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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第284位 90件
（
2022年：第259位 138件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第88位 263件
（2022年：第85位 351件）
（ランキング更新日：2023年9月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7348786 | 自動分析装置 | 2023年 9月21日 | |
| 特許 7349011 | 電子銃及び電子顕微鏡 | 2023年 9月21日 | |
| 特許 7348182 | 凹面回折格子の製造方法、製造装置及び凹面回折格子 | 2023年 9月20日 | |
| 特許 7348408 | 自動分析装置 | 2023年 9月20日 | |
| 特許 7346644 | パターン計測方法、パターン計測装置、およびパターン計測プログラム | 2023年 9月19日 | |
| 特許 7346739 | 荷電粒子線装置および試料観察方法 | 2023年 9月19日 | |
| 特許 7346749 | 保冷庫、及び分析装置 | 2023年 9月19日 | |
| 特許 7345665 | 輪郭線解析装置、加工寸法抽出システム、処理条件決定システム及び半導体装置製造システム | 2023年 9月15日 | |
| 特許 7344807 | コイルボビン、分布巻ラジアルギャップ型回転電機の固定子コア及び分布巻ラジアルギャップ型回転電機 | 2023年 9月14日 | |
| 特許 7344832 | カンチレバーおよび走査プローブ顕微鏡ならびに走査プローブ顕微鏡による測定方法 | 2023年 9月14日 | |
| 特許 7344390 | 補正係数計算装置、補正係数計算方法、補正係数計算プログラム | 2023年 9月13日 | |
| 特許 7343612 | 自動分析装置 | 2023年 9月12日 | |
| 特許 7342122 | 自動分析装置および自動分析装置の表示装置の表示方法 | 2023年 9月11日 | |
| 特許 7342129 | 自動分析装置 | 2023年 9月11日 | |
| 特許 7342271 | 試料像観察装置、及びその方法 | 2023年 9月11日 |
265 件中 1-15 件を表示
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7348786 7349011 7348182 7348408 7346644 7346739 7346749 7345665 7344807 7344832 7344390 7343612 7342122 7342129 7342271
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