(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
熱可塑性フッ素樹脂が、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体、ポリテトラフルオロエチレン、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、パーフルオロアルコキシ共重合体、エチレン−クロロトリフルオロエチレン共重合体、ポリフッ化ビニル、ポリフッ化ビニリデン、ポリクロロトリフルオロエチレン、ビニリデンフルオライド−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、およびビニリデンフルオライド−テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体から選択される1種または2種以上の混合物から形成されていることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の成形体。
支持体を形成する樹脂材料が、ポリエチレン、ポロプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体、環状ポリオレフィン、変性ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリカーボネート、ポリ−(4−メチルペンテン−1)、アイオノマー、アクリル系樹脂、ポリメチルメタクリレート、アクリル−スチレン共重合体、ブタジエン−スチレン共重合体、エチレン−ビニルアルコール共重合体、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリシクロヘキサンテレフタレート、ポリエーテル、ポリエーテルケトン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルイミド、ポリアセタール、ポリフェニレンオキシド、変性ポリフェニレンオキシド、ポリアリレート、芳香族ポリエステル、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル、シリコーン樹脂およびポリウレタンから選択される1種または2種以上の混合物である、請求項5〜10のいずれか1項に記載の積層体。
【発明を実施するための形態】
【0014】
以下、本発明の成形体について説明する。
【0015】
本発明の成形体は、表面に凹凸構造を有する熱可塑性フッ素樹脂を有し、2.0GPa〜20GPaの弾性率を有する。
【0016】
上記熱可塑性フッ素樹脂としては、例えば、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体(ETFE)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体(FEP)、パーフルオロアルコキシ共重合体(PFA)、エチレン−クロロトリフルオロエチレン共重合体(ECTFE)、ポリフッ化ビニル(PVF)、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)、ポリクロロトリフルオロエチレン(PCTFE)、エチレン−テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体(FTFP)、ビニリデンフルオライド−ヘキサフルオロプロピレン共重合体(VdF−HFP)、ビニリデンフルオライド−テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体(VdF−TFE−HFP)、その他フッ素系樹脂、フッ素ゴム等が挙げられるほか、これらのブレンド樹脂、ポリマーアロイであってもよい。
【0017】
上記熱可塑性フッ素樹脂としては、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、パーフルオロアルコキシ共重合体(PFA)、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体(FEP)、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体(ETFE)、エチレン−テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体(FTFP)、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)またはポリクロロトリフルオロエチレン(PCTFE)が好ましく、ポリテトラフルオロエチレン、パーフルオロアルコキシ共重合体またはテトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体がより好ましい。
【0018】
一の態様において、上記熱可塑性フッ素樹脂は、100℃以上の融点、例えば150℃以上、170℃以上、200℃以上、220℃以上、250℃以上、270℃以上、300℃以上または320℃以上の融点を有する。
【0019】
一の態様において、上記熱可塑性フッ素樹脂におけるフッ素含有量は、20質量%以上、好ましくは30質量%以上、例えば40質量%以上、50質量%以上、60質量%以上、70質量%以上または80質量%以上であり得る。
【0020】
好ましい態様において、上記熱可塑性フッ素樹脂は、100℃以上の融点を有し、かつ、20質量%以上のフッ素を含有する。好ましくは、上記フッ素樹脂の融点およびフッ素含有量は、それぞれ、100℃以上かつ30質量%以上、150℃以上かつ20質量%以上、または150℃以上かつ30質量%以上であり得る。
【0021】
好ましい態様において、上記熱可塑性フッ素樹脂は、架橋されている。架橋構造は、例えば、加熱溶融された熱可塑性フッ素樹脂に、電離放射線が照射されることで架橋反応が生じ、そのまま硬化することにより形成される。
【0022】
本発明の成形体は、1.0GPa〜20GPaの曲げ弾性率を有し、好ましくは2.0GPa〜15GPa、さらに好ましくは2.0GPa〜10GPaの曲げ弾性率を有する。このような曲げ弾性率を有することにより、成形体をインプリントモールドとして用いた場合、適度な風合い硬さのインプリントモールドを得ることができ、離型耐久性を向上させることができる。
【0023】
本発明の成形体における表面の凹凸構造は、下記する積層体のフッ素含有層の凹凸構造と同様の構造を有する。
【0024】
上記本発明の成形体は、インプリントモールドとして、好ましくはナノインプリントモールドとして用いることができる。
【0025】
尚、本明細書において、モールドとは、自身の表面に有するナノメートルオーダの微細なパターンを、樹脂、フィルム等に転写する鋳型をいう。転写は、光(例えば、紫外線)または熱等を利用して行うことができる。
【0026】
一の要旨において、本発明は、
樹脂材料から形成される支持体と、
支持体上に位置するバインダー層と、
バインダー層上に位置し、表面に凹凸構造を有するフッ素含有層と
を有して成る積層体を提供する。
【0027】
支持体を形成する樹脂材料は、特に限定されず、種々の熱可塑性樹脂または熱硬化性樹脂を用いることができる。具体的には、かかる樹脂としては、ポリエチレン、ポロプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)等のポリオレフィン、環状ポリオレフィン、変性ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリカーボネート、ポリ−(4−メチルペンテン−1)、アイオノマー、アクリル系樹脂、ポリメチルメタクリレート、アクリル−スチレン共重合体(AS樹脂)、ブタジエン−スチレン共重合体、エチレン−ビニルアルコール共重合体(EVOH)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリシクロヘキサンテレフタレート(PCT)等のポリエステル、ポリエーテル、ポリエーテルケトン(PEK)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリエーテルイミド、ポリアセタール(POM)、ポリフェニレンオキシド、変性ポリフェニレンオキシド、ポリアリレート、芳香族ポリエステル(液晶ポリマー)、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン、その他フッ素系樹脂、スチレン系、ポリオレフィン系、ポリ塩化ビニル系、ポリウレタン系、フッ素ゴム系、塩素化ポリエチレン系等の各種熱可塑性エラストマー、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル、シリコーン樹脂、ポリウレタン等、またはこれらを主とする共重合体、ブレンド体、ポリマーアロイ等が挙げられる。支持体の透明性および柔軟性の観点から、かかる樹脂材料は、好ましくは、ポリエチレンテレフタラート(PET)、シクロオレフィン樹脂(COP)、アクリル樹脂(PMMA)、エチレン−テトラフルオロエチレン共重合体(ETFE)であり、より好ましくは、特にポリエチレンテレフタラートまたはシクロオレフィン樹脂であり、さらに好ましくはポリエチレンテレフタラートである。
【0028】
上記支持体は、好ましくは1.0GPa〜20GPa、より好ましくは2.0GPa〜15GPa、さらに好ましくは2.0GPa〜10GPaの曲げ弾性率を有する。支持体が上記のような曲げ弾性率を有することにより、本発明の積層体に、同様の曲げ弾性率を与えることができ、適度な風合い硬さの積層体を得ることができる。支持体の曲げ弾性率を1.0GPa以上、好ましくは2.0GPa以上にすることにより、本発明の積層体の取り扱いが容易になる。また、支持体の曲げ弾性率を20GPa以下、好ましくは10GPa以下にすることにより、積層体が硬くなり過ぎず、インプリントモールドとして用いた場合に連続インプリントが容易になる。
【0029】
上記支持体の厚みは、特に限定されないが、例えば、10μm〜10mm、好ましくは25μm〜1mm、より好ましくは50μm〜0.5mm、さらに好ましくは75μm〜0.2mmである。厚みを厚くすることにより、支持体の曲げ弾性率が大きくなる。
【0030】
上記支持体は、単相であってもよく、2つ以上の層を積層したものであってもよい。
【0031】
上記バインダー層(以下、「接着層」ともいう)は、支持体とフッ素含有層とを接着させるように機能する。
【0032】
上記バインダー層を形成する材料は、支持体およびフッ素含有層との密着性が高いものであれば特に限定されず、光硬化性樹脂または熱硬化性樹脂を用いることができ、具体的にはシリコーン系樹脂、ウレタン系樹脂、ポリエステル系樹脂、アクリル系樹脂、メラミン系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリアミド系樹脂、塩化ビニル系樹脂、塩化ビニル酢酸ビニル共重合体系樹脂などが挙げられる。これらの材料は、これらを1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。好ましくは、バインダー層は、光硬化性重合体、例えば(メタ)アクリレート樹脂(例えば、ビームセット1402(荒川化学工業(株)製))を用いることができる。
【0033】
バインダー層の厚みは、特に限定されないが、好ましくは0.01〜50μmであり、より好ましくは0.1〜10μmである。
【0034】
上記表面に凹凸構造を有するフッ素含有層を形成する材料は、フッ素樹脂である。上記フッ素樹脂としては、熱可塑性フッ素樹脂が好ましい。熱可塑性フッ素樹脂としては、上記成形体の熱可塑性フッ素樹脂として列挙したものが挙げられる。
【0035】
上記フッ素含有層の厚みは、特に限定されないが、凸部における厚みが、好ましくは10〜200μmであり、より好ましくは30〜125μmであり、さらに好ましくは30〜60μmである。
【0036】
上記フッ素含有層の凹凸部は、好ましくは略円柱状が複数並んだ、いわゆるモスアイ構造を反転した構造、即ち略円筒状の凹部が複数並んだ構造を有する。
【0037】
凹部の形状は、好ましくは略円筒状であるが、これに限定されず、他の形状、例えば底部が細った円錐台形状、三角柱、四角柱などの多角柱形状であってもよく、その側面に凹凸を有していてもよい。
【0038】
略円筒状の凹部の断面であって、フッ素含有層の表面と同一平面上にある断面の直径は、好ましくは可視光の波長以下、例えば約10〜500nm、より好ましくは約50〜400nm、さらに好ましくは約100〜300nmであり得る。
【0039】
略円筒状の凹部の底部の直径は、好ましくは上記フッ素含有層の表面と同一平面上にある断面の直径以下であり、好ましくは95%以下、より好ましくは90%以下、さらに好ましくは80%以下、さらにより好ましくは85%以下であり得る。また、凹部の底部の直径は、好ましくは上記フッ素含有層の表面と同一平面上にある断面の直径の40%以上、より好ましくは60%以上、さらに好ましくは70%以上である。
【0040】
凹部の深さは、好ましくは約30〜500nm、より好ましくは約50〜400nm、さらに好ましくは約100〜300nmであり得る。
【0041】
隣接する凹部間の距離(以下、「ピッチ」ともいう)は、好ましくは可視光の波長以下、例えば好ましくは約30〜500nm、より好ましくは約50〜400nm、さらに好ましくは約100〜300nmであり得る。
【0042】
凹部のアスペクト比(凹部の深さ/フッ素含有層の表面と同一平面上にある凹部の断面の直径)は、好ましくは約0.8〜5.0、より好ましくは1.2〜4.0、さらに好ましくは1.5〜3.0である。凹部のアスペクト比を1.0とすることにより、より反射率低くなる。
【0043】
上記の凹部の断面の直径、底部の直径および深さ、ならびにピッチは、走査型電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)による観察により測定することができる。
【0044】
さらに、好ましい態様において、上記フッ素含有層は、その凹凸面に種々のフッ素系モノマー等にてグラフト鎖をもたらすことも可能である。このようなグラフト鎖をもたらすことにより、より離型性および離型耐久性が高くなる。
【0045】
上記態様において、フッ素含有層におけるグラフト鎖は、フッ素含有層から、好ましくは少なくとも深さ0.1μm、最大で深さ200μmまで、より好ましくは少なくとも深さ1μm、最大で深さ40μmまで、さらに好ましくは少なくとも深さ3μm、最大で深さ20μmまで、例えば深さ10〜20μmまで存在する。グラフト鎖が存在する厚みが大きいほど、離型耐久性が向上する。また、グラフト鎖が存在する厚みが小さいほど、フッ素含有層の強度が向上する。
【0046】
上記「グラフト鎖」とは、フッ素含有層を構成するポリマーの主鎖に枝状に結合した側鎖を意味し、製造方法により限定されるものではない。即ち、グラフト鎖は、例えば上記のグラフト重合により形成されるグラフト鎖に加え、その他の方法により樹脂基材を構成するポリマーの主鎖に導入された鎖も包含する。
【0047】
好ましい態様において、「グラフト鎖」は、フッ素含有層のポリマー主鎖に対して枝分れした分枝鎖であって、電離放射線の照射によりグラフトモノマーをポリマー主鎖に共有結合したものであり得る。
【0048】
好ましくはグラフト鎖が存在する深さは、フッ素含有層の表面から、フッ素含有層の厚みに対して0.001〜95%までの深さ、例えば0.01〜95%までの深さまたは0.1〜95%までの深さであり得る。グラフト鎖が存在する深さは、より好ましくは5〜80%までの深さ、さらに好ましくは10〜60%までの深さ、さらにより好ましくは20〜60%までの深さであってもよい。
【0049】
フッ素含有層におけるグラフト鎖が存在する深さは、例えば、走査型電子顕微鏡により、フィルムの断面を観察することにより測定することができる。より詳細には、走査型電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)によるEDX(Energy dispersive X-ray)分析、EPMA(Electron Probe Microanalyser)分析または陽電子寿命測定を行うことで測定できる。
【0050】
好ましい態様において、上記のグラフト鎖を有するフッ素含有層において、グラフト率は0.1〜1,500%であり得る。
【0051】
「グラフト率」とは、フッ素含有層に対して導入されたグラフト鎖の割合を意味する。具体的には、グラフト率(Dg)は、グラフト重合反応前後のフッ素含有層の重量変化を測定し、下記式により算出することができる。
グラフト率:Dg[%]=(W
1−W
0)/W
0×100
[式中、W
0は、グラフト重合前のフッ素含有層の重量であり、W
1は、グラフト重合後のフッ素含有層の重量である。]
なお、グラフト率Dgは、基材の全重量で割り付けすることにより算出するため、膜厚に対して、グラフト層がきわめて薄い場合、小さな値となり、0.1%以下の値を示すこともあるが、深さ方向のグラフト鎖の領域は、SEM−EDXやEPMAによる元素分析によっても立証できる。例えば、比重2で、厚さ5mmのシートで30gの重量の樹脂に対して、5μmのパーフルオロポリエーテル基を含むグラフト鎖を導入した場合、フッ素含有層の厚みの0.1%であり、グラフト率は、おおよそ0.1%未満の値を示す。
【0052】
また、上記グラフト率は、熱重量測定(TG:thermogravimetric analysis)により算出することもできる。具体的には、グラフト鎖を有するフッ素含有層を、フッ素含有層の温度を一定のプログラムに従って変化させて(加熱または冷却させて)、フッ素含有層の重量の変化を測定し、この重量変化から算出することができる。熱重量測定は、例えば、Rigaku社製や島津製作所のTGA測定器を用いて行うことができる。
【0053】
グラフト率は、好ましくは0.1〜250%、より好ましくは0.2%〜150%、さらに好ましくは5〜120%、例えば10〜100%または20〜80%であり得る。
【0054】
電離放射線は、フッ素含有層に照射した場合にラジカルを発生させることができるものであれば特に限定されず、例えば、電子線、X線、γ線、中性子線、イオン等を用いることができる。電離放射線の浸透深さ(飛程)の制御が容易で、樹脂中にラジカルを発生させやすいことから、電子線が好ましい。
【0055】
照射される電離放射線の吸収線量は、1〜1000kGy、好ましくは10〜500kGy、より好ましくは50〜300kGyである。1000kGy以下の吸収線量とすることにより、表層でのフッ素含有層の劣化を最小限に抑えることできる。また、1kGy以上の吸収線量とすることにより、表面グラフト重合に十分な量のラジカルを生成することができる。フッ素含有層のエネルギー吸収量は、シンチレーション検出器や半導体検出器にて計測可能であるが、より好ましくは、例えば三酢酸セルロースフィルム(CTA:Cellulose triacetate)線量計や、ラジオクロミックフィルム線量計により測定することができる。
【0056】
電子線を用いる場合、電子加速器を用い、試料に照射される電子線の電子のエネルギーは、試料表面で、好ましくは5keV〜100keV、より好ましくは10keV〜80keV、さらに好ましくは30keV〜70keV、さらにより好ましくは40keV〜70keVである。試料表面での電子のエネルギーを100keV以下とすることにより、実質的にフッ素含有層の表面付近のみで電子線が吸収され、基材の内部にまで浸透する電子線が少なくなるので、電子線によるフッ素含有層の劣化を抑制することができる。さらに、表面グラフト重合に関与しない樹脂内部での電子線の吸収が少なく、また、フッ素含有層を透過する電子線が少ないので、エネルギー吸収効率も高めることができる。一方、試料表面での電子のエネルギーを5keV以上とすることにより、フッ素含有層の表面において、表面グラフト重合に十分な程度のラジカルを生成することができる。
【0057】
電子加速器からの電子線を用いる場合、電子銃から試料まで間が真空環境であれば、電子のエネルギーは、加速電圧と対応しその加速電圧は、好ましくは5〜100kV、より好ましくは10〜80kV、さらに好ましくは30〜70kV、さらにより好ましくは40〜70kVであればよい。
【0058】
例えば、電子ビームの加速電圧が60kVの時、電子ビームの到達深度は、約20μmとなり得る。
【0059】
一方、電子銃から試料まで間に、大気中への取り出しのための照射窓があるような電子加速器の場合、真空中の照射であっても電子のエネルギーは、照射窓通過の際に減衰するので、加速電圧は、電子のエネルギーの減衰に応じてより高くする必要がある。もちろん、窒素気流中を通過する場合も同様に、試料までの気流中の密度と距離に応じて減衰するエネルギーを考慮して高くする必要がある。
【0060】
電子線を用いる場合、試料に照射される電子の照射線量は、10μC/cm
2〜10mC/cm
2、好ましくは、50μC/cm
2〜1mC/cm
2、より好ましくは100μC/cm
2〜300μC/cm
2、例えば200μC/cm
2である。このような範囲の照射線量とすることにより、効率よくラジカルを発生させることができる。
【0061】
フッ素含有層への電離放射線の照射は、生成したラジカルの対消滅を抑制する観点から、好ましくは、実質的に酸素が存在しない雰囲気下、例えば、酸素濃度が1000ppm以下、より好ましくは、500ppm、さらにより好ましくは、100ppm以下の雰囲気下で行われる。例えば、電離放射線の照射は、真空中または不活性ガス雰囲気下、例えば窒素またはアルゴン雰囲気下で行われる。尚、真空とは、完全に真空である必要はなく、実質的に真空であればよく、例えば10
3Pa程度の低真空、10
−2Pa程度の高真空のいずれであってもよい。また、別の態様において、電離放射線の照射は、過酸化ラジカルを得るために、大気下で行ってもよく、また、ラジカル生成後に酸素を供給することもできる。また、フッ素含有層に生成したラジカルの失活を防止するために、照射後のフッ素含有層は、当該フッ素含有層を構成するポリマーのガラス転移温度以下の低温で保管されることが好ましく、真空あるいは不活性雰囲気下での保管がより好ましい。
【0062】
電離放射線の浸透深さは、好ましくはフッ素含有層の厚みの0.1〜95%、より好ましくは5〜80%、さらに好ましくは10〜60%、さらにより好ましくは20〜60%である。例えば、電離放射線の浸透深さは、フッ素含有層の表面から、深さ0.1〜200μmまで、好ましくは深さ1〜40μmまで、より好ましくは深さ2〜30μmまで、さらに好ましくは深さ3〜20μmまで、例えば深さ5〜20μmまたは深さ10〜20μmまでであってもよい。
【0063】
電離放射線の浸透深さとは、フッ素含有層が電離放射線のエネルギーを吸収する深さを意味する。電離放射線の浸透深さは、表面グラフト重合が起きる、領域と実質的に同じであるが、表面グラフト反応により、試料表面はわずかに膨潤するため、グラフト反応後のフッ素含有層におけるグラフト鎖が存在する深さは、電離放射線の浸透深さよりも深くなり得る。グラフト鎖が存在する深さは、表面グラフト重合後の成形体の断面を、走査型電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)によるEDX(Energy dispersive X-ray)分析、EPMA(Electron Probe Microanalyser)分析などにより測定することができる。また、グラフト鎖が存在する深さは、顕微FT−IRや、ラマン顕微鏡などによっても測定することができる。
【0064】
フッ素含有層の表面の凹凸構造の形成は、例えば所定のパターンを有する空気最表面が離型処理されたマスターモールドを、フッ素含有フィルムに押しつけて成形することにより行われる。かかる成形は、下記するバッチ製造法および連続製造法のいずれでも行うことができる。
【0065】
(1)バッチ製造方法
空気最表面が離型処理されたシリコン、ニッケル金属または石英製のマスターモールドを、フッ素含有フィルムに、ナノインプリント装置を用いて、所定の温度および圧力条件で、例えば250℃、5MPaの圧力で、所定の時間、例えば3分間押しつけることにより、マスターモールドのパターンを正確に反転させたパターン形状を形成することができる。
【0066】
(2)連続製造方法
フッ素含有フィルムを、フィルムロールから連続して押し出しながら、インプリント装置を用いて、空気最表面が離型処理されたシリコン、ニッケル金属、または石英製のマスターモールドを、所定の温度および圧力条件で、例えば50℃〜200℃の温度範囲で、20MPa〜60MPaの圧力で、特に100℃にて40MPaの圧力で、フィルムに接触させて、マスターモールドのパターンを正確に反転させたパターン形状を形成することができる。
【0067】
別法として、フッ素含有層の表面の凹凸構造の形成は、マスターモールド上に、フッ素含有層を形成する樹脂または樹脂のモノマーを塗布して成膜し、得られた膜を光照射、電子線照射する、あるいは加熱することにより硬化させ、得られた硬化膜をマスターモールドから剥がすことにより、マスターモールドのパターンを正確に反転させたパターン形状を形成することができる。
【0068】
一の態様において、例えば、フッ素含有層の表面の凹凸構造の形成は、以下のように形成することができる。まず、マスターモールドの表面にモノマー分散液を塗布し、スピンコート等によりマスターモールドの表面にモノマー分散液を流延させる。これにより、モノマー分散液は、マスターモールドにおける凹凸構造の溝部に入り込み、マスターモールドの表面にて表面が均一なパターン形成層を形成し得る。次いで、無酸素雰囲気下でモノマー分散液を加熱することによりモノマーを加熱溶融させ、電離放射線をパターン形成層全体に均一に照射する。パターン形成層は、電離放射線が照射されることで、モノマーが架橋反応を起こし、直鎖状のモノマーが、ネットワーク化し、そのまま硬化して凹凸構造を形成する。
【0069】
また、別法として、フッ素含有層の表面の凹凸構造は、マスターモールド上に、加熱した熱可塑性樹脂を押し当て、冷却して硬化させ、次いで、マスターモールドから剥がすことによっても形成することができる。
【0070】
本発明の積層体は、上記した樹脂材料から形成される支持体に、バインダー層を形成する材料を塗布し、さらにその上にフッ素含有層を積層することにより製造することができる。上記とは逆に、フッ素含有層にバインダー層を形成する材料を塗布し、次いで、支持体を積層してもよい。バインダー層を形成する材料が、光硬化性材料である場合には、積層後、紫外線または電子線を照射して、フィルムモールドと基材とを接着硬化することができる。
【0071】
本発明の積層体は、好ましくは1.0GPa〜20GPa、より好ましくは2.0GPa〜15GPa、さらに好ましくは2.0GPa〜10GPaの曲げ弾性率を有する。積層モールドの曲げ弾性率を1GPa以上、特に2.0GPa以上にすることにより、取り扱いが容易になる。また、積層モールドの曲げ弾性率を20GPa以下、特に10GPa以下にすることにより、連続ナノインプリントが容易になる。
【0072】
本発明の積層体の厚みは、特に限定されないが、例えば、10μm〜10mm、好ましくは25μm〜1mm、より好ましくは50μm〜0.5mm、さらに好ましくは75μm〜0.2mmである。
【0073】
好ましい態様において、本発明の積層体は、紫外線領域において、高い光透過度を有し得る。具体的には、365nmでの光透過度が70%以上であることが好ましく、80%以上であることがより好ましく、90%以上であることがさらに好ましい。このような高い光透過度を有することにより、紫外線硬化を利用するインプリントにおいて好適に用いることができる。
【0074】
本発明の積層体は、インプリントモールドとして、好ましくはナノインプリントモールドとして用いることができる。本発明の積層体のインプリントモールドは、積層構造により適度な曲げ弾性率を有することから、従来のインプリントモールドと比較して、インプリント時に凹凸構造に歪みが生じにくく、安定してインプリントを行うことができ、また、離型耐久性も高くなる。また、バインダー層により、支持体と凹凸構造を有するフッ素含有層が強固に保持されているので層の剥離も生じにくい。この効果は、インプリント面積が大きくなるほど、より顕著になる。
【0075】
一の態様において、本発明の積層体をインプリントモールドとして用いる場合、モールドの凹凸面の平面積は、好ましくは100cm
2以上、より好ましくは200cm
2以上、さらに好ましくは300cm
2以上、例えば400cm
2以上または500cm
2以上であり得る。上記のように、本発明の積層体のインプリントモールドは、積層構造により適度な曲げ弾性率を有することから、インプリント時に凹凸構造に歪みが生じにくいので、このような100cm
2以上の大面積であっても、良好にインプリントを行うことができる。
【0076】
一の態様において、本発明の積層体は、インプリントモールドとして用いた場合、優れた離型耐久性を有し、具体的には、1〜1000mJの紫外線量により紫外線ナノインプリントを200回で実施すれば、水1〜10μLにて接触角が110°以上、500回で105°以上、900回で98°以上の値を有する。上記接触角は、所定の回数ナノインプリントを行った後に、モールド表面の水に対する静的接触角を、水1μLにて接触角測定装置を用いて測定する。ナノインプリントは、積層ナノインプリントモールドの凹凸面上に光硬化樹脂(例えば、商品名PAK−01 東洋合成社製)を0.2ml滴下し、その上にポリカーボネートフィルムをかぶせ、Step & Repeat方式からなる連続式光ナノインプリント装置を用い1.0MPaで押しつけたと同時に紫外線照射(10mW/cm
2)を20秒間行って、硬化した光硬化性樹脂を積層モールドから剥がすことにより行われる。
【0077】
本発明の積層体は、インプリントモールドとして用いた場合に、高い離型性および離型耐久性を有するので、無機材料のインプリントにも好適に利用することができる。
【0078】
上記無機材料としては、例えば、ゾルゲル系材料が挙げられる。
【0079】
好ましいゾルゲル材料としては、例えば、水素シルセスキオキサン(Hydrogen Silsesquioxane:HSW)が挙げられる。水素シルセスキオキサンは、3官能性の構造(HSi(O
1/2)
3)を有しており、加熱処理を行うことにより、水素が離脱し、4官能性の構造(HSi(O
1/2)
4)、即ちシリカ構造となる。
【0080】
ゾルゲル材料を用いるナノインプリントは、本発明の積層体を積層ナノインプリントモールドとして用いて、例えば以下のように行うことができる。
【0081】
(1) 基板上に、ゾルゲル材料(例えば、HSQ)を塗布する。
(2) 本発明の積層ナノインプリントモールドをゾルゲル材料に対して、熱や紫外光を加えることなく、室温で押し当てる。ゾルゲル材料は、時間経過と共に加水分解・脱水縮合反応を起こし、硬化し、無機層が得られる。
(3) 積層ナノインプリントモールドを、硬化した無機層から剥離して、基板上に転写パターンを有する無機層を得る。
【0082】
別法として、工程(1)において、基板の代わりに積層ナノインプリントモールドにゾルゲル材料を塗布し、工程(2)において、基板を、ゾルゲル材料を塗布した積層モールドに押し当ててもよい。
【0083】
工程(1)における基板上にゾルゲル材料を塗布する方法は、特に限定されず、スピン塗布、スクリーン印刷、浸漬、スプレー塗布等を用いることができる。好ましくはスピン塗布が用いられる。
【0084】
工程(2)における押圧は、用いる材料に応じて適宜選択することができるが、例えば10〜100Pa、好ましくは30〜80Pa、例えば40Paであり得る。
【0085】
工程(2)におけるゾルゲル材料の硬化は、室温で静置してもよいが、反応を促進するために加熱してもよい。加熱温度は、積層ナノインプリントモールドに悪影響を及ぼさない温度であれば特に限定されず、例えば30〜200℃または60〜150℃等であってもよい。
【0086】
工程(3)で積層モールドから剥離させた無機層は、その後、ゾルゲル反応をより完全に進行させるために、加熱してもよい。加熱温度は、基材および無機材料のガラス転移温度以下であれば特に限定されず、例えば100〜500℃または200〜300℃であり得る。
【0087】
上記のように形成された無機材料層は、表面に積層ナノインプリントモールドの凹凸構造が反転したパターン、即ちモスアイ構造を有する。従って、この無機材料層は、反射防止膜として機能する。
【0088】
従って、本発明は、上記無機材料層を有する反射防止膜を提供する。
【0089】
上記反射防止膜の反射率は、波長550nmで、好ましくは1.0%以下、より好ましくは0.5%以下、さらに好ましくは0.1%以下、さらにより好ましくは0.08%以下であり得る。
【0090】
上記反射防止膜は、モスアイ構造をエッチングではなく、ナノインプリントにより形成しているので、高い透明性を有し得る。反射防止膜の可視光(波長550nm)における透過率は、好ましくは90%以上、より好ましくは95%以上、さらに好ましくは98%以上、さらにより好ましくは99%以上であり得る。
【0091】
反射防止膜上の凸部の形状は、好ましくは略円柱状であるが、これに限定されず、他の形状、例えば底部が細った円錐台形状、三角柱、四角柱などの多角柱形状であってもよい。また、凸部の頂部は丸みを帯びていてもよく、凸部の側面は凹凸を有していてもよい。
【0092】
上記凸部の最下部における直径は、好ましくは可視光の波長以下、例えば約10〜500nm、より好ましくは約50〜400nm、さらに好ましくは約100〜300nmであり得る。
【0093】
上記凸部の頂部の直径は、好ましくは上記最下部における直径以下であり、好ましくは95%以下、より好ましくは90%以下、さらに好ましくは80%以下、さらにより好ましくは85%以下であり得る。また、凸部の頂部の直径は、好ましくは上記フッ素含有層の表面と同一平面上にある断面の直径の40%以上、より好ましくは60%以上、さらに好ましくは70%以上である。
【0094】
凸部の高さは、好ましくは約30〜500nm、より好ましくは約50〜400nm、さらに好ましくは約100〜300nmであり得る。
【0095】
凸部の高さ10nmにおける直径Aと、凸部の頂部から10nmにおける直径Bとの比(B/A)は、凸部の強度の観点からは、好ましくは0.30以上、より好ましくは0.50以上、さらに好ましくは0.70以上、例えば1.0以上または1.5以上であり得る。また、B/A比は、反射率を小さくする観点からは、好ましくは1.00以下、より好ましくは2.00以下、さらに好ましくは1.50以下、より好ましくは1.00以下、例えば0.70以下または0.60以下であり得る。
【0096】
隣接する凸部間の距離(以下、「ピッチ」ともいう)は、好ましくは可視光の波長以下、例えば好ましくは約30〜500nm、より好ましくは約50〜400nm、さらに好ましくは約100〜300nmであり得る。
【0097】
凸部のアスペクト比(凸部の高さ/凸部の最下部の直径)は、好ましくは約0.8〜5.0、より好ましくは1.2〜4.0、さらに好ましくは1.5〜3.0である。凹部のアスペクト比を1.0とすることにより、より反射率低くなる。
【0098】
好ましい態様において、本発明の反射防止膜は、略円柱状の凸部を有し、反射率が0.1%以下であり、波長500nmにおける透過率が90%以上であり、凸部の高さ10nmにおける直径Aと、凸部の頂部から10nmにおける直径Bとの比(B/A)が、0.30以上2.00以下であり得る。
【0099】
一の態様において、上記反射防止層の凹部には、他の材料が充填されていてもよい。
【0100】
他の材料としては、凸部を構成する材料の屈折率よりも屈折率が大きな材料が好ましく、有機材料または無機材料のいずれも用いることができる。他の材料中に屈折率の大きな材料、例えばナノダイヤを分散させてもよい。
【0101】
上記のように凹部を他の材料で充填することにより、凹部に反射防止膜の透明度に悪影響を及ぼす物質が充填されるのを防止することができる。
【0102】
本発明の反射防止膜は、反射率が低く、透明度が高いため、種々の用途、例えば自動車ガラス、ディスプレイの前面パネル、ショウウインドーのガラス等に好適に用いることができる。
【実施例】
【0103】
実施例1:インプリント用モールドのバッチ製造
12cmφシリコンからなるマスターモールド(直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nmのピラー形状)に、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)の水分散体(ダイキン工業株式会社製 D−210C)をスピンコートしてコーティングし、380℃で加熱溶融した後、低エネルギー電子線を用いて、窒素雰囲気下で電子線を600kGy照射した(照射条件:加速電圧250kV)。
【0104】
次いで、その薄膜上に同様の操作で、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)の水分散体を30μmになるまでコーティングおよび電子線照射を繰り返し、シリコンからなるマスターモールドからフィルムを剥がして、マスターモールドの微細パターンを正確に反転させたホール形状からなる微細パターンを有するナノインプリント用フィルムモールドを形成した。
【0105】
次いで、PETフィルム(E5100標準タイプ:厚み100μm、東洋紡製、表面コロナ処理)を用いて、コロナ処理面上に、膜厚が1μmになるように光硬化性樹脂(ビームセット BM−200、荒川化学製)をスピンコートして接着層を設けた。さらにその上に、上記で得られたナノインプリント用フィルムモールドの裏面を積層させて、UV照射型ベルトコンベアにて2J照射するようUV光を与え、フィルムモールドと基材とを接着硬化し、積層モールドを得た。
【0106】
実施例2:インプリント用モールドのバッチ製造
12cmφシリコンからなるマスターモールド(直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nmのピラー形状)に、パーフルオロアルコキシ共重合体(PFA)の水分散体(ダイキン工業株式会社製)をコーティングし、350℃で加熱溶融した後、低エネルギー電子線を用いて、窒素雰囲気下で電子線を600kGy照射した(照射条件:加速電圧250kV)。次いで、その薄膜上に同様の操作で、パーフルオロアルコキシ共重合体(PFA)の水分散体を30μmになるまでコーティングおよび電子線照射を繰り返し、シリコンからなるマスターモールドからフィルムを剥がして、マスターモールドの微細パターンを正確に反転させたホール形状からなる微細パターンを有するナノインプリント用フィルムモールドを形成した。
【0107】
次いで、上記で得られたナノインプリント用フィルムモールドを、実施例1と同様に、PETフィルムと接着層を介して積層して、積層モールドを得た。
【0108】
実施例3:インプリント用モールドのバッチ製造
12cmφシリコンからなる離型処理されたマスターモールド(直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nm)を、パーフルオロアルコキシ共重合体(PFA)フィルムに、ナノインプリント装置を用いて、パーフルオロポリエーテル系の離型剤で処理した上記マスターモールドのパターンを300℃にて正確に反転させたパターン形状を有するインプリント用フィルムモールドを形成した。さらに、得られたフィルムモールド表面の硬度を高めるために、室温下にて低エネルギー電子線を用いて、窒素雰囲気下で電子線を200kGy照射した(照射条件:加速電圧250kV)。
【0109】
次いで、上記で得られたナノインプリント用フィルムモールドを、PETフィルムの代わりにCOPフィルムを用いること以外は、実施例1と同様にして、積層モールドを得た。
【0110】
得られた積層モールドの表面を走査型電子顕微鏡により観察した。観察した結果、直径は230nm、ピッチは460nm、深さは200nmであった。撮影した写真を
図1に示す。
【0111】
実施例4:インプリント用モールドの連続製造
図2に示すように、試験例3で用いたPFAフィルム130をフィルムロール131から連続して押し出し、インプリント装置133を用いて、パーフルオロポリエーテル系の離型剤で処理したニッケル金属からなるマスターモールド132(直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nm)を、PFAフィルム130に、100℃にて接触させて、PFAフィルム130にパターンを転写した。その後、複数のロール134によって、冷却等の加工を行い、切断機135を用いて所望の大きさに切断し、連続的にインプリント用フィルムモールドを形成した。さらに、得られたフィルムモールド表面の硬度を高めるために、室温下にて低エネルギー電子線を用いて、窒素雰囲気下で電子線を200kGy照射した(照射条件:加速電圧250kV)。
【0112】
次いで、上記で得られたナノインプリント用フィルムモールドを、PETフィルムの代わりにCOPフィルムを用いること以外は、実施例1と同様にして、積層モールドを得た。
【0113】
得られた積層モールドの表面を走査型電子顕微鏡により観察した結果、直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nmのパターンが良好に形成されていることが確認された。
【0114】
試験例1:離型耐久性試験
実施例1および2で得られた積層モールドの凹凸面上に光硬化樹脂(商品名PAK−01 東洋合成社製)を0.2ml滴下し、その上にポリカーボネートフィルムをかぶせ、Step & Repeat方式からなる連続式光ナノインプリント装置を用い1.0MPaで押しつけたと同時に紫外線照射(10mW/cm
2)を20秒間行うことにより、光硬化樹脂による上記積層モールドとの離型性試験を行った。この離型性試験を連続して行い、225回毎に積層モールド表面の静的接触角(水)を計測した。静的接触角は、接触角測定装置を用いて、水1μLにて実施した。結果を
図3に示す。
【0115】
試験例2:曲げ弾性試験
実施例2および4で得られた積層モールドの曲げ弾性率を、純曲げ試験機で測定した。比較例1として、実施例1で製造したPTFEのフィルムモールド(積層していない)の曲げ弾性率を同様に測定した。結果を表1に示す。
【0116】
【表1】
【0117】
比較例2
比較例2として、PETフィルムモールド(綜研化学製、直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nm)を用いて、上記試験例と同様に光硬化樹脂によるPETフィルムモールドとの離型性試験を実施した。結果を
図3に示す。
【0118】
比較例3
比較例3として、従来のパーフルオロポリエーテル系の離型剤で処理した石英からなるマスターモールド(直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nm)を用いて、上記試験例と同様に光硬化樹脂について離型性試験を実施した。結果を
図3に示す。
【0119】
比較例4
比較例4として、従来のパーフルオロポリエーテル系の離型剤で処理したニッケルからなるマスターモールド(直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nm)を用いて、上記試験例と同様に光硬化樹脂について離型性試験を実施した。結果を
図3に示す。
【0120】
図3から明らかなように、実施例1および2の積層モールドは、比較例2〜4に示す従来品等と比較して離型回数が500回を超えても100°を超える接触角を維持することができた。一方、比較例2のPETフィルムモールドは450回を超えると100°以下となり、比較例3および4の離型処理を施した石英およびニッケルモールドは、200回未満で100°以下となった。
【0121】
実施例4
実施例3で得られた積層モールドの上に光硬化樹脂(商品名PAK−01 東洋合成社製)を0.2ml滴下し、その上にポリカーボネートフィルムをかぶせ、Step & Repeat方式からなる連続式光ナノインプリント装置を用い1.0MPaで押しつけたと同時に紫外線照射(10mW/cm
2)を20秒間行った。
【0122】
その後、樹脂製モールドのパターン面を観察し、モールドには転写欠陥が無いことを確認した。さらに、転写済み樹脂について、走査型電子顕微鏡および原子間力顕微鏡にてパターン面を観察したところ、パターンが良好に形成されていることが確認された(直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nm)。また、この樹脂製モールドを使用して900ショットの連続光ナノインプリントを行った。その結果、転写欠陥が無く良好にインプリントすることができることが確認された。
【0123】
実施例5
実施例4で使用した光硬化樹脂の代わりに、ゾルゲル系材料(水素シルセスキオキサン(Hydrogen Silsesquioxane: HSQ))を用い、これをガラス基板上に塗布して、40MPaでインプリントしたところ、ゾルゲル系素材がパターン形成されていることが原子力間顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)の断面観察にて確認された(直径230nm、ピッチ460nm、深さ200nm)。また、この樹脂製モールドを使用して5ショットの連続インプリントを行った。その結果、転写欠陥が無くインプリントすることができることが確認された。
【0124】
試験例3:繰り返しナノインプリント時の離型力測定
実施例1および3で得られた積層モールドおよび比較例2のPETフィルムモールド面上に光硬化樹脂(商品名PAK−01 東洋合成社製)を0.2ml滴下し、その上にポリカーボネートフィルムをかぶせ、Step & Repeat方式からなる連続式光ナノインプリント装置を用い1.0MPaで押しつけたと同時に紫外線照射(10mW/cm
2)を20秒間行うことにより、光硬化樹脂と上記積層モールドとの離型力を評価した。
【0125】
実施例1および3の積層モールドにおける450回および900回離型時の離型力は、それぞれ、約2.0N(実施例3:450回)、約8.0N(実施例1:450回)、および約4.0N(実施例3:900回)、約8.0N(実施例1:900回)であったが、比較例2のフィルムモールドは、約8.0N(450回)であるがグラフから離型力が不安定なためモールドとしての使用に適さないことが確認された。