特許 6483022 薄切片試料評価装置、該薄切片試料評価装置を含む薄切片試料作製装置、及び、薄切片試料評価方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6483022

(24)【登録日】2019年2月22日

(45)【発行日】2019年3月13日

(54)【発明の名称】薄切片試料評価装置、該薄切片試料評価装置を含む薄切片試料作製装置、及び、薄切片試料評価方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 1/06 20060101AFI20190304BHJP

   G01N 21/88 20060101ALI20190304BHJP

【ＦＩ】

   G01N1/06 L

   G01N21/88 Z

【請求項の数】9

【全頁数】13

(21)【出願番号】特願2015-539430(P2015-539430)

(86)(22)【出願日】2014年9月29日

(86)【国際出願番号】JP2014075914

(87)【国際公開番号】WO2015046518

(87)【国際公開日】20150402

【審査請求日】2017年7月18日

(31)【優先権主張番号】特願2013-205067(P2013-205067)

(32)【優先日】2013年9月30日

(33)【優先権主張国】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】591017892

【氏名又は名称】株式会社大日本精機

(74)【代理人】

【識別番号】100101454

【弁理士】

【氏名又は名称】山田 卓二

(74)【代理人】

【識別番号】100081422

【弁理士】

【氏名又は名称】田中 光雄

(74)【代理人】

【識別番号】100132241

【弁理士】

【氏名又は名称】岡部 博史

(74)【代理人】

【識別番号】100113170

【弁理士】

【氏名又は名称】稲葉 和久

(72)【発明者】

【氏名】南條 祐子

(72)【発明者】

【氏名】渡辺 健吾

(72)【発明者】

【氏名】飯田 弘明

【審査官】 多田 達也

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００７−１９８８３２（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１２−２２９９９３（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００３−００４６０６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００１−３３８２７７（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許第０５１３９３３８（ＵＳ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２００４／００３５２７５（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ １／００ − １／４４

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

試料が包埋剤中に包埋された試料ブロックをカッターにより薄切りし、スライドガラスの上に載置した薄切片試料の表面状態を評価する薄切片試料評価装置であって、
前記スライドガラスの上に載置した前記薄切片試料の表面に青色光を照射する照射部と、
前記照射部から照射した光の前記薄切片試料の表面による拡散反射光を受光して青色光及び緑色光を含む２色以上の光についての画像データを得る撮像部と、
前記撮像部で得られた前記青色光についての前記画像データに基づいて、前記薄切片試料の穴、かすれ、載置不良を検出し、前記緑色光についての前記画像データに基づいて、前記薄切片試料の刃キズ、シワを検出する表面状態検出部と、
少なくとも、前記撮像部と、前記表面状態検出部と、を制御し、前記表面状態検出部で検出した前記薄切片試料の表面状態について評価する制御部と、
を備えた、薄切片試料評価装置。

【請求項2】

前記照射部は、前記薄切片試料と、前記スライドガラスとの間に水分が存在する状態で、前記薄切片試料の表面に青色光を照射する、請求項１に記載の薄切片試料評価装置。

【請求項3】

前記撮像部は、前記薄切片試料の鉛直上方に配置され、
前記照射部は、前記撮像部を挟んで左右に配置される、請求項１に記載の薄切片試料評価装置。

【請求項4】

前記照射部は、直線照明である、請求項３に記載の薄切片試料評価装置。

【請求項5】

前記照射部は、前記撮像部を囲むように配置された環状照射部である、請求項３に記載の薄切片試料評価装置。

【請求項6】

試料が包埋剤中に包埋された試料ブロックをカッターにより薄切りして薄切片試料を作製する薄切片試料作製装置であって、
前記試料ブロックを搬送する試料ブロック搬送部と、
前記試料ブロックの表面をカッターによって薄切りして薄切片試料を得るカッター部と、
前記薄切片試料を、スライドガラスの上に載置する載置部と、
請求項１から５のいずれか一項に記載の前記薄切片試料評価装置と、
少なくとも、前記試料ブロック搬送部と、前記載置部と、前記薄切片試料評価装置と、を制御する制御部と、
を備えた、薄切片試料作製装置。

【請求項7】

前記薄切片試料評価装置によって、前記薄切片の表面状態に不具合を検出した場合に、前記カッター部の前記カッターを交換する、請求項６に記載の薄切片試料作製装置。

【請求項8】

前記薄切片試料評価装置によって、前記薄切片の表面状態に不具合を検出した場合に、薄切片試料の作製を停止する、請求項６に記載の薄切片試料作製装置。

【請求項9】

試料が包埋剤中に包埋された試料ブロックをカッターにより薄切りし、スライドガラスの上に載置した薄切片試料の表面状態を評価する薄切片試料評価方法であって、
前記スライドガラスの上に載置した前記薄切片試料の表面に青色光を照射する照射ステップと、
照射した光の前記薄切片試料の表面による拡散反射光を受光して、受光した光のうち青色光及び緑色光を含む２色以上の光についての画像データを得る撮像ステップと、
得られた前記青色光についての前記画像データに基づいて、前記薄切片試料の穴、かすれ、載置不良を検出し、前記緑色光についての前記画像データに基づいて、前記薄切片試料の刃キズ、シワを検出する表面状態検出ステップと、
前記検出した前記薄切片試料の表面状態について評価する評価ステップと、
を含む、薄切片試料評価方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、理化学試料分析や生体試料等の顕微鏡観察等に利用される薄切片試料を評価するための薄切片試料評価装置、該薄切片試料評価装置を含む薄切片試料作製装置、及び、薄切片試料評価方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、理化学試料分析や生体試料等の顕微鏡観察等に利用される薄切片試料を作製するための装置としてミクロトームが広く知られている。ミクロトームは、生体試料等をパラフィン等の包埋剤の中に埋め込んだ（包埋した）試料ブロックの表層部分をカッターによって薄切りすることにより、薄切片試料を作製する装置である。

【0003】

ミクロトームにより作製された薄切片試料は、例えば、筆や紙等を用いて、水あるいは湯等の伸展用の液体を充填した槽に回収されて皺等を伸展されたのち、接着液（例えば水）を用いてスライドガラスに貼付けられる。あるいは、上記薄切片試料は、接着剤を塗布したスライドガラスに直接配置され、スライドガラスが加温されることで皺等の伸展が行われてスライドガラスに貼付けられる。スライドガラスに貼り付いた薄切片試料は、接着液の蒸発に伴いスライドガラスに密着固定され、組織観察用の薄切片試料として利用される（例えば、特許文献１−５参照。）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１２−２２９９９３号公報

【特許文献2】特開２０１２−２２９９９４号公報

【特許文献3】特開２０１２−２２９９９５号公報

【特許文献4】特開２０１２−２２９９９６号公報

【特許文献5】特開２０１２−２２９９９７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

試料ブロックに含まれる生体試料の中には骨および石灰化した硬組織等が含まれることがある。このような硬組織を含む試料ブロックの表面を薄切りした場合、カッターが損傷して薄切片試料に刃キズ等の不具合が生じる場合がある。いったんカッターが損傷すると、その後の全ての薄切片試料に刃キズを生じるため、薄切片試料の表面に刃キズ等の不具合が存在しないか確認することが必要である。

【0006】

本発明の目的は、薄切りして得られた薄切片試料の表面状態を検出、評価する薄切片試料評価装置及び該薄切片試料評価装置を備えた薄切片試料作製装置、並びに、薄切片試料作製方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明に係る薄切片試料評価装置は、試料が包埋剤中に包埋された試料ブロックをカッターにより薄切りし、スライドガラスの上に載置した薄切片試料の表面状態を評価する薄切片試料評価装置であって、
前記スライドガラスの上に載置した前記薄切片試料の表面に青色光を照射する照射部と、
前記照射部から照射した光の前記薄切片試料の表面による拡散反射光を受光して、受光した光のうち異なる２色以上の光についての画像データを得る撮像部と、
前記撮像部で得られた前記２色以上の光についての前記画像データに基づいて、前記薄切片試料の表面状態を検出する表面状態検出部と、
少なくとも、前記撮像部と、前記表面状態検出部と、を制御し、前記表面状態検出部で検出した前記薄切片試料の表面状態について評価する制御部と、
を備える。

【発明の効果】

【0008】

本発明に係る薄切片試料評価装置によれば、スライドガラスの上に載置された薄切片試料の表面に青色光を照射し、薄切片試料の表面による拡散反射光を受光して異なる２色以上の光について得られた画像データに基づいて、薄切片試料の表面状態を検出する。検出した薄切片試料の表面状態について、刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の不具合の有無を評価する。これによって、薄切片試料の表面に刃キズ等の不具合が発生していた場合に、これを検出でき、その後の多数の薄切片のロスを抑制できると共に、薄切片試料の品質低下を抑制できる。

【図面の簡単な説明】

【0009】

【図1】本発明の実施の形態１に係る薄切片試料作製装置の構成を示す概略図である。

【図2】実施の形態１に係る薄切片試料評価装置の構成を示す概略図である。

【図3】スライドガラスの上に載置した薄切片試料の画像の一例の平面図である。

【図4】本発明の実施の形態１に係る薄切片試料評価方法のフローチャートである。

【図5】本発明の実施の形態１に係る薄切片試料作製方法のフローチャートである。

【図6】本発明の実施の形態１に係る薄切片試料付きスライドガラスの作製方法の詳細を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0010】

本発明の第１の態様に係る薄切片試料評価装置は、試料が包埋剤中に包埋された試料ブロックをカッターにより薄切りし、スライドガラスの上に載置した薄切片試料の表面状態を評価する薄切片試料評価装置であって、
前記スライドガラスの上に載置した前記薄切片試料の表面に青色光を照射する照射部と、
前記照射部から照射した光の前記薄切片試料の表面による拡散反射光を受光して、受光した光のうち異なる２色以上の光についての画像データを得る撮像部と、
前記撮像部で得られた前記２色以上の光についての前記画像データに基づいて、前記薄切片試料の表面状態を検出する表面状態検出部と、
少なくとも、前記撮像部と、前記表面状態検出部と、を制御し、前記表面状態検出部で検出した前記薄切片試料の表面状態について評価する制御部と、
を備える。

【0011】

第２の態様に係る薄切片試料評価装置は、上記第１の態様において、前記照射部は、前記薄切片試料と、前記スライドガラスとの間に水分が存在する状態で、前記薄切片試料の表面に青色光を照射してもよい。

【0012】

第３の態様に係る薄切片試料評価装置は、上記第１又は第２の態様において、前記撮像部は、前記薄切片試料の鉛直上方に配置され、
前記照射部は、前記撮像部を挟んで左右に配置されていてもよい。

【0013】

第４の態様に係る薄切片試料評価装置は、上記第３の態様において、前記照射部は、直線照明であってもよい。

【0014】

第５の態様に係る薄切片試料評価装置は、上記第３の態様において、前記照射部は、前記撮像部を囲むように配置された環状照射部であってもよい。

【0015】

本発明の第６の態様に係る薄切片試料作製装置は、試料が包埋剤中に包埋された試料ブロックをカッターにより薄切りして薄切片試料を作製する薄切片試料作製装置であって、
前記試料ブロックを搬送する試料ブロック搬送部と、
前記試料ブロックの表面をカッターによって薄切りして薄切片試料を得るカッター部と、
前記薄切片試料を、スライドガラスの上に載置する載置部と、
上記第１から第５のいずれかの態様の前記薄切片試料評価装置と、
少なくとも、前記試料ブロック搬送部と、前記載置部と、前記薄切片試料評価装置と、を制御する制御部と、
を備える。

【0016】

第７の態様に係る薄切片試料作製装置は、上記第６の態様において、前記薄切片試料評価装置によって、前記薄切片試料の表面状態に不具合を検出した場合に、前記カッター部の前記カッターを交換してもよい。

【0017】

第８の態様に係る薄切片試料作製装置は、上記第６の態様において、前記薄切片試料評価装置によって、前記薄切片試料の表面状態に不具合を検出した場合に、薄切片試料の作製を停止してもよい。

【0018】

本発明の第９の態様に係る薄切片試料評価方法は、試料が包埋剤中に包埋された試料ブロックをカッターにより薄切りし、スライドガラスの上に載置した薄切片試料の表面状態を評価する薄切片試料評価方法であって、
前記スライドガラスの上に載置した前記薄切片試料の表面に青色光を照射する照射ステップと、
前記照射部から照射した光の前記薄切片試料の表面による拡散反射光を受光して、受光した光のうち異なる２色以上の光についての画像データを得る撮像ステップと、
前記撮像部で得られた前記２色以上の光についての前記画像データに基づいて、前記薄切片試料の表面状態を検出する表面状態検出ステップと、
前記検出した前記薄切片試料の表面状態について評価する評価ステップと、
を含む。

【0019】

以下、本発明の実施の形態に係る薄切片試料評価装置、薄切片試料作製装置及び薄切片試料評価方法について、添付図面を参照しながら説明する。なお、図面において実質的に同一の部材については同一の符号を付している。

【0020】

（実施の形態１）
＜薄切片試料作製装置＞
図１は、本発明の実施の形態１に係る薄切片試料作製装置１００の全体的な構成を示す概略図である。この薄切片試料作製装置１００は、試料ブロック１を搬送する搬送部２０と、試料ブロック１の表面を薄切りして薄切片試料を得るカッター部３０と、薄切片試料を、スライドガラスの上に載置する載置部６０と、薄切片試料評価装置１０と、制御部９０と、を少なくとも備えていればよい。制御部９０は、試料ブロック搬送部２０と、カッター部３０と、載置部６０と、薄切片試料評価装置１０と、を制御する。なお、制御部９０は、薄切片試料評価装置１０の制御部を兼ねてもよい。

【0021】

この薄切片試料作製装置１００は、さらに、試料ブロック保管部４０と、位置調整部５０と、伸展部７０と、スライドガラス搬送部８０と、を備えていてもよい。
以下に薄切片試料作製装置１００を構成する各構成部材について説明する。

【0022】

＜試料ブロック＞
試料ブロック１は、例えば、生体試料１１等をパラフィン等の包埋剤１２の中に包埋（埋め込み）したものである。この試料ブロック１は、試料台（図示せず）の上に載せて使用される。この試料ブロック１は、表面が乾燥した状態で切断されると、試料断面が毛羽立つ等、良好な切片が得にくくなる。また、試料ブロック１は、温度の微妙な変化によって膨張及び収縮が発生しやすく、薄切り処理時に薄切片試料の厚さにムラが生じやすいという問題点を有する。このため、一定温度（例えば１０℃〜２５℃）及び一定湿度を維持するように、図示しない冷却機及び加湿器を備えている。なお、上記温度及び湿度の設定は、試料ブロック１として使用する試料１１及び包埋剤１２の種類等に応じて適宜設定すればよい。

【0023】

＜試料ブロック保管部＞
試料ブロック保管部４０では、複数の試料ブロック１を取り出し可能な状態で保管する。
＜位置調整部＞
位置調整部５０では、試料ブロック１の表面の傾斜及び高さ調整を行う。

【0024】

＜カッター部＞
カッター部３０では、カッター３１と試料ブロック１とを相対移動させることによって試料ブロックの表層部分を薄切りして薄切片試料３２を得る。この場合に、例えば、試料ブロック１は、搬送部２０によって搬送方向に沿って移動させ、カッター３１は、搬送方向と垂直方向に移動させてもよい。カッター３１を固定するのではなく移動させることによって、試料ブロック１と接する刃の部分をずらすことができ、薄切りの際に発生するパラフィンくずがとれやすくなる。

【0025】

また、カッター部３０では、試料ブロック１の面出しのための粗削りと、薄切片試料を作製する本削りと、を行う。
粗削りの場合には、所定厚さまで試料ブロック１の表層部分を削って面出しを行う。
一方、本削りの場合には、試料ブロック１の表面をカッター３１によって薄切りして薄切片試料３２を作製する。作製した薄切片試料３２は、供給リール３３から供給されるキャリアテープ３４の上に付着される。この場合に、加湿を行うことによって薄切片試料３２をキャリアテープ３４上に良好に付着することができる。なお、カッター部３０にも高さ調整機構を設けても良い。

【0026】

＜キャリアテープ＞
なお、キャリアテープ３４は、供給テープ３３から、ガイドローラ３５、３６、３７、３８を経て、巻取リール３９に巻き取られる。

【0027】

＜試料ブロック搬送部＞
試料ブロック搬送部２０は、少なくとも試料ブロック１をカッター部３０に搬送するものであればよい。

【0028】

＜載置部＞
載置部６０は、少なくとも薄切片試料３２をスライドガラス６３の上面に載置するものであればよい。例えば、転写方式を用いた場合の載置部６０は、キャリアテープ３４の走行経路の上流側に配置された一対のガイドローラ６１と、走行経路の下流側に配置された一対のガイドローラ６２とを備えている。載置部６０では、例えば、一対のガイドローラ６１の間と一対のガイドローラ６２の間で薄切片試料３２が貼り付いているキャリアテープ２１の一部分を挟み、その状態で一対のガイドローラ６２又は一対のガイドローラ６１を下方に移動させることで、キャリアテープ２１を下方に撓ませる。これによって、上面に接着液（水分を含む）６４を供給されたスライドガラス６３の上面に薄切片試料３２を接触させて、スライドガラス６３の上面に薄切片試料３２を転写する。なお、薄切片試料３２を載置されたスライドガラス６３を、薄切片試料付きスライドガラスという。なお、薄切片試料３２をスライドガラス６３の上面に載置する方法としては前記転写による方法が最も好ましいが、その他の例としては、液槽内の液体に浮かべた薄切片試料を、スライドガラスで掬い上げるようにしてもよい。

【0029】

＜伸展部＞
伸展部７０は、加温板（図示せず）を備え、スライドガラス搬送部８０により加温板（図示せず）上に載置された薄切片試料付きスライドガラス６３に、上記加温板により、第１の加温（例えば４０℃〜６０℃程度、数秒〜数十秒）を行って薄切片試料３２の皺の伸展を行うとともに薄切片試料３２のスライドガラス６３への貼付力を強くする。その後、さらに第２の加温（例えば４０℃程度、数時間）を行って薄切片試料付きスライドガラス６３上の水分を完全に蒸発させて、薄切片試料３２をスライドガラス６３に密着固定する。

【0030】

なお、上述のように、この薄切片試料作製装置１００では、上記薄切片試料評価装置１０、カッター部３０、試料ブロック搬送部、載置部６０を必須の構成部材として含むが、これらの構成部材以外に、試料ブロック保管部４０と、位置調整部５０と、伸展部７０と、スライドガラス搬送部８０と、を備えていてもよい。

【0031】

＜薄切片試料評価装置＞
図２は、本発明の実施の形態１に係る薄切片試料評価装置１０の構成を示す概略図である。この薄切片試料評価装置１０は、照射部３ａ、３ｂと、撮像部４と、表面状態検出部６と、制御部８と、を備える。照射部３ａ、３ｂは、スライドガラス６３の上に載置した薄切片試料３２の表面に青色光を照射する。撮像部４は、照射部３ａ、３ｂから照射した光の薄切片試料３２の表面による拡散反射光を受光して、異なる２色以上の光についての画像データを得る。表面状態検出部６は、撮像部４で得られた２色以上の光についての画像データに基づいて、スライドガラスの上に載置した薄切片試料３２の表面状態を検出する。制御部８は、照射部３ａ、３ｂと、撮像部４と、表面状態検出部６と、を制御し、表面状態検出部６で得られた薄切片試料３２の表面状態について、刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の不具合の有無を評価する。

【0032】

なお、薄切片試料３２の評価にあたって、図１に示すように、薄切片試料３２をスライドガラス６３の上に載置する際にあらかじめスライドガラス６３の上面に水分６４を供給しておき、その上に薄切片試料３２を載置してもよい。

【0033】

このように薄切片試料３２とスライドガラス６３の間に水分を供給することによって、薄切片試料３２を濡れた状態とすることで、試料（生体組織）１１自体の模様を見えにくくでき、刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の観察がしやすくなる。
上記薄切片試料３２とスライドガラス６３の間に存在する水分の効果について以下に説明する。まず、薄切片試料３２には、試料（生体組織）１１とパラフィン等の包埋剤１２が含まれている。一方、薄切片試料３２の表面に現れる刃キズ、穴、かすれ、載置不良等は、試料（生体組織）１１自体の模様と類似する。そのため、試料（生体組織）１１を乾燥した状態においた場合、試料（生体組織）１１自体の模様が表面に浮き出てしまい、表面の刃キズ、穴、かすれ、載置不良等がまぎれてしまい観察できなくなるおそれがある。これに対して、薄切片試料３２とスライドガラス６３の間に水分が存在していると、試料（生体組織）１１とパラフィンとの輝度差がつきにくくなる。このように試料（生体組織）１１とパラフィンとの輝度差があまりないことは、試料（生体組織）１１自体の観察を行う場合には不利となるが、ここでは表面状態を検出、評価することが目的であるので上記輝度差がないことは特に問題とならない。その一方、薄切片試料３２とスライドガラス６３の間に水分が存在することによって、試料（生体組織）１１自体の模様を見えにくくできるため、表面の刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の観察がしやすくなる。

【0034】

この薄切片試料評価装置１０では、撮像部４で得られた異なる２色以上の光についての画像データに基づいて、薄切片試料３２の表面状態を検出し、得られた薄切片試料３２の表面状態について、刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の不具合の有無を評価することができる。

【0035】

図３は、スライドガラス６３の上に載置した薄切片試料３２の画像の一例の平面図である。この画像では、図３で矢印で示すカッター３１の移動方向（紙面の上から下の方向）に対して角度βで傾斜して生じている一連のキズがあることがわかる。この角度βは、例えば、画像処理のハフ（Ｈｏｕｇｈ）変換等の直線抽出を行うことによって検出できる。この角度βで傾斜している一連のキズが刃キズであるかについて検討する。刃キズとは、損傷したカッターによって試料を薄切りする際に、薄切片試料３２の表面に付けられるものである。なお、図３の場合、試料ブロック１の搬送方向は、紙面の左から右の方向である。上記のようにカッター部３０において、試料ブロック１の搬送方向と、カッター３１の移動方向とが互いに直交している場合、刃キズはカッターの移動方向について角度αで傾斜して生じる。この角度αは、カッター３１の移動速度と試料ブロック１の搬送速度とを互いに直交する２つの成分とする直角三角形において、試料ブロック１の搬送速度の成分を底辺とした場合の頂角αに対応する。そこで、上記一連のキズのカッター３１の移動方向に対する角度βについて、刃キズの場合のカッター３１の移動方向に対する角度αと対比し、角度βが角度αと実質的に一致する場合には上記一連のキズは刃キズであると考えられる。

【0036】

この薄切片試料作製装置１００では、薄切片試料３２の表面状態について、刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の不具合が存在すると評価された場合には、カッター部３０のカッターを交換してもよい。あるいは、薄切片試料３２の作製を停止してもよい。

【0037】

この薄切片試料評価装置１０を構成する各構成部材について説明する。

【0038】

＜照射部＞
照射部３（３ａ、３ｂ）は、試料ブロック１の表面に青色光を照射するものであれば使用できる。青色ＬＥＤ照明を用いてもよいし、白色ＬＥＤ照明や白色の蛍光ランプに青色のカラーフィルターを組み合わせてもよい。なお、青色光のピーク波長は４５０ｎｍ−４７０ｎｍの範囲にあるのが好ましい。さらに、照射部３としては、直線照明を用いてもよい。あるいは、面照明を用いてもよい。なお、照射部３として直線照明を用いる場合には、左右に直線照明３ａ、３ｂを配置してもよい。さらに、撮像部４を囲むように環状照明部（図示せず）としてもよい。環状照明部としては、リング状照明の他、ドーム照明または、直線照明を複数環状に並べて環状照明部を構成してもよい。
なお、上記記載は一例であって照射部３として利用可能な範囲を限定するものではない。

【0039】

＜撮像部＞
撮像部４は、異なる波長の２色以上の光についての画像データを得ることができるものであれば使用できる。例えば、カラー画像が取得できるカメラであってもよい。また、撮像部４として、エリアカメラを用いても良く、あるいはラインカメラを用いてもよい。
また、撮像部４は、どのように配置してもよいが、照明部３との配置において、薄切片試料の表面からの拡散反射光を受光できるように配置すればよい。例えば、撮像部４は、薄切片試料の鉛直上方に配置してもよい。この場合、照明部３を撮像部４と同軸に配置しない限り薄切片試料の表面からの拡散反射光を受光することができる。なお、上記記載は一例であって撮像部４として利用可能な範囲を限定するものではない。

【0040】

＜表面状態検出部及び制御部＞
表面状態検出部６は、得られた２色以上の光についての画像データに基づいて、薄切片試料の表面状態を検出する機能を有するものであれば使用できる。例えば、撮像部４から得たカラー画像データを処理し、表面状態を検出してもよい。画像データの処理方法としては、例えば、グレー化、シェーディング補正、エッジ抽出、２値化、ハフ（Ｈｏｕｇｈ）変換、等がある。なお、画像処理の方法は、上記の例に限定されない。また、制御部８は、少なくとも、撮像部４と、表面状態検出部６と、を制御し、表面状態検出部６で得られた表面状態に基づいて、表面状態を評価する機能を有するものであれば使用できる。なお、制御部８によって、さらに照射部３を制御してもよい。また、表面状態検出部６及び制御部８としては、例えば、パーソナルコンピュータを使用できる。パーソナルコンピュータとしては、例えば、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤ（記憶部）、タッチパネル等の入力部、表示部等の必要な部材を備えていればよい。
なお、表面状態検出部６及び制御部８は、機能的に区別するため便宜的に２つに分けているが、物理的な構成として一体として機能するものであってもよい。例えば、ＣＰＵ上で動作する制御部のプログラムが、上記画像処理のプログラムを呼び出すことで表面状態検出部を制御してもよい。また、撮像部４に内蔵されたＣＰＵで上記画像処理を行ってもよい。その場合、撮像部４と表面状態検出部６は物理的な構成として一体となる。

【0041】

＜薄切片試料の表面状態の評価方法＞
図４は、実施の形態１に係る薄切片試料作製方法における、薄切片試料の評価方法のフローチャートである。この薄切片試料作製方法における、薄切片試料評価方法について、図４を用いて以下に説明する。
（ａ）スライドガラス６３の上に載置した薄切片試料３２に青色光を照射し、薄切片試料３２の表面による拡散反射光を受光して、受光した光のうち異なる２色以上の光についての画像データを得る（Ｓ０１）。ここで得られる画像データは、カラー画像データであってもよい。また、青色光を照射するのは、刃キズや穴といった不具合の検出精度を高めるためである。青色光を照射し、その反射光の緑色成分で刃キズおよびシワを、青色成分で穴、かすれ、載置不良を判別することで、それぞれの不具合を高精度に検出できる。なお、拡散反射光を受光するのは、この場合に薄切片試料３２の表面が乱反射するため明るく、一方、スライドガラス６３の表面は乱反射せず暗くなるため、薄切片試料３２からの画像データを得やすいためである。これに対して、正反射光を受光した場合には、薄切片試料３２よりもスライドガラス６３の輝度が高くなって薄切片試料３２が相対的に暗くなり、評価に適した画像データを得にくくなる。
（ｂ）得られた２色以上の光についての画像データに基づいて、薄切片試料の表面状態を検出する（Ｓ０２）。例えば、得られたカラー画像データのうち緑色成分を使って、ハフ変換処理を用いた直線抽出を行い直線状のキズを検出してもよい。また、得られたカラー画像データのうちの青色成分を使って所定の閾値で２値化処理を行い、黒画素の部分を穴、かすれ、載置不良として検出してもよい。
（ｃ）得られた薄切片試料３２の表面状態について、刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の不具合を評価する（Ｓ０３）。例えば、直線状のキズの角度をカッターの引き角と比較して刃キズと判定してもよいし、一定以上の面積の穴、かすれ、載置不良があれば不具合と判定してもよい。

【0042】

この薄切片試料評価方法では、青色光を照射し、得られた２色以上の光についての画像データに基づいて、薄切片試料３２の表面状態、具体的には刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の不具合を検出、評価できる。そこで、薄切片試料作製にあたって薄切片試料３２の表面状態の評価を的確に行うことによって、刃キズ等の発生を検出し、ロスを抑えることができる。

【0043】

なお、上記薄切片試料評価方法は、コンピュータ上で実行することによって、コンピュータによる薄切片試料評価方法を実現するためのコンピュータプログラムとすることもできる。この場合、上記コンピュータプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に格納してもよい。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体としては、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ、ＢＤ等の光ディスク、ＵＳＢメモリ、ＳＤメモリ等の半導体メモリ、磁気ディスク、光磁気ディスク等、磁気テープ等であってもよい。

【0044】

＜薄切片試料作製方法＞
次に、図５は、本発明の実施の形態１に係る薄切片試料作製方法の概略を示すフローチャートである。図５を用いて、薄切片試料３２付きスライドガラス６３の作製方法の概略を説明する。
（１）薄切処理
試料ブロック１の表層部分をカッター部３０のカッター３１によって薄切りして薄切片試料３２を得る（Ｓ１１）。
（２）載置処理
薄切片試料３２をスライドガラス６３の上に載置する（Ｓ１２）。
（３）評価処理
スライドガラス６３の上に載置した薄切片試料３２の表面状態を評価する（Ｓ１３）。具体的には、表面状態が良好か否か判断する。この場合、薄切片試料３２の表面状態について、刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の不具合の有無を評価する。
不具合があった場合（ＮＯ）には、ステップＳ１４に移行する。不具合がなかった場合には、そのままステップＳ１５に移行する。
（４）カッターの交換
表面状態がよくない場合、つまり、刃キズ、穴、かすれ、載置不良等の不具合が見つかった場合にはカッター３１の交換を行う（Ｓ１４）。
（５）薄切回数のカウント
規定の薄切回数に達したか判断する（Ｓ１５）。規定の薄切回数に達した場合には薄切片試料の作製を終了する（エンド）。一方、規定の薄切回数に達していない場合には、最初の薄切処理（Ｓ１１）に戻る。
以上によって、薄切片試料３２の作製を行うことができる。

【0045】

＜薄切片試料３２付きスライドガラス６３の作製方法＞
図６は、本発明の実施の形態１に係る薄切片試料３２付きスライドガラス６３の作製方法の詳細を示すフローチャートである。図６を用いて、薄切片試料３２付きスライドガラス６３の作製方法の詳細について、以下に説明する。
（ａ）まず、試料保管部４０から一つの試料ブロック１を試料ブロック搬送部２０により取り出し、位置調整部５０に搬送する（Ｓ２１）。
（ｂ）位置調整部５０において、試料ブロック１の表面の傾斜及び高さ調整を行う（Ｓ２２）。
（ｃ）次いで、試料ブロック１を、試料ブロック搬送部２０によって、位置調整部５０からカッター部３０に搬送する（Ｓ２３）。
（ｄ）カッター部３０では、試料ブロック搬送部２０とカッター３１との相対移動によって、試料ブロック１の表層部分をカッター３１によって薄切する（Ｓ２４）。これによって、一枚の薄切片試料３２が作製され、薄切片試料３２がキャリアテープ３４に貼り付けられる。
（ｅ）キャリアテープ３４に貼り付けられた薄切片試料３２を、キャリアテープ３４の移動と共に、載置部６０に移動させる（Ｓ２５）。
（ｆ）一方、試料ブロック１の移動及び薄切片試料３２の移動の間に、スライドガラス搬送部８０によって、薄切片試料３２を貼り付ける１つのスライドガラス６３を載置部６０に搬送して、上面に接着液２３（水分を含む）を供給した後、キャリアテープ３４上に貼り付けられた薄切片試料３２とスライドガラス６３とを対向状態とする（Ｓ２６）。
（ｇ）載置部６０では、薄切片試料３２が貼り付けられたキャリアテープ３４の一部分を下方に撓ませて、薄切片試料３２をスライドガラス６３の上面の接着液６４に押し当てて、薄切片試料３２をキャリアテープ３４の一部分からスライドガラス６３の上面に転写する（Ｓ２７）。
（ｈ）薄切片試料評価装置１０によって、スライドガラス６３の上に載置された薄切片試料３２の表面状態を検出、評価する（Ｓ２８）。この薄切片試料評価方法については、上述の通りであるため説明を省略する。
（ｉ）薄切片試料３２が載置された薄切片試料付きスライドガラス６３をスライドガラス搬送部８０により、載置部６０から伸展部７０へ搬送する（Ｓ２９）。

【0046】

（ｋ）伸展部７０では、搬送された薄切片試料付きスライドガラス６３に対して、第１の加温（例えば４０℃〜６０℃程度、数秒〜数十秒）を行って、薄切片試料３２の皺の伸展を行うとともに薄切片試料３２のスライドガラス６３への貼付力を強化する。その後、さらに第２の加温（例えば４０℃程度、数時間）を行って、水分を完全に蒸発させて薄切片試料３２をスライドガラス２２に密着固定させる（Ｓ３０）。
これにより、一枚の薄切片試料３２付きスライドガラス６３の作製が完了する。
以下、上記と同様にして試料ブロック搬送部２０により試料ブロック１を搬送して、上記薄切り動作を、任意の回数、自動的且つ連続的に繰り返すことによって、任意の枚数の薄切片試料３２を作製できる。

【0047】

なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、その他種々の態様で実施できる。

【産業上の利用可能性】

【0048】

本発明に係る薄切片試料評価装置及び該評価装置を含む薄切片試料作製装置によれば、青色光を薄切片試料に照射し、薄切片試料の表面による拡散反射光を受光して、受光した光のうち異なる２色以上の光についての画像データを得る。得られた２色以上の光についての画像データに基づいて、薄切片試料の表面状態を検出、評価できる。そこで、理化学試料分析や生体試料等の顕微鏡観察などに利用される薄切片試料を作製する薄切片試料作製装置に有用である。

【符号の説明】

【0049】

１ 試料ブロック
３ａ、３ｂ 照射部
４ 撮像部
６ 表面状態検出部
８ 制御部
１０ 薄切片試料評価装置
１１ 試料
１２ 包埋剤
２０ 試料ブロック搬送部
３０ カッター部
３１ カッター
３２ 薄切片試料
３３ 供給リール
３４ キャリアテープ
３５、３６、３７、３８ ガイドローラ
３９ 巻取リール
４０ 試料ブロック保管部
５０ 位置調整部
６０ 載置部
６１、６２ ガイドローラ
６３ スライドガラス
６４ 接着液
７０ 伸展部
８０ スライドガラス搬送部
９０ 制御部
１００ 薄切片試料作製装置

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】