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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第145位 140件
（
2020年：第191位 225件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第119位 120件
（2020年：第127位 223件）
（ランキング更新日：2021年6月24日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6890195 | キャピラリ電気泳動装置および恒温槽 | 2021年 6月18日 | |
| 特許 6890448 | 磁場データ処理システム | 2021年 6月18日 | |
| 特許 6890484 | 磁界計測装置および計測磁界表示方法 | 2021年 6月18日 | |
| 特許 6890569 | 電解質測定装置 | 2021年 6月18日 | |
| 特許 6891140 | 自動分析装置 | 2021年 6月18日 | |
| 特許 6886243 | 自動分析装置 | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6886837 | 自動分析装置 | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6887927 | 生体磁気計測装置 | 2021年 6月16日 | |
| 特許 6883656 | 多極子レンズ及びそれを用いた収差補正器、荷電粒子線装置 | 2021年 6月 9日 | |
| 特許 6883705 | 荷電粒子線装置 | 2021年 6月 9日 | |
| 特許 6884927 | 三次元形状検出装置、方法、及びプラズマ処理装置 | 2021年 6月 9日 | |
| 特許 6879871 | 自動分析装置 | 2021年 6月 2日 | |
| 特許 6880209 | 走査電子顕微鏡 | 2021年 6月 2日 | |
| 特許 6882972 | 荷電粒子線装置、断面形状推定プログラム | 2021年 6月 2日 | |
| 特許 6876158 | プラズマ処理装置 | 2021年 5月26日 |
121 件中 1-15 件を表示
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6890195 6890448 6890484 6890569 6891140 6886243 6886837 6887927 6883656 6883705 6884927 6879871 6880209 6882972 6876158
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