の配置領域を示し、(b)は光反射電極の配置領域を示す。

【図6】本発明の発光装置の層構造を示す模式的平面図であり、(a)は絶縁膜の配置領域を示し、(b)はn側電極及びp側電極の配置領域を示す。

【図7】本発明の発光装置の層構造を示す模式的平面図であり、樹脂部材及び金属層の配置領域を示す。

【図8】本発明の発光装置を実装基板に実装する様子を説明するための模式図であり、図1(b)のV−V線における断面図である。

【図9】本発明の発光装置の製造方法の流れを示すフローチャートである。

【図10】本発明の発光装置の製造工程の一部を示す模式的断面図であり、(a)は半導体積層体形成工程、(b)は光反射電極形成工程、(c)はカバー電極形成工程、(d)はn型半導体層露出工程、(e)は絶縁膜形成工程を示す。

【図11】本発明の発光装置の製造工程におけるパッド電極形成工程を示す模式図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のI−I線における断面図である。

【図12】本発明の発光装置の製造工程におけるマスク形成工程を示す模式図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のI−I線における断面図である。

【図13】本発明の発光装置の製造工程における樹脂部材形成工程を示す模式的断面図であり、(a)はサブ工程である塗布工程、(b)はサブ工程である露光・現像工程を示す。

【図14】本発明の発光装置の製造工程の一部を示す模式的断面図であり、(a)は金属層形成工程、(b)はマスク除去工程を示す。

【図15】本発明の発光装置の製造工程におけるパッド電極分離工程を示す模式図であり、(a)は平面図、(b)は(a)のI−I線における断面図である。

【図16】本発明の発光装置の製造工程における成長基板除去工程を示す模式的断面図である。

【図17】本発明の実施形態の変形例に係る発光装置の構成を示す模式図であり、(a)は斜視図、(b)は(a)のVI−VI線における断面図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1 半導体発光素子   11 成長基板   12 半導体積層体   12n n型半導体層   12a 活性層   12p p型半導体層   12b 段差部   12c 段差部   13 n側電極   14 全面電極   14a 光反射電極   14b カバー電極   15 p側電極   16 絶縁膜   2,2A 支持体   21 樹脂部材   21a 開口部   21b 段差部   21c 凹部   21n 開口部   21p 開口部   31n,31An 金属層(n側金属層)   31p,31Ap 金属層(p側金属層)   32n 凹部   32p 凹部   33 マスク   40 境界線   50 金属層   50a 延伸部   91 実装基板   92 配線パターン   93 接着部材   100,100A 発光装置

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