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特許 6446432出願番号 特願 2016-506163
顕微分光装置
出願人 株式会社日立ハイテクノロジーズ（識別番号 501387839）
2026年 特許公開件数ランキング 229位 125件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 60位 319件（※）
公報発行日 2018年12月26
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※ 共同出願を含む
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技術分野
光学顕微鏡と分光器の組合せである顕微分光装置に関する。本発明は、顕微ラマン分光に有用であるほか、レーザ励起蛍光分光にも有用である。本発明は、長時間連続測定を必要とする用途、例えば顕微ラマン分光に基づくＤＮＡ塩基配列決定など、において特に有用である。
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
高開口数の対物レンズを備えた顕微分光装置において、熱膨張等によるデフォーカスが避けられないような長い時間にわたり、連続測定を可能にする高速リアルタイムオートフォーカスを実現させる。課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
デフォーカスもしくは非点収差を有するデフォーカス検知用ビームを対物レンズに入射させる。このようなデフォーカス検知用ビームのスポットの像のぼけ方は、デフォーカスの向きによって異なるため、デフォーカスの量と向きをリアルタイムで検知することが可能となり、高速なリアルタイムオートフォーカスが可能となる。
【発明の効果】
ナノポアを通過するＤＮＡのような巨大高分子の長時間連続分析、たとえば塩基配列決定が可能になる。また、一つの試料基板に対して多点計測を行う場合、基板の傾きを検知できる。この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】本発明の第一の実施形態を示す構成図。
【図2】第一の実施形態における対物レンズ周辺拡大図。
【図3】第一の実施形態におけるスポット像とデフォーカスの関係。
【図4】本発明の第二の実施形態を示す構成図。
【図5】第二の実施形態におけるスポット像とデフォーカスの関係。
【図6】本発明の第三の実施形態を示す構成図。
【図7】本発明の第四の実施形態を示す構成図。
【図8】本発明の第五の実施形態を示す構成図
【図9】本発明の第六の実施形態を示す構成図
【図10】第六の実施形態における像の模式図
選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図
１ 励起レーザ光源
２ ビームエクスパンダ
３ ビームスプリッタ
４ ミラー
５ ビームスプリッタ
６ ミラー
７ 励起ビーム
８ デフォーカス検知ビーム
９ デフォーカス検知ビーム
１０ 凹レンズ
１１ 凸レンズ
１２ ダイクロイックミラー
１３ 対物レンズ
１４ 試料
１５ ＸＹＺステージ
１６ プリズム
１７ 白色光源
１８ ビームスプリッタ
１９ 撮像素子
２０ ダイクロイックミラー
２１ フィルタ
２２ 第一結像レンズ
２３ ピンホール
２４ リレーレンズ
２５ ラマン散乱光
２６ フィルタ
２７ 回折格子
２８ 第二結像レンズ
２９ 撮像素子
３０ 白色光
３１ レンズ
４０ シリンドリカルレンズ
７１ マルチビーム発生器
７２ デフォーカス検知ビーム
７３ 励起ビーム
７４ 励起ビーム
７５ デフォーカス検知ビーム
４１ シリンドリカルレンズ
４２ シリンドリカルレンズ
７６ 傾き補正ステージ
８０ 制御装置
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