特許第6467582号(P6467582)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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特許6467582大気圧下で溶媒分圧のシーケンスの関数として実効的多孔質性基板表面の光学特性の変化を調べるシステム及び方法
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