【実施例】
【0024】
次に、いくつかの実験結果によって、上記実施形態をより詳細に説明する。なお、以下の各表における空欄は、実験または分析を行なわなかったことを意味する。
【0025】
Cu・W混合粉末を用いて、SLS法により、後述する各種特性測定用の試験片を作製した。作製はYbファイバーレーザーを用いた粉末積層造形システム(EOS GmbH、M290)を用い、積層厚0.01〜0.06mm、レーザー出力200〜400Wの条件で行った。比較のために、銅粉末のみを用いて同様なSLM法により純銅の試験片を作製した。レーザー光の走査パターンおよび速度は、下記試料Cu1.3Wが最も緻密になる条件を予め求めて、試料Cu、Cu0.2W、Cu0.5WおよびCu1.3Wはその条件でレーザー光を照射した。タングステン粉末の割合がそれより多い試料では、レーザー光の吸収率に合わせて、走査速度等を適宜調節した。
【0026】
表1に、積層造形物の作製に用いた銅粉末およびタングステン粉末の不純物濃度および粒度を示す。酸素(O)および窒素(N)の濃度は酸素・窒素分析装置(LECO Corp.、ON736)を用い、酸素は非分散型赤外線吸収法、窒素は熱電導度法によって測定した。銅またはタングステンの純度には酸素および窒素は考慮していない。粒度の測定はレーザー回折・散乱法による粒度分布測定装置(マイクロトラック・ベル株式会社、MT3200)を用いて行った。表1中のMNは個数平均径、MVは体積平均径を表す。表1中のd10、d50、d90は、全体積を100%としたときの累積カーブがそれぞれ10%、50%、90%となる点の粒子径を表す。d50はメジアン径である。
【0027】
【表1】
【0028】
表2に作製した積層造形物の化学分析結果を示す。W含有量はICP発光分光分析により求めた。酸素(O)および窒素(N)の分析は原料粉末と同じ方法により行った。
【0029】
【表2】
【0030】
図1AにCu・W混合粉末、
図1Bに試料Cu27Wの断面の走査電子顕微鏡(SEM)像を示す。
図1Aおよび
図1Bの下部にある黒いバーの長さは200μmである。
【0031】
図1Aにおいて、色の濃い粒子がCu粒子(CU)、色の薄い粒子がW粒子(WL)である。
【0032】
図1Bにおいて、濃色のマトリクス相中に淡色の粒子相が分散している。エネルギー分散型X線分析(EDS)によって、濃色のマトリクス相はCuからなりWは含まず、淡色の粒子相はWからなりCuを含まず、Cu相とW相が完全に分離していることを確認した。また、この試料のX線回折(XRD)分析では、Cuの結晶面とWの結晶面だけが観測された。銅粉末は完全に溶融し緻密なマトリクス相を形成している。一部のW粒子は溶融しないで元の球形状を保っている。他のW粒子は形が崩れており、一部では凝集が確認できた(
図1Bの中央やや左)。
【0033】
以上の観察から、Cu・W混合粉末の付加製造工程は次のように進行したと考えられる。レーザー光が照射されると、W粒子がレーザー光を吸収して周囲のCu粒子に熱を伝える。タングステンの融点が高く、吸収したレーザー光のエネルギーが周囲のCu粒子に放散するので、W粒子自体は融解せず、あるいは融点に達しても完全に溶融するまえに温度が下がって粒子形状が崩れた状態にとどまる。Cu粒子はW粒子から伝達される熱で温度が上昇する。固体の銅は温度上昇とともにレーザー吸収率が上がり熱伝導度が下がること、さらに、銅が溶融するとレーザー吸収率が格段に上がり熱伝導率が格段に下がることが報告されている(Blomら, "Process spread reduction of laser micro-spot welding of thin copper parts using real-time control", 2003年10月, Proc. SPIE 4977, p.497)。そのため、Cu粒子の一部が一旦溶融すると、レーザー光のエネルギーを直接吸収して、熱の放散も抑制されるので、溶融が加速される。Cu粒子が溶融すると、W粒子と液体のCu相との界面熱抵抗が下がり、W粒子からCu相への熱伝達量が増え、W粒子の「冷却」が促進される。さらに、タングステンの液体銅への溶解度が極めて低いことから、W粒子は元の形状のまま、あるいは一部溶融した状態でCu相中に分散して残る。
【0034】
次に、作製した積層造形物の各種特性を評価した。
【0035】
熱伝導率測定用の試験片は、直径10mm、厚さ3mmのコイン型で、1つの直径の方向に積層して作製した。熱伝導率の測定は、室温で、レーザーフラッシュ法を用いて真空中で行った。
【0036】
いくつかの試料については電気伝導率を測定した。電気伝導率測定用の試験片は、3mm×3mm×80mmの角柱状で、厚さ3mmの方向に積層して作製した。電気伝導率は、電気抵抗測定装置(株式会社アグネ技術センター、ARC−TER−1型)を用い、直流四端子法で測定した電気抵抗率から算出した。測定は室温で、または後述する各設定温度に保持しながら、アルゴン(Ar)雰囲気中で行った。その他の試料については、熱伝導率から電気伝導率を推算した。なお、本明細書中で、電気伝導率は焼鈍標準軟銅に対する比(%IACS)で示す。焼鈍標準軟銅の電気抵抗率は、1.7241×10
−2μΩ・mである。
【0037】
金属の電気伝導率と熱伝導率の間には次式の関係があり、ウィーデマン・フランツの法則として知られている。
K/σ=LT
ここで、K:熱伝導率、σ:電気伝導率、L:ローレンツ数、T:絶対温度。ローレンツ数(L)は理論的には次式で与えられる。
L=(π
2/3)・(k
B/e)
2
=2.44×10
−8WΩK
−2
ここで、k
B:ボルツマン定数、e:電気素量。
【0038】
機械特性測定用の試験片は、長さ50mm×幅6mm×高さ11mmの直方体を高さ方向に積層して作製し、
図2に示す形状をワイヤー放電加工により3枚切り出し、表面を研磨して作製した。機械特性の測定は、オートグラフを用い、室温で、ひずみ速度0.001/sの引張試験により行った。ひずみ測定はビデオ式非接触伸び計(株式会社島津製作所、TRView X120S)を用いて行った。
【0039】
相対密度は、銅の密度(8.89g/cm
3)、タングステンの密度(19.25g/cm
3)および両者の組成比から求めた計算値で、実測値を除して求めた。
【0040】
表3に作製した積層造形物の特性を示す。また、
図3および
図4に積層造形物の断面を濃硝酸(60%水溶液)で化学エッチングした後のSEM像を示す。各像の下にある黒いバーの長さは300μmである。ただし、
図4の試料Cu27Wではバーの長さは500μmである。
【0041】
【表3】
【0042】
表3から、積層造形物の相対密度は、CuにWを加えることで大きくなり、W含有量が約1.3質量%で最大となり、W含有量が約25質量%まで増えると銅粉末のみを用いた場合(試料Cu)と同程度にまで下がっている。
【0043】
このことは
図3および
図4のSEM像でも確認できる。試料Cuでは大きなポアが目立つ。このように、銅粉末CUのみでは、Cuの融点が1084℃であるにもかかわらず、レーザー積層造形によって緻密な組織を得ることはできない。なお、タングステン粉末のみを用いた場合は、タングステンの融点が高いにもかかわらず、レーザー積層造形によって緻密な組織が得られる。試料Cu0.2Wでは試料Cuより少ないものの大きなポアが存在した。これはW含有量が小さいためにレーザー光の吸収が不十分であったためと考えられる。また、試料Cu0.5Wでは大きなポアはないものの粗大な界面が存在した。試料Cu1.3Wから試料Cu9Wまでの試料では非常に緻密な組織が得られた。一方、Cu11W以上の試料ではW粒子の凝集が見られ、このことが相対密度低下の原因と考えられる。
【0044】
表3から、造形物の熱伝導度および電気伝導度は、CuにWを加えることで向上し、W含有量が約3質量%で最大となり、W含有量が約27質量%に至るまで試料Cuより高い値を示した。これはマトリクスのCu相が緻密化したことと、WがCu相に溶解せずCu相の熱伝導性および電気伝導性を損なわないことによると考えられる。
【0045】
図5に積層造形体の引張試験結果を示す。表3と
図5から、積層造形物の0.2%耐力と引張強さは、CuにWを加えることで緩やかに上昇し、W含有量が約11質量%で最大となり、W含有量が約27質量%に至るまで試料Cuより高い値を示した。ただし、試料Cu25Wは積層造形物が脆く、試験片作製時の研磨工程でクラックが入ったため、引張試験のデータが得られなかった。
【0046】
図5から、試料Cuは延性に乏しく、引張強さを通過した直後に破断している。表3と
図5から、積層造形物の破断伸びはCuにWを加えることで向上し、特に、W含有量が約0.2質量%から約1.3質量%へと増えるに従って著しく向上している。一方、W含有量をさらに増やすと、破断伸びは試料Cu27WでCu0.2Wと同程度にまで小さくなった。なお、試料Cu25Wのデータが得られなかったことは上記のとおりである。表3において、破断伸びと相対密度との間には一定の相関があり、積層造形体の組織の緻密性が延性に影響していると考えられる。このことから、W含有量が小さいと
図3で示したポアの有無が影響し、W含有量が大きいと
図3で示したW粒子の凝集が影響していると考えられる。
【0047】
上記破断伸びの実験結果からは、積層造形物の機械特性、特に破断伸びが指標となる延性を向上させるには、Cu相中のW粒子が凝集することなく均一に分散していることが重要であるとの知見が得られた。
【0048】
積層造形物への熱処理の影響を調べるため、電気伝導率測定用のサンプルを用いて、温度を段階的に50℃ずつ上げながら、Ar雰囲気中で電気抵抗率を測定した。各設定温度間の昇温速度は60℃/分とし、各設定温度に到達後、試料内の温度分布が一様になるまで数分〜10分待って測定を行った。結果を
図6に示す。
図6には1.4質量%のクロム(Cr)を含む銅合金粉末を用いて同じ方法で作製した試料(Cu1.4Cr)の結果を合わせて示す。
【0049】
図6において、Cu1.4Crでは、電気抵抗率は温度上昇とともに大きくなるが、300℃を超えると低下しており、熱処理によって電気伝導性を向上できることが分かる。これに対して、Cu27Wでは、電気抵抗率は温度上昇とともに直線的に大きくなっており、熱処理による電気抵抗率低減の効果は認められなかった。
【0050】
さらに、いくつかの試料について、700℃×30分、500℃×2時間の熱処理を行い、空冷した試料の熱伝導率を測定した。表4に、造形まま材の熱伝導率(測定値)、電気伝導率(計算値)と、熱処理後の熱伝導率(測定値)、電気伝導率(計算値)を示す。造形まま材の値は表3から再掲した。なお、表4中のCu27Wの電気伝導率測定値は、造形まま材と
図6に示した昇温実験後の測定値である。
【0051】
【表4】
【0052】
表4から、熱伝導率および電気伝導率(計算値)を造形まま材と熱処理後とで比較すると、いずれも熱処理後の方がわずかに向上している。タングステンは銅に固溶せず、熱処理によってタングステンが拡散するとは考えられない。熱処理によるこの効果は、Cuマトリクス相の構造緩和や、酸素(O)等の不純物が酸化物等として析出したことが原因と考えられる。
【0053】
次に、メカニカルアロイングによって作製したCu−W合金粉末を用いて同様の実験を行った。
【0054】
Cu−W合金粉末は、銅粉末とタングステン粉末を高エネルギーボールミルで処理し、Cu粒子の表面をW粒子で修飾することにより作製した。表5に作製に用いた銅粉末、タングステン粉末と作製したCu−W合金粉末の粒度分布を示す。銅粉末CU2は表1の粉末CUとは異なる純銅の粉末である。タングステン粉末WKはCu・W混合粉末に用いたものと同じ粉末である。また、
図7にCu−W合金粉末のSEM像を示す。なお、表5および
図7において「W」の前の数字はタングステンの含有量(質量%)のおおよその値を示している。
【0055】
【表5】
【0056】
表5から、Cu−W合金粉末の粒度分布は銅粉末CU2のそれとほぼ同じである。このことから、タングステン粉末WKが遊離して存在することなく、銅粉末CU2と結合してCu−W合金粉末を形成していることが確認できた。
【0057】
積層造形物の各種特性測定用の試験片をCu・W混合粉末の場合と同じ方法で作製した。レーザー光の照射条件は、それぞれCu・W混合粉末を用いた組成の近い試料と同じとした。すなわち、下記試料Cu(M)、Cu0.5W(M)およびCu1W(M)は試料Cu、Cu0.5WおよびCu1.3Wと同じく、Cu1.3Wが最も緻密になった条件でレーザー光を照射し、下記試料Cu3W(M)はCu3Mと、下記試料Cu5W(M)はCu6Wと同じ条件でレーザー光を照射した。
【0058】
表6に作製した積層造形物のW含有量および各種特性を示す。積層造形体Cu(M)は銅粉末CU2を用いて作製したもので、他の積層造形物はそれぞれ同じ記号を付したCu−W合金粉末を用いて作製したものである。各種分析および測定はCu・W混合粉末を用いた実験と同じ方法で行った。熱処理後のデータは、700℃×30分、500℃×2時間の熱処理を行い、空冷した試料の熱伝導率を測定したものである。また、
図8に積層造形物の断面を濃硝酸(60%水溶液)で化学エッチングした後のSEM像を示す。各像の下にある黒いバーの長さは300μmである。
【0059】
【表6】
【0060】
Cu−W合金粉末を用いた表6の結果とCu・W混合粉末を用いた表3の結果とを比較すると、同じW含有量ではCu−W合金粉末を用いた積層造形体の方がより高い熱伝導度および相対密度を示している。Cu−W合金粉末を用いた積層造形体では、より緻密な組織が得られたことが分かる。機械特性に関しては、Cu−W合金粉末を用いた方が破断伸びは大きく、一方0.2%耐力および引張強さが低くなっている。
【0061】
また、表6から、造形まま材と熱処理後とで熱伝導率を比較すると、Cu5W(M)を除いて、熱処理後の方がわずかに向上している。熱処理によるこの効果は、Cu・W混合粉末を用いた場合と同様に、Cuマトリクス相の構造緩和や、酸素(O)等の不純物が酸化物等として析出したことが原因と考えられる。
【0062】
本発明は、上記の実施形態や実施例に限定されるものではなく、その技術的思想の範囲内で変形が可能である。
【0063】
例えば、上記実施形態と実施例では付加製造時の熱源がレーザー光であったが、熱源として電子ビームを用いてもよい。