特許6445387半導体装置およびメモリの検査方法

発明の名称　半導体装置およびメモリの検査方法

出願人　ＮＥＣプラットフォームズ株式会社　（識別番号 227205）

　　　　特許公開件数ランキング 199 位（54件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 188 位（56件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6445387

公報発行日　2018年12月26

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6445387

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