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特許6472014飛行時間型二次イオン質量分析装置内電流電圧印加測定機構
発明の名称 飛行時間型二次イオン質量分析装置内電流電圧印加測定機構
出願人 独立行政法人物質・材料研究機構 （識別番号 301023238）
特許公開件数ランキング 407 位（96件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 284 位（104件）（共同出願を含む）
出願人 アルバック・ファイ株式会社 （識別番号 596043379）
特許公開件数ランキング 30110 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 24267 位（0件）（共同出願を含む）
公報番号 特許-6472014
公報発行日 2019年2月20
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6472014
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