特許 6525103 質量分析装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6525103

(24)【登録日】2019年5月17日

(45)【発行日】2019年6月5日

(54)【発明の名称】質量分析装置

(51)【国際特許分類】

   H01J 49/26 20060101AFI20190527BHJP

   G01N 27/62 20060101ALI20190527BHJP

   H01J 49/42 20060101ALI20190527BHJP

   H01J 49/06 20060101ALI20190527BHJP

【ＦＩ】

   H01J49/26

   G01N27/62 E

   G01N27/62 D

   G01N27/62 Y

   H01J49/42

   H01J49/06

【請求項の数】4

【全頁数】13

(21)【出願番号】特願2018-502870(P2018-502870)

(86)(22)【出願日】2016年2月29日

(86)【国際出願番号】JP2016056058

(87)【国際公開番号】WO2017149603

(87)【国際公開日】20170908

【審査請求日】2018年5月9日

(73)【特許権者】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】110001069

【氏名又は名称】特許業務法人京都国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】芦田 剛士

【審査官】 右▲高▼ 孝幸

(56)【参考文献】

【文献】 特開2013-15485（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開2013-142581（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開2015-76338（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第2015/160231（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｈ０１Ｊ ４９／２６

Ｇ０１Ｎ ２７／６２

Ｈ０１Ｊ ４９／０６

Ｈ０１Ｊ ４９／４２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

イオンを開裂させる開裂部と、該開裂部の前段及び後段にそれぞれ位置する質量分離部を有する質量分析装置であって、
a) 複数の化合物のそれぞれに関するマススペクトルデータが予め保存された記憶部と、
b) 使用者による入力指示に応じ、前記複数の化合物の一部又は全部である複数の対象化合物のそれぞれについて、予め決められた条件に従って前記マススペクトルデータから１乃至複数のプリカーサイオン候補を選出するプリカーサイオン候補選出部と、
c) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれと、予め決められた複数の開裂エネルギー候補値とを組み合わせて複数のプロダクトイオンスキャン測定条件を設定するプロダクトイオンスキャン測定条件決定部と、
d) 前記複数のプロダクトイオンスキャン測定条件に従ったＭＳ／ＭＳ測定をそれぞれ実行してプロダクトイオンスペクトルデータを取得するプロダクトイオンスペクトルデータ取得部と、
e) 前記複数の対象化合物のそれぞれについて、前記プロダクトイオンスキャン測定条件と該条件により取得した前記プロダクトイオンスペクトルデータを対応付けた化合物データベースファイルを作成して前記記憶部に保存する化合物データベースファイル作成部と、
f) 前記複数の対象化合物のそれぞれについて、全ての前記プロダクトイオンスペクトルデータから、予め決められた条件に従ってプロダクトイオンを抽出し、各プロダクトイオンの質量電荷比、該プロダクトイオンに対応するプリカーサイオンの質量電荷比、及び開裂エネルギーの候補値を含むＭＲＭ測定条件候補を作成して前記記憶部に保存するＭＲＭ測定条件候補作成部と、
g) 表示部と、
h) 使用者により前記複数の対象化合物のうちのいずれかを選択する操作が行われると、前記記憶部から当該対象化合物のマススペクトルデータを読み出して前記表示部にマススペクトルを表示するとともに、前記プリカーサイオン候補のマスピークを他のマスピークから識別されるように表示するマススペクトル表示制御部と、
i) 使用者により、前記識別されたマススペクトルのマスピークを選択する操作が行われると、該マスピークに対応するプリカーサイオンを用いて異なる開裂エネルギーの値で実行されたプロダクトイオンスキャン測定により取得されたプロダクトイオンスペクトルのうち、最も高強度のマスピークを有するプロダクトイオンスペクトルを前記表示部に表示するとともに、前記複数の開裂エネルギーの候補値のそれぞれにおける該マスピークの強度を前記表示部に表示するプロダクトイオンスペクトル表示制御部と
を備えることを特徴とする質量分析装置。

【請求項2】

前記プロダクトイオンスペクトル表示制御部が、前記ＭＲＭ測定条件候補に含まれるプロダクトイオンに対応する、プロダクトイオンスペクトルのマスピークを強調して表示する
ことを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。

【請求項3】

j) 前記表示部に表示された前記プロダクトイオンスペクトルのマスピークを使用者が指定すると、該マスピークに対応するプリカーサイオン及びプロダクトイオンの組をＭＲＭトランジションに決定し、さらに、前記複数の開裂エネルギーの候補値の中から該プロダクトイオンのマスピークの強度が最も大きい値を抽出して開裂エネルギーの値に決定してＭＲＭ測定条件を設定するＭＲＭ測定条件設定部
を備えることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。

【請求項4】

新たな化合物のマススペクトルデータ及びプロダクトイオンスペクトルデータが外部から入力されると、
前記プリカーサイオン候補選出部が、前記プロダクトイオンスペクトルデータから該プロダクトイオンスペクトルデータにおけるプリカーサイオンを抽出してプリカーサイオン候補として決定し、
前記ＭＲＭ測定条件候補作成部が、前記プロダクトイオンスペクトルデータから予め決められた条件に従ってプロダクトイオンを抽出し、該プロダクトイオンの質量電荷比、該プロダクトイオンに対応するプリカーサイオンの質量電荷比、及び開裂エネルギーの候補値を含むＭＲＭ測定条件候補を作成し、
前記化合物データベース作成部が、前記マススペクトルデータ、前記プロダクトイオンスペクトルデータ、前記プリカーサイオン候補、及び前記ＭＲＭ条件候補を用いて前記化合物データベースを更新する
ことを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、試料に含まれる目的化合物を多重反応モニタリング（ＭＲＭ）測定する際の測定条件を容易に決定することができる質量分析装置に関する。

【背景技術】

【0002】

試料に含まれる目的化合物の同定や定量を行うための質量分析の一つの手法としてＭＳ／ＭＳ分析（タンデム分析）と呼ばれる手法がある。ＭＳ／ＭＳ分析は、例えば特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する前段質量分離部、プリカーサイオンを開裂させてプロダクトイオンを生成するコリジョンセル、及び特定の質量電荷比を有するプロダクトイオンを選択的に通過させる後段質量分離部を有する質量分析装置を用いて行われる。

【0003】

ＭＳ／ＭＳ分析における測定手法の１つにＭＲＭ測定がある。ＭＲＭ測定では、前段質量分離部と後段質量分離部を通過させるイオンの質量電荷比をそれぞれ固定し、特定のプリカーサイオンから生成される特定のプロダクトイオンの強度（量）を測定する。このプリカーサイオンとプロダクトイオンの組はＭＲＭトランジションと呼ばれる。

【0004】

目的化合物のＭＲＭ測定を行うためには、予めＭＲＭ測定条件を決めておく必要がある。一般に、ＭＲＭ測定条件は、分析者が、多数の化合物のそれぞれについてＭＲＭトランジション及び開裂エネルギーの値（衝突エネルギーの値やＣＥ値ともいう。）を含むＭＲＭ測定条件候補が、１乃至複数登録された化合物データベースを参照して決定する。

【0005】

化合物データベースには、各化合物の標準試料を使用してＭＲＭトランジションと開裂エネルギーの値の少なくとも一方が異なる測定条件で網羅的に予備測定した結果に基づき、プロダクトイオンを高感度で検出できる測定条件が選出され登録されている。従って、化合物データベースを参照することにより目的化合物のＭＲＭ測定条件を決定することができ、こうして決定されたＭＲＭ測定条件の下で測定を行えば目的化合物のプロダクトイオンを高感度で検出することができる（例えば特許文献１、２）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0006】

【特許文献1】特開２０１３−１５４８５号公報

【特許文献2】特開２０１２−１０４３８９号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

しかし、実際に測定する試料（実試料）には、目的化合物以外の化合物（夾雑化合物）も含まれている。こうした夾雑化合物の中に、目的化合物のＭＲＭ測定条件に含まれるＭＲＭトランジションと同一の質量電荷比を有するプリカーサイオン及びプロダクトイオンを生成するものが含まれていると、目的化合物のプロダクトイオンと夾雑化合物のプロダクトイオンが同時に検出されることになり、目的化合物を正しく定量することができない。そのため、実試料のＭＲＭ測定では、化合物データベースに登録されているＭＲＭ測定条件候補の中から夾雑化合物に影響されることがないものを選出して目的化合物のＭＲＭ測定条件を決定する必要がある。

【0008】

最近では、生体試料、食品、あるいは土壌に含まれる目的化合物の同定や定量にもＭＲＭ測定が用いられている。生体試料等には、目的化合物以外に数百から数千もの夾雑化合物が含まれている。

【0009】

一方、化合物データベースには各化合物の予備測定の結果に基づいて最終的に選出されたＭＲＭ測定条件候補（ＭＲＭトランジションとＣＥ値の組）が１乃至複数登録されているのみであり、それ以外のＭＲＭトランジションとＣＥ値の組に関する情報（ＭＲＭ測定条件候補以外のＭＲＭトランジションやＣＥ値で行われた予備測定の結果）は保存されていない。そのため、化合物データベースに登録されているＭＲＭ測定条件候補のいずれを用いても夾雑化合物の影響を受けてしまう（化合物データベースに登録されているＭＲＭ測定条件候補のいずれも用いることができない）場合がある。こうした場合、分析者が自らＭＲＭトランジションとＣＥ値の少なくとも一方が異なる測定条件を新たに設定して網羅的に予備測定を行って、実試料において使用可能なＭＲＭ測定条件候補を探さなければならず、時間と手間がかかるという問題があった。

【0010】

本発明が解決しようとする課題は、夾雑化合物を多く含む試料をＭＲＭ測定する場合であっても、該試料に含まれる目的化合物のＭＲＭ測定条件を容易に決定することが可能な化合物データベースを作成することができる質量分析装置を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0011】

上記課題を解決するために成された本発明は、イオンを開裂させる開裂部と、該開裂部の前段及び後段にそれぞれ位置する質量分離部を有する質量分析装置であって、
a) 複数の化合物のそれぞれに関するマススペクトルデータが予め保存された記憶部と、
b) 使用者による入力指示に応じ、前記複数の化合物の一部又は全部である複数の対象化合物のそれぞれについて、予め決められた条件に従って前記マススペクトルデータから１乃至複数のプリカーサイオン候補を選出するプリカーサイオン候補選出部と、
c) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれと、予め決められた複数の開裂エネルギー候補値とを組み合わせて複数のプロダクトイオンスキャン測定条件を設定するプロダクトイオンスキャン測定条件決定部と、
d) 前記複数のプロダクトイオンスキャン測定条件に従ったＭＳ／ＭＳ測定をそれぞれ実行してプロダクトイオンスペクトルデータを取得するプロダクトイオンスペクトルデータ取得部と、
e) 前記複数の対象化合物のそれぞれについて、前記プロダクトイオンスキャン測定条件と該条件により取得した前記プロダクトイオンスペクトルデータを対応付けた化合物データベースファイルを作成して前記記憶部に保存する化合物データベースファイル作成部と、
f) 前記複数の対象化合物のそれぞれについて、全ての前記プロダクトイオンスペクトルデータから、予め決められた条件に従ってプロダクトイオンを抽出し、各プロダクトイオンの質量電荷比、該プロダクトイオンに対応するプリカーサイオンの質量電荷比、及び開裂エネルギーの候補値を含むＭＲＭ測定条件候補を作成して前記記憶部に保存するＭＲＭ測定条件候補作成部と、
を備えることを特徴とする。

【0012】

前記プリカーサイオン候補選出部がプリカーサイオン候補を選出する際の条件（前記予め決められた条件）としては、例えば、プリカーサイオンのマスピーク強度が大きい順に所定個数のプリカーサイオンを選出すること、あるいはプリカーサイオンのマスピーク強度が予め決められた値以上のプリカーサイオンを選出すること、などを用いることができる。また、特定のイオンをプリカーサイオンとして選出しない（除外イオン）という条件を組み合わせてもよい。
前記ＭＲＭ測定条件候補作成部がプロダクトイオンを抽出する際の条件にも上記同様のものを用いることができる。

【0013】

本発明に係る質量分析装置では、使用者が所定の入力指示操作を行うと、予め記憶部に保存されている複数の対象化合物のマススペクトルデータに基づき１乃至複数のプリカーサイオン候補が選出される。そして、プリカーサイオン候補のそれぞれについて開裂エネルギーの値が異なる複数の条件でプロダクトイオンスペクトルデータが取得され、該データに基づきＭＲＭ測定条件候補が作成される。この段階で、従来の化合物データベースに登録されているＭＲＭ測定条件候補に相当するものが作成される。

【0014】

本発明に係る質量分析装置では、ＭＲＭ測定条件候補を作成するだけでなく、ＭＲＭトランジションと開裂エネルギーの値の少なくとも一方が異なる条件で網羅的に行った測定により取得されたプロダクトイオンスペクトルデータそのものがＭＲＭ測定条件候補に対応付けられデータベース化される。つまり、プリカーサイオン候補から生成されるプロダクトイオンであって、前記ＭＲＭ測定条件候補作成部により抽出されなかったプロダクトイオンのマスピークの強度情報や、ＭＲＭ測定条件候補に含まれない値の開裂エネルギーにおけるプロダクトイオンのマスピークの強度情報を含んだ化合物データベースが作成される。従って、ＭＲＭ測定条件候補作成部により作成されたＭＲＭ測定条件候補のいずれも使用することができない場合でも、化合物データベースファイルに含まれるプロダクトイオンスペクトルデータを読み出して別のＭＲＭ測定条件を探索し、適切なＭＲＭ測定条件を決定することができる。

【0015】

本発明に係る質量分析装置は、さらに、
g) 表示部と、
h) 使用者により前記複数の対象化合物のうちのいずれかを選択する操作が行われると、前記記憶部から当該対象化合物のマススペクトルデータを読み出して前記表示部にマススペクトルを表示するとともに、前記プリカーサイオン候補のマスピークを他のマスピークから識別されるように表示するマススペクトル表示制御部と、
i) 使用者により、前記識別されたマススペクトルのマスピークを選択する操作が行われると、該マスピークに対応するプリカーサイオンを用いて異なる開裂エネルギーの値で実行されたプロダクトイオンスキャン測定により取得されたプロダクトイオンスペクトルのうち、最も高強度のマスピークを有するプロダクトイオンスペクトルを前記表示部に表示するとともに、前記複数の開裂エネルギーの候補値のそれぞれにおける該マスピークの強度を前記表示部に表示するプロダクトイオンスペクトル表示制御部と
を備えることが望ましい。

【0016】

上記の識別表示は、例えばマスピークを着色表示したり、太線で表示したりするほか、マスピークの近傍に質量電荷比を表示する等、種々の方法により行うことができる。

【0017】

上記のマススペクトル表示制御部及びプロダクトイオンスペクトル表示制御部を備えた態様の質量分析装置では、使用者が複数の対象化合物のうちの１つを選択すると、該対象化合物のマススペクトルが表示部に表示され、この状態で使用者が識別表示されたマスピークを選択すると、該マスピークに対応するプリカーサイオンを用いて取得したプロダクトイオンスペクトル、及びプロダクトイオンスペクトルのマスピーク強度と開裂エネルギーの値の関係が表示部に表示される。即ち、使用者は、表示されたマススペクトルやプロダクトイオンスペクトルのマスピークを選択する操作を行うのみで、種々のプロダクトイオンのマスピーク強度、及び該強度と開裂エネルギーの値の関係を確認し、所望のＭＲＭ測定条件を容易に決定することができる。

【0018】

本発明に係る質量分析装置では、
前記プロダクトイオンスペクトル表示制御部が、前記ＭＲＭ測定条件候補に含まれるプロダクトイオンに対応する、プロダクトイオンスペクトルのマスピークを強調して表示する
ことが好ましい。

【0019】

上記のようにマスピークを強調表示（着色表示、太線表示、点滅表示等）することにより、表示部に表示されているプロダクトイオンスペクトルのマスピークの中から、ＭＲＭ測定条件候補に含まれているＭＲＭトランジションに対応するマスピークを使用者が瞬時に確認することができる。

【0020】

また、本発明に係る質量分析装置では、
新たな化合物のマススペクトルデータ及びプロダクトイオンスペクトルデータが外部から入力されると、
前記プリカーサイオン候補選出部が、前記プロダクトイオンスペクトルデータから該プロダクトイオンスペクトルデータにおけるプリカーサイオンを抽出してプリカーサイオン候補として決定し、
前記ＭＲＭ測定条件候補作成部が、前記プロダクトイオンスペクトルデータから予め決められた条件に従ってプロダクトイオンを抽出し、該プロダクトイオンの質量電荷比、該プロダクトイオンに対応するプリカーサイオンの質量電荷比、及び開裂エネルギーの候補値を含むＭＲＭ測定条件候補を作成し、
前記化合物データベース作成部が、前記マススペクトルデータ、前記プロダクトイオンスペクトルデータ、前記プリカーサイオン候補、及び前記ＭＲＭ条件候補を用いて前記化合物データベースを更新する
ことが望ましい。

【0021】

さらに、本発明に係る質量分析装置は、
j) 前記表示部に表示された前記プロダクトイオンスペクトルのマスピークを使用者が指定すると、該マスピークに対応するプリカーサイオン及びプロダクトイオンの組をＭＲＭトランジションに決定し、さらに、前記複数の開裂エネルギーの候補値の中から該プロダクトイオンのマスピークの強度が最も大きい値を抽出して開裂エネルギーの値に決定してＭＲＭ測定条件を設定するＭＲＭ測定条件設定部
を備えることが望ましい。

【発明の効果】

【0022】

本発明に係る質量分析装置を用いることにより、ＭＲＭ測定条件候補に加え、プロダクトイオンスキャン測定条件と該条件により取得したプロダクトイオンスペクトルデータを対応付けた情報を含む化合物データベースファイルが作成される。そのため、使用者は、夾雑化合物を多く含む試料をＭＲＭ測定する際にＭＲＭ測定条件候補のいずれも使用することができない場合であっても、該化合物データベースのプロダクトイオンスペクトルデータを参照して目的化合物のＭＲＭ測定条件を容易に決定することができる。

【図面の簡単な説明】

【0023】

【図1】本発明に係る質量分析装置の一実施例の要部構成図。

【図2】本実施例の質量分析装置において作成されるメソッドファイルの例。

【図3】本実施例の質量分析装置におけるスペクトル表示画面の例。

【図4】本実施例の質量分析装置におけるスペクトル表示画面の別の例。

【図5】本実施例の質量分析装置におけるＭＲＭ測定条件表示画面の例。

【発明を実施するための形態】

【0024】

以下、本発明に係る装置の一実施例について、図面を参照して説明する。

【0025】

図１は本実施例の質量分析装置の要部構成図である。本実施例の質量分析装置１は、大別して質量分析部２、該質量分析部２に所定の電圧を印加する電源部２４、及び該電源部２４を介して質量分析部２の各部を制御する制御部４から構成される。

【0026】

質量分析部２は、略大気圧であるイオン化室２０と真空ポンプ（図示なし）により真空排気された高真空の分析室２３との間に、段階的に真空度が高められた第１、第２中間真空室２１、２２を備えた多段差動排気系の構成を有している。イオン化室２０には、試料溶液に電荷を付与しながら噴霧するエレクトロスプレイイオン化用プローブ（ＥＳＩプローブ）２０１が設置されている。イオン化室２０と後段の第１中間真空室２１との間は細径の加熱キャピラリ２０２を通して連通している。第１中間真空室２１と第２中間真空室２２との間は頂部に小孔を有するスキマー２１２で隔てられ、第１中間真空室２１と第２中間真空室２２にはそれぞれ、イオンを収束させつつ後段へ輸送するためのイオンガイド２１１、２２１が設置されている。分析室２３には、多重極イオンガイド（ｑ２）２３３が内部に設置されたコリジョンセル２３２を挟み、イオンを質量電荷比に応じて分離する前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１と、同じくイオンを質量電荷比に応じて分離する後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４、及びイオン検出器２３５が設置されている。

【0027】

コリジョンセル２３２の内部には、アルゴン、窒素などのＣＩＤガスを連続的又は間欠的に供給することができる。電源部２４は、ＥＳＩプローブ２０１、イオンガイド２１１、２２１、２３３、四重極マスフィルタ２３１、２３４などにそれぞれ所定の電圧を印加する。なお、四重極マスフィルタ２３１、２３４はそれぞれ、メインロッド電極の前段に、入口端での電場の乱れを補正するためのプリロッド電極を有しており、プリロッド電極にはメインロッド電極とは異なる電圧が印加できるようになっている。

【0028】

質量分析部２では、ＳＩＭ（選択イオンモニタリング）測定、プロダクトイオンスキャン測定、ＭＲＭ（多重反応モニタリング）測定等を行うことができる。ＳＩＭ測定では、前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１ではイオンを選別せず（質量分離部としては機能させず）、後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４を通過させるイオンの質量電荷比を固定してイオンを検出する。

【0029】

一方、ＭＳ／ＭＳスキャン測定（プロダクトイオンスキャン測定）及びＭＲＭ測定では、前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１及び後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４の両方をマスフィルタとして機能させる。前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１ではプリカーサイオンとして設定されたイオンのみを通過させる。また、コリジョンセル２３２の内部にＣＩＤガスを供給し、プリカーサイオンを開裂させてプロダクトイオンを生成する。ＭＳ／ＭＳスキャン測定では後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４を通過するイオンの質量電荷比を走査し、ＭＲＭ測定では後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４を通過するイオンの質量電荷比を固定する。

【0030】

制御部４は、複数の化合物のマススペクトルデータが保存された記憶部４１を有するとともに、機能ブロックとして、プリカーサイオン候補選出部４２、プロダクトイオンスキャン測定条件決定部４３、プロダクトイオンスペクトルデータ取得部４４、化合物データベースファイル作成部４５、ＭＲＭ測定条件候補作成部４６、マススペクトル表示制御部４７、プロダクトイオンスペクトル表示制御部４８、及びＭＲＭ測定条件設定部４９を備えている。また、制御部４は、上記各部の動作に合わせて電源部２４やＣＩＤガス供給部（図示せず）などの各部の動作をそれぞれ制御する機能を有している。制御部４の実体は所要のソフトウェアがインストールされたパーソナルコンピュータであり、入力部６、表示部７が接続されている。

【0031】

以下、本実施例における質量分析装置１の各部の動作を説明する。
まず、使用者が、記憶部４１に保存された複数の化合物の中から所望の対象化合物を１乃至複数選択する。このとき選択する化合物は、前記複数の化合物の一部であってもよく、あるいは全部であってもよい。使用者により対象化合物が選択されると、プリカーサイオン候補選出部４２は、それら対象化合物のマススペクトルデータを参照し、各対象化合物について、マスピークの強度が大きい順にプリカーサイオン候補を予め決められた数（例えば５個）選出する。

【0032】

各対象化合物について所定個数（例えば５個）のプリカーサイオン候補が選出されると、プロダクトイオンスキャン測定条件決定部４３は、プリカーサイオン候補ごとに予め決められた複数の開裂エネルギーの候補値（衝突エネルギー候補値やＣＥ候補値ともいう。）を組み合わせた測定条件（イベント）を作成する。複数のＣＥ候補値は、装置に初期設定されたものであってもよく、あるいは使用者が都度入力するようにしてもよい。また、全ての対象化合物（及びプリカーサイオン候補）に共通のＣＥ候補値を用いてもよく、あるいは対象化合物（あるいはプリカーサイオン候補）ごとに異なるＣＥ候補値を用いてもよい。本実施例では、5eVから50eVまで、5eVずつ異なる10個のＣＥ候補値を用いる。図２に、プロダクトイオンスキャン測定条件決定部４３により作成される、複数の条件でのＭＳ／ＭＳ測定（イベント）を連続して実行するメソッドファイルの例を示す。

【0033】

上記メソッドファイルが作成されると、プロダクトイオンスペクトルデータ取得部４４は、該メソッドファイルに記載された順に各イベント（プロダクトイオンスキャン測定）を実行してプロダクトイオンスペクトルデータを取得し、記憶部４１に保存する。

【0034】

全てのイベントが終了し、各イベントについてプロダクトイオンスペクトルデータが記憶部４１に保存されると、化合物データベースファイル作成部４５は、対象化合物、プリカーサイオン候補、及びＣＥ候補値を、プロダクトイオンスペクトルデータに対応付けた化合物データベースファイルを作成し、記憶部４１に保存する。

【0035】

上記化合物データベースファイルが作成されると、ＭＲＭ測定条件候補作成部４６は、対象化合物ごとに、全てのプロダクトイオンスペクトルデータを参照して強度が大きい順に所定数のマスピークを選出し、該マスピークに対応するプリカーサイオン、プロダクトイオン、及びＣＥ候補値の組を決定してＭＲＭ測定条件候補を作成し、記憶部４１に保存する。

【0036】

また、本実施例の質量分析装置１では、新たな化合物のマススペクトルデータ及びプロダクトイオンスペクトルデータ（該プロダクトイオンスペクトルデータを取得する測定におけるプリカーサイオン及びＣＥ値の情報を含む）が入力されると、前記プリカーサイオン候補選出部４２がプロダクトイオンスペクトルデータから該プロダクトイオンスキャン測定に用いられたプリカーサイオンをプリカーサイオン候補に決定する。また、ＭＲＭ測定条件候補作成部４６が、プロダクトイオンスペクトルデータからマスピークの強度が大きい順に所定数、プロダクトイオンとＣＥ候補値の組を選出してＭＲＭ測定条件候補を決定する。プリカーサイオン候補及びＭＲＭ測定条件候補が決定すると、化合物データベースファイル作成部４５は、化合物データベースに、新たに入力された化合物のマススペクトルデータ及びプロダクトイオンスペクトルデータ、及びＭＲＭ測定条件候補を取り込んで化合物データベースを更新し、記憶部４１に保存する。

【0037】

本実施例の質量分析装置１では、使用者が１乃至複数の対象化合物を選択すると、それらの対象化合物についてプリカーサイオン候補が選出され、各プリカーサイオン候補について異なるＣＥ候補値が対応付けられて網羅的にプロダクトイオンスキャン測定が実行される。そして、測定により得られたプロダクトイオンスペクトルデータに基づき所定数のＭＲＭ測定条件候補が選出される。

【0038】

本実施例の質量分析装置では、ＭＲＭ測定条件候補を作成するだけでなく、ＭＲＭトランジションとＣＥ値の少なくとも一方が異なる条件で実行した網羅的な測定により取得されたプロダクトイオンスペクトルデータそのものがＭＲＭ測定条件候補に対応付けられデータベース化される。そのため、ＭＲＭ測定条件候補作成部４６により作成されたＭＲＭ測定条件候補のいずれも使用することができない場合でも、記憶部４１に保存された化合物データベースファイルに含まれるプロダクトイオンスペクトルデータを読み出して別のＭＲＭ測定条件を探索し、適切なＭＲＭ測定条件を決定することができる。以下、そうした場合の具体的な動作を説明する。

【0039】

図３は、表示部７におけるスペクトル表示画面７０の一例である。
使用者が、表示部７のスペクトル表示画面７０の上部に表示された化合物選択部７１において１つの対象化合物（例えば化合物Ａ）を選択すると、マススペクトル表示制御部４７は、記憶部４１から該対象化合物のマススペクトルデータを読み出して表示部７のマススペクトル表示領域７２に表示する。

【0040】

このとき、マススペクトル表示制御部４７は、プリカーサイオン候補選出部４２によって選出されたプリカーサイオン候補に対応するマスピークを太線で表示し、またその質量電荷比をマスピークの近傍に表示する。プリカーサイオン候補選出部４２より選出されたプリカーサイオン候補については、対応するプロダクトイオンスペクトルデータが取得され記憶部４１に保存されている。言い換えると、使用者がマススペクトル表示領域７２に表示されたマススペクトルにおいて太線で示されている（他のマスピークと識別された）マスピークを選択すると、該マスピークに対応するプリカーサイオンに関するプロダクトイオンスペクトルを確認することができる。なお、本実施例では太線及び質量電荷比を表示することで他のマスピークと識別する表示としたが、その他、着色表示や点滅表示等、種々の表示形態を採ることができる。

【0041】

また、マススペクトル表示制御部４７がマススペクトル表示領域７２に対象化合物のマススペクトルを表示すると、続いて、プロダクトイオンスペクトル表示制御部４８は、初期表示として、当該対象化合物について得られた全てのプロダクトイオンスペクトルデータの中で最も高強度のマスピークを有するプロダクトイオンスペクトルをプロダクトイオンスペクトル表示領域７３に表示する。また、ＭＲＭ測定条件候補に含まれるＭＲＭトランジションに対応するマスピークを太線で表示し、その質量電荷比と、該プロダクトイオンが最も高強度で検出されるＣＥ値を表示する。

【0042】

図３に示す例では、３つのマスピークが太線で表示されており、これらに対応するＭＲＭトランジションがＭＲＭ測定条件候補に含まれていることが分かる。ただし、質量電荷比が41及び118のＭＲＭトランジションについては、表示されているＣＥ値（30eV）と異なるＣＥ値において最も高強度で検出されている（質量電荷比41のプロダクトイオンはＣＥ値20eV、質量電荷比118のプロダクトイオンはＣＥ値15eVにおいて最も高強度で検出されている）ことが示されている。

【0043】

また、プロダクトイオンスペクトル表示制御部４８は、初期表示として、プロダクトイオンスペクトル表示領域７３に表示されたプロダクトイオンスペクトルのうち、最も高強度のマスピークに対応するＭＲＭトランジションについて、複数のＣＥ値における検出強度をグラフ化したものをＣＥ値表示領域７４に表示する。これにより、プロダクトイオンスペクトルの検出強度とＣＥ値の関係を確認することができる。

【0044】

図３に示す画面において、使用者がマススペクトル表示領域７２において太線で表示されたマスピークを選択すると、当該マスピークに対応するプリカーサイオン候補に対応するプロダクトイオンスペクトルをプロダクトイオンスペクトル表示領域７３に表示させることができる。さらにプロダクトイオンスペクトル表示領域７３に表示されたマスピークの１つを選択すると、当該マスピークの強度とＣＥ値の関係をＣＥ値表示領域７４に表示させることができる。

【0045】

図３に示す画面のプロダクトイオンスペクトルにおいて、質量電荷比41のマスピークを選択した場合の表示例を図４に示す。プロダクトイオンのマスピークが選択されると、当該マスピークを最も高強度で検出しているプロダクトイオンスペクトル（本実施例ではＣＥ値20eVで取得したプロダクトイオンスペクトル）が表示され、また、ＣＥ値表示領域７４も当該ＭＲＭトランジション（プリカーサイオンの質量電荷比150、プロダクトイオンの質量電荷比41の組）のものに切り替わる。さらに、ＣＥ値選択部７５において使用者がＣＥ値を変更することも可能であり、これにより、変更後のＣＥ値において得られたプロダクトイオンスペクトルを確認することができる。

【0046】

本実施例の質量分析装置１では、使用者が表示されたマススペクトルやプロダクトイオンスペクトルのマスピークを選択する操作を行うのみで、ＭＲＭ測定条件候補だけでなく、それ以外のプロダクトイオンのマスピーク強度や、マスピークの強度とＣＥ値の関係を簡単に確認することができる。従って、生体試料や食品のように、多数の夾雑化合物が含まれ、ＭＲＭ測定条件のいずれも使用することができない場合であっても、他のＭＲＭ測定条件を容易に探索することができる。

【0047】

さらに、本実施例の質量分析装置１では、使用者が、プロダクトイオンスペクトル表示領域７３に表示されたプロダクトイオンスペクトルのマスピークをダブルクリックすると、ＭＲＭ測定条件設定部４９は、図５に示すようなＭＲＭ測定条件表示画面７６をスペクトル表示画面７０に表示し、該画面７６に当該マスピークに対応するＭＲＭトランジション及びＣＥ値をＭＲＭ測定条件に取り込んでリストアップする。また、既にＭＲＭ測定条件表示画面７６でリストアップされたＭＲＭ測定条件を使用者がダブルクリックすると、当該条件がリストから除外される。さらに、ＭＲＭ測定条件をリストアップした後、使用者が決定ボタンを押下すると、リストアップされたＭＲＭ測定条件により測定を実行するメソッドファイルが作成され記憶部４１に保存される。このように、本実施例の質量分析装置１では、使用者はダブルクリック操作のみで、ＭＲＭ測定条件を決定し、簡単にメソッドファイルを作成することができる。

【0048】

上記実施例は一例であって本発明の趣旨に沿って適宜に変更することができる。
例えば、上記プリカーサイオン候補の選出において、マスピークの強度が大きい順ではなく、マスピーク強度が所定値以上のものを全て選択する等の方法を採ることができる。あるいは、特定の質量電荷比のイオンを選出しない、という条件を組み合わせることもできる。ＭＲＭ測定条件候補作成部についても同様に、マスピーク強度が所定値以上であるプロダクトイオン（及び対応するプリカーサイオンの組）を全て抽出してＭＲＭ測定条件候補とすることができる。
上記実施例において説明した図３〜５の表示も一例であり、他の形態で使用者にマススペクトル、プロダクトイオンスペクトル、及びＣＥ値の情報を確認させることができる。また、使用者がＭＲＭ測定条件候補を決定する際の操作もダブルクリック以外のもの（ドラッグアンドドロップ等）としてもよい。
その他、上記実施例では、三連四重極型の質量分析装置を例に挙げて説明したが、前段質量分離部、衝突部、及び後段質量分離部を備えた質量分析装置であれば、他の構成のものを用いてもよい。

【符号の説明】

【0049】

１…質量分析装置
２…質量分析部
２０…イオン化室
２０１…ＥＳＩプローブ
２０２…加熱キャピラリ
２１…第１中間真空室
２１１…イオンガイド
２１２…スキマー
２２…第２中間真空室
２３…分析室
２３１…四重極マスフィルタ
２３２…コリジョンセル
２３５…イオン検出器
２４…電源部
４…制御部
４１…記憶部
４２…プリカーサイオン候補選出部
４３…プロダクトイオンスキャン測定条件決定部
４４…プロダクトイオンスペクトルデータ取得部
４５…化合物データベースファイル作成部
４６…ＭＲＭ測定条件候補作成部
４７…マススペクトル表示制御部
４８…プロダクトイオンスペクトル表示制御部
４９…ＭＲＭ測定条件設定部
６…入力部
７…表示部
７０…スペクトル表示画面
７１…化合物選択部
７２…マススペクトル表示領域
７３…プロダクトイオンスペクトル表示領域
７４…ＣＥ値表示領域
７５…ＣＥ値選択部
７６…ＭＲＭ測定条件表示画面

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】