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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第258位 129件
（
2021年：第126位 332件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第85位 331件
（
2021年：第118位 240件）
（ランキング更新日：2022年12月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7182614 | 自動分析装置 | 2022年12月 2日 | |
| 特許 7182700 | 透過電子顕微鏡および透過電子顕微鏡を用いた検査方法 | 2022年12月 2日 | |
| 特許 7181821 | 自動分析装置 | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7181949 | 燃料電池セル及び燃料電池モジュール | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7181976 | 自動分析装置 | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7182003 | 荷電粒子ビームシステム | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7179861 | 自動分析装置、及びその方法 | 2022年11月29日 | |
| 特許 7178208 | 分析システム | 2022年11月25日 | |
| 特許 7175982 | 光計測装置および試料観察方法 | 2022年11月21日 | |
| 特許 7175153 | 分析装置のシミュレーション方法及び装置 | 2022年11月18日 | |
| 特許 7174066 | 自動分析装置 | 2022年11月17日 | |
| 特許 7174170 | 試料観察装置 | 2022年11月17日 | |
| 特許 7174604 | 光画像計測装置、光画像計測方法 | 2022年11月17日 | |
| 特許 7174773 | 荷電粒子線装置の調整方法及び荷電粒子線装置システム | 2022年11月17日 | |
| 特許 7173937 | 荷電粒子線装置 | 2022年11月16日 |
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7182614 7182700 7181821 7181949 7181976 7182003 7179861 7178208 7175982 7175153 7174066 7174170 7174604 7174773 7173937
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