(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6548411
(24)【登録日】2019年7月5日
(45)【発行日】2019年7月24日
(54)【発明の名称】発振装置
(51)【国際特許分類】
H03B 5/32 20060101AFI20190711BHJP
【FI】
H03B5/32 A
H03B5/32 H
【請求項の数】3
【全頁数】9
(21)【出願番号】特願2015-45761(P2015-45761)
(22)【出願日】2015年3月9日
(65)【公開番号】特開2015-201840(P2015-201840A)
(43)【公開日】2015年11月12日
【審査請求日】2017年11月24日
(31)【優先権主張番号】特願2014-74456(P2014-74456)
(32)【優先日】2014年3月31日
(33)【優先権主張国】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】000232483
【氏名又は名称】日本電波工業株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110002756
【氏名又は名称】特許業務法人弥生特許事務所
(74)【代理人】
【識別番号】100091513
【弁理士】
【氏名又は名称】井上 俊夫
(72)【発明者】
【氏名】依田 友也
【審査官】
▲高▼橋 徳浩
(56)【参考文献】
【文献】
特開2004−048686(JP,A)
【文献】
特開昭53−068154(JP,A)
【文献】
特開2013−051676(JP,A)
【文献】
特開2005−223395(JP,A)
【文献】
特開2006−295570(JP,A)
【文献】
特開2010−213102(JP,A)
【文献】
米国特許出願公開第2006/0192626(US,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H03B5/30−H03B5/42
H03H3/007−H03H3/10
H03H9/00−H03H9/76
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
振動子に接続された発振回路と、前記振動子が置かれる雰囲気の温度を一定化するためのヒータ回路と、を備えた発振装置において、
第1の容器内に当該第1の容器の内壁から浮いた状態で第1の支持部材により支持された第1の基板と、
この第1の基板に各々設けられた、振動子、発振回路、前記第1の容器内の温度を検出するための温度検出部、この温度検出部の温度検出値により供給電力が制御されるヒータ回路と、
前記第1の容器を、その内部空間に収容すると共にその内壁から浮いた状態で支持部を介して支持する第2の容器と、
前記第2の容器内にて前記第1の容器から離間して設けられ、前記ヒータ回路に供給する電源電圧を安定化するための電圧安定化回路と、を備え、
前記電圧安定化回路は、前記支持部に支持されている第2の基板に設けられていることを特徴とする発振装置。
【請求項2】
前記電圧安定化回路は、前記第2の基板において前記第1の容器とは反対側の面に設けられていることを特徴とする請求項1記載の発振装置。
【請求項3】
前記温度検出部の温度検出値と温度設定値との差分を前記ヒータ回路の制御値として用いると共に、この差分に係数を乗じた値を、発振装置の周波数設定値の補正値として用いるように構成したことを特徴とする請求項1記載の発振装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、振動子例えば水晶振動子が置かれる温度を検出し、温度検出結果に基づいて出力周波数の安定化を行う発振装置に関する。
【背景技術】
【0002】
例えば水晶振動子を用いた発振装置として、恒温槽付き発振装置であるOCXO(Oven Controlled Xtal Oscillator)は、水晶振動子が置かれる雰囲気をヒータにより一定の温度に加熱し、これにより水晶振動子の温度が外部の温度変化に左右されないように構成されている。そしてヒータの温度制御の高精度化を目指した技術として、二つの水晶振動子を温度センサーとして用い、二つの水晶振動子の周波数差を利用して計算した温度検出値に相当する信号値を求め、この信号値に基づいてヒータの出力電力を制御する手法が知られている(特許文献1)。
【0003】
一方、発振装置の温度に対する周波数、例えば基地局から端末に電波を送信するシステムにおいては、基地局だけでなく中継局においても、より一層高い安定性が要求されている。特許文献2には、電圧レギュレータを用いて温度補償型水晶発振器1を駆動することが記載されているが、本発明の構成については記載されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2013−51676号
【特許文献2】特開2000−261248号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明はこのような事情の下になされたものであり、その目的は、ヒータ回路を用いて振動子が置かれる雰囲気の温度安定化を図る発振装置において、ヒータ回路の発熱量を安定化させて安定した発振周波数を出力できる技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の発振装置は、
振動子に接続された発振回路と、前記振動子が置かれる雰囲気の温度を一定化するためのヒータ回路と、を備えた発振装置において、
第1の容器内に当該第1の容器の内壁から浮いた状態で第1の支持部材により支持された第1の基板と、
この第1の基板に各々設けられた、振動子、発振回路、前記第1の容器内の温度を検出するための温度検出部、この温度検出部の温度検出値により供給電力が制御されるヒータ回路と、
前記第1の容器を、その内部空間に収容すると共にその内壁から浮いた状態で支持部を介して支持する第2の容器と、
前記第2の容器内にて前記第1の容器から離間して設けられ、前記ヒータ回路に供給する電源電圧を安定化するための電圧安定化回路と、を備え
、
前記電圧安定化回路は、前記支持部に支持されている第2の基板に設けられていることを特徴とする。
【発明の効果】
【0007】
本発明は、OCXOにおいて、第2の容器内に浮いた状態で支持された第1の容器内に振動子、発振回路、温度検出部及びヒータ回路を設けると共に、ヒータ回路に供給する電源電圧を安定化するための電圧安定化回路を、第2の容器内にて前記第1の容器から離間して設けている。従ってヒータ回路に供給される電圧が安定化し、また電圧安定化回路がヒータ回路の発熱の影響を受けにくいので、結果として環境温度にかかわらず安定した発振周波数の出力が得られる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【
図1】本発明に係る発振装置の全体構成を示すブロック図である。
【
図2】上記の発振装置の一部の回路の詳細を示すブロック図である。
【
図3】周辺機器の温度変化と発振装置の発振周波数の変動率との関係を模式的に示す周波数特性図である。
【
図5】前記発振装置の要部を示す上面概略図である。
【
図6】本発明の発振装置と比較例である発振装置との実験結果を示したグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0009】
図1は本発明の実施形態に係る発振装置1Aの全体を示すブロック図である。発振装置1Aには、第1の水晶振動子10、第2の水晶振動子20と、これらの水晶振動子を発振させる第1の発振回路1、第2の発振回路2が含まれる。第1の発振回路1、第2の発振回路2は、例えばコルピッツ型の発振回路により構成される。
【0010】
第1の発振回路1、第2の発振回路2の後段側には、PLL(Phase Locked Loop)回路部200及びDSP(Digital Signal Processor)ブロック5が設けられている。PLL回路部200は、
図1ではブロックとして略記しているが、
図2に示すようにDDS(Direct Digital Synthesizer)201を含む回路から構成されている。DDS201の動作クロックは、第1の発振回路1から出力される発振出力を用いている。DDS201に入力される設定周波数に対応するディジタル値は、後述の加算部58から出力される値である。
【0011】
DDS201から出力される周波数信号は、位相比較器202の一方の入力端に入力される。後述の電圧制御発振器205から出力される周波数信号は、分周器206にて分周され、位相比較器202の他方の入力端に入力される。位相比較器202は、両者の周波数信号の位相の差分を検出してチャージポンプ203に入力される。チャージポンプ203からの出力はループフィルタにより積分され、その積分値が電圧制御発振器205に制御電圧として入力される。即ち、PLL回路部200は、DDS201にて参照周波数となる周波数信号を生成し、この基準の周波数信号を用いてPLLを構成していることになる。
【0012】
DSPブロック5は、温度検出部53、PI演算部54、PWM(Pulse with Modulation)部55、1次補正部56、9次補正部57及び加算部58を含んでいる。温度検出部53は、第1の発振回路1からの発振出力f1及び第2の発振回路2からの発振出力f2の差分(f1−f2)に応じたディジタル値ΔFを演算する。ΔFは水晶振動子10及び20が置かれている雰囲気の温度に対応する値であることから、ΔFは温度検出値ということができる。温度検出部53の後段には、図示していないが、温度検出値ΔFが設定温度からどれだけ離れているかについて、演算する回路が設けられており、この回路は例えば温度検出値と設定温度との差分を求める。PI演算部54は、この差分値をPI(微分、積分)してPWM部55に入力される。PWM部55は、PI演算部54から出力されるディジタル値をアナログ信号に変換するためのものである。従ってPWM部55に代えてD/A(ディジタル/アナログ)部を用いてもよい。
【0013】
PWM部55の後段には、ヒータ回路50が設けられ、ヒータ回路50の出力はPWM部55の出力により制御される。ヒータ回路50は、後述するように第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20の近傍に設けられる。ヒータ回路50はパワートランジスタを備え、電圧安定化回路6からパワートランジスタのコレクタに電圧が供給される。そしてPWM部55からの制御電圧によりパワートランジスタのベース電圧が制御されてパワートランジスタの供給電力が調整される。従って、PI演算部54の出力は、ヒータ回路50を制御するための制御信号ということができる。
【0014】
そしてPI演算部54の出力であるディジタル値は、水晶振動子10、20の発振周波数の変化に応じて変化することから、水晶振動子10、20が置かれている雰囲気の温度に対応する値でもある。このため、PI演算部54の出力を1次補正部56に入力し、一次補正部56においては、PI演算値に係数を乗算し、その乗算値を後述の周波数設定値の補正値としている。
【0015】
一方、温度検出部53にて得られた既述のΔFは、9次補正部57に入力される。9次補正部57では、温度検出値ΔFに基づいて9次の温度特性曲線から、周波数設定値に対する周波数補正値を算出する。この周波数補正値は、DDS201の動作クロックの周波数が温度により変化しようとする変動分を補償するためのものである。この例では、第1の水晶振動子10における周波数と温度との関係を9次関数で近似している。ここで
図1中、符号7で示される部位は、レジスタである。このレジスタ7には外部メモリ82から読み出された周波数設定値がディジタル値として書き込まれており、この周波数設定値は加算部58に出力される。加算部58では、この周波数設定値に9次補正部57からの補正値と1次補正部56からの補正値とが加算される。
【0016】
9次補正部57からの補正値により、第1の水晶振動子10の発振周波数について、温度変動に対応する変化分が補正されることになる。しかしPLL回路部200やDDS201などの周辺機器についても温度により特性が変わることから、9次補正部57からの補正値だけでは、電圧制御発振器205から得られる発振周波数の温度補償を高精度に行うことはできない。そこで、周辺機器の特性が温度により変化する分を補償するために、1次補正部56にて得られた補正値を加算部58にて周波数設定値に加算している。
【0017】
図3は、1次補正部56による設定周波数の補正の役割を概略的に示すグラフであり、縦軸に電圧制御発振器205の出力周波数の変動率を取り、横軸に外気温をとったグラフである。点線aは、周辺機器の特性が温度により変化することに起因する電圧制御発振器205の出力周波数の変動率(基準温度における出力周波数とそのときの温度における出力周波数との差分を基準温度における出力周波数で割った値)を示している。鎖線bは、一次補正部56から外気温に対応する周波数補正値を出力したときにおける、電圧制御発振器205の出力周波数の変動率を示している。このグラフから分かるように、点線aと鎖線bとが相殺され、周辺機器の特性が温度により変化しても、電圧制御発振器205の出力周波数は安定する。
【0018】
こうして加算部58からの出力値が最終的に周波数設定値となり、PLL回路部200のPLLにおける参照周波数を決定することになる。DSPブロック5、PLL回路部200、レジスタ7、及び分周器206は一つの集積回路部(LSI)300内に形成されている。また外部メモリ82には発振装置1Aを動作させるための各パラメータが格納されており、例えば発振装置1Aの電源立ち上げ時に発振装置1A内のレジスタ7内に当該パラメータが読み込まれる。
【0019】
以上述べたように、OCXOである発振装置1AはTCXOとしても構成されており、ヒータ回路50の作用と温度検出値に基づく周波数補正とによる二重の温度対応が行われた、高精度で出力を安定させることができる装置として構成されている。
【0020】
更に、発振装置1Aは、LDO(低電圧ドロップアウトレギュレータ)からなる電圧安定化回路6を備えている。外部の電源60からの電圧は電圧安定化回路6により安定化され、当該安定化された電圧は、LSI300及びヒータ回路50に供給される。
【0021】
図4は発振装置1A全体の縦断側面図であり、
図5は発振装置1Aにおける後述する第4の基板34の上面概略図である。これらの図を用いて発振装置1Aの立体構成について説明する。
【0022】
発振装置1Aは、外容器に相当する例えば角型の第2の容器42を備えている。第2の容器42の内部には、第2の容器42の底部から上方に伸び出す支持部である導電性のピン62により、第2の基板32が浮いた状態にて支持されている。第2の基板32からは支持部である導電性のピン63が上方に向かって伸び出しており、導電性のピン63により内容器に相当する第1の容器41が支持されている。即ち、第1の容器41は第2の基板32から浮いた状態で支持されていることになる。
【0023】
第1の容器41の内部には、第1の容器41の底部から上方に伸び出す支持部である導電性のピン64により、第1の基板31が浮いた状態にて支持されている。第1の基板31において、第2の基板32が配置されている側の面とは反対側の面を上面(一面)と呼ぶことにすると、第1の基板31の中央部の上面側(一面側)及び下面側(他面側)に夫々水晶振動子10及び20が設けられている。第1の基板31の上面側には、更に複数のヒータ回路50が第1の水晶振動子10を取り巻くように、ピン64群の内側に設けられ、ヒータ回路50の群より外側に、第3の水晶振動子100が設けられている。第3の水晶振動子100は、電圧制御発振器205に含まれる水晶振動子である。
【0024】
第1の基板31の下面側には、ヒータ回路50の群と対応する位置よりも内側に、LSI300が設けられている。また、ヒータ回路50の群と対応する位置から離間した位置に、ループフィルタ204及び外部メモリ82が設けられている。
また、電圧安定化回路6は、第2の基板32における下面(第1の容器41と対向する面とは反対側の面に設けられている。
【0025】
このような構成の発振装置においては、外部温度が第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20の周波数差に対応する値ΔFとして検出され、このΔFに基づいてヒータ回路50の出力電力が制御され、第1の水晶振動子10の温度が設定温度に維持されようとする。またΔFに基づいて、PLL回路部200内の参照クロックの周波数に対応する設定値が補正される。更にヒータ回路部50の制御値に相当するPI演算部54の出力値に基づいて既述のようにして前記設定値が更に補正される。
【0026】
そして電源60の電源電圧が変動しても、電圧安定回路6により電圧が安定化され、安定化した電圧がヒータ回路50やPLL回路部200やDSPブロック5に供給される。
【0027】
上述した実施形態においては、OCXOである発振装置1Aにおいて、第2の容器42内部に浮いた状態にて支持された第1の容器41内部に水晶振動子10、20、発振回路1、2、温度検出部53及びヒータ回路50を設けると共に、ヒータ回路50に供給される電源電圧を安定化するための電圧安定化回路6を、第2の容器42内部にて第1の容器41から離間した位置に設けている。従って、ヒータ回路50に供給される電圧が安定化する。そして電圧安定化回路6がヒータ回路50の発熱の影響を受けにくいことから、結果として発振装置1Aが置かれた環境温度にかかわらず安定した発振周波数の出力を得ることができる。
【0028】
上述の実施形態においては、電圧安定化回路6にて安定化された電圧は、ヒータ回路50の群及びLSI300の双方に供給されるものとしてきたが、ヒータ回路50の群に電圧の供給を行う回路とLSI300に電圧の供給を行う回路を別としてもよい。この場合、ヒータ回路50の群に電圧を供給する回路のみに電圧安定化回路6を設ける構成としてもよい。
【0029】
またさらに、上述の実施形態においては、ヒータ回路50の群に安定化された電圧を供給するために電圧安定化回路6を用いるものとしてきたが、電圧安定化回路6の代替として、スイッチング電源を用いてもよい。
また第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20は、第1の基板31の上面側に設けた共通の水晶振動子収納用の容器内に配置してもよいし、あるいは、共通の水晶振動片に領域を分けて、夫々の領域に第1の水晶振動子10及び第2の水晶振動子20を形成しても良い。
【0030】
上述の実施形態においては、水晶振動子を複数用いて周波数差を計測することにより温度を検出するものとしてきたが、これらの水晶振動子の代替として、サーミスタを用いて温度を検出するように構成しても同様の効果が得られる。
更に本発明の発振装置は、
図1の回路構成に限られるものではなく、例えば加算部58の後段のPLL回路部200に代えて、電圧制御発振器を用いたものであってもよい。この場合には、加算部58の出力は、当該電圧制御発振器の制御電圧として使用される。
【0031】
図6は、本発明の効果を確認するために行った試験の結果を示している。
図1の回路において、電圧制御発振器205の出力周波数を20MHzに設定し、電源電圧を矩形状に±1%変化させた。
図1では、縦軸に電圧制御発振器205の出力周波数の変動率をとり、横軸に経過時間をとっているが、理解を容易にするために、電圧の推移を実線aにより重ねて表示している。点線bは、電圧安定化回路6を設けない場合の特性、鎖線cは、上述の実施形態を用いた場合の特性を示している。電圧安定化回路6を設けない場合には、周波数変動が最大±0.5ppbであるが、上述実施形態においては、周波数変動が最大±0.1ppbである。従って上述実施形態によれば、出力周波数の安定化が図られることが理解される。
【符号の説明】
【0032】
1A 発振装置
1 第1の発振回路
2 第2の発振回路
10 第1の水晶振動子
20 第2の水晶振動子
5 DSPブロック
53 温度検出部
55 PWM部
56 一次補正部
50 ヒータ回路
6 電圧安定化回路
7 レジスタ
82 外部メモリ
100 水晶振動子(VCXO)
200 PLL回路部
300 集積回路部(LSI)
31 第1の基板
32 第2の基板
41 第1の容器
42 第2の容器