特許 6429731 インパルス電圧裁断波試験装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6429731

(24)【登録日】2018年11月9日

(45)【発行日】2018年11月28日

(54)【発明の名称】インパルス電圧裁断波試験装置

(51)【国際特許分類】

   H02M 9/00 20060101AFI20181119BHJP

【ＦＩ】

   H02M9/00 C

【請求項の数】6

【全頁数】11

(21)【出願番号】特願2015-115494(P2015-115494)

(22)【出願日】2015年6月8日

(65)【公開番号】特開2016-52243(P2016-52243A)

(43)【公開日】2016年4月11日

【審査請求日】2017年7月21日

(31)【優先権主張番号】特願2014-173643(P2014-173643)

(32)【優先日】2014年8月28日

(33)【優先権主張国】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】000006013

【氏名又は名称】三菱電機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001195

【氏名又は名称】特許業務法人深見特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】芝田 拓樹

(72)【発明者】

【氏名】日野 悦弘

(72)【発明者】

【氏名】上野 大佑

(72)【発明者】

【氏名】洞▲崎▼ 浩

【審査官】 小林 秀和

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０００−１５２６６６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００２−３４０９５８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１０−３３２７５８（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｈ０２Ｍ ９／００

Ｇ０１Ｒ ３１／１２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

供試機器にインパルス電圧裁断波を印加するインパルス電圧裁断波試験装置であって、
始動信号に応答してインパルス電圧を出力するインパルス電圧発生装置と、
前記始動信号を予め定められた時間だけ遅延させた第１の裁断信号を出力する第１の信号発生器と、
前記インパルス電圧に応答して第２の裁断信号を出力する第２の信号発生器と、
前記インパルス電圧が出力されている場合において前記第１および第２の裁断信号のうちのいずれかの裁断信号が出力されたときに前記インパルス電圧を裁断する裁断装置とを備える、インパルス電圧裁断波試験装置。

【請求項2】

前記供試機器を接続するための第１および第２の出力端子を備え、
前記第２の出力端子は接地電圧を受け、
前記インパルス電圧発生装置は、
予め定められた電圧に充電されるコンデンサと、
前記始動信号に応答して導通し、前記コンデンサの正極から前記第１の出力端子に電流を流す第１の放電スイッチと、
前記コンデンサの正極から前記第１の出力端子に流れる電流の一部を前記接地電圧のラインに流出させて前記インパルス電圧の波形を調整する抵抗器とを含み、
前記裁断装置は、前記第１および第２の出力端子間に前記インパルス電圧が印加されている場合に、前記第１および第２の信号発生器から前記第１および第２の裁断信号のうちのいずれかの裁断信号が出力されたことに応じて導通する第２の放電スイッチを含む、請求項１に記載のインパルス電圧裁断波試験装置。

【請求項3】

前記抵抗器は分圧器を有し、前記分圧器は前記抵抗器の端子間電圧を分圧して出力し、
前記第２の信号発生器は、前記分圧器の出力電圧が予め定められたしきい値電圧を超えたことに応じて前記第２の裁断信号を出力する、請求項２に記載のインパルス電圧裁断波試験装置。

【請求項4】

さらに、前記第１および第２の出力端子間の電圧を分圧して出力する分圧器を備え、
前記第２の信号発生器は、前記分圧器の出力電圧が予め定められたしきい値電圧を超えたことに応じて前記第２の裁断信号を出力する、請求項２に記載のインパルス電圧裁断波試験装置。

【請求項5】

前記第１の放電スイッチは放電時に発光する放電ギャップを有し、
さらに、前記放電ギャップが発光しているか否かを検出する光検出器を備え、
前記第２の信号発生器は、前記光検出器によって前記放電ギャップが発光していることが検出されたことに応じて前記第２の裁断信号を出力する、請求項２に記載のインパルス電圧裁断波試験装置。

【請求項6】

前記裁断装置は、前記第１および第２の出力端子間に直列接続されたインピーダンス素子および前記第２の放電スイッチを含み、
前記インピーダンス素子は、前記インパルス電圧に重畳した高周波振動電圧に対して大きなインピーダンスを有し、前記インパルス電圧の低周波成分に対して小さなインピーダンスを有し、前記高周波振動電圧が前記第２の放電スイッチの電極間に印加されることを抑制する、請求項２から請求項５のいずれか１項に記載のインパルス電圧裁断波試験装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

この発明はインパルス電圧裁断波試験装置に関し、特に、供試機器にインパルス電圧裁断波を印加するインパルス電圧裁断波試験装置に関する。

【背景技術】

【0002】

雷撃に対する供試機器の絶縁耐力を検証する雷インパルス耐電圧試験には、インパルス電圧をそのまま供試機器に印加する全波電圧試験と、インパルス電圧を裁断して供試機器に印加する裁断波電圧試験とがある（図２（ａ）（ｂ）参照）。

【0003】

従来のインパルス電圧裁断波試験装置では、始動信号発生器から始動信号が出力されると、始動高圧パルス発生器からインパルス電圧発生装置に始動高圧パルスが出力され、一定時間の経過後に遅延高圧パルス発生器から裁断装置に遅延高圧パルスが出力される。インパルス電圧発生装置では、始動高圧パルスに応答して放電スイッチが導通し、インパルス電圧が生成される。裁断装置は、遅延高圧パルスに応答してインパルス電圧を裁断する（たとえば特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開昭５７−１３５６９０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかし、従来のインパルス電圧裁断波試験装置では、インパルス電圧発生装置に含まれる放電スイッチの電極間のギャップの放電開始時間がばらつき、インパルス電圧の出力開始時間がばらつくという問題がある。インパルス電圧の出力開始時間が裁断装置による裁断のタイミングよりも遅延すると、インパルス電圧が裁断されずに供試機器に印加されてしまう。裁断波の試験電圧は全波の試験電圧の１１０％程度に設定されていることが多いので、裁断に失敗した場合には供試機器に過剰なストレスを印加されて供試機器が損傷する恐れがある。

【0006】

それゆえに、この発明の主たる目的は、インパルス電圧の出力開始時間がばらつく場合でもインパルス電圧裁断波を発生することが可能なインパルス電圧裁断波試験装置を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

この発明に係るインパルス電圧裁断波試験装置は、供試機器にインパルス電圧裁断波を印加するインパルス電圧裁断波試験装置であって、始動信号に応答してインパルス電圧を出力するインパルス電圧発生装置と、始動信号を予め定められた時間だけ遅延させた第１の裁断信号を出力する第１の信号発生器と、インパルス電圧に応答して第２の裁断信号を出力する第２の信号発生器と、インパルス電圧が出力されている場合において第１および第２の裁断信号のうちのいずれかの裁断信号が出力されたときにインパルス電圧を裁断する裁断装置とを備えたものである。

【発明の効果】

【0008】

この発明に係るインパルス電圧裁断波試験装置では、始動信号を予め定められた時間だけ遅延させた第１の裁断信号を出力する第１の信号発生器と、インパルス電圧に応答して第２の裁断信号を出力する第２の信号発生器とが設けられ、裁断装置は、インパルス電圧が出力されている場合において第１および第２の裁断信号のうちのいずれかの裁断信号が出力されたときにインパルス電圧を裁断する。したがって、第１の裁断信号に応答してインパルス電圧を裁断できなかった場合でも、第２の裁断信号に応答してインパルス電圧を裁断することができる。よって、インパルス電圧の出力開始時間がばらつく場合でもインパルス電圧裁断波を発生することができる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】この発明の実施の形態１によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図である。

【図2】インパルス電圧全波の波形とインパルス電圧裁断波の波形とを示す図である。

【図3】図１に示したインパルス電圧裁断波試験装置の動作を示すタイムチャートである。

【図4】図１に示したインパルス電圧裁断波試験装置の他の動作を示すタイムチャートである。

【図5】この発明の実施の形態２によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図である。

【図6】この発明の実施の形態３によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図である。

【図7】この発明の実施の形態４によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図である。

【図8】この発明の実施の形態５によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0010】

[実施の形態１]
図１は、この発明の実施の形態１によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図である。図１において、このインパルス電圧裁断波試験装置は、始動信号発生器１、高圧パルス発生器２，５、裁断信号発生器３，４、インパルス電圧発生装置１０、裁断装置１５、出力端子Ｔ１，Ｔ２、および分圧器１８を備える。出力端子Ｔ１，Ｔ２間には、供試機器１７が接続される。供試機器１７は、たとえば変圧器である。

【0011】

始動信号発生器１は、始動信号Ｓ１を高圧パルス発生器２と裁断信号発生器３に出力する。高圧パルス発生器２は、始動信号Ｓ１に応答して第１の高圧パルスＰ１をインパルス電圧発生装置１０に出力する。裁断信号発生器３は、始動信号Ｓ１を予め定められた時間Ｔｄだけ遅延させた第１の裁断信号Ｓ２を出力する。裁断信号発生器４は、インパルス電圧発生装置１０からインパルス電圧ＶＩＰが出力されたことに応じて第２の裁断信号Ｓ３を出力する。高圧パルス発生器５は、第１の裁断信号Ｓ２に応答して第２の高圧パルスＰ２を出力するとともに、第２の裁断信号Ｓ３に応答して第３の高圧パルスＰ３を出力する。

【0012】

インパルス電圧発生装置１０は、充電用コンデンサ１１、放電スイッチ１２、放電用抵抗器１３、および制動用抵抗器１４を含む。充電用コンデンサ１１の正極は放電スイッチ１２の一方電極に接続され、その負極は接地電圧ＧＮＤを受ける。放電用抵抗器１３は、放電スイッチ１２の他方電極と接地電圧ＧＮＤのラインとの間に接続される。制動用抵抗器１４は、放電スイッチ１２の他方電極と出力端子Ｔ１との間に接続される。出力端子Ｔ２は、接地電圧ＧＮＤを受ける。

【0013】

充電用コンデンサ１１は、試験毎に予め定められた電圧に充電される。放電スイッチ１２は、予め定められた間隔を開けて配置された２つの電極を含む。２つの電極間は、放電ギャップを構成する。放電ギャップが一旦放電すると、ある値以上の電流が流れている限り放電が維持されて放電スイッチ１２が導通状態に維持される。電流がある値よりも小さくなると放電ギャップの放電が消滅して放電スイッチ１２は非導通状態になる。

【0014】

充電用コンデンサ１１が予め定められた電圧に充電された場合において、高圧パルス発生器２から第１の高圧パルスＰ１が出力されると、放電ギャップが放電して放電スイッチ１２が導通する。放電スイッチ１２が導通すると、充電用コンデンサ１１から放電スイッチ１２および抵抗器１３，１４を介して供試機器１７に電流が流れる。出力端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧がインパルス電圧ＶＩＰとなる。

【0015】

放電用抵抗器１３は、充電用コンデンサ１１の正極から接地電圧ＧＮＤのラインに流出する電流を調整するために設けられている。放電用抵抗器１３は、分圧器を含む。分圧器は、充電用コンデンサ１１から放電スイッチ１２を介して与えられた電圧（放電用抵抗器１３の端子間電圧）を分圧して出力端子１３ａに出力する。出力端子１３ａの電圧は、裁断信号発生器４に与えられる。裁断信号発生器４は、出力端子１３ａの電圧が予め定められたしきい値電圧を超えたことに応じて第２の裁断信号Ｓ３を出力する。制動用抵抗器１４は、充電用コンデンサ１１の正極から出力端子Ｔ１に流れる電流を調整するために設けられている。

【0016】

裁断装置１５は、放電スイッチ１６を含む。放電スイッチ１６は、予め定められた間隔を開けて配置された２つの電極を含む。２つの電極間は、放電ギャップを構成する。２つの電極は、それぞれ出力端子Ｔ１，Ｔ２に接続される。出力端子Ｔ１，Ｔ２間のインパルス電圧ＶＩＰが高電圧である場合において、高圧パルス発生器５から高圧パルスＰ２またはＰ３が出力されると、放電ギャップが放電して放電スイッチ１６が導通する。放電スイッチ１６が導通すると、インパルス電圧ＶＩＰが高電圧から０Ｖに急激に下降する。

【0017】

分圧器１８は、出力端子Ｔ１，Ｔ２間に直列接続された２つの回路素子１９，２０と、回路素子１９，２０間に接続された出力端子１８ａとを含み、出力端子Ｔ１，Ｔ２間のインパルス電圧ＶＩＰを分圧して出力端子１８ａに出力する。回路素子１９，２０の各々は、たとえば、抵抗素子、コンデンサ、リアクトル、またはそれらの組み合わせを含む。出力端子１８ａの電圧は、レコーダ(図示せず)に記録され、正常に試験が行なわれたか否かをチェックするために使用される。

【0018】

図２（ａ）は、インパルス電圧全波の波形を示す図である。インパルス電圧全波とは、裁断装置１５がない場合に、インパルス電圧発生装置１０によって発生されるインパルス電圧ＶＩＰそのものである。図２（ａ）において、インパルス電圧ＶＩＰは、０Ｖから波高値まで急峻に上昇した後、緩やかに低下する。インパルス電圧ＶＩＰが波高値の３０％から９０％まで上昇するのに必要な時間を０．６で除した時間は波頭長と呼ばれる。インパルス電圧ＶＩＰが規約原点から上昇し、波高値を経て波高値の５０％まで低下するのに必要な時間は波尾長と呼ばれる。制動用抵抗器１４の抵抗値を調整することによって波頭長を調整することができ、放電用抵抗器１３の抵抗値を調整することによって波尾長を調整することができる。したがって、抵抗器１３，１４の抵抗値を調整することによってインパルス電圧全波の波形を調整することができる。なお、放電用抵抗器１３は、出力端子Ｔ１，Ｔ２間に接続されていてもよい。

【0019】

図２（ｂ）は、インパルス電圧裁断波の波形を示す図である。インパルス電圧裁断波とは、インパルス電圧発生装置１０によって発生されたインパルス電圧ＶＩＰを裁断装置１５によって裁断したものである。図２（ｂ）において、インパルス電圧裁断波は、０Ｖから波高値まで急峻に上昇した後、緩やかに低下し、あるタイミングで０Ｖに急激に低下する。

【0020】

インパルス電圧裁断波を供試機器１７に印加する場合の波高値は、インパルス電圧全波を供試機器１７に印加する場合の波高値の１１０％程度に設定されていることが多い。したがって、インパルス電圧ＶＩＰの裁断に失敗し、波高値が大きなインパルス電圧全波が供試機器１７に印加された場合には、供試機器１７に過剰なストレスを印加して損傷させる恐れがある。本実施の形態１では、この問題の解決が図られる。

【0021】

次に、このインパルス電圧裁断波試験装置の動作について説明する。図３は、第１の高圧パルスＰ１に応答して放電スイッチ１２の放電ギャップが遅延せずに放電した場合を示すタイムチャートである。充電用コンデンサ１１は、予め定められた電圧に充電されているものとする。まず、始動信号発生器１から正パルスである始動信号Ｓ１が出力されると、回路応答時間Ｔｒ１の経過後に高圧パルス発生器２から第１の高圧パルスＰ１が出力される。

【0022】

第１の高圧パルスＰ１に応答してインパルス電圧発生装置１０の放電スイッチ１２の放電ギャップが即座に放電し、放電スイッチ１２が導通して充電用コンデンサ１１から供試機器１７に電流が流れる。これにより、出力端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧であるインパルス電圧ＶＩＰが０Ｖから波高値に向かって急激に上昇する。

【0023】

また、始動信号発生器１から始動信号Ｓ１が出力されてから裁断信号発生器３の遅延時間Ｔｄの経過後に、裁断信号発生器３から正パルスである第１の裁断信号Ｓ２が出力される。裁断信号発生器３から第１の裁断信号Ｓ２が出力されると、回路応答時間Ｔｒ２の経過後に高圧パルス発生器５から第２の高圧パルスＰ２が出力される。

【0024】

第２の高圧パルスＰ２に応答して裁断装置１５の放電スイッチ１６の放電ギャップが放電し、放電スイッチ１２が導通してインパルス電圧ＶＩＰが裁断され、インパルス電圧ＶＩＰが波高値に近い正電圧から０Ｖに急激に低下する。これにより、インパルス電圧裁断波が供試機器１７に印加される。

【0025】

また、インパルス電圧ＶＩＰに従って放電用抵抗器１３の出力端子１３ａの電圧が予め定められたしきい値電圧を超えると、裁断信号発生器４から正パルスである第２の裁断信号Ｓ３が出力される。第２の裁断信号Ｓ３が出力されると、回路応答時間Ｔｒ３の経過後に高圧パルス発生器５から第３の高圧パルスＰ３が出力される。図３の例では、第３の高圧パルスＰ３が出力されたときには既に裁断が完了して出力端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧ＶＩＰが０Ｖになっているので、第３の高圧パルスＰ３に応答して裁断装置１５の放電スイッチ１６の放電ギャップが放電することはない。

【0026】

このように、インパルス電圧発生装置１０の放電スイッチ１２の放電ギャップが第１の高圧パルスＰ１に応答して比較的短時間で放電した場合には、第２の高圧パルスＰ２に応答して裁断装置１５の放電スイッチ１６が導通してインパルス電圧ＶＩＰが裁断され、供試機器１７にインパルス電圧裁断波が正常に印加される。

【0027】

図４は、第１の高圧パルスＰ１に応答して放電スイッチ１２の放電ギャップが遅延して放電した場合を示すタイムチャートである。充電用コンデンサ１１は、予め定められた電圧に充電されているものとする。まず、始動信号発生器１から正パルスである始動信号Ｓ１が出力されると、回路応答時間Ｔｒ１の経過後に高圧パルス発生器２から第１の高圧パルスＰ１が出力される。

【0028】

この例では、放電スイッチ１２の放電ギャップの放電が遅延した結果、インパルス電圧ＶＩＰがまだ０Ｖである期間に、裁断信号発生器３から第１の裁断信号Ｓ２が出力され、高圧パルス発生器５から第２の高圧パルスＰ２が出力されてしまう。第２の高圧パルスＰ２が出力されてもインパルス電圧ＶＩＰが０Ｖであるので、裁断装置１５の放電スイッチ１６の放電ギャップが放電せず、放電スイッチ１６は導通しない。

【0029】

図４の例では、高圧パルス発生器２から第１の高圧パルスＰ１が出力されてから比較的長い時間ＴＤの経過後にインパルス電圧発生装置１０の放電スイッチ１２の放電ギャップが放電し、放電スイッチ１２が導通する。放電スイッチ１２が導通すると、インパルス電圧ＶＩＰが０Ｖから波高値に向かって急激に上昇する。

【0030】

インパルス電圧ＶＩＰの上昇に伴って放電用抵抗器１３の出力端子１３ａの電圧が上昇し、予め定められたしきい値電圧を超えると、裁断信号発生器４から正パルスである第２の裁断信号Ｓ３が出力される。第２の裁断信号Ｓ３が出力されると、回路応答時間Ｔｒ３の経過後に第３の高圧パルスＰ３が出力される。このときインパルス電圧ＶＩＰは高電圧になっているので、第３の高圧パルスＰ３に応答して裁断装置１５の放電スイッチ１６の放電ギャップが放電し、放電スイッチ１６が導通する。これにより、インパルス電圧ＶＩＰが高電圧から０Ｖに急激に低下し、供試機器１７にインパルス電圧裁断波が印加される。

【0031】

この実施の形態１では、始動信号Ｓ１を遅延させて第１の裁断信号Ｓ２を生成するとともに、インパルス電圧ＶＩＰに応答して第２の裁断信号Ｓ３を生成し、第１および第２の裁断信号Ｓ２，Ｓ３のうちのいずれかの裁断信号に応答してインパルス電圧ＶＩＰを裁断する。したがって、第１の裁断信号Ｓ２によるインパルス電圧ＶＩＰの裁断に失敗した場合でも、第２の裁断信号Ｓ３に応答してインパルス電圧ＶＩＰを裁断することができる。よって、インパルス電圧ＶＩＰの出力開始時間がばらつく場合でもインパルス電圧裁断波を発生することができ、供試機器１７に波高値の高いインパルス電圧全波が印加されて供試機器１７が損傷されるのを防止することができる。

【0032】

[実施の形態２]
図５は、この発明の実施の形態２によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図であって、図１と対比される図である。図５を参照して、このインパルス電圧裁断波試験装置が図１のインパルス電圧裁断波試験装置と異なる点は、裁断信号発生器４が裁断信号発生器２１で置換されている点である。

【0033】

裁断信号発生器２１は、分圧器１８の出力端子１８ａの電圧が予め定められたしきい値電圧を超えたことに応じて、正パルスである第２の裁断信号Ｓ３を高圧パルス発生器５に出力する。他の構成および動作は、実施の形態１と同じであるので、その説明は繰り返さない。この実施の形態２でも、実施の形態１と同じ効果が得られる。

【0034】

[実施の形態３]
図６は、この発明の実施の形態３によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図であって、図１と対比される図である。図６を参照して、このインパルス電圧裁断波試験装置が図１のインパルス電圧裁断波試験装置と異なる点は、電流検出器２２が追加され、裁断信号発生器４が裁断信号発生器２３で置換されている点である。

【0035】

供試機器１７と電流検出器２２は、出力端子Ｔ１，Ｔ２間に直列接続される。電流検出器２２は、インパルス電圧ＶＩＰが供試機器１７に印加されたときに流れる電流を検出し、その検出値を示す信号を裁断信号発生器２３に出力する。裁断信号発生器２３は、電流検出器２２によって検出された電流値が予め定められたしきい値電流を超えたことに応じて正パルスである第２の裁断信号Ｓ３を高圧パルス発生器５に出力する。

【0036】

他の構成および動作は、実施の形態１と同じであるので、その説明は繰り返さない。この実施の形態３でも、実施の形態１と同じ効果が得られる。

【0037】

[実施の形態４]
図７は、この発明の実施の形態４によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図であって、図１と対比される図である。図７を参照して、このインパルス電圧裁断波試験装置が図１のインパルス電圧裁断波試験装置と異なる点は、光検出器２４が追加され、裁断信号発生器４が裁断信号発生器２５で置換されている点である。

【0038】

インパルス電圧発生装置１０の放電スイッチ１２の放電ギャップは、放電時に発光する。光検出器２４は、放電スイッチ１２の放電ギャップの近傍に配置され、その放電ギャップが発光しているかを検出し、その検出結果を示す信号を裁断信号発生器２５に出力する。裁断信号発生器２５は、放電ギャップが発光していることを示す信号が光検出器２４から出力されたことに応じて正パルスである第２の裁断信号Ｓ３を高圧パルス発生器５に出力する。

【0039】

他の構成および動作は、実施の形態１と同じであるので、その説明は繰り返さない。この実施の形態４でも、実施の形態１と同じ効果が得られる。また、この実施の形態４では、第２の裁断信号Ｓ３がインパルス電圧ＶＩＰによるノイズの影響を受け難いので、実施の形態１よりも裁断の信頼性が高くなる。

【0040】

[実施の形態５]
実施の形態１〜４では、供試機器１７のインピーダンスによってはインパルス電圧裁断波試験装置において高周波振動が発生し、インパルス電圧ＶＩＰに高周波振動電圧が重畳され、裁断装置１５に含まれる放電スイッチ１６の電極間の電圧が高周波で振動するという問題が想定される。放電スイッチ１６のギャップ長（電極間距離）は、裁断を行なうときのインパルス電圧ＶＩＰに応じて適切な値に設定されている。放電スイッチ１６の電極間の電圧が振動すると、放電スイッチ１６のギャップ長と裁断時のインパルス電圧ＶＩＰとの関係が最適にならず、裁断の信頼性が低下してしまう。この実施の形態５では、この問題の解決が図られる。

【0041】

図８は、この発明の実施の形態５によるインパルス電圧裁断波試験装置の構成を示す回路ブロック図であって、図１と対比される図である。図８を参照して、このインパルス電圧裁断波試験装置が図１のインパルス電圧裁断波試験装置と異なる点は、裁断装置１５が裁断装置３０で置換されている点である。裁断装置３０は、出力端子Ｔ１，Ｔ２間に直列接続されたインピーダンス素子３１および放電スイッチ１６を含む。

【0042】

インピーダンス素子３１は、高周波振動電圧に対しては大きなインピーダンスを有し、低い周波数の電圧に対しては小さなインピーダンスを有する素子である。インパルス電圧ＶＩＰに重畳した高周波振動電圧はインピーダンス素子３１を通過することはできず、インパルス電圧ＶＩＰの低周波成分のみがインピーダンス素子３１を通過して放電スイッチ１６に印加される。インピーダンス素子３１は、たとえば、インダクタ、抵抗素子などを含む。

【0043】

したがって、この実施の形態５では、インパルス電圧ＶＩＰに高周波振動電圧が重畳した場合でも、高周波振動電圧はインピーダンス素子１６によって遮断されるので、高周波振動電圧が放電スイッチ１６の電極間に印加されるのを抑制することができ、裁断の信頼性を高めることができる。

【0044】

なお、この実施の形態５では、図１のインパルス電圧裁断波試験装置の裁断装置１５を裁断装置３０で置換した場合について説明したが、これに限るものではなく、図５、図６、図７のインパルス電圧裁断波試験装置の裁断装置１５を裁断装置３０で置換してもよいことは言うまでもない。

【0045】

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

【符号の説明】

【0046】

１ 始動信号発生器、２，５ 高圧パルス発生器、３，４，２１，２３，２５ 裁断信号発生器、１０ インパルス電圧発生装置、１１ 充電用コンデンサ、１２，１６ 放電スイッチ、１３ 放電用抵抗器、１４ 制動用抵抗器、１５，３０ 裁断装置、Ｔ１，Ｔ２ 出力端子、１７ 供試機器、１８ 分圧器、１９，２０ 回路素子、２２ 電流検出器、２４ 光検出器、３１ インピーダンス素子。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】