(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【発明を実施するための形態】
【0013】
以下、添付した図面を参照して、本発明の好ましい実施の形態を説明する。明細書全体にわたって同じ参照番号は、実質的に同一の構成要素を意味する。以下の説明において、本発明に関する公知技術や構成に対する具体的な説明が本発明の要旨を不必要に曖昧にすると判断される場合、その詳細な説明を省略する。また、以下の説明で使用される構成要素の名称は、明細書作成の容易さを考慮して選択されたものであり、実際の製品の部品名称とは異なることがある。複数の実施の形態を説明する際、実質的に同一の構成要素については、冒頭で代表的に説明し、他の実施の形態においては、省略する。
【0014】
本発明の表示装置は、液晶表示装置(Liquid Crystal Display、LCD)、電界放出表示装置(Field Emission Display:FED)、プラズマディスプレイパネル(Plasma Display Panel、PDP)、有機発光ダイオード表示装置(Organic Light Emitting Display、OLED Display)、電気泳動表示素子(Electrophoresis、EPD)などの表示装置として実現することができる。以下、本発明においては、説明の便宜のために表示装置が有機発光ダイオード素子を含む場合を例に挙げて説明する。
【0015】
有機発光表示装置は、アノードである第1電極とカソードである第2電極との間に有機物からなる発光層を含む。したがって、第1電極から供給を受ける正孔と第2電極から供給を受ける電子が発光層内で結合して正孔−電子対である励起子(exciton)を形成し、励起子が基底状態に戻りながら発生するエネルギーにより発光する自発光表示装置である。しかし、本発明に係る有機発光表示装置は、プラスチック基板のほか、ガラス基板に形成することもできる。
【0016】
以下、添付した図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。
【0017】
図1は、有機発光表示装置の概略的なブロック図である。
図2は、サブピクセルの回路構成を示した第1例示図である。
図3は、サブピクセルの回路構成を示した第2例示図である。
図4は、本発明に係る有機発光表示装置を示す平面図である。
【0018】
図1を参照すると、有機発光表示装置は、映像処理部10、タイミング制御部20、データ駆動部30、ゲート駆動部40と表示パネル50を含む。
【0019】
映像処理部10は、外部から供給されたデータ信号(DATA)に加え、データイネーブル信号(DE)などを出力する。映像処理部10は、データイネーブル信号(DE)のほか、垂直同期信号、水平同期信号及びクロック信号の内、いずれか1つ以上を出力することができるが、この信号は、説明の便宜上省略して示す。映像処理部10は、システム回路基板にIC(Integrated Circuit)の形態で形成される。
【0020】
タイミング制御部20は、映像処理部10からのデータイネーブル信号(DE)または垂直同期信号、水平同期信号及びクロック信号などを含む駆動信号と共に、データ信号(DATA)の供給を受ける。
【0021】
タイミング制御部20は、駆動信号に基づいて、ゲート駆動部40の動作タイミングを制御するためのゲートタイミング制御信号(GDC)とデータ駆動部30の動作タイミングを制御するためのデータタイミング制御信号(DDC)を出力する。タイミング制御部20は、制御回路基板にICの形で形成される。
【0022】
データ駆動部30は、タイミング制御部20から供給されたデータのタイミング制御信号(DDC)に応答して、タイミング制御部20から供給されるデータ信号(DATA)をサンプリングし、ラッチしてガンマ基準電圧に変換して出力する。データ駆動部30は、データライン(DL1〜DLn)を介してデータ信号(DATA)を出力する。データ駆動部30は、基板上にIC形で取り付けられる。
【0023】
ゲート駆動部40は、タイミング制御部20から供給されたゲートタイミング制御信号(GDC)に応答して、ゲート電圧のレベルをシフトさせながらゲート信号を出力する。ゲート駆動部40は、ゲートライン(GL1〜GLm)を介してゲート信号を出力する。ゲート駆動部40は、ゲート回路基板にICの形で形成されるか、または表示パネル50にゲートインパネル(Gate In Panel)方式で形成される。
【0024】
表示パネル50は、データ駆動部30とゲート駆動部40から供給されたデータ信号(DATA)とゲート信号に対応して映像を表示する。表示パネル50は、映像を表示するサブピクセル(SP)を含む。
【0025】
図2を参照すると、一つのサブピクセルは、スイッチングトランジスタ(SW)、駆動トランジスタ(DR)、補償回路(CC)と有機発光ダイオード(OLED)を含む。有機発光ダイオード(OLED)は、駆動トランジスタ(DR)によって形成された駆動電流に沿って光を発光するように動作する。
【0026】
スイッチングトランジスタ(SW)は、第1ゲートライン(GL1)を介して供給されたゲート信号に応答して、第1データライン(DL1)を介して供給されるデータ信号がキャパシターにデータ電圧で貯蔵されるようにスイッチング動作する。駆動トランジスタ(DR)は、キャパシターに格納されたデータ電圧に沿って高電位電源ライン(VDD)と低電位電源ライン(GND)の間に駆動電流が流れるように動作する。補償回路(CC)は、駆動トランジスタ(DR)のしきい電圧などを補償するための回路である。また、スイッチングトランジスタ(SW)や駆動トランジスタ(DR)に接続されたキャパシターは、補償回路(CC)の内部に位置することができる。
【0027】
補償回路(CC)は、複数の薄膜トランジスタとキャパシターで構成される。補償回路(CC)の構成は、補償方法に沿って、非常に多様するところ、これに対する具体的な例示と説明は省略する。
【0028】
また、
図3に示すように、補償回路(CC)が含まれた場合、サブピクセルには、補償薄膜トランジスタを駆動するとともに、特定の信号や電力を供給するための信号ラインと電源ラインなどがさらに含まされる。追加された信号ラインは、サブピクセルに含まれた補償薄膜トランジスタを駆動するための第1−2ゲートライン(GL1b)として定義することができる。そして追加された電源ラインは、サブピクセルの特定のノードを特定電圧に初期化するための初期化電源ライン(INIT)で定義することができる。しかし、これは一つの例示であるだけで、これに限定されない。
【0029】
一方、
図2及び
図3では、1つのサブピクセルに補償回路(CC)が含まれていることを一例とした。しかし、補償の主体が、データ駆動部30などのように、サブピクセルの外部に位置する場合、補償回路(CC)は省略することもできる。即ち、1つのサブピクセルは、基本的にスイッチングトランジスタ(SW)、駆動トランジスタ(DR)、キャパシター及び有機発光ダイオード(OLED)を含む2T(Transistor)1C(CapacITOr)構造で構成されるが、補償回路(CC)が追加された場合3T1C、4T2C、5T2C、6T2C、7T2Cなどで多様に構成することもできる。
【0030】
また、
図2及び
図3においては、補償回路(CC)がスイッチングトランジスタ(SW)と駆動トランジスタ(DR)の間に位置するもので示したが、駆動トランジスタ(DR)と有機発光ダイオード(OLED)の間にもさらに位置することもできる。補償回路(CC)の位置と構造は、
図2と
図3に限定されない。
【0031】
図4を参照すると、有機発光表示装置は、基板(PI)と回路素子(CO)を含む。基板(PI)は、表示領域(AA)と表示領域(AA)の外側に定義されたパッド部(GP、DP)を含む。表示領域(AA)は、複数のサブピクセル(SP)が配置される。サブピクセル(SP)は、表示領域(AA)内で、R(red)、G(green)、B(blue)またはR、G、B、W(white)方式で配列されてフルカラーを実現する。サブピクセル(SP)は、互いに交差するゲートラインとデータラインによって区画されることができる。
【0032】
ゲートパッド部(GP)は、表示領域(AA)の一側、例えば、右側または左側に配置される。ゲートパッド部(GP)は、複数のゲートパッドを含む。ゲートパッドは、表示領域(AA)から延長されるゲート信号ライン(GSL)と電気的に接続される。
【0033】
データパッド部(DP)は、表示領域(AA)の一側、例えば下側に配置される。データパッド部(DP)は、複数のデータパッドを含む。データパッドは、表示領域(AA)から延長されるデータ信号ライン(DSL)と電気的に接続される。
【0034】
回路素子(CO)は、バンプ(bump)(または、バンプ(terminal))を含む。回路素子(CO)のバンプは、異方性導電フィルム(Anisotropic Conductive Film)を介してパッド部のパッドにそれぞれ接合される。回路素子(CO)は、駆動IC(IC)が軟性フィルムに実装されたチップオンフィルム(chip on film、COF)で有り得る(
図4の(a))。回路素子(CO)は、チップオングラス(Chip on glass)工程で、基板上で直接パッドに接合されるCOGタイプIC(COGIC)で有り得る(
図4の(b))。また、回路素子(CO)は、FFC(Flexible Flat Cable)またはFPC(Flexible Printed Circuit)のような軟性回路で有り得る。以下の実施の形態で、回路素子(CO)の一例として、チップオンフィルムを中心に説明するが、本発明はこれに限定されない。
【0035】
ゲート信号ライン(GSL)は、ゲートパッド部(GP)に接合された回路素子(CO)を介して印加されたゲート信号を表示領域(AA)のゲートラインに供給する。データ信号ライン(DSL)は、データパッド部(DP)に接合された回路素子(CO)を介して印加されたデータ信号を表示領域(AA)のデータラインに供給する。
【0036】
<第1実施の形態>
図5は、第1実施の形態に係る有機発光表示装置のサブピクセルを示す断面図である。
図6は、第1実施の形態に係るゲートパッド部を拡大した平面図である。
図7は、
図6の切取り線I−I’に沿って切り取った断面図である。
図8は、
図6の切取り線II−II’に 沿って切り取った断面図である。
図9は、第1実施の形態に係るデータパッド部を拡大した平面図である。
図10は、
図9の切取り線III−III’に沿って、切り取った断面図である。
図11は、
図9の切取り線IV−IV’ に沿って切り取った断面図である。
【0037】
図5を参照すると、本発明の一実施の形態に係る有機発光表示装置は、基板(PI)を含む。基板(PI)は、プラスチック材質からなることができる。例えば、基板(PI)は、PI(Polyimide)、PET(polyethylene terephthalate)、PEN(polyethylene naphthalate)、PC(polycarbonate)、PES(polyethersulfone)、PAR(polyarylate)、PSF(polysulfone)、COC(ciclic-olefin copolymer)の内、少なくとも一つを含むことができる。
【0038】
図示されていないが、基板(PI)上にはバッファ層とシールド層がさらに備えられる。例えば、バッファ層は、第1バッファ層及び第2バッファ層を含むことができ、シールド層は、第1バッファ層と第2バッファ層との間に介在することができる。第1バッファ層は、基板(PI)で流出されるアルカリイオンなどのような不純物から後続工程で形成される薄膜トランジスタを保護する役割をする。第1バッファ層は、シリコン酸化物(SiOx)、シリコン窒化物(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。シールド層は、ポリイミド基板を使用することにより、発生することができるパネル駆動電流が減少することを防止する役割をする。第2バッファ層は、シールド層で流出されるアルカリイオンなどのような不純物から後続工程で形成される薄膜トランジスタを保護する役割をする。第2バッファ層は、シリコン酸化物(SiOx)、シリコン窒化物(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。
【0039】
基板(PI)上には、半導体層(ACT)が位置する。半導体層(ACT)は、シリコン半導体や酸化物半導体からなることができる。シリコン半導体は、非晶質シリコンまたは結晶化された多結晶シリコンを含むことができる。ここで、多結晶シリコンは、移動度が高く(100cm2/Vs以上)、エネルギー消費電力が低く、信頼性に優れて、駆動素子のゲートドライバ及び/またはマルチプレクサ(MUX)に適用したり、画素内駆動TFTに適用したりすることができる。一方、酸化物半導体は、オフ−電流が低いので、オン(On)時間が短く、オフ(Off)時間を長く維持するスイッチングTFTに適合である。また、オフ電流が小さいので画素の電圧を維持する期間が長くて低速駆動及び/または低消費電力を要求する表示装置に適合である。また、半導体層(ACT)は、p型またはn型の不純物を含むドレイン領域とソース領域を含み、これらの間にチャネルを含む。
【0040】
半導体層(ACT)上には、ゲート絶縁膜(GI)が位置する。ゲート絶縁膜(GI)は、シリコン酸化物(SiOx)、シリコン窒化物(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。ゲート絶縁膜(GI)上には、ゲート電極(GA)が位置する。ゲート電極(GA)は、半導体層(ACT)のチャンネルと対応する位置に位置する。ゲート電極(GA)は、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、金(Au)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、ネオジム(Nd)及び銅(Cu)からなる群から選択されたいずれか1つ、またはこれらの合金で形成される。また、ゲート電極(GA)は、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、金(Au)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、ネオジム(Nd)、銅(Cu)からなる群で選択されたいずれか1つ、またはこれらの合金からなる多重層で有り得る。例えば、ゲート電極(GA)は、モリブデン/アルミニウム−ネオジムまたはモリブデン/アルミニウムの2重層で有り得る。示しないが、ゲート絶縁膜(GI)とゲート電極(GA)は、一つのマスクを介してパターンされて、同じ面積を有するように形成することができる。
【0041】
ゲート電極(GA)上には、ゲート電極(GA)を絶縁させる層間絶縁膜(ILD)が位置する。層間絶縁膜(ILD)は、シリコン酸化膜(SiOx)、シリコン窒化膜(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。層間絶縁膜(ILD)とゲート絶縁膜(GI)の一部の領域に半導体層(ACT)の一部を露出させるコンタクトホール(CH)が位置する。
【0042】
層間絶縁膜(ILD)上に、ドレイン電極(DE)とソース電極(SE)が位置する。ドレイン電極(DE)は、半導体層(ACT)のドレイン領域を露出するコンタクトホール(CH)を介して半導体層(ACT)に接続されて、ソース電極(SE)は、半導体層(ACT)のソース領域を露出するコンタクトホール(CH)を介して半導体層(ACT)に接続される。ソース電極(SE)及びドレイン電極(DE)は、単一層または多重層からなることができ、前記ソース電極(SE)及びドレイン電極(DE)が、単一層で場合には、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、金(Au)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、ネオジム(Nd)、銅(Cu)からなる群から選択されたいずれか1つ、またはこれらの合金からなることができる。また、前記ソース電極(SE)及びドレイン電極(DE)が、多重層で場合には、モリブデン/アルミニウム−ネオジムの2重層、チタン/アルミニウム/チタン、モリブデン/アルミニウム/モリブデンまたはモリブデン/アルミニウム−ネオジム/モリブデンの3重層からなることができる。これにより、半導体層(ACT)、ゲート電極(GA)、ドレイン電極(DE)及びソース電極(SE)を含む薄膜トランジスタ(TFT)が完成される。
【0043】
薄膜トランジスタ(TFT)を含む基板(PI)上に保護層(PAS)が位置する。保護層(PAS)は、下部の素子を保護する絶縁膜として、シリコン酸化膜(SiOx)、シリコン窒化膜(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。保護層(PAS)上にオーバーコート層(OC)が位置する。オーバーコート層(OC)は、下部構造の段差を緩和させるための平坦化膜で有り得、ポリイミド(polyimide)、ベンゾシクロブテン系樹脂(benzocyclobutene series resin)、アクリル酸(acrylate)などの有機物からなることができる。オーバーコート層(OC)は、前記有機物を液状形態でコーティングした後、硬化させるSOG(sPIn on glass)のような方法で形成することができる。
【0044】
オーバーコート層(OC)の一部の領域には、ドレイン電極(DE)を露出させるビアホール(VIA)が位置する。オーバーコート層(OC)上に有機発光ダイオード(OLED)が位置する。さらに詳細には、オーバーコート層(OC)上に第1電極(ANO)が位置する。第1電極(ANO)は、画素電極として作用し、ビアホール(VIA)を介して薄膜トランジスタ(TFT)のドレイン電極(DE)に接続される。第1電極(ANO)は、アノードで有り得る。 第1電極(ANO)はITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO(Zinc Oxide)などの透明導電物質からなることができる。第1電極(ANO)が反射電極である場合、第1電極(ANO)は反射層をさらに含む。反射層は、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、ニッケル(Ni)またはこれらの合金からなることができ、好ましくは、APC(銀/パラジウム/銅合金)からなることができる。
【0045】
第1電極(ANO)を含む基板(PI)上には、画素を区画するバンク層(BNK)が位置する。バンク層(BNK)は、ポリイミド(polyimide)、ベンゾシクロブテン系樹脂(benzocyclobutene series resin)、アクリル酸(acrylate)などの有機物からなる。バンク層(BNK)は、第1電極(ANO)の一部を露出させる。バンク層(BNK)によって露出された第1電極(ANO)上には、発光層(EML)が位置する。発光層(EML)は、電子と正孔が結合して発光する層で、発光層(EML)と、第1電極(ANO)の間に正孔注入層及び/または正孔輸送層を含むことができ、発光層(EML)上に電子輸送層及び/または電子注入層を含むことができる。
【0046】
発光層(EML)上には、第2電極(CAT)が位置する。第2電極(CAT)は、表示領域部(A/A)の前面に位置することができる。第2電極(CAT)は、カソード電極として仕事関数が低いマグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca)、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、またはこれらの合金からなることができる。第2電極(CAT)が透過電極である場合、光が透過することができるほど薄い厚さでなり、反射電極である場合、光が反射されることができるほど厚い厚さでなることができる。
【0047】
図6を参照すると、本発明の第1実施の形態に係る表示装置は、基板(PI)上に定義されたゲートパッド部(GP)を含む。ゲートパッド部(GP)は、凸部(SE1)と凹部(SE2)が定義される。 凸部(SE1)は、凸状に突出した断面形状を有する。凹部(SE2)は、凹に陥没した断面形状を有する。凸部(SE1)と凹部(SE2)は、互いに交互され、その境界で段差を有する。
【0048】
凸部(SE1)と凹部(SE2)は、少なくとも一つの絶縁層がパターンされることによって実現することができる。即ち、基板(PI)上に配置された少なくとも一つの絶縁層には、シンク溝(SH)が備えられることができる。この時、シンク溝(SH)が形成された領域は、凹部(SE2)で定義することができる。シンク溝(SH)の外側で、パターンされた少なくとも一つの絶縁層が残留する領域は、凸部(SE1)で定義することができる。前記絶縁層のパターンは、凸部(SE1)と凹部(SE2)との間に十分な段差を有するようにする機能をする。
【0049】
凹部(SE2)には、回路素子(CO)のバンプ(CSL)が位置する。即ち、ゲートパッド部(GP)には、複数の凹部(SE2)が形成され、各凹部(SE2)ごとに対応される1つのバンプ(CSL)が引き込みすることができる。凹部(SE2)は、バンプ(CSL)が収容されることができる内部空間を有する。
【0050】
ゲートパッド部(GP)は、複数のゲートパッドを含む。ゲートパッドそれぞれは、下部ゲートパッド電極(SML)と上部ゲートパッド電極(PEL)を含む。
【0051】
下部ゲートパッド電極(SML)は、ゲート信号ライン(GSL)に接続される。下部ゲートパッド電極(SML)と、ゲート信号ライン(GSL)は、その間に介在された少なくとも一つの絶縁層を間に置いて、少なくとも一つの絶縁層を貫通する第1コンタクトホール(PCNT1)を介して電気的に接続される。
【0052】
隣接する下部ゲートパッド電極(SML)は、所定の間隔離隔配置される。下部ゲートパッド電極(SML)は、ゲート信号ライン(GSL)に比べて相対的に広い面積を有することができる。これにより、本発明は、下部ゲートパッド電極(SML)と上部ゲートパッド電極(PEL)が互に接触することができる十分なコンタクト面積を確保することができ、コンタクト不良を最小化にすることができるという利点を有する。
【0053】
上部ゲートパッド電極(PEL)は、下部ゲートパッド電極(SML)と接続される。上部ゲートパッド電極(PEL)と下部ゲートパッド電極(SML)は、その間に介在された少なくとも一つの絶縁層を間に置いて、少なくとも一つの絶縁層を貫通する第2コンタクトホール(PCNT2)を介して電気的に接続される。上部ゲートパッド電極(PEL)は、下部ゲートパッド電極(SML)、ゲート信号ライン(GSL)、及び表示領域(AA)のゲートラインと電気的に接続されて、回路素子(CO)を介して供給されたゲート信号を表示領域(AA)のサブピクセルに伝達する。
【0054】
隣接する上部ゲートパッド電極(PEL)は、所定の間隔離隔配置される。上部ゲートパッド電極(PEL)は、ゲート信号ライン(GSL)に比べて相対的に広い面積を有することができる。これにより、本発明は、下部ゲートパッド電極(SML)と上部ゲートパッド電極(PEL)が互に接触することができる十分なコンタクト面積を確保することができ、コンタクト不良を最小化することができるという利点を有する。
【0055】
上部ゲートパッド電極(PEL)は、凸部(SE1)と重畳され、凹部(SE2)の少なくとも一部にまで延長配置される。さらに具体的には、ゲートパッド部(GP)は、順次定義された第1凸部(SE1_1)、第1凹部(SE2_1)、第2凸部(SE1_2)、第2凹部(SE2_2)を含む。上部ゲートパッド電極(PEL)は、隣接する第1上部ゲートパッド電極(PEL1)と、第2上部ゲートパッド電極(PEL2)を含む。第1上部ゲートパッド電極(PEL1)は、第1凸部(SE1_1)と、第1凹部(SE2_1)に対応して位置する。第2上部ゲートパッド電極(PEL2)は、第2凸部(SE1_2)と第2凹部(SE2_2)に対応して位置する。これは、第1及び第2の上部ゲートパッド電極(PEL1、PEL2)が一つの凹部(SE2)に同時に位置しないことを意味する。
【0056】
平面上で見るときに、上部ゲートパッド電極(PEL)は、隣接する凸部(SE1)と凹部(SE2)上に位置することができるように、下部ゲートパッド電極(SML)の上部から1つの方向にシフト(shift)された形状を有することができる。すべての上部ゲートパッド電極(PEL)がシフトされる方向は同じである。
【0057】
図7及び
図8をさらに参照すると、ゲートパッド部(GP)の基板(PI)上には、ゲート絶縁膜(GI)が位置する。ゲート絶縁膜(GI)上には、ゲート信号ライン(GSL)が位置する。ゲート信号ライン(GSL)は、表示領域(AA)のゲートラインから延長された信号ラインを意味する。
【0058】
ゲート信号ライン(GSL)上には、層間絶縁膜(ILD)が位置する。層間絶縁膜(ILD)には、、第1コンタクトホール(PCNT1)が備えられる。第1コンタクトホール(PCNT1)は、層間絶縁膜(ILD)を貫通して、ゲート信号ライン(GSL)の一部を露出させる。
【0059】
第1コンタクトホール(PCNT1)を有する層間絶縁膜(ILD)上には、下部ゲートパッド電極(SML)が位置する。下部ゲートパッド電極(SML)は、第1コンタクトホール(PCNT1)を介してゲート信号ライン(GSL)に接続される。下部ゲートパッド電極(SML)は、表示領域(AA)のソース電極及びドレイン電極と同じ工程中で共に形成されたパターンで有り得る。したがって、下部ゲートパッド電極(SML)は、表示領域(AA)のソース電極及びドレイン電極と同じ層に形成され、同一の物質を含むことができる。
【0060】
下部ゲートパッド電極(SML)上に、保護層(PAS)が位置する。保護層(PAS)上には、オーバーコート層(OC)が位置する。オーバーコート層(OC)は、隣接する下部ゲートパッド電極(SML)の間に備えられるシンク溝(SH)を含む。シンク溝(SH)は、オーバーコート層(OC)を貫通して保護層(PAS)の少なくとも一部を露出させる。シンク溝(SH)が形成された領域は、凹部(SE2)である。シンク溝(SH)の外側は、凸部(SE1)である。シンク溝(SH)は、回路素子(CO)のバンプ(CSL)を収容するのに十分な内部空間を有するように形成される。別の例として、示していないが、シンク溝(SH)は、隣接する下部ゲートパッド電極(SML)の間で、オーバーコート層(OC)と保護層(PAS)を貫通して層間絶縁膜(ILD)の一部を露出させるすることができる。
【0061】
オーバーコート層(OC)と保護層(PAS)は、第2コンタクトホール(PCNT2)を含む。第2コンタクトホール(PCNT2)は、オーバーコート層(OC)と保護層(PAS)を貫通して、下部ゲートパッド電極(SML)の一部を露出させる。
【0062】
第2コンタクトホール(PCNT2)とシンク溝(SH)を有するオーバーコート層(OC)上には、上部ゲートパッド電極(PEL)が位置する。上部ゲートパッド電極(PEL)は、第2コンタクトホール(PCNT2)を介して下部ゲートパッド電極(SML)に接続される。上部ゲートパッド電極(PEL)は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO(Zinc Oxide)などの透明導電物質からなることができる。上部ゲートパッド電極(PEL)は、表示領域(AA)の第1電極(ANO、
図5)と同じ工程中に共に形成されたパターンで有り得る。したがって、上部ゲートパッド電極(PEL)は、表示領域(AA)の第1電極(ANO、
図5)と同じ層に形成され、同一の物質を含むことができる。対応する上部ゲートパッド電極(PEL)、下部ゲートパッド電極(SML)、ゲート信号線(GSL)は、互に接続されて1つの信号伝送経路を形成する。
【0063】
上部ゲートパッド電極(PEL)は、凹部(SE2)と凸部(SE1)との間の段差に沿って形成されて凹部(SE2)の内側に延長される。さらに具体的には、凹部(SE2)の形状は、平坦面(FF)と平坦面(FF)の両側辺から延長される2傾斜面(IF1、IF2)によって定義される。この時、上部パッド電極は、2傾斜面(IF1、IF2)の内、いずれか1つを覆って、平坦面(FF)の少なくとも一部を覆う。
【0064】
回路素子(CO)は、軟性フィルム(SF)に備えられたバンプ(CSL)を含む。異方性導電フィルム(ACF)は、複数の導電ボールが接着樹脂に分散されて配置されたもので、基板(PI)と回路素子(CO)を接着しながらパッドとバンプ(CSL)を電気的に接続させる。異方性導電フィルム(ACF)の導電ボールは、凹部(SE2)内に収容され、上部ゲートパッド電極(PEL)とバンプ(CSL)との間に位置してこれらを電気的に接続させる。導電ボールは凹部(SE2)内に収容される。
【0065】
凹部(SE2)は、導電ボールを収容して、導電ボールの離脱を防止する。したがって、ボンディング工程中に提供される加圧動作により、導電ボールがバンプ(CSL)と上部ゲートパッド電極(PEL)との間に位置しなく散乱し、バンプ(CSL)とパッドが電気的に接続されない不良を防止することができる。
【0066】
バンプ(CSL)は凸部(SE1)と凹部(SE2)の境界に形成された段差によってその動きが拘束、制限される。これにより、提供された外力によって、バンプ(CSL)が凹部(SE2)の外側に離脱されたり、所定の位置で過度にシフトされたりすることを防止することができる。これは、バンプ(CSL)と上部ゲートパッド電極(PEL)との間のコンタクト不良を最小化することができることを意味する。
【0067】
回路素子(CO)をパッド部に接合させるためのボンディング工程を実行する場合、軟性フィルムの熱変形によってバンプ(CSL)が過度にシフトすることができる。この場合にも、本発明は、バンプ(CSL)を凹部(SE2)内に拘束することにより、誤整列(misalign)を防止することができる。
【0068】
回路素子(CO)とゲートパッド部(GP)を接合させるためにバンプ(CSL)とゲートパッドを整列する場合、バンプ(CSL)は凹部(SE2)の形状により凹部(SE2)の内側にガイドされる。これにより、バンプ(CSL)は自己整列(self-align)されて、既に設定され位置に正確に配置される。本発明は、バンプ(CSL)とパッドを容易に整列することができる利点を有する。
【0069】
図9を参照すると、本発明の第1実施の形態に係る表示装置は、基板(PI)上に定義されたデータパッド部(DP)を含む。データパッド部(DP)には、凸部(SE1)と凹部(SE2)が定義される。凸部(SE1)は、凸状に突出した断面形状を有する。凹部(SE2)は、凹に陥没した断面形状を有する。凸部(SE1)と凹部(SE2)は、互いに交互に設けられ、その境界で段差を有する。
【0070】
凸部(SE1)と凹部(SE2)は、少なくとも一つの絶縁層がパターンされることによって実現することができる。即ち、基板(PI)上に配置された少なくとも一つの絶縁層には、シンク溝(SH)が備えられることができる。この時、シンク溝(SH)が形成された領域は、凹部(SE2)で定義することができる。シンク溝(SH)の外側で、パターンされた少なくとも一つの絶縁層が残留する領域は、凸部(SE1)で定義することができる。前記絶縁層のパターンは、凸部(SE1)と凹部(SE2)との間に十分な段差を有するようにする機能をする。
【0071】
凹部(SE2)には、回路素子(CO)のバンプ(CSL)が位置する。即ち、データパッド部(DP)には、複数の凹部(SE2)が形成され、各凹部(SE2)ごとに対応される1つのバンプ(CSL)が引き込みすることができる。凹部(SE2)は、バンプ(CSL)が収容されることができる内部空間を有する。
【0072】
データパッド部(DP)は、複数のデータパッドを含む。データパッドそれぞれは、下部データパッド電極(SML)と上部データパッド電極(PEL)を含む。
【0073】
下部データパッド電極(SML)は、データ信号ライン(DSL)に接続される。下部データパッド電極(SML)は、データ信号ライン(DSL)と同じ層に配置されて、データ信号ライン(DSL)と電気的に接続される。下部データパッド電極(SML)は、データ信号ライン(DSL)と1つのボディに形成することができる。
【0074】
隣接する下部データパッド電極(SML)は、所定の間隔が離隔配置される。下部データパッド電極(SML)は、データ信号ライン(DSL)に比べて相対的に広い面積を有することができる。これにより、本発明は、下部データパッド電極(SML)と上部データパッド電極(PEL)が互に接触することができる十分なコンタクト面積を確保することができ、コンタクト不良を最小化する利点を有する。
【0075】
上部データパッド電極(PEL)は、下部データパッド電極(SML)に接続される。上部データパッド電極(PEL)と下部データパッド電極(SML)は、その間に介在された少なくとも一つの絶縁層を間に置いて、少なくとも一つの絶縁層を貫通する第3コンタクトホール(PCNT3)を介して電気的に接続される。上部データパッド電極(PEL)は、下部データパッド電極(SML)とデータ信号ライン(DSL)及び表示領域(AA)のデータラインと電気的に接続されて、回路素子(CO)を介して供給されたデータ信号を表示領域(AA)のサブピクセルに伝達する。
【0076】
隣接する上部データパッド電極(PEL)は、所定の間隔離隔して配置される。上部データパッド電極(PEL)は、データ信号ライン(DSL)に比べて相対的に広い面積を有することができる。これにより、本発明は、下部データパッド電極(SML)と上部データパッド電極(PEL)が互に接触することができる十分なコンタクト面積を確保することができ、コンタクト不良を最小化することができる利点を有する。
【0077】
上部データパッド電極(PEL)は、凸部(SE1)と重畳され、凹部(SE2)の少なくとも一部にまで延長配置される。さらに具体的には、データパッド部(DP)は、順次定義された第1凸部(SE1_1)、第1凹部(SE2_1)、第2凸部(SE1_2)、第2凹部(SE2_2)を含む。上部データパッド電極(PEL)は、隣接する第1上部データパッド電極(PEL1)と、第2上部データパッド電極(PEL2)を含む。第1上部データパッド電極(PEL1)は、第1凸部(SE1_1)と、第1凹部(SE2_1)に対応して位置する。第2上部データパッド電極(PEL2)は、第2凸部(SE1_2)と第2凹部(SE2_2)に対応して位置する。これは、第1及び第2上部のデータパッド電極(PEL1、PEL2)が一つの凹部(SE2)に同時に位置しないことを意味する。
【0078】
平面上で見るときに、上部データパッド電極(PEL)は、隣接する凸部(SE1)と凹部(SE2)上に位置するように、下部データパッド電極(SML)の上部から1つの方向にシフト(shift)された形状を有することができる。すべての上部データパッド電極(PEL)がシフトされる方向は同じである。
【0079】
図10及び
図11をさらに参照すると、データパッド部(DP)の基板(PI)上には、ゲート絶縁膜(GI)と層間絶縁膜(ILD)が位置する。層間絶縁膜(ILD)上には、下部データパッド電極(SML)が位置する。下部データパッド電極(SML)は、データ信号ライン(DSL)に接続される。データ信号ライン(DSL)は、表示領域(AA)のデータラインから延長された信号ラインを意味する。
【0080】
下部データパッド電極(SML)は、表示領域(AA)のソース電極とドレイン電極と同じ工程中で共に形成されたパターンで有り得る。したがって、下部データパッド電極(SML)は、表示領域(AA)のソース電極及びドレイン電極と同じ層に形成され、同一の物質を含むことができる。
【0081】
下部データパッド電極(SML)上には、保護層(PAS)が位置する。保護層(PAS)上には、オーバーコート層(OC)が位置する。オーバーコート層(OC)は、隣接する下部データパッド電極(SML)の間に備えられるシンク溝(SH)を含む。シンク溝(SH)は、オーバーコート層(OC)を貫通して保護層(PAS)の少なくとも一部を露出させる。シンク溝(SH)が形成された領域は、凹部(SE2)である。シンク溝(SH)の外側は、凸部(SE1)である。シンク溝(SH)は、回路素子(CO)のバンプ(CSL)を収容するのに十分な内部空間を有するように形成される。別の例として、示していないが、シンク溝(SH)は、オーバーコート層(OC)と保護層(PAS)を貫通して層間絶縁膜(ILD)の一部を露出させることができる。
【0082】
オーバーコート層(OC)と保護層(PAS)は、第3コンタクトホール(PCNT3)を含む。第3コンタクトホール(PCNT3)は、オーバーコート層(OC)と保護層(PAS)を貫通して、下部データパッド電極(SML)の一部を露出させる。
【0083】
第3コンタクトホール(PCNT3)とシンク溝(SH)を有するオーバーコート層(OC)上に、上部データパッド電極(PEL)が位置する。上部データパッド電極(PEL)は、第3コンタクトホール(PCNT3)を介して下部データパッド電極(SML)に接続される。上部データパッド電極(PEL)は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO(Zinc Oxide)などの透明導電物質からなることができる。上部データパッド電極(PEL)は、表示領域(AA)の第1電極と同じ工程中で共に形成されたパターンで有り得る。したがって、上部データパッド電極(PEL)は、表示領域(AA)の第1電極と同じ層に形成され、同一の物質を含むことができる。これにより、上部データパッド電極(PEL)、下部データパッド電極(SML)、データ信号ライン(DSL)に接続される信号経路が形成される。
【0084】
上部データパッド電極(PEL)は、凹部(SE2)と凸部(SE1)との間の段差に沿って形成されて凹部(SE2)の内側に延長される。さらに具体的には、凹部(SE2)の形状は、平坦面(FF)と平坦面(FF)両側辺から延長される2傾斜面(IF1、IF2)によって定義される。この時、上部パッド電極は、2つの傾斜面(IF1、IF2)の内、いずれか1つを覆って平坦面(FF)の少なくとも一部を覆う。
【0085】
回路素子(CO)は、軟性フィルム(SF)に備えられたバンプ(CSL)を含む。異方性導電フィルム(ACF)は、複数の導電ボールが接着樹脂に分散されて配置されたもので、基板(PI)と回路素子(CO)を接着しながらパッドとバンプ(CSL)を電気的に接続させる。異方性導電フィルム(ACF)の導電ボールは、凹部(SE2)内に収容され、上部データパッド電極(PEL)とバンプ(CSL)との間に位置してこれらを電気的に接続させる。導電ボールは凹部(SE2)内に収容される。
【0086】
凹部(SE2)は、導電ボールを収容して、導電ボールの離脱を防止する。したがって、ボンディング工程中に提供される加圧動作により、導電ボールがバンプ(CSL)と上部ゲートパッド電極(PEL)との間に位置しなく散乱し、バンプ(CSL)とパッドが電気的に接続されない不良を防止することができる。
【0087】
バンプ(CSL)は凸部(SE1)と凹部(SE2)の境界に形成された段差によってその動きが拘束、制限される。これにより、提供された外力によって、バンプ(CSL)が凹部(SE2)の外側に離脱されたり、所定の位置で過度にシフトされることを防止することができる。これは、バンプ(CSL)と上部データパッド電極(PEL)との間のコンタクト不良を最小化することができることを意味する。
【0088】
回路素子(CO)をパッド部に接合させるためのボンディング工程を実行する場合、軟性フィルムの熱変形によってバンプ(CSL)が過度にシフトすることができる。この場合にも、本発明は、バンプ(CSL)を凹部(SE2)内に拘束することにより、誤整列を防止することができる。
【0089】
回路素子(CO)とデータパッド部(DP)を接合させるためにバンプ(CSL)とデータパッドを整列する場合は、バンプ(CSL)は凹部(SE2)の形状により凹部(SE2)の内側にガイドされる。これにより、バンプ(CSL)は自己整列されて、既設定の位置に正確に整列される。本発明は、バンプ(CSL)とパッドを容易に整列することができる利点を有する。
【0090】
以下、
図15をさらに参照し、パッド部の断面形状と上部パッド電極の位置関係を詳細に説明する。
図15は、パッド部の断面形状を説明するための断面図である。
図15は、凹部と凸部の形状、及び凹部と凸部上に位置する上部パッド電極とバンプの位置を説明するためのもので、これ以外の構成要素は省略して図示した。
【0091】
パッド部(GP、DP)は、順次定義された第1凸部(SE1_1)、第1凹部(SE2_1)、第2凸部(SE1_2)、第2凹部(SE2_2)を含む。上部パッド電極は、隣接する第1上部パッド電極(PEL1)及び第2上部パッド電極(PEL2)を含む。回路素子(CO)のバンプは、隣接する第1バンプ(CSL1)及び第2バンプ(CSL2)を含む。第1上部パッド電極(PEL1)は、第1バンプ(CSL1)と対応される。第2上部パッド電極(PEL2)は、第2バンプ(CSL2)と対応される。
【0092】
第1凸部(SE1_1)の形状は、第1傾斜面(I1)、第1傾斜面(I1)の側辺に接続された第1平坦面(F1)、第1平坦面(F1)の側辺に接続された第2傾斜面(I2)によって定義される。第1凹部(SE2_1)の形状は、第2傾斜面(I2)、第2傾斜面(I2)の側辺に接続された第2平坦面(F2)、第2平坦面(F2)の側辺に接続された第3傾斜面(I3)によって定義される。第2凸部(SE1_2)の形状は、第3傾斜面(I3)、第3傾斜面(I3)の側辺に接続された第3平坦面(F3)、第3平坦面(F3)の側辺に接続された第4傾斜面(I4)によって定義される。第2凹部(SE2_2)の形状は、第4傾斜面(I4)、第4傾斜面(I4)の側辺に接続された第4平坦面(F4)、第4平坦面(F4)の側辺に接続された第5傾斜面(I5)によって定義される。
【0093】
第1上部パッド電極(PEL1)は、第1平坦面(F1)の少なくとも一部と、第2傾斜面(I2)と、第2平坦面(F2)の少なくとも一部を覆う。回路素子(CO)の第1バンプ(CSL1)は、第1凹部(SE2_1)に引き込みされる。回路素子(CO)の第1バンプ(CSL1)は、第2平坦面(F2)に対応する位置で、第1上部パッド電極(PEL1)との間に介在された異方性導電フィルムを介して接続することができる。回路素子(CO)の第1バンプ(CSL1)は、第2傾斜面(I2)に対応する位置で、第1上部パッド電極(PEL1)との間に介在された異方性導電フィルムを介して接続することができる。これは、第1バンプ(CSL1)と、第1上部パッド電極(PEL1)との間の広いコンタクト面積を確保することができることを意味する。
【0094】
第2上部パッド電極(PEL2)は、第3平坦面(F3)の少なくとも一部と、第4傾斜面(I4)と、第4平坦面(F4)の少なくとも一部を覆う。回路素子(CO)の第2バンプ(CSL2)は、第2凹部(SE2_2)に引き込みされる。回路素子(CO)の第2バンプ(CSL2)は、第4平坦面(F4)に対応する位置で、第2上部パッド電極(PEL2)との間に介在された異方性導電フィルムを介して接続することができる。回路素子(CO)の第2バンプ(CSL2)は、第4傾斜面(I4)に対応する位置で、第2上部パッド電極(PEL2)との間に介在された異方性導電フィルムを介して接続することができる。これは、第2バンプ(CSL2)と第2上部パッド電極(PEL2)との間の広いコンタクト面積を確保することができることを意味する。
【0095】
第1及び第2上部パッド電極(PEL1、PEL2)は、第3傾斜面(I3)に位置しない。これにより、第1及び第2上部パッド電極(PEL1、PEL2)との間の離隔距離を十分に確保することができ、第1及び第2上部パッド電極(PEL1、PEL2)との間のコンタクト不良を防止することができる。
【0096】
第2上部パッド電極(PEL2)は、第3平坦面(F3)の一部にのみ位置することが望ましい。これにより、互いに対応されない第2上部パッド電極(PEL2)と第1バンプ(CSL1)が互いに接続される不良を未然に防止することができる。
【0097】
第2平坦面(F2)での第1上部パッド電極(PEL1)の位置及び第4平坦面(F4)での第2上部パッド電極(PEL2)の位置は、それぞれ第1バンプ(CSL1)及び第2バンプ(CSL2)とのコンタクト面積を考慮して適宜選択することができる。ただし、前記位置は、コンタクト不良を防止するための第1及び第2上部パッド電極(PEL1、PEL2)との間の離隔距離を考慮して選択されることが望ましい。
【0098】
<第2実施の形態>
図12は、第2実施の形態に係る有機発光表示装置のサブピクセルを示す断面図である。
図13は、第2実施の形態に係るゲートパッド部を示す断面図である。
図14は、第2実施の形態に係るデータパッド部を示す断面図である。
図13の断面図は、
図6に切取り線II−II’に沿って切り取った断面図と対応することができる。
図14の断面図は、
図9で切取り線IV−IV’に沿って切り取った断面図である。
【0099】
図12を参照すると、本発明の一実施の形態に係る有機発光表示装置は、基板(PI)を含む。基板(PI)は、プラスチック材質からなることができる。例えば、基板(PI)は、PI(Polyimide)、PET(polyethylene terephthalate)、PEN(polyethylene naphthalate)、PC(polycarbonate)、PES(polyethersulfone)、PAR(polyarylate)、PSF(polysulfone)、COC(ciclic- olefin copolymer)の内、少なくとも一つを含むことができる。
【0100】
図示されていないが、基板(PI)上にバッファ層とシールド層がさらに備えられる。例えば、バッファ層は、第1バッファ層及び第2バッファ層を含むことができ、シールド層は、第1バッファ層と第2バッファ層との間に介在することができる。第1バッファ層は、基板(PI)で流出されるアルカリイオンなどのような不純物から後続工程で形成される薄膜トランジスタを保護する役割をする。第1バッファ層は、シリコン酸化物(SiOx)、シリコン窒化物(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。シールド層は、ポリイミド基板を使用することにより、発生することができるパネル駆動電流が減少することを防止する役割をする。第2バッファ層は、シールド層で流出されるアルカリイオンなどのような不純物から後続工程で形成される薄膜トランジスタを保護する役割をする。第2バッファ層は、シリコン酸化物(SiOx)、シリコン窒化物(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。
【0101】
基板(PI)上には、半導体層(ACT)が位置する。半導体層(ACT)は、シリコン半導体や酸化物半導体からなることができる。シリコン半導体は、非晶質シリコンまたは結晶化された多結晶シリコンを含むことができる。ここで、多結晶シリコンは、移動度が高くて(100cm2/Vs以上)、エネルギー消費電力が低く、信頼性に優れて、駆動素子のゲートドライバおよび/またはマルチプレクサ(MUX)に適用したり、画素内駆動TFTに適用したりすることができる。一方、酸化物半導体は、オフ−電流が低いので、オン(On)時間が短く、オフ(Off)時間を長く維持するスイッチングTFTに適合である。また、オフ電流が小さいので画素の電圧の維持期間が長くて低速駆動及び/または低消費電力を要求する表示装置に適合である。また、半導体層(ACT)は、p型またはn型の不純物を含むドレイン領域とソース領域を含み、これらの間にチャネルを含む。
【0102】
半導体層(ACT)上には、ゲート絶縁膜(GI)が位置する。ゲート絶縁膜(GI)とゲート電極(GA)は、一つのマスクを介してパターンされて、同じ面積を有するように形成することができる。ただし、これに限定されるものではなく、ゲート絶縁膜(GI)は、ゲート電極(GA)を覆うように基板(PI)の前面に形成することができる。ゲート絶縁膜(GI)は、シリコン酸化物(SiOx)、シリコン窒化物(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。ゲート絶縁膜(GI)上には、ゲート電極(GA)が位置する。ゲート電極(GA)は、半導体層(ACT)のチャンネルと対応する位置に位置する。ゲート電極(GA)は、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、金(Au)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、ネオジム(Nd)及び銅(Cu)からなる群から選択されたいずれか1つ、またはこれらの合金で形成される。また、ゲート電極(GA)は、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、金(Au)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、ネオジム(Nd)、銅(Cu)からなる群で選択されたいずれか1つ、またはこれらの合金からなる多重層で有り得る。例えば、ゲート電極(GA)は、モリブデン/アルミニウム−ネオジムまたはモリブデン/アルミニウムの2重層で有り得る。
【0103】
ゲート電極(GA)上には、ゲート電極(GA)を絶縁させる層間絶縁膜(ILD)が位置する。層間絶縁膜(ILD)は、シリコン酸化膜(SiOx)、シリコン窒化膜(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。層間絶縁膜(ILD)とゲート絶縁膜(GI)の一部の領域に半導体層(ACT)の一部を露出させるコンタクトホール(CH)が位置する。
【0104】
層間絶縁膜(ILD)上には、ドレイン電極(DE)とソース電極(SE)が位置する。ドレイン電極(DE)は、半導体層(ACT)のドレイン領域を露出するドレインコンタクトホール(CH)を介して半導体層(ACT)に接続され、ソース電極(SE)は、半導体層(ACT)のソース領域を露出するソースコンタクトホール(CH)を介して半導体層(ACT)に接続される。ソース電極(SE)及びドレイン電極(DE)は、単一層または多重層からなることができる。たとえば、ソース電極(SE)及びドレイン電極(DE)は、透明導電物質と金属物質を連続的に積層された二重層で形成することができる。透明導電物質は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO(Zinc Oxide)などの透明導電性物質などを含むことができる。
【0105】
一方、層間絶縁膜(ILD)上には、第1ストレージキャパシタ電極(SG1)が位置する。有機発光表示装置が下部発光型(bottom emission type)で実現される場合、第1ストレージキャパシタ電極(SG1)は、透明導電物質で形成することができる。例えば、ハーフトーンマスクを用いて、ソース電極(SE)及びドレイン電極(DE)は、透明導電性物質(ITO)と金属物質(ME)が積層された二重層で形成し、第1ストレージキャパシタ電極(SG1)は、透明導電性物質(ITO)を含む単一層で形成することができる。ただし、これに限定されるものではなく、有機発光表示装置が上部発光型(top emission type)で実現される場合、第1ストレージキャパシタ電極(SG1)が不透明導電物質で形成されることができるのが、もちろんである。これにより、半導体層(ACT)、ゲート電極(GA)、ドレイン電極(DE)及びソース電極(SE)を含む薄膜トランジスタ(TFT)が完成される。
【0106】
薄膜トランジスタ(TFT)を含む基板(PI)上に保護層(PAS)が位置する。保護層(PAS)は、下部の素子を保護する絶縁膜として、シリコン酸化膜(SiOx)、シリコン窒化膜(SiNx)またはこれらの多重層で有り得る。保護層(PAS)の一部の領域には、ドレイン電極(DE)の一部を露出させる補助コンタクトホール(SGH)が位置する。
【0107】
保護層(PAS)上には、第2ストレージキャパシタ電極(SG2)が位置する。第2ストレージキャパシタ電極(SG2)は、ドレイン電極(DE)の一部を露出する補助コンタクトホール(SGH)を介してドレイン電極(DE)と電気的に接続される。有機発光表示装置が下部発光型で実現される場合、第2ストレージキャパシタ電極(SG2)は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO(Zinc Oxide)のような透明導電性物質を含むことができる。ただし、これに限定されるものではなく、有機発光表示装置が上部発光型で実現される場合、第2ストレージキャパシタ電極(SG2)が不透明導電物質で形成されることができることはもちろんである。
【0108】
下部発光型において、ストレージキャパシタ電極(SG1、SG2)を透明導電物質で形成する場合、発光層(EML)から放出された光が、ストレージキャパシタ電極(SG1、SG2)を透過することができますので、ストレージキャパシタ電極(SG1、SG2)を、非発光領域はもちろん、発光領域にまで広く形成することができる。これにより、限られた面積の中で、十分なストレージ容量(capacitance)を確保することができる。
【0109】
第2ストレージキャパシタ電極(SG2)上には、オーバーコート層(OC)が位置する。オーバーコート層(OC)は、下部構造の段差を緩和させるための平坦化膜で有り得、ポリイミド(polyimide)、ベンゾシクロブテン系樹脂(benzocyclobutene series resin)、アクリル酸(acrylate)などの有機物からなることができる。オーバーコート層(OC)は、前記有機物を液状形態でコーティングした後、硬化させるSOG(spin on glass)のような方法で形成することができる。
【0110】
オーバーコート層(OC)の一部の領域には、第2ストレージキャパシタ電極(SG2)を露出させるビアホール(VIA)が位置する。オーバーコート層(OC)上に有機発光ダイオード(OLED)が位置する。さらに詳しくは、オーバーコート層(OC)上に第1電極(ANO)が位置する。第1電極(ANO)は、画素電極として作用し、ビアホール(VIA)を介して第2ストレージキャパシタ電極(SG2)に接続される。第1電極(ANO)は、第2ストレージキャパシタ電極(SG2)を介して薄膜トランジスタ(TFT)のドレイン電極(DE)と電気的に接続される。第1電極(ANO)は、アノードにITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO(Zinc Oxide)などの透明導電物質からなることができる。有機発光表示装置が上部発光型で実現される場合、第1電極(ANO)は反射層をさらに含むことができる。反射層は、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、ニッケル(Ni)またはこれらの合金からなることができ、好ましくは、APC(銀/パラジウム/銅合金)からなることができる。
【0111】
第1電極(ANO)を含む基板(PI)上には、画素を区画するバンク層(BNK)が位置する。バンク層(BNK)は、ポリイミド(polyimide)、ベンゾシクロブテン系樹脂(benzocyclobutene series resin)、アクリル酸(acrylate)などの有機物からなる。バンク層(BNK)は、第1電極(ANO)の一部を露出させる。バンク層(BNK)によって露出された第1電極(ANO)上には、発光層(EML)が位置する。発光層(EML)は、電子と正孔が結合して発光する層で、発光層(EML)と、第1電極(ANO)の間に正孔注入層及び/または正孔輸送層を含むことができ、発光層(EML)上に電子輸送層及び/または電子注入層を含むことができる。
【0112】
発光層(EML)上には、第2電極(CAT)が位置する。第2電極(CAT)は、表示領域部(A/A)の前面に位置することができる。第2電極(CAT)は、カソード電極として仕事関数が低いマグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca)、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、またはこれらの合金からなることができる。有機発光表示装置が上部発光型で実現される場合、第2電極(CAT)は、光が透過されることができるように、前記物質が薄い厚さでなるか、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO (Zinc Oxide)などの透明導電物質からなることができる。
【0113】
図13を参照すると、本発明の第2実施の形態に係る表示装置は、基板(PI)上に定義されたゲートパッド部(GP)を含む。ゲートパッド部(GP)には、凸部(SE1)と凹部(SE2)が定義される。凸部(SE1)は、凸状に突出した断面形状を有する。凹部(SE2)は、凹部に陥没した断面形状を有する。凸部(SE1)と凹部(SE2)は、互いに交互され、その境界で段差を有する。
【0114】
凸部(SE1)と凹部(SE2)は、少なくとも一つの絶縁層がパターンされることによって実現することができる。即ち、基板(PI)上に配置された少なくとも一つの絶縁層には、シンク溝(SH)が備えられることができる。この時、シンク溝(SH)が形成された領域は、凹部(SE2)で定義することができる。シンク溝(SH)の外側で、パターンされた少なくとも一つの絶縁層が残留する領域は、凸部(SE1)で定義することができる。前記絶縁層のパターンは、凸部(SE1)と凹部(SE2)との間に十分な段差を有するようにする機能をする。
【0115】
凹部(SE2)には、回路素子(CO)のバンプ(CSL)が位置する。即ち、ゲートパッド部(GP)には、複数の凹部(SE2)が形成され、各凹部(SE2)ごとに対応される1つのバンプ(CSL)が引き込みすることができる。凹部(SE2)は、バンプ(CSL)が収容されることができる内部空間を有する。
【0116】
ゲートパッド部(GP)は、複数のゲートパッドを含む。ゲートパッドのそれぞれは、下部ゲートパッド電極(SML)と上部ゲートパッド電極(PEL)を含む。
【0117】
下部ゲートパッド電極(SML)は、ゲート信号ライン(GSL)と接続される。下部ゲートパッド電極(SML)と、ゲート信号ライン(GSL)は、その間に介在された少なくとも一つの絶縁層を間に置いて、少なくとも一つの絶縁層を貫通するコンタクトホールを介して電気的に接続される。
【0118】
上部ゲートパッド電極(PEL)は、下部ゲートパッド電極(SML)に接続される。上部ゲートパッド電極(PEL)と下部ゲートパッド電極(SML)は、その間に介在された少なくとも一つの絶縁層を間に置いて、少なくとも一つの絶縁層を貫通する第2コンタクトホール(PCNT2)を介して電気的に接続される。上部ゲートパッド電極(PEL)は、下部ゲートパッド電極(SML)、ゲート信号ライン(GSL)、及び表示領域(AA)のゲートラインと電気的に接続されて、回路素子(CO)を介して供給されたゲート信号を表示領域(AA)のサブピクセルに伝達する。上部ゲートパッド電極(PEL)は、凸部(SE1)と、重畳され、凹部(SE2)の少なくとも一部にまで延長配置される。
【0119】
第1実施の形態においては、凸部(SE1)と凹部(SE2)を実現する絶縁層パターン(言い換えると、シンク溝(SH)を有する絶縁層パターン)が下部ゲートパッド電極(SML)と上部ゲートパッド電極(PEL)との間に配置される。これとは異なり、第2実施の形態においては、凸部(SE1)と凹部(SE2)を実現する絶縁層パターンが上部ゲートパッド電極(PEL)の上に配置される。したがって、第2実施の形態における絶縁層パターンは、凸部(SE1)から上部ゲートパッド電極(PEL)を覆うように配置され、凹部(SE2)で上部ゲートパッド電極(PEL)を露出させる。凹部(SE2)で、露出された上部ゲートパッド電極(PEL)は、バンプ(CSL)と異方性導電フィルム(ACF)を介して電気的に接続される。
【0120】
さらに具体的には、ゲートパッド部(GP)の基板(PI)上には、ゲート絶縁膜(GI)が位置する。ゲート絶縁膜(GI)上には、ゲート信号ライン(GSL)が位置する。ゲート信号ライン(GSL)は、表示領域(AA)のゲートラインから延長された信号ラインを意味する。
【0121】
ゲート信号ライン(GSL)上には、層間絶縁膜(ILD)が位置する。層間絶縁膜(ILD)上には、下部ゲートパッド電極(SML)が位置する。下部ゲートパッド電極(SML)は、層間絶縁膜(ILD)を貫通するコンタクトホールを介してゲート信号ライン(GSL)に接続される。下部ゲートパッド電極(SML)は、表示領域(AA)のソース電極及びドレイン電極と同じ工程中で共に形成されたパターンで有り得る。したがって、下部ゲートパッド電極(SML)は、表示領域(AA)のソース電極及びドレイン電極と同じ層に形成され、同一の物質を含むことができる。
【0122】
下部ゲートパッド電極(SML)上には、保護層(PAS)が位置する。保護層(PAS)は、第2コンタクトホール(PCNT2)を含む。第2コンタクトホール(PCNT2)は、保護層(PAS)を貫通して、下部ゲートパッド電極(SML)の一部を露出させる。
【0123】
第2コンタクトホール(PCNT2)を有する保護層(PAS)上には、上部ゲートパッド電極(PEL)が位置する。上部ゲートパッド電極(PEL)は、第2コンタクトホール(PCNT2)を介して下部ゲートパッド電極(SML)に接続される。
【0124】
上部ゲートパッド電極(PEL)は、表示領域(AA)のソース/ドレイン電極(SE、DE、
図12)及び/または第2ストレージキャパシタ電極(SG2、
図12)と同じ工程中に共に形成されたパターンで有り得る。したがって、上部ゲートパッド電極(PEL)は、表示領域(AA)のソース/ドレイン電極(SE、DE、
図12)及び/または第2ストレージキャパシタ電極(SG2、
図12)と同じ層に形成され、同じ物質を含むことができる。
【0125】
表示装置が下部発光型で実現される場合、第2ストレージキャパシタ電極(SG2、
図12)と上部ゲートパッド電極(PEL)は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO(Zinc Oxide)などの透明導電物質からなることができる。表示装置が上部発光型で実現される場合、第2ストレージキャパシタ電極(SG2、
図12)と上部ゲートパッド電極(PEL)は、不透明導電物質からなることができる。
【0126】
上部ゲートパッド電極(PEL)は、凸部(SE1)から下部ゲートパッド電極(SML)と接続され、凹部(SE2)の内側に延長される。上部ゲートパッド電極(PEL)は、凸部(SE1)と凹部(SE2)に対応して位置する。これにより、上部ゲートパッド電極(PEL)、下部ゲートパッド電極(SML)、ゲート信号ライン(GSL)に接続される信号経路が形成される。
【0127】
上部ゲートパッド電極(PEL)上には、オーバーコート層(OC)が位置する。オーバーコート層(OC)は、隣接する下部ゲートパッド電極(SML)の間に備えられるシンク溝(SH)を含む。シンク溝(SH)は、オーバーコート層(OC)を貫通して、上部ゲートパッド電極(PEL)の一部を露出させる。シンク溝(SH)が形成された領域は、凹部(SE2)である。シンク溝(SH)の外側は、凸部(SE1)である。シンク溝(SH)は、回路素子(CO)のバンプ(CSL)を収容するのに十分な内部空間を有するように形成される
【0128】
回路素子(CO)は、軟性フィルム(SF)に備えられたバンプ(CSL)を含む。異方性導電フィルム(ACF)は、複数の導電ボールが接着樹脂に分散されて配置されたもので、基板(PI)と回路素子(CO)を接着しながらパッドとバンプ(CSL)を電気的に接続させる。異方性導電フィルム(ACF)の導電ボールは、凹部(SE2)内に収容され、上部ゲートパッド電極(PEL)とバンプ(CSL)との間に位置してこれらを電気的に接続させる。導電ボールは凹部(SE2)内に収容される。
【0129】
本発明の第2実施の形態は、第1実施の形態とは異なり、凹部(SE2)でのみ上部ゲートパッド電極(PEL)が露出される。隣接する凹部(SE2)の間には、凸部(SE1)が位置するので、隣接する凹部(SE2)において外部に露出されている上部ゲートパッド電極(PEL)は十分に離隔することができる。これは、コンタクト不良を最小化することができることを意味する。
【0130】
図14を参照すると、本発明の第2実施の形態に係る表示装置は、基板(PI)上に定義されたデータパッド部(DP)を含む。データパッド部(DP)には、凸部(SE1)と凹部(SE2)が定義される。凸部(SE1)は、凸状に突出した断面形状を有する。凹部(SE2)は、凹に陥没した断面形状を有する。凸部(SE1)と凹部(SE2)は、互いに交互され、その境界で段差を有する。
【0131】
凸部(SE1)と凹部(SE2)は、少なくとも一つの絶縁層がパターンされることによって実現することができる。即ち、基板(PI)上に配置された少なくとも一つの絶縁層には、シンク溝(SH)が備えられることができる。この時、シンク溝(SH)が形成された領域は、凹部(SE2)で定義することができる。シンク溝(SH)の外側で、パターンされた少なくとも一つの絶縁層が残留する領域は、凸部(SE1)で定義することができる。前記絶縁層のパターンは、凸部(SE1)と凹部(SE2)との間に十分な段差を有するようにする機能をする。
【0132】
凹部(SE2)には、回路素子(CO)のバンプ(CSL)が位置する。即ち、データパッド部(DP)には、複数の凹部(SE2)が形成され、各凹部(SE2)ごとに対応される1つのバンプ(CSL)が引き込みすることができる。凹部(SE2)は、バンプ(CSL)が収容されることができる内部空間を有する。
【0133】
データパッド部(DP)は、複数のデータパッドを含む。データパッドのそれぞれは、下部データパッド電極(SML)と上部データパッド電極(PEL)を含む。
【0134】
下部データパッド電極(SML)は、データ信号ラインに接続される。下部データパッド電極(SML)とデータ信号ラインは、同じ層で一ボディで形成することができる。
【0135】
上部データパッド電極(PEL)は、下部データパッド電極(SML)に接続される。上部データパッド電極(PEL)と下部データパッド電極(SML)は、その間に介在された少なくとも一つの絶縁層を間に置いて、少なくとも一つの絶縁層を貫通する第3コンタクトホール(PCNT3)を介して電気的に接続される。上部データパッド電極(PEL)は、下部データパッド電極(SML)、データ信号ライン、及び表示領域(AA)のデータラインと電気的に接続されて、回路素子(CO)を介して供給されたデータ信号を表示領域(AA)のサブピクセルに伝達する。上部データパッド電極(PEL)は、凸部(SE1)と、重畳され、凹部(SE2)の少なくとも一部にまで延長して配置される。
【0136】
第1実施の形態においては、凸部(SE1)と凹部(SE2)を実現する絶縁層パターン(言い換えると、シンク溝(SH)を有する絶縁層パターン)が下部データパッド電極(SML)と上部データパッド電極(PEL)との間に配置される。これとは異なり、第2実施の形態においては、凸部(SE1)と凹部(SE2)を実現する絶縁層パターンが上部データパッド電極(PEL)の上に配置される。したがって、第2実施の形態における絶縁層パターンは、凸部(SE1)で上部データパッド電極(PEL)を覆うように配置され、凹部(SE2)で上部データパッド電極(PEL)を露出させる。凹部(SE2)で、露出された上部データパッド電極(PEL)は、バンプ(CSL)と異方性導電フィルム(ACF)を介して電気的に接続される。
【0137】
さらに具体的には、データパッド部(DP)の基板(PI)上には、データ絶縁膜(GI)と層間絶縁膜(ILD)が位置する。層間絶縁膜(ILD)上には、下部データパッド電極(SML)が位置する。下部データパッド電極(SML)は、データ信号ラインに接続される。下部データパッド電極(SML)とデータ信号ラインは、一ボディに形成することができる。データ信号ラインは、表示領域(AA)のデータラインから延長された信号ラインを意味する。
【0138】
下部データパッド電極(SML)は、表示領域(AA)のソース電極とドレイン電極と同じ工程中に共に形成されたパターンで有り得る。したがって、下部データパッド電極(SML)は、表示領域(AA)のソース電極とドレイン電極と同じ層で形成され、同一の物質を含むことができる。
【0139】
下部データパッド電極(SML)上には、保護層(PAS)が位置する。保護層(PAS)は、第3コンタクトホール(PCNT3)を含む。第3コンタクトホール(PCNT3)は、保護層(PAS)を貫通して、下部データパッド電極(SML)の一部を露出させる。
【0140】
第3コンタクトホール(PCNT3)を有する保護層(PAS)上には、上部データパッド電極(PEL)が位置する。上部データパッド電極(PEL)は、第3コンタクトホール(PCNT3)を介して下部データパッド電極(SML)に接続される。
【0141】
上部データパッド電極(PEL)は、表示領域(AA)のソース/ドレイン電極(SE、DE、
図12)及び/または第2ストレージキャパシタ電極(SG2、
図12)と同じ工程中に共に形成されたパターンで有り得る。したがって、上部データパッド電極(PEL)は、表示領域(AA)のソース/ドレイン電極(SE、DE、
図12)及び/または第2ストレージキャパシタ電極(SG2、
図12)と同じ層に形成され、同じ物質を含むことができる。
【0142】
表示装置が下部発光型で実現される場合、第2ストレージキャパシタ電極(SG2、
図12)と上部データパッド電極(PEL)は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO( Zinc Oxide)などの透明導電物質からなることができる。表示装置が上部発光型で実現される場合、第2ストレージキャパシタ電極(SG2、
図12)と上部データパッド電極(PEL)は、不透明導電物質からなることができる。
【0143】
上部データパッド電極(PEL)は、凸部(SE1)から下部データパッド電極(SML)と接続され、凹部(SE2)の内側に延長される。上部データパッド電極(PEL)は、凸部(SE1)と凹部(SE2)に対応して位置する。これにより、上部データパッド電極(PEL)、下部データパッド電極(SML)、データ信号ラインに接続される信号経路が形成される。
【0144】
上部データパッド電極(PEL)上には、オーバーコート層(OC)が位置する。オーバーコート層(OC)は、隣接する下部データパッド電極(SML)の間に備えられるシンク溝(SH)を含む。シンク溝(SH)は、オーバーコート層(OC)を貫通して上部データパッド電極(PEL)の一部を露出させる。シンク溝(SH)が形成された領域は、凹部(SE2)である。シンク溝(SH)の外側は、凸部(SE1)である。シンク溝(SH)は、回路素子(CO)のバンプ(CSL)を収容するのに十分な内部空間を有するように形成される。
【0145】
回路素子(CO)は、軟性フィルム(SF)に備えられたバンプ(CSL)を含む。異方性導電フィルム(ACF)は、複数の導電ボールが接着樹脂に分散されて配置されたもので、基板(PI)と回路素子(CO)を接着しながらパッドとバンプ(CSL)を電気的に接続させる。異方性導電フィルム(ACF)の導電ボールは、凹部(SE2)内に収容され、上部データパッド電極(PEL)とバンプ(CSL)との間に位置してこれらを電気的に接続させる。導電ボールは凹部(SE2)内に収容される。
【0146】
本発明の第2実施の形態は、第1実施の形態とは異なり、凹部(SE2)でのみ上部データパッド電極(PEL)が露出される。隣接する凹部(SE2)の間には、凸部(SE1)が位置するので、隣接する凹部(SE2)において外部に露出されている上部データパッド電極(PEL)は十分に離隔することができる。これは、コンタクト不良を最小化することができることを意味する。
【0147】
図示されていないが、上部パッド電極(PEL)が不透明導電物質で形成された場合、外部に露出された上部パッド電極(PEL)が外部に露出して酸化されるなどの不良が発生することができる。これを防止するためには、外部に露出された上部パッド電極(PEL)を覆う補助パッド電極がさらに備えられる。
【0148】
補助パッド電極は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)またはZnO(Zinc Oxide)などの透明導電性物質を含むことができる。補助パッド電極は、第1電極(ANO、
図12)と同じ工程中に同一層に形成された電極パターンで有り得る。したがって、補助パッド電極は、第1電極(ANO、
図12)と同一の物質を含むことができる。
【0149】
以上説明した内容を介して当業者であれば、本発明の技術思想を逸脱しない範囲で様々な変更及び修正することができる。したがって、本発明の技術的範囲は、明細書の詳細な説明に記載された内容に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって定められるべきである。