特許 6515478 眼科装置、および、眼科測定プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6515478

(24)【登録日】2019年4月26日

(45)【発行日】2019年5月22日

(54)【発明の名称】眼科装置、および、眼科測定プログラム

(51)【国際特許分類】

   A61B 3/032 20060101AFI20190513BHJP

   A61B 3/103 20060101ALI20190513BHJP

【ＦＩ】

   A61B3/02 C

   A61B3/10 M

【請求項の数】3

【全頁数】18

(21)【出願番号】特願2014-206372(P2014-206372)

(22)【出願日】2014年10月7日

(65)【公開番号】特開2016-73477(P2016-73477A)

(43)【公開日】2016年5月12日

【審査請求日】2017年9月27日

(73)【特許権者】

【識別番号】000135184

【氏名又は名称】株式会社ニデック

(72)【発明者】

【氏名】清水 一成

【審査官】 九鬼 一慶

(56)【参考文献】

【文献】 国際公開第２０１３／１５１１７１（ＷＯ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ａ６１Ｂ ３／００−３／１８

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

眼収差計によって測定される被検眼の裸眼波面収差データを取得する収差データ取得手段と、
第１矯正度数での処方を想定した被検眼の第１矯正波面収差データを前記裸眼波面収差データ及び前記第１矯正度数に基づいて演算し、前記第１矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す第１評価指標を前記第１矯正波面収差データに基づいて生成する第１評価指標生成手段と、
球面度数（Ｓ）、乱視度数（Ｃ）、乱視軸角度（Ａ）のうち少なくとも１つが前記第１矯正度数とは自覚検査のステップと対応する予め定められた度数だけ異なる第２矯正度数での処方を想定した被検眼の第２矯正波面収差データを前記裸眼波面収差データ及び前記第２矯正度数に基づいて演算し、前記第２矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す第２評価指標を前記第２矯正波面収差データに基づいて生成する第２評価指標生成手段と、
前記第１評価指標と前記第２評価指標とを、並列的にモニタに表示させる表示制御手段と、を備える眼科装置。

【請求項2】

被検眼の眼前に配置される光学部材の屈折度数を切り換え被検眼の矯正度数を自覚的に測定する自覚検眼装置において設定される検査条件を、操作入力部に対する操作信号に基づいて取得する条件取得手段を有し、
前記第１評価視標生成手段は、前記検査条件を第１矯正度数として適用し第１評価視標を生成し、
前記表示制御手段によってモニタに表示される前記第１評価指標および前記第２評価指標は、前記操作入力部に対する操作と連動して更新される請求項１記載の眼科装置。

【請求項3】

被検眼の見え方を表す評価指標をシミュレーションするための眼科測定プログラムであって、
眼科装置のプロセッサに実行されることによって、
被検眼の裸眼波面収差データを取得する収差データ取得ステップと、
第１矯正度数での処方を想定した被検眼の第１矯正波面収差データを前記裸眼波面収差データ及び前記第１矯正度数に基づいて演算し、前記第１矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す第１評価指標を前記第１矯正波面収差データに基づいて生成する第１評価指標生成ステップと、
球面度数（Ｓ）、乱視度数（Ｃ）、乱視軸角度（Ａ）のうち少なくとも１つが前記第１矯正度数とは自覚検査のステップと対応する予め定められた度数だけ異なる第２矯正度数での処方を想定した被検眼の第２矯正波面収差データを前記裸眼波面収差データ及び前記第２矯正度数に基づいて演算し、前記第２矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す第２評価指標を前記第２矯正波面収差データに基づいて生成する第２評価指標生成ステップと、
前記第１評価指標と前記第２評価指標とを、並列的にモニタに表示させる表示制御ステップと、を前記眼科装置に実行させることを特徴とする眼科測定プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、被検眼の検査を行うための眼科装置、および、眼科測定プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

被検眼の前眼に球面レンズや円柱レンズの光学素子を組み合わせて切換配置し、前方に呈示する視標を見せながら被検眼の眼屈折力を自覚的に検査するための検眼装置が知られている（特許文献１参照）。

【0003】

また、被検眼の眼底にスポット状の光束を投光し、眼底からの反射光束の波面情報を検出することにより、被検眼の波面収差（特に、高次の収差成分）を測定する装置が知られている。更に、この種の装置で取得された波面収差データに基づいて網膜像をシミュレーションすることが提案されている。例えば、特許文献２には、自覚検査の結果に基づく処方を想定した網膜像を、自覚値の処方値と被検眼の波面収差データとを用いてシミュレーションすることが記載されている。

【特許文献1】ＷＯ２０１３／１５１１５１号公報

【特許文献2】特開２００５−２１１４２３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかし、従来は、光学素子の配置変更による視標の見え方の違いを、自覚検査の間に検者が客観的に把握することはできなかった。故に、自覚検査によって適正な処方値を求めることが難しい場合（例えば、不正乱視眼の場合）があった。

【0005】

本開示は、従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、自覚検査において適正な処方値をスムーズに得ることができる眼科装置、および、眼科測定プログラムを提供することを技術課題とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本開示の第１態様に係る眼科装置は、眼収差計によって測定される被検眼の裸眼波面収差データを取得する収差データ取得手段と、第１矯正度数での処方を想定した被検眼の第１矯正波面収差データを前記裸眼波面収差データ及び前記第１矯正度数に基づいて演算し、前記第１矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す第１評価指標を前記第１矯正波面収差データに基づいて生成する第１評価指標生成手段と、球面度数（Ｓ）、乱視度数（Ｃ）、乱視軸角度（Ａ）のうち少なくとも１つが前記第１矯正度数とは自覚検査のステップと対応する予め定められた度数だけ異なる第２矯正度数での処方を想定した被検眼の第２矯正波面収差データを前記裸眼波面収差データ及び前記第２矯正度数に基づいて演算し、前記第２矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す第２評価指標を前記第２矯正波面収差データに基づいて生成する第２評価指標生成手段と、前記第１評価指標と前記第２評価指標とを、並列的にモニタに表示させる表示制御手段と、を備える。

【0008】

本開示の第２態様に係る眼科測定プログラムは、被検眼の見え方を表す評価指標をシミュレーションするための眼科測定プログラムであって、眼科装置のプロセッサに実行されることによって、被検眼の裸眼波面収差データを取得する収差データ取得ステップと、第１矯正度数での処方を想定した被検眼の第１矯正波面収差データを前記裸眼波面収差データ及び前記第１矯正度数に基づいて演算し、前記第１矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す第１評価指標を前記第１矯正波面収差データに基づいて生成する第１評価指標生成ステップと、球面度数（Ｓ）、乱視度数（Ｃ）、乱視軸角度（Ａ）のうち少なくとも１つが前記第１矯正度数とは自覚検査のステップと対応する予め定められた度数だけ異なる第２矯正度数での処方を想定した被検眼の第２矯正波面収差データを前記裸眼波面収差データ及び前記第２矯正度数に基づいて演算し、前記第２矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す第２評価指標を前記第２矯正波面収差データに基づいて生成する第２評価指標生成ステップと、前記第１評価指標と前記第２評価指標とを、並列的にモニタに表示させる表示制御ステップと、を前記眼科装置に実行させる。

【発明の効果】

【0010】

本開示によれば、自覚検査において適正な処方値をスムーズに得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】第１実施形態に係る眼科装置の光学系及び制御系の構成について説明するための概略構成図である。

【図2】第１実施形態に係る眼科測定プログラムの概要を示したフローチャートである。

【図3】第１実施形態の眼科装置においてさ取得された各種のシミュレーション結果を表示する表示画面の一例を示す。

【図4】第２実施形態の眼科装置と、眼科装置に接続される検眼装置の構成を示した概略構成図である。

【図5】検眼装置の操作入力部および制御ボックスを詳細に示した図である。

【図6】第２実施形態に係る眼科測定プログラムの概要を示したフローチャートである。

【図7】第２実施形態の眼科装置においてさ取得された各種のシミュレーション結果を表示する表示画面の一例を示す。

【発明を実施するための形態】

【0012】

＜第１実施形態＞
以下、図面を参照しつつ、本開示における例示的な実施形態を説明する。図１は、第１実施形態に係る眼科装置１の概略構成を示すブロック図である。詳細は後述するが、眼科装置１は、被検眼Ｅにおける見え方の質（見え具合の質ともいう）を評価するための評価指標を、被検眼Ｅの裸眼波面収差データを用いて演算する。なお、第１実施形態において眼科装置１は、波面収差測定装置（眼収差計とも言われる。）と一体化された構成であってもよい。

【0013】

第１実施形態において、眼科装置１は、ＣＰＵ（演算制御部）３０、メモリ３５、操作入力部（以下、入力部）４０、プリンタ４３、モニタ５０、画像処理部３１等を有する。各部はバス等を介して接続されている。

【0014】

ＣＰＵ３０は、網膜像シミュレーションプログラムや各種制御プログラムに基づいて各部の動作を制御するプロセッサである。入力部４０は、検者によって操作される入力装置である。入力部４０としては、スイッチ、キーボード、マウス、タッチパネル等のポインティングデバイスなどが用いられる。画像処理部３１は、各種データやシミュレーション画像等を表示するモニタ５０の表示画面を制御する。メモリ３５は、記憶部であり、ＣＰＵ３０で実行される各種プログラム（装置動作のための各種制御プログラム、眼科測定プログラム）等を記憶する。メモリ３５は、記憶装置として用いられ、例えば、半導体メモリ、磁気記憶装置、光学記憶装置などが用いられる。モニタ５０は、出力装置として用いられ、ＣＰＵ３０によって制御される。本実施例のモニタ５０は、検者による入力操作が可能なタッチパネルであり、入力部４０の少なくとも一部を兼用する。プリンタ４３は、シミュレーションの結果を印刷する。

【0015】

また、第１実施形態における眼科装置１は、収差測定ユニット１００を有する。収差測定ユニット１００は、被検眼の波面収差を測定するために利用される。収差測定ユニット１００は、被検眼眼底に測定指標を投影し測定指標の眼底からの反射光を受光する構造を持つ。

【0016】

測定光学系１０は、投光光学系１０ａと、受光光学系１０ｂと、を含む。投光光学系１０ａは、例えば、測定光源からスポット状の光束を被検眼眼底に投光する。受光光学系１０ｂは、例えば、眼底で反射され被検眼から射出された光束を複数に分割して二次元受光素子２２に受光させる。本実施形態の眼科装置１は、二次元受光素子２２からの出力に基づいて被検眼の波面収差が測定される。

【0017】

より具体的には、投光光学系１０ａは、測定光源１１から順に、リレーレンズ１２、対物レンズ１４を有する。測定光源１１は、被検眼眼底と共役な位置に配置される。受光光学系１０ｂは、被検眼前方から、対物レンズ１４、ハーフミラー１３、リレーレンズ１６、全反射ミラー１７、コリメータレンズ１９、マイクロレンズアレイ２０、二次元受光素子２２を有する。受光光学系１０ｂは、被検眼の瞳孔とレンズアレイ２０とが光学的に略共役な関係となるように構成されている。マイクロレンズアレイ２０は、測定光軸と直交する面に二次元的に配置された微小レンズと遮光板からなり眼底反射光を複数の光束に分割する（特開平１０−２１６０９２号公報）。なお、上記の構成は、いわゆるシャックハルトマン方式の波面センサを用いたものであるが、瞳孔共役位置に直交格子上のマスクを配置し、マスクを透過した光を二次元受光素子により受光するようないわゆるタルボット式波面センサを用いるようにしてもよい（詳しくは、本出願人による特開２００６−１４９８７１号公報参照）。

【0018】

測定光源１１から出射された光束は、リレーレンズ１２、対物レンズ１４、被検眼の瞳孔を介して被検眼の眼底に投光される。これにより、被検眼の眼底上に点光源像が形成される。

【0019】

そして、被検眼の眼底に投光された点光源像は、反射光束として被検眼を射出し、対物レンズ１４で集光された後、ハーフミラー１３で反射される。ハーフミラー１３で反射された光は、リレーレンズ１６にて一旦集光された後、全反射ミラー１７で反射される。そして、全反射ミラー１７で反射された光束は、コリメータレンズ１９を介して、レンズアレイ２０によって複数の光束に分割された後、二次元受光素子２２に受光される。そして、二次元受光素子２２に受光されたパターン像は、画像データとしてメモリ３５に記憶される。

【0020】

レンズアレイ２０で複数の光束に分割され二次元受光素子に受光されるパターン像は、被検眼の収差（低次収差、高次収差）の影響によって変化する。無収差の光が通過するときの基準パターン像に対して、被検眼からの反射光により生じるパターン像を解析することにより、眼の波面収差を測定できる。すなわち、収差測定ユニット１００によって取得されたパターン像における各ドット像の偏位量に基づいて、被検眼全体の裸眼での波面収差Ｗ（ρ、θ）がＣＰＵ３０によって求められる。なお、本第１実施形態では、このようにして求められた波面収差の値が、裸眼での波面収差データ（裸眼波面収差データともいう）としてメモリ３５に記憶される。

【0021】

なお、収差測定ユニット１００は、上記構成に限定されず、周知の構成が用いられる。他の構成としては、収差測定ユニット１００は、被検眼眼底にスリット光束を投影し、その反射光束を受光素子によって検出したときの位相差信号を出力する構成であってもよい（特開平１０−１０８８３７号公報参照）。この場合、被検眼Ｅの波面収差が位相差信号の処理結果として得られる。

【0022】

＜装置の動作＞
次に、図２のフローチャートを参照して、第１実施形態における眼科装置１の動作を説明する。

【0023】

まず、収差測定ユニット１００を用いて被検眼Ｅの波面収差が測定される。そして、ＣＰＵ３０は、被検眼全体の裸眼における波面収差（つまり、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ））を、裸眼波面収差データとして得る（Ｓ１）。取得された裸眼波面収差データは、ＣＰＵ３０によってメモリ３５に記憶される。

【0024】

次に、ＣＰＵ３０は、収差測定ユニット１００によって得られた裸眼波面収差データを解析する。より詳細には、ＣＰＵ３０は、Ｓ１で取得した裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）の低次収差成分（より詳細には、２次以下の収差成分）を算出する（Ｓ２）。本実施形態では、球面度数（Ｓ）、乱視度数（Ｃ）、乱視軸角度（Ａ）の各成分が算出される場合を例示する。例えば、ＣＰＵ３０は、所定瞳孔径の領域に対応する被検眼の裸眼波面収差データを求め、その裸眼波面収差データから算出される低次収差成分に基づいて裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）のＳ，Ｃ，Ａ成分を求める。

【0025】

以下に、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に含まれるＳ，Ｃ，Ａ成分の算出手法について、簡単に説明する。裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）は、裸眼波面収差データを近似する多項式の１つである周知のゼルニケ（Zernike）多項式の展開を適用することによって定量化される。

【0026】

【数1】

【0027】

ここで、Ｚｉはｉ番目のZernike項、Ｃｉはその係数である。ρは瞳孔径に対する相対的な位置（０〜１の範囲）を示し、θはＸ軸に対して反時計回りに計測した角度（０〜２π）である。また、標準化した表示方式では、

【0028】

【数2】

【0029】

正規化の定数は、

【0030】

【数3】

【0031】

で表される。

【0032】

そして、球面度数（Ｓ）、乱視度数（Ｃ）、乱視軸角度（Ａ）は多項式次数２次以下の項で表される。

【0033】

【数4】

【0034】

ここで、Ｒは解析する瞳孔径の半径（ｍｍ）である。なお、高次収差成分は多項式次数３次以上で求められる。

【0035】

例えば、所定瞳孔径Ｐの値を用いて裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）を求め、更に、Ｓ，Ｃ，Ａの成分を求める場合に、Ｒ＝Ｐ／２を用いる。ＣＰＵ３０は、求められた被検眼のレフ値（ＳＣＡ（ＲＥＦ））をモニタ５０上に出力してもよい（図示せず）。

【0036】

＜自覚検査シミュレーション＞
第１実施形態における眼科装置１は、その後、レフラクター等の自覚検眼装置を用いて行われる自覚検査における被検眼の見え方をシミュレーションする。自覚検眼装置は、被検眼の眼前に配置される光学部材の配置を切り換え、被検眼の矯正度数を自覚的に測定する装置である。自覚検査では、視標呈示装置および視力表等によって呈示された視標を、被験者が視認できるか否かによって眼屈折力が自覚的に測定される。第１実施形態では、シミュレーションにおいて、ＣＰＵ３０は、被検眼Ｅの裸眼波面収差データを用いた演算処理を行い、矯正度数での処方を想定した被検眼における波面収差データ（以下、矯正波面収差データと称する）を、裸眼波面収差データと、矯正度数とに基づいて演算する。演算の結果として、自覚検査における見え方の質を表す評価指標を生成する。

【0037】

本実施形態において、ＣＰＵ３０は、裸眼波面収差データに対し第１の矯正度数を適用することによって、第１矯正波面収差データを求める。そして、第１矯正波面収差データに基づいて、第１矯正度数での屈折矯正を想定した第１評価指標を生成する。また、ＣＰＵ３０は、眼波面収差データに対し第２の矯正度数を適用することによって、第２矯正波面収差データを求める。そして、第２矯正波面収差データに基づいて、第２評価指標を生成（取得）する。第２矯正度数は、第１矯正度数に対し所定度数だけ異なる矯正度数である。矯正度数は、被検眼の裸眼屈折力を矯正するために被検眼に付与する屈折力である。そして、ＣＰＵ３０は、第１評価指標と第２評価指標とを対応付けてメモリ３５に記憶する。

【0038】

第２矯正度数は、第１矯正度数に対し、２次以下の低次収差成分の何れか（例えば、Ｓ，Ｃ，Ａの少なくとも１つ）が所定量だけ異なる関係にある。以下説明するように、例えば、第１矯正度数と第２矯正度数とは、Ｓ，Ｃ，Ａのうち、乱視軸角度（Ａ）だけが異なる関係にあってもよい。第１実施形態において、第１矯正度数と第２矯正度数との差分である所定度数は、自覚検査における検査のステップ（つまり、自覚検眼装置における検査度数の切換）と対応した度数であることが好ましい。また、１つの第１矯正度数に対し、第２矯正度数が２つ以上設定されてもよい。第２矯正度数が２つ以上設定される場合は、少なくとも１つの第２矯正度数は、第１矯正度数に対し、Ｓ，Ｃ，Ａのいずれか１つの成分を所定量増加させた矯正度数（プラス第２矯正度数）であり、別の１つの第２矯正度数は、第１矯正度数に対し、Ｓ，Ｃ，Ａのいずれか１つの成分を所定量減少させた矯正度数（マイナス第２矯正度数）であってもよい。例えば、第１実施形態において、第２矯正度数は、第１矯正度数に対し、乱視軸角度（Ａ）を＋５°回転させた度数と、−５°回転させた度数との両方に設定される。

【0039】

評価指標は、例えば、屈折矯正が行われた状態の被検眼における網膜像のシミュレーション画像、および、その状態における被検眼の見え方の質を示す評価パラメータの少なくともいずれかであってもよい。網膜像のシミュレーション画像は、例えば、被検眼における所定視標の見え方を表したシミュレーション画像であってもよい。また、評価パラメータとしては、ストレール比、被検眼全体の波面収差のＲＭＳ値、位相シフト（ＰＴＦ）、および空間周波数特性（ＭＴＦ）等であってもよい。

【0040】

本実施形態において、ＣＰＵ３０は、各矯正度数と対応する評価指標を求めるために、各矯正度数での処方を想定した被検眼における波面収差データ（以下、矯正波面収差データと称する）を、被検眼全体の裸眼波面収差データ（即ち、収差測定ユニット１００を用いて得られる波面収差データ）に対する演算によって求める。ここで、矯正面収差データの導出方法の概要を、一例として説明する。

【0041】

ＣＰＵ３０は、裸眼波面収差データ（裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ））に含まれる低次収差成分と、矯正度数との各経線方向における差分データを求める（差分データ＝裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）の低次収差成分−矯正度数；「矯正度数」としては、例えば、後述する第１矯正度数あるいは第２矯正度数）。そして、ＣＰＵ３０は、裸眼波面収差データを近似する多項式の係数に対し、低次収差（より詳細には、２次以下の低次収差）に対応する係数を、差分データに対応する係数に置き換えた多項式を用いて波面収差データを逆算し、その結果として、矯正波面収差データを得る。波面収差データを近似する多項式としては、ゼルニケ多項式が代表的である。もちろん、波面収差を近似する式であればよく、これに限定されない。なお、第１実施形態では、Ｓ，Ｃ，Ａ成分に関する屈折矯正をシミュレーションするため、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）のＳ，Ｃ，Ａ成分と、矯正度数との差分データが利用される。

【0042】

差分データは、より具体的には、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）の低次収差成分、および矯正度数のそれぞれを、近似曲線（経線方向（θ）毎の眼屈折力（Ｄ）の分布を示す近似曲線）に変換し、互いの近似曲線の差分に基づいて得ることができる。なお、それぞれの近似曲線は、例えば、ｓｉｎカーブとして表現される。そして、第１実施形態において、ＣＰＵ３０は、差分データ（ＳＣＡ差分）を、ゼルニケ多項式の２次式におけるＳＣＡに代入する。結果として、差分データ（ＳＣＡ差分）に基づく２次式の係数が算出される。

【0043】

第１実施形態のＣＰＵ３０は、裸眼のＺｅｒｎｉｋｅ係数に対し、２次式の係数を差分データ（ＳＣＡ差分）に基づく係数に置き換えたＺｅｒｎｉｋｅ係数を用いて波面収差データを逆算する。逆算の結果として、矯正波面収差データが得られてもよい。

【0044】

そして、ＣＰＵ３０は、矯正波面収差データを用いた更なる演算処理の結果として、各矯正度数と対応する評価指標を生成する。例えば、矯正度数での処方を想定した被検眼における網膜像のシミュレーション画像は、次のようにして生成できる。まず、ＣＰＵ３０は、矯正波面収差データを利用して点像強度特性（point spread function；ＰＳＦ）を求める。そして、ＣＰＵ３０は、得られたＰＳＦと所定指標（例えば、ＥＴＤＲＳ視標、解像度チャート、風景チャート）とを画像処理（コンボリューション積分）する。その結果、ＣＰＵ３０は、矯正度数での処方を想定した被検眼における所定視標の見え方を表すシミュレーション画像を得ることができる。

【0045】

＜レフ値矯正状態のシミュレーション＞
第１実施形態では、第１評価指標として、裸眼屈折力を矯正するためのレフ値（第１実施形態における第１矯正度数）での矯正を想定した評価指標が、裸眼波面収差データを用いた演算処理に基づいて生成される（Ｓ３）。つまり、第１実施形態では、裸眼波面収差データに基づく他覚的眼屈折値（レフ値）を第１矯正度数として適用し第１評価視標が生成される。なお、レフ値は、他覚検査にて得られた矯正度数の他覚値であり、第１実施形態においては、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に含まれるＳ，Ｃ，Ａ成分から求められる。第１評価指標は、より具体的には、レフ値で眼を処方した場合の所定視標の見え方を表すシミュレーション画像と、ストレール比（評価パラメータの一例）とである。

【0046】

ここで、ＣＰＵ３０は、レフ値での処方を想定した被検眼の矯正波面収差データを、例えば、上記の手法にて求める。その結果として、裸眼でのゼルニケ多項式を、Ｓ、Ｃ、Ａがいずれも０である場合に対応する係数に置き換えた多項式に基づいて、矯正波面収差データが得られる。そして、第１矯正度数での処方を想定した矯正波面収差データに基づいて、ＣＰＵ３０は、レフ値に関するシミュレーション画像を取得する。

【0047】

また、第１実施形態においてストレール比は、以下の式で求められる近似値であってもよい。

【0048】

【数5】

【0049】

ここで、Ｗは、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）のＲＭＳ値である。レフ値の処方を想定した被検眼のストレール値は、Ｓ、Ｃ、Ａがいずれも０である場合に対応する係数に置き換えたＺｅｒｎｉｋｅ係数に基づくＲＭＳ値がＷに代入されることによって得られる。ストレール比は、１に近いほど収差が少なく、被検眼のコントラストが良好であることを示す。

【0050】

第１実施形態では、このようにして得られたシミュレーション画像およびストレール比は、後述のＳ６のステップにて、モニタ５０に表示出力される。

【0051】

＜第２矯正状態のシミュレーション＞
また、ＣＰＵ３０は、第２矯正度数で眼を処方した場合の被検眼の見え方を示す第２評価指標を生成する（Ｓ４）。第１実施形態では、他覚的眼屈折値（レフ値）に対して所定のＳＣＡ成分を付加した矯正度数が第２矯正度数として適用され、第２評価視標が生成される。なお、ここでいう「付加」には、ＳＣＡ成分のいずれかを増加させる場合と、減少させる場合との両方を含む。第１実施形態では、プラス第２評価指標と、マイナス第２評価指標との２種類が、第２評価指標として生成される。プラス第２評価指標は、第１矯正度数（第１実施形態ではレフ値）に対し、更に乱視軸角度（Ａ）を＋５°回転（つまり、増加方向に変化）させた矯正度数の処方で想定される見え方を示す。また、マイナス第２評価指標は、第１矯正度数に対し、更に乱視軸角度（Ａ）を−５°回転（つまり、減少方向に変化）させた矯正度数の処方で想定される見え方を示す。第２実施形態では、プラス第２評価指標およびマイナス第２評価指標として、それぞれの矯正度数に関するシミュレーション画像およびストレール比（評価パラメータの一例）が生成される。

【0052】

そのために、ＣＰＵ３０は、レフ値に対し、乱視軸角度（Ａ）を±５°回転させた矯正度数での処方を想定した被検眼の矯正波面収差データを求める。そして、各矯正度数での処方をそれぞれ想定した矯正波面収差データに基づいて、ＣＰＵ３０は、それぞれの第２矯正度数に関するシミュレーション画像を作成する。その結果、レフ値に対し、所定量だけ異なる矯正度数で眼を処方した場合に被検眼網膜面に形成される所定指標像のシミュレーション画像を得ることができる。すなわち、ＣＰＵ３０は、レフ値とは所定量だけ異なる矯正度数に関するシミュレーション画像を取得する。

【0053】

また、第１実施形態のＣＰＵ３０は、数５を用いてストレール比を求める。この場合、数５のＷには、裸眼波面収差データを近似するゼルニケ多項式に対し、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に含まれるＳ，Ｃ，Ａデータ成分と第２矯正度数との差分データ（ＳＣＡ差分）に基づく係数で２次式の係数が置き換えられた式に基づく、全体の収差のＲＭＳ値が代入される。

【0054】

＜裸眼状態および旧眼鏡矯正状態のシミュレーション＞
また、第１実施形態において、ＣＰＵ３０は、裸眼での見え方シミュレーション画像、および旧眼鏡矯正状態（前眼鏡矯正状態ともいう）での見え方シミュレーション画像の少なくともいずれかを取得してもよい（Ｓ５）。

【0055】

裸眼での見え方シミュレーション画像は、裸眼波面収差データを利用して得られる裸眼状態の点像強度特性（point spread function；ＰＳＦ）を求め、そのＰＳＦと所定の指標との画像処理によって得ることができる。また、旧眼鏡矯正状態での見え方シミュレーション画像の生成方法は、例えば、上記特許文献１等を参照されたい。また、裸眼波面収差データの高次収差量（ＨＯ）を算出してもよい。高次収差量（ＨＯ）は、例えば、波面収差データにおける高次収差成分のＲＭＳ値であってもよい。この場合、ゼルニケ多項式の３次式およびそれよりも高次の式に基づいて高次収差量（ＨＯ）は算出可能である。

【0056】

＜シミュレーション結果の表示＞
第１実施形態において、ＣＰＵ３０は、上記の各種シミュレーション（演算処理）の結果を、モニタ５０に表示出力する。図３に示すように、モニタ５０のシミュレーション結果画面には、例えば、第１評価指標（即ち、レフ値矯正状態でのシミュレーション画像、およびレフ値矯正状態のストレール比）と、第２評価指標（例えば、予測検査画像（プラスマイナス５度下）、および第２矯正状態のストレール比）と、が並んで（同時に）表示される。その結果として、自覚検査において初めに設定されるレフ値矯正状態での被検眼の見え方と、レフ値矯正状態に対して度数を所定量だけ変化させたときの被検眼の見え方とを、検者が客観的に把握し、更に、比較することができる。よって、例えば、第２矯正状態となるように自覚検査を進めた場合に、被検眼の見え方が改善するか否かを、検者は容易に把握することができる。また、例えば、自覚検査における光学素子の配置切り換え時の被検者からの応答、および問い合わせがあった場合に、検者が適切に回答し、検査を進めることが可能となる。その結果として、自覚検査によって適正な処方値を容易に求めることができる。

【0057】

特に、円錐角膜の眼など、不正乱視がある眼では、他覚値として得られた矯正度数が処方されても、好適な見え方が得られない場合がある。このような場合に、例えば、第１実施形態のように乱視軸角度が異なる２以上の矯正状態での見え方を示す評価パラメータ（例えば、ストレール比）、およびシミュレーション画像は、好適な見え方の処方値を得るための有力な手掛かりとなりうる。つまり、第１実施形態において、検者は、第１評価指標と第２評価指標と目安に検査を進めることによって、不正乱視がある眼に対しても、処方値を良好に求めることができる。

【0058】

また、第１実施形態では、複数の第２矯正度数に関する第２評価指標がモニタ５０に表示される。より具体的には、レフ値に対し乱視軸角度（Ａ）を＋５°回転させた度数での処方を想定した第２評価指標と、レフ値に対し乱視軸角度（Ａ）を−５°回転させた度数での処方を想定した第２評価指標と、が並んで（同時に）表示される。複数の第２矯正度数に関する第２評価指標が表示されることによって、例えば、検者は、自覚検査の進行に伴う検者の見え方の変化を、より良好に予測できる。また、本実施形態では、レフ値矯正状態に対して、Ｓ，Ｃ，Ａのいずれか一つの度数（但し、第１実施形態では、乱視軸角度（Ａ））を大きくした場合に想定される見え方と、小さくした場合に想定される見え方とを、検者が容易に比較することができる。よって、検者は、被検眼の見え方が改善する検査手順を良好に予想することができる。その結果、検者は、適正な自覚検査を、容易に行うことができる。

【0059】

また、第１実施形態では、裸眼状態における被検眼の見え方のシミュレーション結果と、旧眼鏡矯正状態における見え方のシミュレーション結果とが、モニタ５０に表示される（図３参照）。これによって、自覚検査を含む検査のプラン立てを行ったり、自覚検査での被検者の反応を予測することが容易になる。例えば、高次収差量（ＨＯ）の値は、矯正による視力の改善されやすさについての指標となる。高次収差量（ＨＯ）が高い場合、白内障等によって被検眼の透光体に混濁がある可能性がある。よって、この場合、検者は、混濁の確認をする検査（例えば、徹照像による検査）を行うプランを立ててもよい。
＜第２実施形態＞
次に、本開示における第２実施形態を説明する。第２実施形態では、被検眼の見え方の質を表すために眼科装置によって出力される評価指標が、自覚検査の進行と連動して切り換わる。なお、第２実施形態に係る眼科装置１の概略構成は、特に断りがない限り、第１実施形態と同様であるものとし、説明を省略する。
＜自覚式検眼装置との接続＞
図４に示すように、第２実施形態において、眼科装置１には、自覚式検眼装置（以下、検眼装置と称す）２００が接続されている。検眼装置２００は、主に、被検眼の屈折力を自覚的に測定するために用いられる。

【0060】

第２実施形態において、検眼装置２００は、レンズユニット２１０と、制御ボックス２２０と、操作入力部２３０と、を有する。

【0061】

レンズユニット２１０は、自覚検査が行われる場合に、被検眼の眼前に配置される左右一対のレンズユニット２１０ａ，２１０ｂを備える。各レンズユニット２１０は、様々の光学素子（球面レンズ、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ等）が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスク全体を回転する第１の回転駆動部と、レンズディスクに対し、各々の光学素子を回転させる第２の回転駆動部と、を有する。検眼装置２００では、検査窓２１１ａ，２１１ｂ（つまり、被検眼の眼前）に配置される光学素子の光学特性を切り換えながら自覚検査が行われる。

【0062】

制御ボックス２２０は、図５に示すように、少なくとも制御部２２１と、メモリ２２２とを有する。制御部２２１は、検眼装置２００全体の動作を制御するプロセッサである。メモリ２２２には、検眼装置２００にて自覚検査を実行するためのプログラムが記憶される。また、自覚検査における測定結果等がメモリ２２２に記憶されてもよい。

【0063】

また、第２実施形態において、検眼装置２００の制御ボックス２２０は、眼科装置１の制御部３０と有線又は無線で接続される。その結果として、検眼装置２００と眼科装置１との間では、データの送受信（受け渡し）が可能である。検眼装置２００は、眼科装置１にて測定された裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に基づくレフ値（他覚値：例えば、球面度数（Ｓ）、円柱度数（Ｃ）、乱視軸角度（Ａ）で表現される）を取得する。なお、レフ値は、メモリ２２２に記憶される。レフ値が取得された場合、検眼装置２００の制御部２２１は、レンズユニット２１０を駆動することによって、レフ値に対応した光学素子を、初期値として眼前に配置させる。その後、検眼装置２００は、得られたレフ値を基にして眼前に配置される光学素子の光学特性を切り換えながら検査を行う。また、眼科装置１は、検眼装置２００にて得られる自覚値、および、自覚検査の進行に関するデータ等を、制御ボックス２２０から取得可能である。

【0064】

自覚検査において、検眼装置２００は、被検者の最高の視力を得るための完全矯正度数を求める。その後、検眼装置２００は、この完全矯正度数から検者の経験や所定の手法にしたがって最終的な自覚値（眼鏡処方値）を決定する。

【0065】

操作入力部２３０は、検眼装置２００を検者が操作するためのユニットである。図５に示すように、第２実施形態において、コントローラ２３０には、ディスプレイ２３１と、スイッチ部２３２と、を有する。ディスプレイ２３１は、検眼情報を表示する。

【0066】

また、スイッチ部２３２には、複数のスイッチが設けられている。

【0067】

スイッチ部２３２は、タッチパネルとして、ディスプレイと兼用される構成であってもよい。第２実施形態におけるスイッチ部２３２には、例えば、スタートスイッチ２３４及び送りスイッチ２３５、回転ダイヤル２３７等を備える。回転ダイヤル２３７は、球面度数（Ｓ）、乱視度数（Ｃ）、乱視軸角度（Ａ）の軸角度等を調整する時に用いられる。

【0068】

＜装置の動作＞
次に、図６のフローチャートを参照して、第２実施形態における眼科装置１の動作を説明する。

【0069】

まず、眼科装置１は、収差測定ユニット１００を用いて被検眼全体の裸眼での波面収差を測定する。その結果として、裸眼波面収差データ（本実施形態では、波面収差Ｗ（ρ、θ））を得る（Ｓ１１）。また、ＣＰＵ３０は、波面収差データをメモリ３５に記憶する。

【0070】

次に、ＣＰＵ３０は、収差測定ユニット１００によって得られた裸眼波面収差データを解析し、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に含まれる低次収差成分（ここでは、Ｓ，Ｃ，Ａ成分）を求める（Ｓ１２）。

【0071】

次に、ＣＰＵ３０は、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に基づくレフ値（他覚値）を、検眼装置２００に送信する（Ｓ１３）。ここでは、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）のＳ，Ｃ，Ａ成分の値が、レフ値として送信される。その結果、波面収差に基づくレフ値が、検眼装置２００のメモリ２２２に記憶される。なお、検眼装置２００に対するレフ値の送信は、検眼装置２００からのレフ値要求信号に基づいて行われてもよい。

【0072】

この段階で、ＣＰＵ３０は、裸眼での見え方シミュレーション画像、および旧眼鏡矯正状態（前眼鏡矯正状態ともいう）での見え方シミュレーション画像の少なくともいずれかを生成してもよい（Ｓ１４）。そして、生成したシミュレーション画像を、モニタ５０に表示してもよい（図７参照）。なお、以下のシミュレーション結果は、検眼装置２００のコントローラに設けられたディスプレイ２３１に表示されてもよい。

【0073】

＜自覚検査におけるシミュレーション＞
また、第２実施形態においても、第１実施形態と同様に、自覚検査における被検眼の見え方を表す評価指標が眼科装置１によってシミュレーションされる。第２実施形態では、ＣＰＵ３０は、評価指標を、自覚検査の進行と連動して生成する（Ｓ１５〜Ｓ２０）。例えば、第２実施形態における眼科装置１は、検眼装置２００の操作入力部２３０を用いて設定される自覚検査の検査条件に応じて、異なる評価指標を生成する。この場合、ＣＰＵ３０は、検眼装置２００の検査条件と対応する矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す矯正波面収差データを、波面収差データと及び矯正度数に基づいて演算する。そして、ＣＰＵ３０は、矯正度数での処方を想定した被検眼の見え方を表す評価指標を、矯正波面収差データに基づいて生成する。検査条件は、例えば、検眼装置２００によって被検眼の眼前に配置される光学部材の種類、その光学部材の軸角度、および被検眼に提示される検査視標の少なくとも１つに関する条件であってもよい。

【0074】

第２実施形態では、第１実施形態と同様に、Ｓ，Ｃ，Ａの少なくとも１つの成分が所定量だけ異なる関係にある第１矯正度数および第２矯正度数のそれぞれに関する評価指標が生成されてもよい。この場合、検査条件と対応する矯正度数が第１矯正度数として適用され、第１評価指標が生成されてもよい。また、検査条件と対応する矯正度数に対し，所定のＳＣＡ成分を付加した矯正度数が第２矯正度数として適用され、第２評価視標が生成されてもよい。例えば、第１評価指標によって、検眼装置２００に現在設定されている検査条件で検査される度数での処方を想定した被検眼の見え方が示されてもよい。この場合、現在の検査条件にて検査される度数に対し、所定量だけ度数を変化させたときの被検眼の見え方が、第２評価指標として示される。以下では、具体例として、第２評価視標は、第１評価視標に対し、乱視軸角度（Ａ）を＋５°回転させた場合における見え具合と、−５°回転させた場合における見え具合とをそれぞれ示す２種類の評価視標を含む場合について説明する。なお、評価視標としては、第１実施形態と同様に、シミュレーション画像と、見え具合の評価パラメータとが作成される場合について説明するが、もちろんこれに限られるものではない。

【0075】

第２実施形態において、眼科装置１は、検眼装置２００における検査条件データを取得する。例えば、検査条件データは、操作入力部２３０の操作に基づいて取得される。検査条件データは、検眼装置２００に設定される検査条件そのものを示すデータであってもよいし、その検査条件で検査される度数を示すデータであってもよい。ここでは、検査条件データは、検眼装置２００における検査条件と対応する乱視軸角度（Ａ）の矯正値を少なくとも示すデータである。検査条件データは、操作入力部２３０による検査条件の設定操作に応じて検眼装置２００から送信されるデータであってもよいし、眼科装置１のメモリ３５に予め記憶されているデータであってもよい。

【0076】

例えば、ＣＰＵ３０は、検眼装置２００に裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に基づくレフ値を送信した後、自覚検査開始のトリガ信号が入力されたか否かを判定し（Ｓ１５）、トリガ信号の入力があるまで評価視標に関する動作を待機する（Ｓ１５：Ｎｏ）。

【0077】

ここで、検眼装置２００では、スタートスイッチ２３４が検者によって操作される場合に、自覚検査開始のトリガ信号が操作入力部２３０から出力される。検眼装置２００の制御部２２１は、トリガ信号の入力に基づいて、例えば、予めメモリ２２２に記憶されるレフ値に対応する光学素子を検査窓２１１ａ，検査窓２１１ｂの少なくとも一方に配置する。また、トリガ信号は、眼科装置１に対しても送信される。その結果として、ＣＰＵ３０は、待機を解除し（Ｓ１５：Ｙｅｓ）、自覚検査の初期状態における第１および第２評価指標を生成し、モニタ５０に表示する（Ｓ１６）。また、ＣＰＵ３０は、第１評価指標と第２評価指標とを対応付けてメモリ３５に記憶する。自覚検査の初期状態では、検査条件データとして、眼科装置１が予め測定している裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に基づくレフ値が使用されてもよい。つまり、レフ値での矯正を想定した評価指標が、自覚検査の初期状態における第１評価視標として生成されても良い。また、レフ値に対して所定量だけ乱視軸角度（Ａ）を回転させた場合を想定した見え方が、自覚検査の初期状態における第２評価視標として生成されてもよい。なお、第１評価視標と第２評価視標とを生成および表示開始のタイミングは、必ずしもトリガ信号の入力を待って行う必要はない。例えば、トリガ信号の入力以前に各評価視標が生成等されてもよい。

【0078】

一方、検眼装置２００では、レフ値に対応する光学素子が眼前に配置された後で、例えば、Ｒ／Ｇテストが行われてもよい。検者は、被検者に対し、レッドグリーン視標を見させる。また、検査窓２１１ａ，２１１ｂには、レフ値に対してＳ＋０．５Ｄ分を加える雲霧が掛けられる。また、検眼装置２００の制御部２２０は、検眼プログラムに従って、球面度数が変更可能なＳＰＨモードとされる。検者は被検者の応答を得て、赤と緑の文字が同程度となるように、回転ダイヤル２３７を操作して球面度数を調整する。

【0079】

球面度数の調整後、送りスイッチ２３５が操作されることによって、ＸＣレンズによる乱視軸調整検査に進む。このとき、検者は、被検者に対し、点群視標を見させる。また、制御部２２１は、レンズユニット２１０を駆動することによって、被検眼の眼前にＸＣレンズを配置する。また、図示無き第２駆動記憶を駆動して、ＸＣレンズのマイナス軸を、他覚値データの乱視軸角度に応じて調整する（乱視軸調整検査では、ＸＣレンズのマイナス軸を検査窓に配置された乱視レンズマイナス軸に対して４５°に位置させる）。検者は、ＸＣレンズを反転（ＸＣレンズの経線周りに反転）させる前後での点群視標の見え方の違いを、被検者からの応答によって確認しつつ、回転ダイヤル２３７を操作して、回転の前後で点群視標の見え方が同じになるように、ＸＣレンズのレンズ光軸の周りの角度を（例えば、１ステップの操作につき、５°ずつ）調節する。この場合、回転ダイヤル２３７の操作に応じて、検査条件と対応する乱視軸角度（Ａ）の矯正値が、５°づつ変化される。検眼装置２００は、回転ダイヤル２３７が１ステップ操作される毎に、検査条件信号（例えば、その時の検査条件と対応する乱視軸角度（Ａ）の矯正値を示す信号であってもよい）を、眼科装置２００へ送信する。

【0080】

眼科装置１では、例えば、第１評価視標と第２評価視標との初期表示をＳ１６にて行った後、検査条件信号が入力されるまで、モニタ５０に表示される評価視標を維持し続けても良い（Ｓ１７：Ｎｏ）。そして、検査条件信号が入力された場合は、検査条件信号にて示される新たな検査条件と対応する矯正値での評価視標を生成し、表示を行う（Ｓ１８）。例えば、検眼装置２００にて検査される乱視軸角度（Ａ）が、例えば、自覚検査における矯正値の初期値であるレフ値の乱視軸角度（Ａ）に対し、５°増大した場合には、第１矯正度数および第２矯正度数を、初期値（つまり、Ｓ１６における値）に対し、それぞれ５°増大させたときの被検眼の見え方をそれぞれ表す第１及び第２評価視標が、ＣＰＵ３０によって作成および表示される。

【0081】

その後、検眼装置２００からの検査終了信号が眼科装置１に受信されるまでの間、Ｓ１７およびＳ１８は繰り返し行われる（Ｓ１９：Ｎｏ）。つまり、第２実施形態では、自覚検査にて検査される乱視軸角度（Ａ）の矯正値に関する検査条件と連動するように、ＣＰＵ３０は、第１評価視標および第２評価視標を更新する。その結果として、検者は、自覚検査において検査される乱視軸角度（Ａ）が変化したときの見え方の違いを、各評価視標によって、自覚検査において逐次確認することができる。よって、検者は、ステップ毎の被検眼の見え方を把握しながら自覚検査を進めることが容易になる。

【0082】

また、再度のレッドグリーンテスト等自覚検査の各ステップが完了した後、検者は、所定の検査終了操作を操作入力部２３０に対して行う。その結果として、検眼装置２００は、最終的な自覚値データと、検査終了信号とを、眼科装置１に送信する。また、検眼装置２００のメモリ２２２には、自覚値データが記憶される。眼科装置１は、検査終了信号を受信した場合（Ｓ１９：Ｙｅｓ）、検眼装置２００から受信した自覚値データに基づいて自覚値での処方を想定した、処方値矯正状態での見え方を示す評価視標（図７参照）が、ＣＰＵ３０によって生成され、モニタ５０に表示される（Ｓ２０）。これによって、検者は、最終的な処方値での処方を想定した被検眼の見え方を確認することができる。
＜変形例＞
以上、実施形態に基づいて説明を行ったが、上記実施形態は様々に変形可能である。

【0083】

例えば、上記実施形態において、自覚検査での見え方を示す第１および第２評価指標は、モニタ５０上で並列的に表示されるものとして説明したが、選択的に切り換えて表示されるものであってもよい。

【0084】

また、上記各実施形態では、第２評価視標として、プラス第２評価視標とマイナス第２評価視標との両方が眼科装置１によって生成および表示されるものとして説明したが、必ずしもこれに限られるものではなく、いずれか一方のみが生成および表示されてもよい。また、プラス第２評価視標とマイナス第２評価視標の両方が生成される場合であっても、必ずしも並列的に表示される必要はなく、選択的に表示されても良い。

【0085】

また、上記各実施形態において、第１評価視標と、第２評価視標とは、処方を想定した矯正度数のうち、乱視軸角度（Ａ）が所定量だけ異なる関係にあるものとして説明したが、Ｓ，Ｃ，Ａのうち、乱視軸角度（Ａ）以外の度数が異なる関係にあるものであっても良い。例えば、球面度数（Ｓ）の値が異なる場合、上記のレッドグリーンテスト等の球面度数を調節する検査において、見え方の良好な球面度数を調節しやすい場合があると考えられる。

【0086】

また、上記第２実施形態では、自覚検査において乱視軸角度（Ａ）の検査が行われる場合にだけ、操作入力部２３０への操作に応じた検眼装置２００の検査条件と連動して、自覚検査における見え方を示す評価視標（第１および第２評価視標）が更新された。しかし、必ずしもこれに限られるものではなく、自覚検査における球面度数（Ｓ）の検査、および乱視度数（Ｃ）においても、検眼装置２００の検査条件と連動して、自覚検査における見え方を示す評価視標（第１および第２評価視標）が更新されてもよい。

【0087】

上記各実施形態では、眼収差計の構造を持つ装置を、被検眼の見え方についての各種シミュレーションを行う眼科装置として説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、第２実施形態にて例示した自覚検眼装置が、被検眼の見え方をシミュレーションする眼科装置であってもよいし、眼収差系および自覚検眼装置とのいずれとも別体の装置が、被検眼の見え方をシミュレーションする眼科装置であってもよい。このような装置としては、例えば、汎用のコンピュータ（パーソナルコンピュータ等）が利用されうる。いずれの場合も、図２のフローチャートに示す各処理、或いは、図６のフローチャートに示す各処理等を含む測定プログラムをメモリに記憶し、そのプログラムがプロセッサによって実行される。眼科装置が眼収差計の構造を備えない場合、例えば、眼収差計で測定された裸眼破面収差データを通信で、或いは、波面収差データが記憶されたメモリーカード等を読み込むことで、眼科装置における波面収差データの取得が行われても良い。そして、波面収差データを用いて上記の各処理が実施されることによって、眼収差計と別体の眼科装置においても、上記実施形態と同様のシミュレーションを行い、眼科装置が備えるモニタあるいは眼科装置と接続されるモニタにシミュレーション結果を表示することができる。なお、シミュレーションにて利用可能な裸眼波面収差データとしては、裸眼波面収差Ｗ（ρ、θ）に限定されるものではない。例えば、波面収差データを近似する多項式の係数（例えば、ゼルニケ多項式の係数）を示すデータであってもよい。つまり、多項式の係数を示すデータが、収差計から眼科装置へ送信される場合にも、シミュレーションは可能である。

【0088】

また、第１および第２実施形態において、自覚検査による最終的な処方値が得られた場合に、レフ値矯正状態での被検眼の見え方を示す評価視標（即ち、第１実施形態における第１評価視標、および、第２実施形態における初期状態での第１評価視標）と、処方値矯正状態での見え方を示す評価視標と、を選択的に、あるいは並列的に、ＣＰＵ３０がモニタ５０上に表示するようにしてもよい。レフ値矯正状態での被検眼の見え方と、自覚検査の初期状態における被検眼の見え方と、を比べて、見え方の質の改善度合いを検者が客観的に把握することができる。この場合において、評価パラメータをそれぞれの評価視標として生成する場合、互いの評価パラメータの種類（つまり算出方法）が同じであることが好ましい。

【0089】

また、上記各実施形態において、明所視状態での自覚値と、薄暮視状態での自覚値とをそれぞれ測定してもよい。この場合、明所視状態での自覚値と、薄暮視状態での自覚値とを測定する場合において、各シミュレーションを行う際に使用する裸眼での波面収差データは、異なる瞳孔系に対応して求めたものであってもよい。

【0090】

また、上記各実施形態において、自覚検査における第２矯正度数は、第１矯正度数に対し、Ｓ，Ｃ，Ａの少なくとも１つが所定量だけ異なるものとして説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。第２矯正度数は、第１矯正度数と低次収差成分のいずれかが所定量だけ異なるものであればよく、例えば、第２矯正度数は、第１矯正度数とで、プリズム度数が異なっていてもよい。

【符号の説明】

【0091】

１ 眼科装置
３０ ＣＰＵ
５０ モニタ
１００ 収差測定ユニット
２００ 検眼装置

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】