発明の名称 シリコン単結晶ウェハの欠陥検出方法
出願人 エルジー シルトロン インコーポレイテッド (識別番号 511028928)
特許公開件数ランキング 966 位(0件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 956 位(0件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-6568924
公報発行日 2019年8月28
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6568924
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