発明の名称 半導体装置用の膜を生成するための組成物、半導体装置用の膜を生成するための組成物の製造方法、半導体用部材の製造方法、半導体用工程材の製造方法及び半導体装置
出願人 三井化学株式会社 (識別番号 5887)
特許公開件数ランキング 86 位(324件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 111 位(233件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-6427690
公報発行日 2018年11月21
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6427690
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