特許 6495103 電圧検出プローブおよび測定装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6495103

(24)【登録日】2019年3月15日

(45)【発行日】2019年4月3日

(54)【発明の名称】電圧検出プローブおよび測定装置

(51)【国際特許分類】

   G01R 15/06 20060101AFI20190325BHJP

   G01R 1/067 20060101ALI20190325BHJP

   G01R 19/00 20060101ALI20190325BHJP

【ＦＩ】

   G01R15/06 A

   G01R1/067 E

   G01R19/00 A

【請求項の数】11

【全頁数】19

(21)【出願番号】特願2015-109358(P2015-109358)

(22)【出願日】2015年5月29日

(65)【公開番号】特開2016-223866(P2016-223866A)

(43)【公開日】2016年12月28日

【審査請求日】2018年3月19日

(73)【特許権者】

【識別番号】000227180

【氏名又は名称】日置電機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100104787

【弁理士】

【氏名又は名称】酒井 伸司

(72)【発明者】

【氏名】笠井 真

【審査官】 小川 浩史

(56)【参考文献】

【文献】 実開昭５６−３８８７１（ＪＰ，Ｕ）

【文献】 実開平２−１０３２７４（ＪＰ，Ｕ）

【文献】 特開２００３−２０４３７１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許第６７５６７９９（ＵＳ，Ｂ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｒ １５／０６

Ｇ０１Ｒ １／０６７

Ｇ０１Ｒ １９／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

先端部が測定対象導体に引っ掛ける引掛け部に形成されると共に基端部が接続ケーブルに接続される棒状の検出電極を備え、
前記検出電極の表面には、絶縁体層が形成され、
前記引掛け部における前記測定対象導体との対向面の少なくとも一部に規定された非形成領域を除く前記絶縁体層の表面には、前記検出電極に対して電気的に絶縁された導電体層が形成され、
前記検出電極は、前記引掛け部に引っ掛けられた前記測定対象導体と前記非形成領域を介して容量結合可能に構成されている電圧検出プローブ。

【請求項2】

前記引掛け部は、前記検出電極の軸線に対して交差する方向に沿って前記先端部に凹溝が設けられることによって形成されている請求項１記載の電圧検出プローブ。

【請求項3】

前記凹溝における前記交差する方向と平行であって互いに対向する一対の内壁面のうちの前記検出電極の先端側に位置する先端側内壁面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として前記基端部側に傾斜している請求項２記載の電圧検出プローブ。

【請求項4】

前記一対の内壁面のうちの前記基端部側に位置する基端側内壁面は、前記基準平面を基準として、前記先端側内壁面よりも前記基端部側に傾斜している請求項３記載の電圧検出プローブ。

【請求項5】

前記非形成領域は、前記先端側内壁面に規定されている請求項３または４記載の電圧検出プローブ。

【請求項6】

前記導電体層は、電気的絶縁性を有する被覆層で覆われている請求項１から５のいずれかに記載の電圧検出プローブ。

【請求項7】

前記検出電極は、前記基端部において前記絶縁体層および前記導電体層から露出し、
前記導電体層は、前記基端部において前記被覆層から露出している請求項６記載の電圧検出プローブ。

【請求項8】

前記接続ケーブルが接続され、かつ前記基端部側が挿入されると共に前記引掛け部が露出した状態で前記検出電極が固定されたグリップ部と、
筒状に形成されると共に後端開口部から前記グリップ部における前記引掛け部の露出する端部が挿入された状態で当該グリップ部に装着され、かつ前記検出電極の軸線に沿って前記引掛け部が先端開口部から突出する第１位置と当該引掛け部が当該先端開口部内に没入する第２位置との間でスライド自在なシース部と、
前記グリップ部と前記シース部との間に配設されて当該シース部を前記第２位置方向に常時付勢する付勢部材とを備えている請求項１から７のいずれかに記載の電圧検出プローブ。

【請求項9】

前記接続ケーブルは同軸ケーブルで構成され、
前記基端部は、前記グリップ部内において、前記同軸ケーブルの芯線に直接接続されると共に当該同軸ケーブルの外部導体の電位と同電位に規定されたシールド部材で覆われている請求項８記載の電圧検出プローブ。

【請求項10】

請求項１から９のいずれかに記載の電圧検出プローブと、
芯線が前記基端部に直接接続された同軸ケーブルで構成された前記接続ケーブルを介して前記電圧検出プローブに接続された本体ユニットと、
前記本体ユニット内に配設されて、前記同軸ケーブルの前記芯線および前記検出電極を介して前記測定対象導体の電圧を検出すると共に当該電圧に応じて変化する電圧信号を出力する電圧検出部と、
前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧信号に基づいて前記測定対象導体の前記電圧に追従する電圧を生成すると共に前記同軸ケーブルの外部導体に印加する電圧生成部と、
前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧生成部で生成される前記電圧に基づいて前記測定対象導体の前記電圧を測定する処理部とを備え、
前記電圧検出部は、前記電圧生成部で生成される前記電圧の電位を基準とするフローティング電圧で作動する測定装置。

【請求項11】

前記電圧検出部は、演算増幅器を備えて構成された電流電圧変換回路を有し、
前記演算増幅器は、反転入力端子が前記芯線を介して前記基端部に接続されると共に、非反転入力端子が前記電圧生成部で生成される前記電圧の前記電位に規定され、
前記同軸ケーブルの外部導体は、前記電圧生成部で生成される前記電圧の前記電位に規定されると共に、前記電圧検出プローブ側において前記導電体層に接続されている請求項１０記載の測定装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、測定対象導体の電圧を検出可能に構成された電圧検出プローブ、およびこの電圧検出プローブを備えた測定装置に関するものである。

【背景技術】

【0002】

この種の電圧検出プローブとして、本願出願人は、下記の特許文献１〜３において、種々の形態の電圧検出プローブ（以下、単に「検出プローブ」ともいう）を開示している。例えば、特許文献１では、閉状態において測定対象電線を取り囲んで環状の閉磁路を形成する磁気コアが内蔵されたクランプ部を備えた検出プローブを開示している。また、特許文献２では、電圧測定用センサ基板を収容するセンサ基板収容部と、回動軸を介してセンサ基板収容部に回動可能に軸支されて、測定対象導線をセンサ基板収容部との間で挟持する測定対象電線押付け部とを備えた構成の検出プローブを開示している。また、特許文献３では、内部に電圧検出用の検知電極と磁石とが配置された電圧検出部を備え、電圧検出部が設けられた測定プローブの先端部を磁石の磁力によって位置決めしつつ測定対象電線に押し当てる構成の検出プローブを開示している。これらの検出プローブは、いずれも、その検出用の電極を測定対象電線の導電部位に直接接触させることなく互いに容量結合させるだけで、この導電部位の電圧を検出し得る検出プローブ（いわゆる非接触型電圧検出プローブ）として構成されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２０１２−１３７４９６号公報（第５頁、第１図）

【特許文献2】特開２０１４−５２３２９号公報（第５−８頁、第１−３図）

【特許文献3】特開２０１４−１６３６７０号公報（第５−８頁、第１−３図）

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

ところが、上記した各検出プローブには、以下のような改善すべき課題が存在している。すなわち、これらの検出プローブは、電圧検出用の電極の近傍に、磁気コアが配置されていたり、クランプや挟持のための機構が配置されていたり、磁石が配置されていたりする構成のため、外形、特に電圧検出用の電極を含む部位の形状が大きくなっている。

【0005】

したがって、これらの検出プローブは、例えば、架線や、架線から屋内への引込線や、屋内配線などに使用される電線（通常は被覆電線）のように、検出プローブを装着する部位の近傍（周囲）にある程度の広さの空間が存在している測定対象導体には使用することは可能となっている。ところが、これらの検出プローブでは、例えば、電子機器内に配設された回路基板に作動用電圧を供給するための小径（例えば、直径が２ｍｍ以下）の配線材であって、通常は他の同じような小径の配線材と共に結束された状態で引き回される配線材の１本や、回路基板に実装されたディスクリート部品であってある程度の長さのリード線が露出している電子部品のこのリード線の１本や、回路基板に実装されている柱状のテストポイントの１本のように、他の導体（他の配線材や、他のリード線や、テストポイントが実装された配線パターンに近接する他の配線パターン）と極めて近接した状態で存在している１本の導体に装着するのは難しく、この点を改善すべきとの課題が存在している。

【0006】

本発明は、かかる課題を改善するためになされたものであり、他の導体と極めて近接した状態で存在している測定対象導体に装着し得る電圧検出プローブ、およびこの電圧検出プローブを備えた測定装置を提供することを主目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記目的を達成すべく請求項１記載の電圧検出プローブは、先端部が測定対象導体に引っ掛ける引掛け部に形成されると共に基端部が接続ケーブルに接続される棒状の検出電極を備え、前記検出電極の表面には、絶縁体層が形成され、前記引掛け部における前記測定対象導体との対向面の少なくとも一部に規定された非形成領域を除く前記絶縁体層の表面には、前記検出電極に対して電気的に絶縁された導電体層が形成され、前記検出電極は、前記引掛け部に引っ掛けられた前記測定対象導体と前記非形成領域を介して容量結合可能に構成されている。

【0008】

請求項２記載の電圧検出プローブは、請求項１記載の電圧検出プローブにおいて、前記引掛け部は、前記検出電極の軸線に対して交差する方向に沿って前記先端部に凹溝が設けられることによって形成されている。

【0009】

請求項３記載の電圧検出プローブは、請求項２記載の電圧検出プローブにおいて、前記凹溝における前記交差する方向と平行であって互いに対向する一対の内壁面のうちの前記検出電極の先端側に位置する先端側内壁面は、前記軸線と直交する基準平面を基準として前記基端部側に傾斜している。

【0010】

請求項４記載の電圧検出プローブは、請求項３記載の電圧検出プローブにおいて、前記一対の内壁面のうちの前記基端部側に位置する基端側内壁面は、前記基準平面を基準として、前記先端側内壁面よりも前記基端部側に傾斜している。

【0011】

請求項５記載の電圧検出プローブは、請求項３または４記載の電圧検出プローブにおいて、前記非形成領域は、前記先端側内壁面に規定されている。

【0012】

請求項６記載の電圧検出プローブは、請求項１から５のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記導電体層は、電気的絶縁性を有する被覆層で覆われている。

【0013】

請求項７記載の電圧検出プローブは、請求項６記載の電圧検出プローブにおいて、前記検出電極は、前記基端部において前記絶縁体層および前記導電体層から露出し、前記導電体層は、前記基端部において前記被覆層から露出している。

【0014】

請求項８記載の電圧検出プローブは、請求項１から７のいずれかに記載の電圧検出プローブにおいて、前記接続ケーブルが接続され、かつ前記基端部側が挿入されると共に前記引掛け部が露出した状態で前記検出電極が固定されたグリップ部と、筒状に形成されると共に後端開口部から前記グリップ部における前記引掛け部の露出する端部が挿入された状態で当該グリップ部に装着され、かつ前記検出電極の軸線に沿って前記引掛け部が先端開口部から突出する第１位置と当該引掛け部が当該先端開口部内に没入する第２位置との間でスライド自在なシース部と、前記グリップ部と前記シース部との間に配設されて当該シース部を前記第２位置方向に常時付勢する付勢部材とを備えている。

【0015】

請求項９記載の電圧検出プローブは、請求項８記載の電圧検出プローブにおいて、前記接続ケーブルは同軸ケーブルで構成され、前記基端部は、前記グリップ部内において、前記同軸ケーブルの芯線に直接接続されると共に当該同軸ケーブルの外部導体の電位と同電位に規定されたシールド部材で覆われている。

【0016】

請求項１０記載の測定装置は、請求項１から９のいずれかに記載の電圧検出プローブと、芯線が前記基端部に直接接続された同軸ケーブルで構成された前記接続ケーブルを介して前記電圧検出プローブに接続された本体ユニットと、前記本体ユニット内に配設されて、前記同軸ケーブルの前記芯線および前記検出電極を介して前記測定対象導体の電圧を検出すると共に当該電圧に応じて変化する電圧信号を出力する電圧検出部と、前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧信号に基づいて前記測定対象導体の前記電圧に追従する電圧を生成すると共に前記同軸ケーブルの外部導体に印加する電圧生成部と、前記本体ユニット内に配設されて、前記電圧生成部で生成される前記電圧に基づいて前記測定対象導体の前記電圧を測定する処理部とを備え、前記電圧検出部は、前記電圧生成部で生成される前記電圧の電位を基準とするフローティング電圧で作動する。
請求項１１記載の測定装置は、請求項１０記載の測定装置において、前記電圧検出部は、演算増幅器を備えて構成された電流電圧変換回路を有し、前記演算増幅器は、反転入力端子が前記芯線を介して前記基端部に接続されると共に、非反転入力端子が前記電圧生成部で生成される前記電圧の前記電位に規定され、前記同軸ケーブルの外部導体は、前記電圧生成部で生成される前記電圧の前記電位に規定されると共に、前記電圧検出プローブ側において前記導電体層に接続されている。

【発明の効果】

【0017】

請求項１記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置では、検出電極は、先端部が引掛け部に形成され、基端部に接続ケーブルが接続された棒状に形成され、検出電極の表面には、引掛け部における測定対象導体との対向面に非形成領域が規定された状態で、かつ検出電極と電気的に絶縁された状態で導電体層が形成されている。

【0018】

したがって、この電圧検出プローブおよび測定装置によれば、測定対象導体とする１本の導体に引っ掛け得る引掛け部を先端部に形成し得る限りにおいて、細い棒状体で検出電極を形成することができ、かつこの検出電極の表面に上記の構成の導電体層を形成するという簡易な構成でありながら、測定対象導体と検出電極との間の容量結合を可能としつつ検出電極のシールドも可能となることから、他の導体と極めて近接した状態で存在している測定対象導体に対しても、外乱の検出電極への影響を導電体層によって低減しつつ、引掛け部を引っ掛けて検出電極を装着することができる結果、測定対象導体の電圧を確実かつ容易に測定することができる。

【0019】

請求項２記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置によれば、棒状の検出電極の先端部に切削加工などの簡易な手法で凹溝を設けて引掛け部を形成する構成のため、例えば、棒状の検出電極の先端部を折曲して形成した引掛け部とは異なり、引掛け部の大きさを検出電極の太さと同程度とすることができる。したがって、この検出プローブおよびこの測定装置によれば、近接する他の導体との間の距離がより短い測定対象導体に対しても装着してその電圧を測定することができる。

【0020】

請求項３記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置によれば、先端側内壁面を基端部側に傾斜させる構成としたことにより、検出プローブを測定対象導体に引っ掛けた際に、引掛け部から測定対象導体を外れにくくすることができる。

【0021】

請求項４記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置によれば、基端側内壁面を先端側内壁面よりも基端部側に傾斜させる構成としたことにより、先端側内壁面を基端部側に傾斜させたときの効果（引掛け部から測定対象導体を外れにくくできるとの効果）を維持しつつ、測定対象導体の凹溝内への収容の更なる容易性を実現することができる。

【0022】

請求項５記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置によれば、検出プローブを測定対象導体に引っ掛けた際に、測定対象導体と主として接触することになる先端側内壁面全体を導電体層の非形成領域とする構成や、先端側内壁面の一部のみを非形成領域とする構成を採用することで、凹溝の内面におけるこの部位以外の部位についても導電体層を形成することができる。したがって、検出電極と測定対象導体とのこの非形成領域を介した容量結合を可能としつつ、検出電極に対する導電体層のシールド効果を一層高めて、測定対象導体の電圧の測定精度をさらに向上させることができる。

【0023】

請求項６記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置によれば、測定対象導体に隣接して他の導体が存在しているときであっても、この被覆層の存在により、測定対象導体とこの他の導体が検出電極の表面に形成された導電体層を介して短絡するといった事態の発生を確実に防止することができる。

【0024】

請求項７記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置によれば、検出電極はその基端部において絶縁体層および導電体層から露出し、導電体層は検出電極の基端部において被覆層から露出する構成のため、グリップ部に挿入された検出電極の基端部側での接続ケーブルと、検出電極および導電体層との接続を容易に行うことができる。

【0025】

請求項８記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置によれば、凹溝内に収容された状態の測定対象導体を、付勢部材の付勢力により、凹溝の先端側内壁面とシース部における先端開口部の口縁との間で挟持することができるため、検出プローブから手を放した状態においても、引掛け部を測定対象導体に引っ掛けた状態が維持される結果、測定対象導体の電圧の測定作業についての作業性を向上させることができる。

【0026】

請求項９記載の電圧検出プローブおよび請求項１０記載の測定装置によれば、検出電極の基端部側を、グリップ部内において、同軸ケーブルの外部導体の電位と同電位に規定されたシールド部材で覆う構成としたことにより、凹溝の内面に規定された導電体層の非形成領域を除く他のすべての検出電極の表面、および検出電極への接続のために露出状態となっている同軸ケーブルの芯線を、隙間無くシールドすることができる結果、測定対象導体の電圧の測定精度の更なる向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【0027】

【図1】検出プローブ１の構成図である。

【図2】図１の検出電極１１およびプランジャ２の構造を説明するための軸線Ｌに沿った断面図である。

【図3】図１のプランジャ２の基端側でのシールド構造を説明するための軸線Ｌに沿った断面図である。

【図4】図１のプランジャ２の基端側での他のシールド構造を説明するための軸線Ｌに沿った断面図である。

【図5】検出プローブ１による測定対象導体８に対する引っ掛け操作を説明するための説明図（シース部４が第１位置に位置する状態での図）である。

【図6】図５の状態のプランジャ２の凹溝２２内に測定対象導体８を収容する操作を説明するための説明図である。

【図7】シース部４と検出電極１１とによって凹溝２２内の測定対象導体８を挟持した状態を説明するための説明図である。

【図8】測定装置ＭＤの構成図である。

【図9】検出電極１１の他の凹溝２２の構成を説明するための要部拡大図である。

【図10】図９の検出電極１１の斜視図である。

【図11】シース部４と図９，１０に示す検出電極１１とによって凹溝２２内の測定対象導体８を挟持した状態を説明するための説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0028】

以下、電圧検出プローブおよび測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

【0029】

最初に、図１に示す電圧検出プローブとしての電圧検出プローブ（以下、単に「検出プローブ」ともいう）１の構成について、図面を参照して説明する。

【0030】

この検出プローブ１は、一例として、図１に示すように、プランジャ２、グリップ部３、シース部４および付勢部材５を備え、後述の本体ユニット６（図８参照）と共に測定装置ＭＤを構成する。また、検出プローブ１は、接続ケーブル７の一例としての同軸ケーブル（以下、同軸ケーブル７ともいう）を介して本体ユニット６と接続されると共に、測定対象導体８（図６，７参照）にプランジャ２の先端部（同図中の左端部）を引っ掛けて使用される。この場合、接続ケーブルとしては、同軸ケーブル７に限定されるものではなく、ツイストペア線などを使用することができる。

【0031】

プランジャ２は、図２に示すように、検出電極１１、絶縁体層１２、導電体層１３および被覆層１４を備えている。

【0032】

具体的には、検出電極１１は、プランジャ２の本体を構成する部材であって、図１，２に示すように、導電性材料（導電性を有する金属材料）を用いて外形が棒状の剛性体（言い換えれば、剛性を有する棒状体）に形成されると共に、先端部が測定対象導体８を引っ掛ける引掛け部２１に形成されている。本例では一例として、引掛け部２１は、検出電極１１の軸線Ｌに対して交差する方向（本例では一例として直交する方向。つまり、図紙面の手前側から奥側に向かう方向）に沿って検出電極１１の先端部に凹溝２２が設けられることで、全体としてフック状に形成されている。なお、本例の凹溝２２は、一例として図１，２に示すように、底面側が弧状に湾曲する側面視Ｕ字状に形成される構成であるが、これに限定されるものではなく、図示はしないが、底面側が平面状に形成された側面視コ字状に形成される構成であってもよい。また、凹溝２２は、例えば切削加工などの手法によって形成されている。

【0033】

また、検出電極１１の先端部をフック状の引掛け部２１に形成する構成としては、上記したように、検出電極１１の先端部を曲げることなく凹溝２２を形成するだけでフック状の引掛け部２１に形成する構成だけでなく、図示はしないが、例えば、細い棒状体で構成された検出電極１１の先端部をＬ字状やＵ字状やＶ字状に折曲するという構成を採用することもできる。この構成の引掛け部では、検出電極の先端部における折曲部位と、この折曲部位に隣接する非折曲部位のそれぞれの対向面が、測定対象導体８との対向面となる。このため、導電体層１３における後述の非形成領域は、これらの対向面の少なくとも一部に規定するようにする。

【0034】

本例の検出プローブ１が使用される測定対象導体８は、背景技術で説明した各種の検出プローブでは装着することが困難であった導体、例えば、通常は他の同じような小径な配線材と共に結束された状態で引き回される小径な配線材の１本や、回路基板に実装された電子部品のリード線の１本や、回路基板に実装された１本のテストポイントなどのように、他の導体（他の配線材や、他のリード線や、テストポイントが実装された配線パターンに近接する他の配線パターンなど）と極めて近接した状態で存在している１本の小径な導体である。

【0035】

このため、この検出プローブ１の検出電極１１では、このような小径の導体が測定対象導体８として収容可能な幅および深さの凹溝２２を先端部に形成し得る限りにおいて、より細い棒状体を使用することが可能となっている。また、測定対象導体８とこの測定対象導体８に隣接する他の導体との間の距離が短い状態であっても測定対象導体８に引っ掛けることができるようにするためにも、検出電極１１に使用する棒状体は、なるべく細いものであるのが好ましい。また、検出電極１１は、凹溝２２を形成して引掛け部２１とする先端部だけが細い棒状であって、後述するようにグリップ部３内に挿入される基端部側が先端部側よりも太い棒状とする構成を採用することもできるが、図１，２に示すように、より加工の手間の少ないほぼ均一な太さの棒状とするのが好ましい。例えば、上記のような小径（直径が約２ｍｍ）の配線材を収容するためには、凹溝２２は、例えば、２ｍｍよりも若干深い深さで、かつ２ｍｍよりも若干広い幅（開口幅）に形成する必要がある。このため、例えば、断面円形の棒状の部材（つまり、円柱部材）で検出電極１１を構成するときには、例えば直径が約３ｍｍ〜４ｍｍ程度の円柱状の部材を使用するのが好ましい。なお、より小径の導体だけを測定対象導体８とするときには、この測定対象導体８の太さに合わせて凹溝２２の深さや開口幅を縮めることができることから、より細い棒状体（例えば、約２ｍｍ前後の太さの棒状体）で検出電極１１を構成できるのは勿論である。

【0036】

凹溝２２は、本例では一例として、図２に示すように、この凹溝２２における上記の交差する方向と平行であって互いに対向する一対の内壁面２２ａ，２２ｂのうちの検出電極１１の先端側（同図中の左端側）に位置する先端側内壁面としての内壁面２２ａは軸線Ｌと直交する基準平面ＰＬ（図紙面と直交する平面）とほぼ平行に形成され、また一対の内壁面２２ａ，２２ｂのうちの検出電極１１の基端側（同図中の右端側）に位置する基端側内壁面としての内壁面２２ｂもこの基準平面ＰＬとほぼ平行に形成されている。

【0037】

絶縁体層１２は、一例として、図１，２に示すように、検出電極１１の表面における基端側の部位（本例では一例として、基端側の端面、およびこの端面から一定の距離（例えば数ｍｍ）内に含まれる外周面）を除く他のすべての部位に形成されている。一例として、本例では、絶縁体層１２は、電気的絶縁性を有する合成樹脂材料を用いて、例えばコンマ数ｍｍ程度（一例として０．１ｍｍ程度）の厚みで検出電極１１の表面に形成されている。

【0038】

導電体層１３は、一例として、図２に示すように、引掛け部２１における測定対象導体８との対向面ＳＵに非形成領域（導電体層１３を形成しない領域）が規定された状態で、かつ検出電極１１の表面との間に絶縁体層１２を介在させることによって検出電極１１に対して電気的に絶縁された状態で検出電極１１の表面（つまり、絶縁体層１２の表面）に形成されている。本例では、検出電極１１に凹溝２２を形成することによって引掛け部２１が形成されて、この凹溝２２内に測定対象導体８を収容することで、測定対象導体８に検出プローブ１を引っ掛ける。このため、この検出プローブ１では、凹溝２２の内面全体（各内壁面２２ａ，２２ｂおよび凹溝２２の底壁面２２ｃ）が対向面ＳＵとなっている。

【0039】

本例の検出プローブ１では、一例として、この対向面ＳＵ全体（つまり、凹溝２２の内面全体）を導電体層１３についての上記の非形成領域として規定して、凹溝２２の内面全体に亘って導電体層１３を形成しないようにつつ、検出電極１１の表面におけるこの内面を除く他の殆どの部位については導電体層１３を形成する構成を採用している。この構成により、この検出プローブ１では、導電体層１３によって検出電極１１を良好にシールドしつつ（検出電極１１への外乱の影響を導電体層１３で大幅に低減しつつ）、凹溝２２内に収容された測定対象導体８と検出電極１１とを、対向面ＳＵ（凹溝２２の内面）に規定された導電体層１３の非形成領域を介して容量結合させることが可能となっている。

【0040】

また、上記したように、凹溝２２の内面全体が測定対象導体８との対向面ＳＵであることから、凹溝２２の内面のうちの非形成領域として規定する部位は、凹溝２２の内面を構成する各内壁面２２ａ，２２ｂおよび底壁面２２ｃのうちの少なくとも１つの壁面の部位であればよい。このため、凹溝２２の内面全体を導電体層１３についての非形成領域と規定する構成に代えて、凹溝２２の各内壁面２２ａ，２２ｂおよび底壁面２２ｃのうちの一部（いずれか１つの壁面の全体若しくは一部、いずれか２つの壁面の全体若しくは一部、またはいずれか３つの壁面の一部）を非形成領域と規定する構成を採用することもできる。

【0041】

このように、凹溝２２の内面のうちの一部のみを導電体層１３についての非形成領域として規定し、かつ凹溝２２の内面におけるこの一部を除く他の部位については導電体層１３を形成する構成を採用することで、凹溝２２に収容された測定対象導体８と検出電極１１とを凹溝２２の内面に規定された非形成領域を介して容量結合させつつ、より多くの検出電極１１の表面を導電体層１３で覆うことが可能となることから、導電体層１３によるシールド効果を一層高めることが可能となる。

【0042】

また、特に、本例の検出プローブ１では、後述するように、検出プローブ１を測定対象導体８に引っ掛けた際には、測定対象導体８は、シース部４によって凹溝２２の内壁面２２ａに押し付けられる構成となっている。したがって、本例の検出プローブ１では、この内壁面２２ａ全体、またはこの内壁面２２ａの一部（測定対象導体８が押し付けられる部位を含むその近傍の部位）を非形成領域とする構成が好ましい。

【0043】

また、導電体層１３は、一例として、図１，２に示すように、検出電極１１の基端側においては、絶縁体層１２の基端側の外周面および検出電極１１の基端側の外周面が露出する状態に形成されている。一例として、本例では、導電体層１３は、導電性金属材料を用いて、例えば０．１ｍｍ未満（一例として０．０１ｍｍ程度）の厚みで絶縁体層１２の表面に形成されている。

【0044】

被覆層１４は、一例として、図１，２に示すように、導電体層１３の基端側の外周面、絶縁体層１２の基端側の外周面および検出電極１１の基端側の外周面が露出する状態で、この露出する部位を除く導電体層１３の他のすべての部位の表面に、電気的絶縁性を有する合成樹脂材料などを用いて、例えば０．１ｍｍ未満（一例として０．０５ｍｍ程度）の厚みで形成されている。なお、被覆層１４については、後述するようにしてシース部４の先端開口部３２から突出するプランジャ２の先端部（引掛け部２１）の表面にのみ形成するようにしてもよい。

【0045】

以上の構成により、検出プローブ１では、図１，２に示すように、検出電極１１の基端側において、検出電極１１の外周面が絶縁体層１２から露出し、絶縁体層１２が導電体層１３から露出し、導電体層１３が被覆層１４から露出した状態になっている。

【0046】

グリップ部３は、電気的絶縁性を有する合成樹脂材料を用いて、外形が一例として、図１に示すように、筒状（本例では一例として円筒状）に形成されている。また、グリップ部３には、プランジャ２（絶縁体層１２、導電体層１３および被覆層１４が表面に形成された検出電極１１）が、その基端部側（検出電極１１の基端部側）がグリップ部３の一端側（同図中の左端側：先端部側）からグリップ部３の内部に挿入され、かつ引掛け部２１がグリップ部３から露出した状態で固定されている。

【0047】

また、グリップ部３の他端側（同図中の右端側：後端側）には、同軸ケーブル７が接続されている。また、グリップ部３の内部において、同軸ケーブル７の芯線（内部導体）７ａが検出電極１１の基端側における絶縁体層１２から露出する部位に電気的に接続され、同軸ケーブル７の外部導体７ｂ（例えば編組線で構成されたシールド用導体）が導電体層１３における被覆層１４から露出する部位に電気的に接続されている。この構成により、芯線７ａに接続された検出電極１１は、外部導体７ｂと同電位に規定された導電体層１３により、導電体層１３の非形成領域を除くほぼ全域がシールドされる。

【0048】

また、同軸ケーブル７の外部導体７ｂを導電体層１３における被覆層１４から露出する部位に接続する場合には、芯線７ａおよび検出電極１１の基端側の外周面と、外部導体７ｂとを電気的に確実に絶縁しつつ、芯線７ａおよび検出電極１１の基端側の外周面を外部導体７ｂと同電位に規定されたシールド部材で覆う（シールド）する構成とするのが好ましい。この構成としては、例えば、図３に示すように、芯線７ａおよび検出電極１１の基端側の外周面を絶縁チューブ２３で覆い、この状態において、同軸ケーブル７の筒状の外部導体７ｂを、絶縁チューブ２３上を筒状のままシールド部材として通過させて、先端部分を絶縁チューブ２３と被覆層１４との間の隙間から露出する導電体層１３に接続させる構成を採用することができる。

【0049】

また、図４に示すように、芯線７ａおよび検出電極１１の基端側の外周面を絶縁チューブ２３で覆った状態において、プランジャ２の基端側から同軸ケーブル７の先端側に掛けて、これらの表面をシールド部材としての導電体（導電性フィルムや導電性薄板など）２４で覆い、この導電体２４を外部導体７ｂと電気的に接触させる構成を採用することができる。この図３，４に示す構成を採用することにより、凹溝２２の内面に規定された導電体層１３の非形成領域を除く他のすべての検出電極１１の表面、および検出電極１１への接続のために露出状態となっている同軸ケーブル７の芯線７ａを導電体層１３およびシールド部材で隙間無くシールドすることが可能となる。

【0050】

シース部４は、電気的絶縁性を有する合成樹脂材料を用いて、外形が一例として、図１に示すように、筒状に形成されている。具体的には、シース部４は、一例として、一端側（同図中の左端側：先端側）の形状が、内部にプランジャ２が摺動自在に挿入される貫通孔３１が形成された円錐筒状に形成され、他端側（同図中の右端側：後端側）の形状が、内部にグリップ部３の一端側が挿入可能な内径の円筒状に形成されている。このシース部４は、円筒状の他端側の開口部（他端側開口部）からグリップ部３の一端側（プランジャ２の引掛け部２１が露出する端部側）が挿入され、かつプランジャ２の引掛け部２１が貫通孔３１内に挿入された状態で、グリップ部３に装着される。

【0051】

また、シース部４は、この装着状態において、検出電極１１の軸線Ｌに沿って、引掛け部２１全体が先端開口部（シース部４における貫通孔３１の一端側の開口部３２。以下、「先端開口部３２」ともいう）から突出する第１位置（図５に示す位置）と引掛け部２１が先端開口部３２内に没入する第２位置（図１に示す位置。引掛け部２１全体が貫通孔３１内に収容された位置）との間でスライド可能に構成されている。

【0052】

付勢部材５は、一例として、スプリングコイルで構成されて、グリップ部３の先端側から突出するプランジャ２に外嵌され、かつグリップ部３とシース部４との間で押し縮められた状態で、シース部４の円筒状に形成された他端側の内部に配設されている。この構成により、付勢部材５は、グリップ部３に対してシース部４を、第２位置方向（図１中の左方向）に常時付勢する。

【0053】

本体ユニット６は、図８に示すように、一例として、主電源回路５１、ＤＣ／ＤＣコンバータ（以下、単に「コンバータ」ともいう）５２、電圧検出部５３、電流電圧変換用の抵抗５４、電圧生成部５５、電圧計５６、処理部５７および表示部５８を備えている。

【0054】

主電源回路５１は、本体ユニット６の上記の各構成要素５３〜５８を作動させるための正電圧Ｖｄｄおよび負電圧Ｖｓｓ（第１基準電位としてのグランドＧ１の電位を基準として生成される絶対値が同じで、互いの極性の異なる直流電圧）を出力する。コンバータ５２は、一例として互いに電気的に絶縁された一次巻線および二次巻線を有する絶縁型のトランスと、このトランスの一次巻線を駆動する駆動回路と、トランスの二次巻線に誘起される交流電圧を整流平滑する直流変換部（いずれも図示せず）とを備えて、一次側に対して二次側が電気的に絶縁された絶縁型電源として構成されている。

【0055】

このコンバータ５２では、入力した正電圧Ｖｄｄおよび負電圧Ｖｓｓに基づいて駆動回路が作動して、正電圧Ｖｄｄが印加された状態にあるトランスの一次巻線を駆動して二次巻線に交流電圧を誘起させる。また、直流変換部が、この交流電圧を整流して平滑する。これにより、コンバータ５２の二次側から、この二次側の内部基準電位（第２基準電位）Ｇ２を基準とする正電圧Ｖｆ＋および負電圧Ｖｆ−がフローティング状態（グランドＧ１、正電圧Ｖｄｄおよび負電圧Ｖｓｓと電気的に分離された状態）で生成される。このようにして生成されたフローティング電圧としての正電圧Ｖｆ＋および負電圧Ｖｆ−は、第２基準電位Ｇ２と共に電圧検出部５３に供給される。なお、正電圧Ｖｆ＋および負電圧Ｖｆ−は、絶対値がほぼ同一で、極性が互いに異なる直流電圧として生成される。

【0056】

電圧検出部５３は、電流電圧変換回路５３ａ、積分回路５３ｂ、駆動回路５３ｃおよび絶縁回路５３ｄ（一例として駆動回路５３ｃによって駆動されるフォトカプラを図示しているが、例えば、図示はしないが、フォトカプラに代えて絶縁トランスを使用する構成など、他の種々の構成を採用することができる）を備え、電圧検出部５３における基準電位が上記の第２基準電位Ｇ２に規定された状態で、コンバータ５２から正電圧Ｖｆ＋および負電圧Ｖｆ−の供給を受けて作動する。

【0057】

電流電圧変換回路５３ａは、一例として、非反転入力端子が抵抗を介して電圧検出部５３における第２基準電位Ｇ２に規定された部位に接続（以下、「第２基準電位Ｇ２に接続」ともいう）されると共に、反転入力端子が同軸ケーブル７の芯線７ａ（つまり、この芯線７ａを介して検出プローブ１の検出電極１１）に接続され、かつ帰還抵抗が反転入力端子と出力端子との間に接続された第１演算増幅器を備えて構成されている。この電流電圧変換回路５３ａは、第１演算増幅器が正電圧Ｖｆ＋および負電圧Ｖｆ−で作動して、測定対象導体８の電圧Ｖ１と第２基準電位Ｇ２（電圧生成部５５から出力される電圧信号Ｖ４の電圧でもある）との電位差Ｖｄｉ（図８参照）に起因して、この電位差Ｖｄｉに応じた電流値で測定対象導体８と検出電極１１との間に流れる検出電流（電流信号）Ｉを検出電圧信号Ｖ２に変換して出力する。この場合、検出電圧信号Ｖ２は、その振幅が電流信号Ｉの振幅に比例して変化する。

【0058】

積分回路５３ｂは、一例として、非反転入力端子が抵抗を介して第２基準電位Ｇ２に接続されると共に、反転入力端子が入力抵抗を介して第１演算増幅器の出力端子に接続され、かつ帰還コンデンサが反転入力端子と出力端子との間に接続された第２演算増幅器を備えて構成されている。この積分回路５３ｂは、第２演算増幅器が正電圧Ｖｆ＋および負電圧Ｖｆ−で作動して、検出電圧信号Ｖ２を積分することにより、上記の電位差Ｖｄｉに比例して電圧値が変化する積分信号Ｖ３を生成して出力する。

【0059】

駆動回路５３ｃは、積分信号Ｖ３のレベルに応じて絶縁回路５３ｄをリニア領域で駆動し、駆動された絶縁回路５３ｄは、この積分信号Ｖ３を電気的に分離して新たな積分信号（第１信号）Ｖ３ａとして出力する。つまり、電圧検出部５３は、検出プローブ１と相俟って、測定対象導体８の電圧Ｖ１を示す積分信号Ｖ３ａを出力する。

【0060】

電流電圧変換用の抵抗５４は、一端が負電圧Ｖｓｓに接続されると共に、他端が電圧検出部５３内の対応する絶縁回路５３ｄ（本例ではフォトカプラにおけるフォトトランジスタのコレクタ端子）に接続されている。

【0061】

電圧生成部５５は、積分信号Ｖ３ａを入力して増幅することにより、電圧信号Ｖ４を生成して、電圧検出部５３における第２基準電位Ｇ２に規定された部位に印加する。この電圧信号Ｖ４はその電圧が後述するように測定対象導体８の電圧Ｖ１に応じて変化する。これにより、第２基準電位Ｇ２を基準とするフローティング電圧である正電圧Ｖｆ＋および負電圧Ｖｆ−は、電圧信号Ｖ４の電圧に応じて変化するフローティング電圧となる。

【0062】

この電圧生成部５５は、一例として、電圧検出部５３の第２基準電位Ｇ２（第２基準電位Ｇ２と同電位の同軸ケーブル７の外部導体７ｂ）、検出電極１１および電圧検出部５３（電流電圧変換回路５３ａ、積分回路５３ｂ、駆動回路５３ｃおよび絶縁回路５３ｄ（本例ではフォトカプラ））と共にフィードバックループを形成して、電位差Ｖｄｉを減少させるように積分信号Ｖ３ａを増幅する増幅動作を行うことにより、電圧信号Ｖ４を生成する。

【0063】

本例では、一例として、電圧生成部５５は、図８に示すように、増幅回路５５ａ、位相補償回路５５ｂおよび昇圧回路５５ｃを備えて構成されている。ここで、増幅回路５５ａは、積分信号Ｖ３ａを入力して増幅することにより、電圧信号Ｖ４ａを生成する。この場合、増幅回路５５ａは、積分信号Ｖ３ａの電圧値についての絶対値の増加・減少に対応して、電圧値の絶対値が変化する電圧信号Ｖ４ａを増幅動作によって生成する。位相補償回路５５ｂは、フィードバック制御動作の安定化（発振防止）を図るため、電圧信号Ｖ４ａを入力してその位相を調整して電圧信号Ｖ４ｂとして出力する。昇圧回路５５ｃは、一例として昇圧トランスを用いて構成されて、電圧信号Ｖ４ｂを所定の倍率で昇圧することにより（極性は変えずに絶対を増加させることにより）、電圧信号Ｖ４を生成して第２基準電位Ｇ２に印加する。電圧計５６は、グランドＧ１の電位を基準として電圧信号Ｖ４を測定すると共に、その電圧値をディジタルデータに変換して電圧データＤｖとして出力する。

【0064】

処理部５７は、ＣＰＵおよびメモリ（いずれも図示せず）を備えて構成されて、電圧計５６から出力される電圧データＤｖに基づいて測定対象導体８の電圧Ｖ１を算出する電圧算出処理を実行する。また、処理部５７は、電圧算出処理で算出した電圧Ｖ１を表示部５８に表やグラフの形式で表示させる。表示部５８は、一例として、液晶ディスプレイなどのモニタ装置で構成されている。

【0065】

この検出プローブ１および本体ユニット６を備えた測定装置ＭＤを用いて測定対象導体８の電圧Ｖ１を測定する際には、測定対象導体８にプランジャ２の先端部（引掛け部２１）を引っ掛ける。

【0066】

具体的には、まず、図５に示す矢印方向の外力をシース部４に手で加えることにより、シース部４を図１に示す第２位置から図５に示す第１位置まで付勢部材５の付勢力に抗してスライドさせる（矢印方向にスライドさせる）ことで、図５に示すようにシース部４の開口部３２からプランジャ２の引掛け部２１全体を突出させる。次いで、図６に示すように、引掛け部２１の凹溝２２内に測定対象導体８を収容する（測定対象導体８に引掛け部２１を引っ掛ける）。

【0067】

この場合、この検出プローブ１では、シース部４の開口部３２から突出するプランジャ２の先端部（引掛け部２１全体）の表面全体が電気的絶縁性を有する被覆層１４で覆われているため、測定対象導体８に隣接して他の導体が存在しているときでも、測定対象導体８とこの他の導体とがプランジャ２（具体的には、導電体層１３）を介して短絡するといった事態の発生が防止されている。

【0068】

続いて、シース部４に外力を加えていた手を外す。これにより、シース部４は、加えられていた外力がなくなるため、付勢部材５の付勢力により、図７に示す矢印方向（第２位置方向）に、凹溝２２の内壁面２２ａとシース部４における先端開口部３２の口縁との間で測定対象導体８が挟持されるまでスライドする。以上により、測定対象導体８への検出プローブ１の引っ掛け作業が完了する。

【0069】

この検出プローブ１では、このようにして測定対象導体８が挟持されることにより、引掛け部２１を測定対象導体８に引っ掛けた状態が維持される。したがって、検出プローブ１から手を放した状態においても、測定対象導体８の電圧Ｖ１を測定する際に重要となる測定対象導体８と検出電極１１との間に形成される静電容量Ｃ０（図８参照）の容量値が大きく変動するといった事態の発生が十分に回避されている。これにより、この検出プローブ１は、その検出用の電極である検出電極１１を測定対象導体８に直接接触させることなく互いに容量結合させるだけで、この測定対象導体８の電圧Ｖ１を正確に検出し得るいわゆる非接触型の電圧検出プローブとして機能することが可能に構成されている。

【0070】

この状態において、測定対象導体８の電圧Ｖ１と、電圧検出部５３の第２基準電位Ｇ２の電圧（第２基準電位Ｇ２と同電位となる同軸ケーブル７の外部導体７ｂおよびプランジャ２の導電体層１３の各電圧。つまり、電圧信号Ｖ４の電圧）との電位差Ｖｄｉが増加しているとき（例えば、電圧Ｖ１の上昇に起因して電位差Ｖｄｉが増加しているとき）には、本体ユニット６の電圧検出部５３では、測定対象導体８から検出電極１１を介して電流電圧変換回路５３ａに流れ込む電流信号Ｉの電流量が増加する。この場合、電流電圧変換回路５３ａは、出力している検出電圧信号Ｖ２の電圧値を低下させる。積分回路５３ｂでは、この検出電圧信号Ｖ２の低下に起因して、第２演算増幅器の出力端子からコンデンサを介して反転入力端子に向けて流れる電流が増加する。このため、積分回路５３ｂは、積分信号Ｖ３の電圧を上昇させる。また、この積分信号Ｖ３の電圧上昇に伴い、駆動回路５３ｃのトランジスタが深いオン状態に移行する。これにより、絶縁回路５３ｄ（フォトカプラ）では、その発光ダイオードに流れる電流が増加し、フォトトランジスタの抵抗が減少する。したがって、抵抗５４の抵抗値とフォトトランジスタの抵抗値とで電位差（Ｖｄｄ−Ｖｓｓ）が分圧されて生成される積分信号Ｖ３ａは、その電圧値が低下する。

【0071】

また、本体ユニット６では、電圧生成部５５が、この積分信号Ｖ３ａに基づいて、生成している電圧信号Ｖ４の電圧値を上昇させる。この測定装置ＭＤでは、このようにしてフィードバックループを構成する電流電圧変換回路５３ａ、積分回路５３ｂ、駆動回路５３ｃ、絶縁回路５３ｄおよび電圧生成部５５が、測定対象導体８の電圧Ｖ１の上昇を検出して、電圧信号Ｖ４の電圧値を上昇させるフィードバック制御動作を実行することにより、電圧検出部５３の第２基準電位Ｇ２等の電圧（電圧信号Ｖ４の電圧）を電圧Ｖ１に追従させる。

【0072】

また、電圧Ｖ１の低下に起因して電位差Ｖｄｉが増加したときには、検出電極１１を介して電流電圧変換回路５３ａから測定対象導体８に流れ出る（流出する）電流信号Ｉの電流量が増加する。この際には、フィードバックループを構成する電流電圧変換回路５３ａ等が上記のフィードバック制御動作とは逆の動作でのフィードバック制御動作を実行して、電圧信号Ｖ４の電圧を低下させることにより、電圧検出部５３の第２基準電位Ｇ２等の電圧（電圧信号Ｖ４の電圧）を電圧Ｖ１に追従させる。

【0073】

このようにして、測定装置ＭＤでは、電圧検出部５３の第２基準電位Ｇ２等の電圧（電圧信号Ｖ４の電圧）を電圧Ｖ１に追従させるフィードバック制御動作が短時間に実行されて、電圧検出部５３の第２基準電位Ｇ２等の電圧（電流電圧変換回路５３ａの第１演算増幅器のバーチャルショートにより、検出電極１１の電圧でもある）が電圧Ｖ１に一致させられる（収束させられる）。電圧計５６は、電圧信号Ｖ４の電圧値をリアルタイムで計測して、その電圧値を示す電圧データＤｖを出力する。また、電圧信号Ｖ４は、測定対象導体８の電圧Ｖ１に一旦収束した後は、フィードバックループを構成する各構成要素が上記のように動作することにより、電圧Ｖ１の変動に追従する。したがって、測定対象導体８の電圧Ｖ１を示す電圧データＤｖが電圧計５６から連続して出力される。

【0074】

処理部５７は、電圧計５６から出力された電圧データＤｖを入力してメモりに記憶する。次いで、処理部５７は、電圧算出処理を実行して、電圧データＤｖに基づいて測定対象導体８の電圧Ｖ１を算出してメモリに記憶する。最後に、処理部５７は、メモリに記憶されている測定結果（電圧Ｖ１）を表示部５８に表示させる。これにより、測定装置ＭＤによる測定対象導体８の電圧Ｖ１の測定が完了する。

【0075】

引き続き、他の測定対象導体８の電圧Ｖ１を測定する際には、まず、図５に示す矢印方向の外力をシース部４に手で加えることにより、シース部４を図７に示す位置から図５に示す第１位置方向に向けて（同図に示す矢印方向に向けて）スライドさせることで、凹溝２２の内壁面２２ａとシース部４における先端開口部３２の口縁との間での測定対象導体８の挟持状態を解消する。次いで、凹溝２２内から測定対象導体８を外すことで、測定対象導体８への検出プローブ１の引っ掛け状態を解消する。これにより、検出プローブ１を次の測定対象導体８に引っ掛けることが可能となる。

【0076】

このように、この検出プローブ１およびこの検出プローブ１を備えた測定装置ＭＤでは、検出電極１１は、先端部が引掛け部２１に形成され、基端部に同軸ケーブル７の芯線７ａが接続された棒状に形成され、検出電極１１の表面には、引掛け部２１における測定対象導体８との対向面ＳＵに非形成領域が規定された状態で、かつ検出電極１１と電気的に絶縁された状態で導電体層１３が形成されると共にこの導電体層１３に同軸ケーブル７の外部導体７ｂが接続されている。

【0077】

したがって、この検出プローブ１およびこの検出プローブ１を備えた測定装置ＭＤによれば、測定対象導体８とする１本の導体に引っ掛け得る引掛け部２１を先端部に形成し得る限りにおいて、細い棒状体で検出電極１１を形成することができ、かつこの検出電極１１の表面に上記の構成の導電体層１３を形成するという簡易な構成でありながら、測定対象導体８と検出電極１１との間の容量結合を可能としつつ検出電極１１のシールドも可能となることから、背景技術で説明した各種の検出プローブでは装着することが困難であった他の導体と極めて近接した状態で存在している測定対象導体８に対しても、外乱の検出電極１１への影響を導電体層１３によって低減しつつ、引掛け部２１を引っ掛けて検出電極１１を装着することができる結果、その電圧Ｖ１を確実かつ容易に測定することができる。

【0078】

また、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤによれば、細い棒状の検出電極１１の先端部に切削加工などの簡易な手法で凹溝２２を設けて引掛け部２１を形成する構成のため、例えば、細い棒状の検出電極１１の先端部を折曲して形成した引掛け部２１とは異なり、引掛け部２１の大きさを検出電極１１の太さと同程度とすることができる。したがって、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤによれば、近接する他の導体との間の距離がより短い測定対象導体８に対しても装着して、その電圧Ｖ１を測定することができる。

【0079】

また、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤによれば、凹溝２２内に収容された状態の測定対象導体８を、付勢部材５の付勢力により、凹溝２２の内壁面２２ａとシース部４における先端開口部３２の口縁との間で挟持することができるため、検出プローブ１から手を放した状態においても、引掛け部２１を測定対象導体８に引っ掛けた状態が維持される結果、電圧Ｖ１の測定作業についての作業性を向上させることができる。

【0080】

また、このように測定対象導体８を、凹溝２２の内壁面２２ａ（先端側内壁面）とシース部４における先端開口部３２の口縁との間で挟持する構成のときには、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤによれば、上記したように、内壁面２２ａ全体を導電体層１３の非形成領域とする構成や、内壁面２２ａの一部のみ（測定対象導体８が押し付けられる部位を含むその近傍の部位のみ）を非形成領域とする構成を採用して、凹溝２２の内面におけるこの部位以外の部位に導電体層１３を形成することができる。したがって、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤによれば、検出電極１１と測定対象導体８とのこの非形成領域を介した容量結合を可能としつつ、導電体層１３によってより多くの検出電極１１の表面を覆うようにできることから、検出電極１１に対する導電体層１３のシールド効果（外乱の低減効果）を一層高めることができ、電圧Ｖ１の測定精度をさらに向上させることができる。

【0081】

なお、グリップ部３を手で持った状態のままで、引掛け部２１を測定対象導体８に引っ掛けて電圧Ｖ１を測定する作業を常時行う構成のときには、シース部４および付勢部材５を省く構成とすることもできるが、この構成においても、手からグリップ部３に対してグリップ部３を引き下げる方向の外力が通常は作用することから、引掛け部２１の内面を構成する内壁面２２ａが主として測定対象導体８と接触する。したがって、上記のように、内壁面２２ａ全体を導電体層１３の非形成領域とする構成や、内壁面２２ａの一部のみを非形成領域とする構成を採用することで、検出電極１１と測定対象導体８とのこの非形成領域を介した容量結合を可能としつつ、検出電極１１に対する導電体層１３のシールド効果を一層高めて、電圧Ｖ１の測定精度を向上させることができる。

【0082】

また、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤでは、電気的絶縁性を有する被覆層１４で導電体層１３を覆う構成のため、シース部４の開口部３２から突出するプランジャ２の先端部（引掛け部２１全体）の表面全体も被覆層１４で覆われている。したがって、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤによれば、測定対象導体８に隣接して他の導体が存在しているときであっても、測定対象導体８とこの他の導体がプランジャ２（具体的には、導電体層１３）を介して短絡するといった事態の発生を確実に防止することができる。

【0083】

また、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤでは、検出電極１１は、その基端部において絶縁体層１２および導電体層１３から露出し、導電体層１３は、検出電極１１の基端部において被覆層１４から露出している。したがって、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤによれば、グリップ部３に挿入されたプランジャ２の基端部側での同軸ケーブル７の芯線７ａと検出電極１１との接続、および同軸ケーブル７の外部導体７ｂと導電体層１３との接続を容易に行うことができる。

【0084】

また、この検出プローブ１およびこの測定装置ＭＤによれば、プランジャ２（つまり、検出電極１１）の基端部側を、グリップ部３内において、同軸ケーブル７の外部導体７ｂの電位と同電位に規定されたシールド部材（筒状の状態の外部導体７ｂや導電体２４）で覆う構成としたことにより、凹溝２２の内面に規定された導電体層１３の非形成領域を除く他のすべての検出電極１１の表面、および検出電極１１への接続のために露出状態となっている同軸ケーブル７の芯線７ａを、隙間無くシールドすることができる結果、電圧Ｖ１の測定精度の更なる向上を図ることができる。

【0085】

また、上記の例では、凹溝２２の内面を構成する各内壁面２２ａ，２２ｂを、検出電極１１の軸線Ｌと直交する基準平面ＰＬとほぼ平行に形成する構成を採用しているが、図９、１０に示す検出電極１１のように、検出電極１１の先端側に位置する内壁面２２ａを、軸線Ｌと直交する基準平面ＰＬを基準として検出電極１１の基端部側に傾斜させる構成（つまり、軸線Ｌ（軸線Ｌを含む仮想平面）と内壁面２２ａとの角度θ１を鋭角にする構成）を採用することもできる。この構成によれば、検出プローブ１を測定対象導体８に引っ掛けた際に、引掛け部２１から測定対象導体８を外れにくくすることができる。また、図１１に示すように、例えば、先端開口部３２の口縁全体を含む仮想平面ＰＬ１が基準平面ＰＬに対して平行であるとしたときに、凹溝２２の内壁面２２ａとシース部４における先端開口部３２の口縁との間で測定対象導体８を挟持した際における内壁面２２ａと先端開口部３２の口縁全体を含む仮想平面ＰＬ１との間の距離を、凹溝２２の底壁面２２ｃから離間するに従って短くなるように規定することができ、これにより、挟持された測定対象導体８が内壁面２２ａと先端開口部３２の口縁との間から抜脱するという事態の発生をより確実に防止することができる。

【0086】

なお、このように内壁面２２ａを検出電極１１の基端部側に傾斜させる構成を採用したときには、図２に示す構成の凹溝２２を採用したときと同程度の測定対象導体８の凹溝２２内への収容の容易性を確保するためには、図示はしないが、内壁面２２ａと対向する他の内壁面２２ｂについても、内壁面２２ａと同程度に傾斜させるのが好ましい。

【0087】

また、上記のような内壁面２２ａを傾けたときの効果（引掛け部２１から測定対象導体８を外れにくくできるとの効果）を維持しつつ、測定対象導体８の凹溝２２内への収容の更なる容易性を実現するためには、図９，１０に示すように、一対の内壁面２２ａ，２２ｂのうちの基端部側に位置する内壁面２２ｂを、基準平面ＰＬを基準として内壁面２２ａよりも基端部側に傾斜させる構成（軸線Ｌ（軸線Ｌを含む仮想平面）と内壁面２２ｂとの角度θ２を角度θ１よりも鋭角にする構成）を採用することもできる。

【符号の説明】

【0088】

１ 検出プローブ
２ プランジャ
３ グリップ部
４ シース部
５ 付勢部材
７ 同軸ケーブル
７ａ 芯線
７ｂ 外部導体
８ 測定対象導体
１１ 検出電極
１２ 絶縁体層
１３ 導電体層
１４ 被覆層
２１ 引掛け部
２２ 凹溝
２２ａ，２２ｂ 内壁面

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】