特許6545864断層撮影システム及びその方法

発明の名称　断層撮影システム及びその方法

出願人　行政院原子能委員會核能研究所　（識別番号 599171866）

　　　　特許公開件数ランキング 14468 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 12296 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6545864

公報発行日　2019年7月17

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6545864

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