特許6444265IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

排ガス浄化触媒、その製造方法、及び、それを用いた排ガス浄化方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明は、従来技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、低温においても一酸化炭素、炭化水素、一酸化窒素等に対してより十分な酸化活性を発揮する排ガス浄化触媒、その製造方法、及び、それを用いた排ガス浄化方法を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明者らは、目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、アルミナ担体の表面にシリカ層を形成し、該シリカ層の表面に白金及びパラジウムからなる活性金属粒子を担持させるとともに、前記活性金属粒子における特定粒子径の微粒子の比率を全活性金属粒子に対して特定割合とし、かつ、このような微粒子におけるパラジウム含有率が特定比率の合金微粒子を特定割合とすることにより、低温においても一酸化炭素(CO)、炭化水・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明によれば、低温においても一酸化炭素、炭化水素、一酸化窒素等に対してより十分な酸化活性を発揮する排ガス浄化触媒、その製造方法、及び、それを用いた排ガス浄化方法を提供することが可能となる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】実施例1〜2及び比較例1〜2で得られた排ガス浄化触媒の50%CO酸化温度を示すグラフである。

【図2】実施例1〜2及び比較例1〜2で得られた排ガス浄化触媒の50%HC酸化温度を示すグラフである。

【図3】実施例2及び比較例1で得られた排ガス浄化触媒のNO酸化率を示すグラフである。

【図4】実施例1で得られた排ガス浄化触媒の表面上の特定領域の状態を示す走査透過電子顕微鏡(STEM)写真である。

【図5】実施例1で得られた排ガス浄化触媒の表面上の他の特定領域の状態を示す走査透過電子顕微鏡(STEM)写真である。

【図6】実施例2で得られた排ガス浄化触媒の表面上の特定領域の状態を示す走査透過電子顕微鏡(STEM)写真である。

【図7】比較例1で得られた比較用触媒の表面上の特定領域の状態を示す走査透過電子顕微鏡(STEM)写真である。

【図8】比較例1で得られた比較用触媒の表面上の他の特定領域の状態を示す走査透過電子顕微鏡(STEM)写真である

【図9】比較例2で得られた比較用触媒の表面上の特定領域の状態を示す走査透過電子顕微鏡(STEM)写真である。

【図10】比較例2で得られた比較用触媒の表面上の他の特定領域の状態を示す走査透過電子顕微鏡(STEM)写真である

【図11】排ガス浄化触媒の構造を示す模式図であり、図11(a)は本発明の排ガス浄化触媒の構造を示す模式図であり、図11(b)はシリカ層が無い場合の触媒の構造を示す模式図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

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