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特許6571352光干渉断層計測装置
発明の名称 光干渉断層計測装置
出願人 株式会社ティーワイテクノ （識別番号 309037907）
特許公開件数ランキング 7132 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 5799 位（0件）（共同出願を含む）
出願人 山形県 （識別番号 593022021）
特許公開件数ランキング 7132 位（0件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 5799 位（0件）（共同出願を含む）
公報番号 特許-6571352
公報発行日 2019年9月4
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6571352
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