特許 6600198 光干渉計測装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6600198

(24)【登録日】2019年10月11日

(45)【発行日】2019年10月30日

(54)【発明の名称】光干渉計測装置

(51)【国際特許分類】

   A61B 3/10 20060101AFI20191021BHJP

   G01N 21/17 20060101ALI20191021BHJP

【ＦＩ】

   A61B3/10 100

   G01N21/17 630

【請求項の数】7

【全頁数】26

(21)【出願番号】特願2015-170143(P2015-170143)

(22)【出願日】2015年8月31日

(65)【公開番号】特開2017-46739(P2017-46739A)

(43)【公開日】2017年3月9日

【審査請求日】2018年7月31日

(73)【特許権者】

【識別番号】000220343

【氏名又は名称】株式会社トプコン

(74)【代理人】

【識別番号】100124626

【弁理士】

【氏名又は名称】榎並 智和

(72)【発明者】

【氏名】森嶋 俊一

【審査官】 増渕 俊仁

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０１０−１５８２６５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１４−１２８３０６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１３−１８０１１１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２０１３／０２２９６２７（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ａ６１Ｂ ３／００−３／１８

Ｇ０１Ｎ ２１／１７

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を物体に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系を備えた光干渉計測装置であって、
前記参照光を第１参照光路及び第２参照光路に導く光路分割部材と、
前記第１参照光路及び前記第２参照光路の少なくとも一方である可変参照光路の長さを変更する第１参照光路長変更部と、
前記第１参照光路長変更部により前記可変参照光路の長さが変更された後に生成された前記第１参照光路からの戻り光と前記第２参照光路からの戻り光との第１干渉光を前記干渉光学系により検出して取得された第１検出データと、前記可変参照光路の長さが変更される前に生成された前記第１参照光路からの戻り光と前記第２参照光路からの戻り光との第２干渉光を前記干渉光学系により検出して取得された第２検出データとに基づいて、前記光源に関する校正量を求める校正量算出部と、
前記干渉光の検出結果と前記校正量とに基づいて、前記物体に関するデータを生成するデータ生成部と、
を含むことを特徴とする光干渉計測装置。

【請求項2】

前記校正量算出部は、前記第１参照光路の長さと前記第２参照光路の長さとが略等しい状態でそれぞれ取得された前記第１検出データと前記第２検出データとに基づいて前記校正量を求める
ことを特徴とする請求項１に記載の光干渉計測装置。

【請求項3】

前記第１参照光路長変更部は、１以上の透光部材を含み、前記可変参照光路に前記１以上の透光部材を挿脱させることにより当該参照光路の長さを変更する
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光干渉計測装置。

【請求項4】

前記１以上の透光部材は、分散補償部材を含む
ことを特徴とする請求項３に記載の光干渉計測装置。

【請求項5】

前記第１参照光路の長さと前記第２参照光路の長さとを相対的に変更する第２参照光路長変更部と、
少なくとも前記第２参照光路長変更部を制御する制御部と、
を含み、
前記校正量算出部は、前記第１検出データと前記第２検出データとの間の信号変位量と、前記信号変位量に対応する前記第２参照光路長変更部に対する制御量とに基づいて前記第２参照光路長変更部に関する校正量を求める
ことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の光干渉計測装置。

【請求項6】

前記可変参照光路の長さの変更量が異なる２以上の透光部材を含み、
前記校正量算出部は、前記２以上の透光部材のそれぞれに対応する前記校正量を求める
ことを特徴とする請求項５に記載の光干渉計測装置。

【請求項7】

光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を物体に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系を備えた光干渉計測装置であって、
前記参照光を第１参照光路及び第２参照光路に導く光路分割部材と、
前記第１参照光路の長さと前記第２参照光路の長さとを相対的に変更する第２参照光路長変更部と、
少なくとも前記第２参照光路長変更部を制御する制御部と、
前記第２参照光路長変更部により光路長が相対的に変更された後に生成された前記第１参照光路からの戻り光と前記第２参照光路からの戻り光との第１干渉光を前記干渉光学系により検出して取得された第１検出データと、前記第２参照光路長変更部により光路長が相対的に変更される前に生成された前記第１参照光路からの戻り光と前記第２参照光路からの戻り光との第２干渉光を前記干渉光学系により検出して取得された第２検出データとに基づいて、前記第２参照光路長変更部に関する校正量を求める校正量算出部と、
前記干渉光の検出結果と前記校正量とに基づいて、前記物体に関するデータを生成するデータ生成部と、
を含むことを特徴とする光干渉計測装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

この発明は、光干渉計測装置に関する。

【背景技術】

【0002】

光干渉計測装置は、干渉光学系を備え、干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に基づいて、被測定物体の断面像や３次元画像の取得や、被測定物体のサイズの測定や、被測定物体の機能情報の取得等が可能な装置である。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼等の被測定物体に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。

【0003】

光干渉計測装置では、装置の設置環境（室温）や自己発熱により時間の経過に伴って装置内部の温度が変化し、光源の特性や参照光学系の移動特性が変化することにより、受光素子等で受光される干渉光の特性が変化する場合がある。また、経年変化によってもこれらの特性が変化する場合がある。光源の特性の変化には、発生された光の中心波長のドリフトや波長幅の変化がある。参照光学系の移動特性の変化には、参照光路の長さを変更するための参照ミラーユニットを移動させる駆動手段の駆動特性の変化がある。

【0004】

このような光干渉計測装置を校正する手法について、例えば、特許文献１に開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特開２０１３−１８０１１１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

しかしながら、装置の内部に校正用の光学系が測定用の光学系と別途に設けられている場合、校正用の光学系の配置スペースが必要になるという問題がある。また、光源からの光から分岐された校正用の光や測定光の光量の低下を招き、測定の精度を低下させる場合がある。

【0007】

本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、省スペースで光干渉計測装置を校正するための新たな技術を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0008】

実施形態に係る光干渉計測装置は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を物体に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する干渉光学系を備えている。光干渉計測装置は、光路分割部材と、第１参照光路長変更部と、校正量算出部と、データ生成部とを含む。光路分割部材は、参照光を第１参照光路及び第２参照光路に導く。第１参照光路長変更部は、第１参照光路及び第２参照光路の少なくとも一方である可変参照光路の長さを変更する。校正量算出部は、第１参照光路長変更部により可変参照光路の長さが変更された後に生成された第１検出データと、可変参照光路の長さが変更される前に生成された第２検出データとに基づいて、光源に関する校正量を求める。第１検出データは、第１参照光路長変更部により可変参照光路の長さが変更された後に生成された第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第１干渉光を干渉光学系により検出して取得される。第２検出データは、可変参照光路の長さが変更される前に生成された第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第２干渉光を干渉光学系により検出して取得される。データ生成部は、干渉光の検出結果と校正量とに基づいて、物体に関するデータを生成する。

【発明の効果】

【0009】

実施形態によれば、省スペースで光干渉計測装置を校正することができる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】実施形態に係る光干渉計測装置の構成例を示す概略図。

【図2】実施形態に係る光干渉計測装置の構成例を示す概略図。

【図3】実施形態に係る光干渉計測装置の動作例を示す概略図。

【図4】実施形態に係る光干渉計測装置の動作例を示す概略図。

【図5】実施形態に係る光干渉計測装置の動作例を示す概略図。

【図6】実施形態に係る光干渉計測装置の動作例を示す概略図。

【図7】実施形態に係る光干渉計測装置の構成例を示す概略図。

【図8】実施形態に係る光干渉計測装置の構成例を示す概略図。

【図9】実施形態に係る光干渉計測装置の動作例を示すフロー図。

【図10A】実施形態に係る光干渉計測装置の構成例を示す概略図。

【図10B】実施形態に係る光干渉計測装置の構成例を示す概略図。

【図10C】実施形態に係る光干渉計測装置の動作説明図。

【図11】実施形態に係る光干渉計測装置の動作例を示すフロー図。

【図12】実施形態に係る光干渉計測装置の動作例を示すフロー図。

【図13A】実施形態の変形例に係る光干渉計測装置の構成例を示す概略図。

【図13B】実施形態の変形例に係る光干渉計測装置の動作説明図。

【発明を実施するための形態】

【0011】

この発明に係る光干渉側装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

【0012】

以下、実施形態に係る光干渉計測装置が眼科装置に適用された場合について説明するが、実施形態に係る光干渉計測装置の適用対象は眼科装置に限定されるものではない。実施形態に係る光干渉計測装置は、光干渉計測により物体を測定する装置に適用することができる。実施形態に係る光干渉計測装置が適用された眼科装置は、他覚測定と自覚検査とを実行可能である。他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主に物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得する測定手法である。

【0013】

他覚測定には、被検眼の特性を取得するための測定と、被検眼の画像を取得するための撮影とが含まれる。他覚測定には、他覚屈折測定、角膜形状測定、眼圧測定、眼底撮影、光干渉計測等がある。一方、自覚検査は、被検者からの応答を利用して情報を取得する測定手法である。自覚検査には、遠用検査、近用検査、コントラスト検査、グレア検査等の自覚屈折測定や、視野検査などがある。

【0014】

実施形態に係る眼科装置は、任意の自覚検査及び任意の他覚測定の少なくとも一方を実行可能である。光干渉計測は、眼軸長、角膜厚、前房深度、水晶体厚など、被検眼の構造を表す眼球情報を取得するために用いられる。また、被検眼の画像や解析データを取得するために光干渉計測を利用することもできる。

【0015】

＜構成＞
図１及び図２に、実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。眼科装置１０００は、被検眼Ｅの検査を行うための光学系として、Ｚアライメント系１、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、視標投影系４、観察系５、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７、及び眼内距離測定系８を含む。また、眼科装置１０００は処理部９を含む。

【0016】

（処理部９）
処理部９は、眼科装置１０００の各部を制御する。また、処理部９は、各種演算処理を実行可能である。処理部９はプロセッサを含む。プロセッサの機能は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路により実現される。処理部９は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

【0017】

（観察系５）
観察系５は、被検眼Ｅの前眼部を動画撮影する。被検眼Ｅの前眼部からの光（赤外光）は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及び５３を透過し、絞り５４の開口を通過する。絞り５４の開口を通過した光は、ハーフミラー５５を透過し、リレーレンズ５６及び５７を通過し、結像レンズ５８により撮像素子５９（エリアセンサ）の撮像面に結像される。撮像素子５９は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子５９の出力（映像信号）は処理部９に入力される。処理部９は、この映像信号に基づく前眼部像Ｅ’を表示部１０の表示画面１０ａに表示させる。前眼部像Ｅ’は、例えば赤外動画像である。観察系５は、前眼部を照明するための照明光源を含んでいてもよい。

【0018】

（Ｚアライメント系１）
Ｚアライメント系１は、観察系５の光軸方向（前後方向、Ｚ方向）におけるアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。Ｚアライメント光源１１から出力された光は、被検眼Ｅの角膜Ｋに照射され、角膜Ｋにより反射され、結像レンズ１２によりラインセンサ１３に結像される。角膜頂点の位置が前後方向に変化すると、ラインセンサ１３に対する光の投影位置が変化する。処理部９は、ラインセンサ１３に対する光の投影位置に基づいて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づきＺアライメントを実行する。

【0019】

（ＸＹアライメント系２）
ＸＹアライメント系２は、観察系５の光軸に直交する方向（左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向））のアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。ＸＹアライメント系２は、ハーフミラー５５により観察系５から分岐された光路に設けられたＸＹアライメント光源２１を含む。ＸＹアライメント光源２１から出力された光は、ハーフミラー５５により反射され、観察系５を通じて被検眼Ｅに照射される。その角膜Ｋによる反射光は、観察系５を通じて撮像素子５９に導かれる。

【0020】

この反射光の像（輝点像）は前眼部像Ｅ’に含まれる。処理部９は、図１に示すように、輝点像Ｂｒを含む前眼部像Ｅ’とアライメントマークＡＬとを表示画面１０ａに表示させる。手動でＸＹアライメントを行う場合、ユーザは、アライメントマークＡＬ内に輝点像Ｂｒを誘導するように光学系の移動操作を行う。自動でアライメントを行う場合、処理部９は、アライメントマークＡＬに対する輝点像Ｂｒの変位がキャンセルされるように、光学系を移動させるための機構を制御する。

【0021】

（ケラト測定系３）
ケラト測定系３は、角膜Ｋの形状を測定するためのリング状光束（赤外光）を角膜Ｋに投影する。ケラト板３１は、対物レンズ５１と被検眼Ｅとの間に配置されている。ケラト板３１の背面側（対物レンズ５１側）にはケラトリング光源３２が設けられている。ケラトリング光源３２からの光でケラト板３１を照明することにより、角膜Ｋにリング状光束が投影される。その反射光（ケラトリング像）は撮像素子５９により前眼部像とともに検出される。処理部９は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで角膜形状パラメータを算出する。

【0022】

（視標投影系４）
視標投影系４は、固視標や自覚検査用視標等の各種視標を被検眼Ｅに呈示する。光源４１から出力された光（可視光）は視標チャート４２に照射される。視標チャート４２は、例えば透過型の液晶パネルを含み、視標を表すパターンを表示する。視標チャート４２を透過した光は、結像レンズ４３及びＶＣＣレンズ４４を通過し、反射ミラー４５により反射され、ダイクロイックミラー５３により反射され、ダイクロイックミラー５２を透過し、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。光源４１及び視標チャート４２は、一体となって光軸方向に移動可能である。

【0023】

自覚検査を行う場合、処理部９は、他覚測定の結果に基づき視標チャート４２、光源４１及びＶＣＣレンズ４４を制御する。処理部９は、検者又は処理部９により選択された視標を視標チャート４２に表示させる。それにより、当該視標が被検者に呈示される。被検者は視標に対する応答を行う。応答内容の入力を受けて、処理部９は、更なる制御や、自覚検査値の算出を行う。例えば、視力測定において、処理部９は、ランドルト環等に対する応答に基づいて、次の視標を選択して呈示し、これを繰り返し行うことで視力値を決定する。

【0024】

（レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７）
レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７は他覚屈折測定（レフ測定）に用いられる。レフ測定投影系６は、他覚測定用のリング状光束（赤外光）を眼底Ｅｆに投影する。レフ測定受光系７は、このリング状光束の被検眼Ｅからの戻り光を受光する。

【0025】

レフ測定光源６１は光軸方向に移動可能であり、眼底Ｅｆと光学的に共役な位置に配置される。レフ測定光源６１から出力された光は、コンデンサレンズ６２を通過し、反射ミラー６３により反射され、円錐プリズム６４Ａ及びリレーレンズ６４Ｂを透過し、リング絞り６４Ｃのリング状透光部を通過してリング状光束となる。リング絞り６４Ｃにより形成されたリング状光束は、孔開きプリズム６５の反射面により反射され、ロータリープリズム６６を通過し、クイックリターンミラー６７に導かれる。

【0026】

ロータリープリズム６６は、眼底Ｅｆの血管や疾患部位に対するリング状光束の光量分布を平均化させるために用いられる。また、クイックリターンミラー６７は、他覚屈折測定と眼内距離測定との切り換えに用いられる。他覚屈折測定を行う場合、クイックリターンミラー６７の反射面は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路（分岐光路）に配置される。それにより、レフ測定投影系６の光路及びレフ測定受光系７の光路の双方が観察系５の光路に結合される。一方、眼内距離測定を行う場合、クイックリターンミラー６７は、この分岐光路から退避される。それにより、眼内距離測定系８の光路が観察系５の光路に結合される。

【0027】

他覚屈折測定では、ロータリープリズム６６を通過したリング状光束は、クイックリターンミラー６７により反射され、ダイクロイックミラー５２に反射され、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。

【0028】

眼底Ｅｆに投影されたリング状光束の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及びクイックリターンミラー６７により反射される。クイックリターンミラー６７により反射された戻り光は、ロータリープリズム６６を通過し、孔開きプリズム６５の孔部を通過し、リレーレンズ７１及び合焦レンズ７２を透過し、結像レンズ７３により撮像素子７４の撮像面に結像される。撮像素子７４の出力は処理部９に入力される。処理部９は、撮像素子７４からの出力を基に公知の演算を行うことで被検眼Ｅの球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを算出する。

【0029】

処理部９は、算出された屈折値に基づいて、レフ測定光源６１と眼底Ｅｆと撮像素子７４とが共役となる位置に、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２とをそれぞれ光軸方向に移動させる。更に、処理部９は、合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１の移動に連動して眼内距離測定系８の合焦レンズ８５をその光軸方向に移動させる。処理部９は、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２及び合焦レンズ８５、光源４１及び視標チャート４２を一体的に移動させることも可能である。

【0030】

（眼内距離測定系８）
眼内距離測定系８は眼球情報としての眼内距離測定のための光干渉計測を行う。光干渉計測が行われるとき、クイックリターンミラー６７が上記分岐光路から退避される。また、光干渉計測よりも前にレフ測定が実施され、光ファイバ８０ａの端面が眼底Ｅｆと共役となるように合焦レンズ８５の位置が調整される。

【0031】

図２に示すように、干渉計ユニット８０において、干渉計光源８１から出力された光（赤外光、広帯域光）Ｌ０は、光ファイバ８０ｂを通じて導かれたファイバカプラ８２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、光ファイバ８０ａを通じてコリメータレンズ８４に導かれる。一方、参照光ＬＲは、光ファイバ８０ｃを通じて参照光路長変更ユニット９０に導かれる。

【0032】

参照光路長変更ユニット９０は、参照光ＬＲの光路長を変更する。参照光路長変更ユニット９０に導かれた参照光ＬＲは、コリメータレンズ９１により平行光束とされてビームスプリッタ９２に入射する。ビームスプリッタ９２の透過方向には網膜・前房深度用シャッター９３と網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４と網膜側校正用ユニット９７とが設けられている。ビームスプリッタ９２の反射方向には角膜用シャッター９５と角膜用参照ミラーユニット９６と角膜側校正用ユニット９８とが設けられている。網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４は、結像レンズ９４Ａと網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂとを含む。角膜用参照ミラーユニット９６は、結像レンズ９６Ａと角膜用参照ミラー９６Ｂとを含む。網膜側校正用ユニット９７は、測定部位に対応した校正用光学部材を含む１以上の透光部材を光路に対して挿脱可能である。角膜側校正用ユニット９８もまた、測定部位に対応した校正用光学部材を含む１以上の透光部材を光路に対して挿脱可能である。校正用光学部材は、例えば、屈折率及び透過方向（光軸方向）の厚さの双方が既知であるガラス（硝材）である。

【0033】

網膜側校正用ユニット９７は、少なくとも前述の１以上の透光部材が円周方向に沿った配列で嵌め込まれた円板状の部材であり、その中心軸の回りに回転可能なターレット板と、ターレット板を中心軸の回りに回転させる駆動力を発生する駆動部とを含む。角膜側校正用ユニット９８も同様に、少なくとも前述の１以上の透光部材が円周方向に沿った配列で嵌め込まれた円板状の部材であり、その中心軸の回りに回転可能なターレット板と、ターレット板を中心軸の回りに回転させる駆動力を発生する駆動部とを含む。なお、上記の２つのターレット板の少なくとも一方は、透光部材が嵌め込まれない孔部と前述の１以上の透光部材とが円周方向に沿った配列で嵌め込まれた円板状の部材であってよい。また、ソレノイドを用いて透光部材を光路に対して挿脱する構造であってもよい。

【0034】

参照光ＬＲは、５０：５０のビームスプリッタ９２により２つの光束（網膜・前房深度用、角膜用）に分割される。網膜・前房深度用シャッター９３は、ビームスプリッタ９２と網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂとの間の網膜・前房深度用光束の光路（網膜・前房深度用参照光路）に対して挿脱可能である。網膜側校正用ユニット９７は、１以上の透光部材のいずれかを網膜・前房深度用シャッター９３と網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂとの間の光路（網膜・前房深度用参照光路）に対して挿脱可能である。角膜用シャッター９５は、ビームスプリッタ９２と角膜用参照ミラー９６Ｂとの間の角膜用光束の光路（角膜用参照光路）に対して挿脱可能である。角膜側校正用ユニット９８は、１以上の透光部材のいずれかを角膜用シャッター９５と角膜用参照ミラー９６Ｂとの間の光路（角膜用参照光路）に対して挿脱可能である。

【0035】

（校正時）
校正時には、網膜・前房深度用シャッター９３及び角膜用シャッター９５の双方が光路から退避されている。網膜・前房深度用光束は、網膜側校正用ユニット９７により光路に配置された透光部材（又は孔部）を通過し、結像レンズ９４Ａにより網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂの反射面に結像され、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂにより反射され、結像レンズ９４Ａ及び当該透光部材（又は孔部）を通過してビームスプリッタ９２に戻る。角膜用光束は、角膜側校正用ユニット９８により光路に配置された透光部材（又は孔部）を通過し、結像レンズ９６Ａにより角膜用参照ミラー９６Ｂの反射面に結像され、角膜用参照ミラー９６Ｂにより反射され、結像レンズ９６Ａ及び当該透光部材（又は孔部）を通過してビームスプリッタ９２に戻る。ビームスプリッタ９２は、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光とを干渉させる。それにより生成された干渉光は、校正用の干渉光として、光ファイバ８０ｃによりファイバカプラ８２に導かれる。

【0036】

一方、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光による干渉光が発生しないよう、クイックリターンミラー６７は前述の分岐光路に挿入される。また、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光の光路長が、干渉が発生しないよう十分長くなるように被検眼Ｅが対物レンズ５１（眼内距離測定系８）から十分に離れた位置に配置されるようにしてもよい。ファイバカプラ８２は、光ファイバ８０ｃにより導かれてきた校正用の干渉光を光ファイバ８０ｄに導く。光ファイバ８０ｄは、校正用の干渉光を分光器８３に導く。校正用の干渉光には、網膜側校正用ユニット９７又は角膜側校正用ユニット９８による透光部材の挿脱により変化した参照光路の長さに関する情報が含まれる。処理部９は、分光器８３から出力された信号にＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）等の公知の信号処理を施すことにより、透光部材の挿脱により変化した参照光路の長さに対応して変位する信号を取得する。この信号の変位量に基づいて、校正が行われる。

【0037】

（測定時）
網膜・前房深度用シャッター９３が光路から退避されている場合、網膜・前房深度用光束は、結像レンズ９４Ａにより網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂの反射面に結像され、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂにより反射され、結像レンズ９４Ａを通過してビームスプリッタ９２に戻る。角膜用シャッター９５が光路から退避されている場合、角膜用光束は、結像レンズ９６Ａにより角膜用参照ミラー９６Ｂの反射面に結像され、角膜用参照ミラー９６Ｂにより反射され、結像レンズ９６Ａを通過してビームスプリッタ９２に戻る。

【0038】

一方、干渉計ユニット８０から出力された測定光ＬＳは、コリメータレンズ８４により平行光束とされる。平行光束とされた測定光ＬＳは、光スキャナ８７ｂにより偏向され、合焦レンズ８５及びリレーレンズ８６を通過し、ミラー８７ａにより偏向される。ミラー８７ａにより偏向された測定光ＬＳは、瞳レンズ８８を通過し、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１を通過して被検眼Ｅに照射される。被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光は、対物レンズ５１を通過し、往路と同じ経路を通じて干渉計ユニット８０に導かれる。光スキャナ８７ｂは、例えば１以上のガルバノミラーを含み、処理部９による制御を受けて測定光ＬＳの偏向方向を変化させる。光スキャナ８７ｂは、瞳孔と光学的に共役な位置に配置される。

【0039】

ファイバカプラ８２は、参照光路長変更ユニット９０を経由した参照光と、測定光ＬＳの戻り光とを干渉させる。それにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ８０ｄにより分光器８３に導かれる。分光器８３は、干渉光ＬＣを空間的に波長分離し、これら波長成分をラインセンサで検出する。処理部９は、分光器８３から出力された信号にＦＦＴ等の公知の信号処理を施すことにより、深さ方向の情報を取り出す。

【0040】

本例ではスペクトラルドメインＯＣＴが適用されているが、他のタイプのＯＣＴを適用することも可能である。例えばスウェプトソースＯＣＴが適用される場合、低コヒーレンス光源（干渉計光源８１）の代わりに波長掃引光源（波長可変光源）が設けられ、且つ、分光器８３の代わりにバランスドフォトダイオード等の光検出器が設けられる。

【0041】

処理部９は、深さ方向の所定位置に干渉信号が配置されるように、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４と角膜用参照ミラーユニット９６とを移動させることが可能である。ＦＦＴにより得られる干渉信号の強度の深さ方向における変化の例を図３に示す。点線で示す干渉信号ＳＣ０が得られた状態において、図４に示すように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４をビームスプリッタ９２に近接させることにより、図３に示す所定範囲内に干渉信号ＳＣ０（網膜に相当）を移動させることができる。つまり、結像レンズ９４Ａ及び網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂを点線で示す位置から実線で示す位置に移動させることにより、所望の範囲内に干渉信号ＳＣ０を移動させることができる。

【0042】

Ｚアライメント系１を用いて検出される角膜頂点の位置を利用することで、被検眼Ｅに対する対物レンズ５１の距離（作動距離）を一定に保つことができる。ここで、角膜用シャッター９５が光路から退避されると、角膜Ｋに相当する干渉信号も分光器８３により同時に検出される。角膜用参照ミラー９６Ｂは、網膜に相当する干渉信号ＳＣ１に重ならないように、角膜Ｋから所定距離ｄだけ離れた位置に配置される（図５）。これにより、図６に示すように、網膜に相当する干渉信号ＳＣ１と角膜に相当する干渉信号ＳＣ２の双方を、深さ方向における計測範囲Ｒにおいて同時に取得できる。

【0043】

図６に示すように計測範囲Ｒにおいて信号感度ＳＣが変化する場合、比較的信号が弱い干渉信号ＳＣ１を比較的高感度の計測範囲Ｒ１で検出し、比較的信号が強い干渉信号ＳＣ２を比較的低感度の計測範囲Ｒ２で検出することができる。それにより、双方の干渉信号の検出精度が向上される。

【0044】

この実施形態では、被検眼Ｅの眼内距離を測定するとき、処理部９は、角膜用参照ミラーユニット９６を固定した状態で網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させる。それにより、基準部位としての角膜頂点を基準に被検眼Ｅの各種の眼内距離を測定することが可能になる。図５に示すように、眼軸長を測定する場合、網膜に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と眼底（網膜）との距離Ｄ１を求める。前房深度を測定する場合、水晶体前面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と水晶体前面との距離Ｄ２を求める。水晶体厚を測定する場合、水晶体後面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と水晶体後面との距離（Ｄ２＋Ｄ３）を求め、距離（Ｄ２＋Ｄ３）から前述の距離Ｄ２を差し引いて距離Ｄ３を求める。角膜厚を測定する場合、角膜後面に相当する干渉信号を検出して角膜頂点と角膜後面との距離を求める。

【0045】

（情報処理系の構成）
眼科装置１０００の情報処理系について説明する。眼科装置１０００の情報処理系の機能的構成の例を図７及び図８に示す。図７は、眼科装置１０００の情報処理系の機能ブロック図の一例を表したものである。図８は、図７の演算処理部１２０の機能ブロック図の一例を表したものである。処理部９は、制御部１１０と演算処理部１２０とを含む。また、眼科装置１０００は、表示部１７０と、操作部１８０と、通信部１９０とを含む。

【0046】

（制御部１１０）
制御部１１０は、プロセッサを含み、眼科装置１０００の各部を制御する。制御部１１０は、主制御部１１１と、記憶部１１２とを含む。主制御部１１１は、校正制御部１１１Ａを含む。

【0047】

主制御部１１１は、測定制御部として眼科装置１０００の各部を制御する。主制御部１１１は、合焦制御部として、光源４１及び視標チャート４２、合焦レンズ７２、８５及びレフ測定光源６１のそれぞれを移動する移動機構を駆動する駆動部のそれぞれに対して制御信号を出力することによりそれぞれの移動を制御する。合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１は、共通の移動機構により移動されてもよい。この場合、主制御部１１１は、当該共通の移動機構を駆動する駆動部に対して制御信号を出力することにより合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１の一体的な移動を制御する。同様に、合焦レンズ８５は、合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１と一体となって移動されてもよい。

【0048】

校正制御部１１１Ａは、装置の各部を制御することにより、干渉計光源８１の校正と、少なくとも網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する移動機構を駆動するパルスモータ（駆動部、駆動手段）の校正とを行う。具体的には、校正制御部１１１Ａは、クイックリターンミラー６７を前述の分岐光路に挿入させる。次に、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用シャッター９３及び角膜用シャッター９５の双方を光路から退避させる。続いて、校正制御部１１１Ａは、網膜側校正用ユニット９７及び角膜側校正用ユニット９８の少なくとも一方を制御することにより、ビームスプリッタ９２により分割された参照光路に所望の透光部材を配置させる。それにより、ビームスプリッタ９２は、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光との干渉光を生成する。

【0049】

（演算処理部１２０）
演算処理部１２０は、例えば、眼屈折力の算出、眼内距離（眼軸長、前房深度、水晶体厚、角膜厚等）の算出、ＩＯＬ度数の算出、光干渉計測画像（ＯＣＴ画像）の生成、光干渉計測画像の解析など、各種の演算を実行する。演算処理部１２０は、眼屈折力算出部１２１と、眼内距離算出部１２２と、ＩＯＬ度数算出部１２３と、校正量算出部１２４と、データ生成部１２５とを含む。眼内距離算出部１２２は、眼軸長算出部１２２Ａと、前房深度算出部１２２Ｂと、水晶体厚算出部１２２Ｃと、角膜厚算出部１２２Ｄとを含む。

【0050】

眼屈折力の算出において、眼屈折力算出部１２１は、レフ測定受光系７からの出力（リング像）の形状を解析する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、得られた画像における輝度分布からリング像の重心位置を求め、この重心位置から放射状に延びる複数の走査方向に沿った輝度分布を求め、この輝度分布からリング像を特定する。続いて、眼屈折力算出部１２１は、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。或いは、眼屈折力算出部１２１は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求めることができる。

【0051】

眼屈折力算出部１２１は、眼内距離測定系８を用いた光干渉計測の結果から、少なくとも球面度数を求めることができる。例えば、眼屈折力算出部１２１は、合焦レンズ８５の移動により干渉光ＬＣの検出信号がピークになる合焦レンズ８５の位置を特定し、０Ｄに相当する合焦レンズの位置と、特定されたピークになる合焦レンズ８５の位置とに基づいて等価球面度数を求める。

【0052】

眼屈折力算出部１２１は、観察系５により取得されたケラトリング像に基づいて、角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、ケラトリング像を解析することにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、角膜曲率半径に基づいて上記パラメータを算出する。

【0053】

眼内距離算出部１２２は、眼内距離測定系８により取得された２つの干渉光の検出データに基づいて被検眼Ｅの１以上の眼内距離を算出する。眼内距離算出部１２２は、検出データに含まれる当該２つの干渉光に基づく２つの干渉信号（例えば図６参照）の位置の間隔に基づいて被検眼Ｅの眼内距離を算出する。

【0054】

眼内距離算出部１２２は、被検眼Ｅの基準部位を基準に複数の眼内距離を算出することが可能である。基準部位として、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光の強度が強い部位が挙げられる。基準部位には、被検眼Ｅの角膜頂点（角膜前面）や網膜や内境界膜等がある。それにより、被検眼Ｅが動いてしまい、干渉信号の位置が変わってしまった場合でも、常に基準部位の干渉信号を基準にすることによって、常に高い精度で複数の眼内距離を算出することができる。

【0055】

眼軸長算出部１２２Ａは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて眼軸長（眼内距離Ｄ１）を求める。前房深度算出部１２２Ｂは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体前面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて前房深度（眼内距離Ｄ２）を求める。前房深度を求めるときの角膜頂点に相当する干渉信号の位置は、眼軸長を求めるときに用いた角膜頂点に相当する干渉信号の位置を流用できる。水晶体厚算出部１２２Ｃは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて距離（Ｄ２＋Ｄ３）を求め、求められた距離（Ｄ２＋Ｄ３）から距離Ｄ２を差し引くことにより水晶体厚（距離Ｄ３）を求める。角膜厚算出部１２２Ｄは、角膜頂点（角膜前面）に相当する干渉信号の位置と角膜後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて角膜厚を求める。

【0056】

ＩＯＬ度数の算出において、ＩＯＬ度数算出部１２３は、ケラトの測定結果と眼内距離算出部１２２において求められた眼軸長、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つを公知の計算式に代入することによりＩＯＬ度数を求める。なお、ＩＯＬ度数算出部１２３は、眼屈折力の算出結果と眼軸長の算出結果とを公知の計算式に代入することによりＩＯＬ度数を求めてもよい。

【0057】

校正量算出部１２４は、干渉計光源８１に関する校正量及び網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するためのパルスモータに関する校正量（調整量）を算出する。干渉計光源８１に関する校正量は、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４及び角膜用参照ミラーユニット９６の双方の移動が伴わない状態で算出される。校正量算出部１２４は、網膜・前房深度用参照光路の長さと角膜用参照光路の長さとが略等しくされた後にいずれか一方の光路に透光部材が挿入されているときに取得された第１検出データと、当該光路から透光部材が退避されているときに取得された第２検出データとに基づいて干渉計光源８１に関する校正量を算出する。第１検出データは、例えば、網膜側校正用ユニット９７により参照光路の長さが変更された後に生成された、網膜・前房深度用参照光路からの反射光（戻り光）と角膜用参照光路からの反射光（戻り光）との第１干渉光を分光器８３により検出することにより取得される。第２検出データは、網膜側校正用ユニット９７により参照光路の長さが変更される前に生成された、網膜・前房深度用参照光路からの反射光と角膜用参照光路からの反射光との第２干渉光を分光器８３により検出することにより取得される。

【0058】

２つの検出データにそれぞれ含まれる第１干渉光に基づく干渉信号と第２干渉光に基づく干渉信号との変位量は、分光器８３に含まれるラインセンサのピクセル数に対応する。変位量からピクセル数を求めることで、透光部材の挿脱による光路長の変化分に相当するラインセンサのピクセル数がわかり、干渉計光源８１に関する校正量を求めることが可能になる。

【0059】

また、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するためのパルスモータに関する校正量は、網膜・前房深度用参照光路の長さと角膜用参照光路の長さとを相対的に変更することにより算出される。校正量算出部１２４は、上記の光路長が相対的に変更された後に取得された第１検出データと、上記の光路長が相対的に変更される前に取得された第２検出データとに基づいて、当該パルスモータに関する校正量を算出する。第１検出データは、上記の光路長が相対的に変更された後に網膜・前房深度用参照光路からの戻り光と角膜側参照光路からの戻り光との第１干渉光を分光器８３により検出することにより取得される。第２検出データは、上記の光路長が相対的に変更される前に生成された網膜・前房深度用参照光路からの戻り光と角膜用参照光路からの戻り光との第２干渉光を分光器８３により検出することにより取得される。

【0060】

２つの検出データにそれぞれ含まれる第１干渉光に基づく干渉信号と第２干渉光に基づく干渉信号との変位量は、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するためのパルスモータに対する制御パルス数（制御量）に対応する。例えば、取得された変位量から前述の干渉計光源８１に関する校正量に基づいて正確な変位量を求めることで、透光部材の挿脱による光路長の変化分に相当する制御パルス数がわかり、パルスモータに関する校正量を求めることが可能になる。なお、干渉計光源８１に関する校正量を用いて干渉信号の変位量を換算することなく、取得された干渉信号の変位量をそのまま用いてパルスモータに関する校正量を求めてもよい。

【0061】

また、測定部位に応じて厚さが互いに異なる複数の透光部材を選択的に光路に挿脱させることにより、各測定部位の測定範囲での校正が可能になり、高精度な眼内距離の測定を維持することができる。

【0062】

この実施形態では、角膜用参照ミラーユニット９６が固定された状態で前述の測定が行われるため、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するためのパルスモータに関する校正量だけが算出される。角膜用参照ミラーユニット９６を移動するためのパルスモータに関する校正量も同様に算出することも可能である。

【0063】

データ生成部１２５は、光干渉計測による測定時に得られた干渉光の検出結果と校正時に取得された校正量とに基づいて、被検眼Ｅに関するデータを生成する。被検眼Ｅに関するデータには、光干渉計測画像、光干渉計測画像の解析結果などがある。データ生成部１２５は、眼内距離算出部１２２を含んでもよい。

【0064】

（表示部１７０、操作部１８０）
表示部１７０は、制御部１１０による制御を受けて情報を表示する。表示部１７０は表示部１０を含む。操作部１８０は、眼科装置１０００の操作や情報入力に使用される。操作部１８０は、各種のハードウェアキー（ジョイスティック、ボタン、スイッチなど）、及び／又は、表示部１７０に提示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含む。

【0065】

（通信部１９０）
通信部１９０は、外部装置と通信する機能を持つ。通信部１９０は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置がある。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置１０００に入力する。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置（リーダ）や、記録媒体に情報を書き込む装置（ライタ）などでもよい。更に、外部装置は、病院情報システム（ＨＩＳ）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｉｍａｇｉｎｇ ａｎｄ ＣＯｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ ｉｎ Ｍｅｄｉｃｉｎｅ）サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、クラウドサーバなどでもよい。

【0066】

＜動作例＞
実施形態に係る眼科装置１０００の動作について説明する。眼科装置１０００の動作の一例を図９〜図１２に示す。図９に、眼科装置１０００を用いた測定フローを示す。

【0067】

（Ｓ１）
眼科装置１０００は、検者等のユーザによる電源オン操作により通常動作モードで起動される。

【0068】

（Ｓ２）
眼科装置１０００は、眼内距離を測定するための校正量を算出する。

【0069】

（Ｓ３）
眼科装置１０００は、眼内距離測定を含む他覚測定と自覚検査とを実行する。Ｓ３では、眼内距離測定において、Ｓ２において算出された校正量を用いて測定値が求められる。

【0070】

（Ｓ４）
ユーザにより電源オフ操作が行われたとき（Ｓ４：Ｙ）、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。ユーザにより電源オフ操作が行われないとき（Ｓ４：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ５に移行する。

【0071】

（Ｓ５）
ユーザにより一定時間内に操作部１８０に対して操作が行われなかったとき（Ｓ５：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ６に移行する。ユーザにより一定時間内に操作部１８０に対して操作が行われたとき（Ｓ５：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ３に移行する。

【0072】

（Ｓ６）
ユーザにより一定時間内に操作部１８０に対して操作が行われなかったとき（Ｓ５：Ｙ）、眼科装置１０００は通常動作モードからスリープモードに移行する。スリープモードでは、光源の点灯がオフにされたり、表示部１３０の表示がオフにされたりする。

【0073】

（Ｓ７）
スリープモードにおいてユーザにより操作部１８０に対して操作を行われなかったとき（Ｓ７：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ６に移行する。スリープモードにおいてユーザにより操作部１８０に対して操作が行われたとき（Ｓ７：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ２に移行する。

【0074】

図９のＳ２では、網膜側校正用ユニット９７及び角膜側校正用ユニット９８の少なくとも一方を用いて、干渉計光源８１に関する校正量と、パルスモータに関する校正量とが算出される。図９のＳ３では、網膜側校正用ユニット９７を用いて、参照光路に被検眼Ｅの分散を補償するための分散補償部材が挿入される。

【0075】

図１０Ａは、角膜側校正用ユニット９８の構成の概要を模式的に表したものである。図１０Ｂは、網膜側校正用ユニット９７の構成の概要を模式的に表したものである。図１０Ｃは、実施形態の動作説明図を表したものである。

【0076】

角膜側校正用ユニット９８は、孔部９８１と、厚さｔ１を有するガラス（厚）（透光部材）９８２と、厚さｔ２を有するガラス（中）９８３とが円周方向に沿って設けられたターレット板９８ａを含む（図１０Ａ参照）。厚さｔ１は、眼軸長に相当する厚さである。厚さｔ２（ｔ１＞ｔ２）は、前房深度に相当する厚さである。網膜側校正用ユニット９７は、分散補償部材９７１と、孔部９７２と、厚さｔ３を有するガラス（薄）９７３とが、円周方向に沿って設けられたターレット板９７ａを含む（図１０Ｂ参照）。厚さｔ３（ｔ１＞ｔ２＞ｔ３）は、角膜厚に相当する厚さである。

【0077】

図１０Ｃに示すように、干渉計光源８１に関する校正量の算出時には、角膜側校正用ユニット９８により角膜用参照光路に孔部９８１が配置され、網膜側校正用ユニット９７により網膜・前房深度用参照光路にガラス（薄）９７３が配置される。それにより、干渉計光源８１の経時変化の影響を受けた信号の変位量に基づく校正量が算出される。なお、干渉計光源８１に関する校正量の算出時には、角膜用参照光路にガラス（薄）が配置され、網膜・前房深度用参照光路に孔部が配置されてもよい。

【0078】

前房深度及び水晶体厚の測定時に使用されるパルスモータに関する校正量の算出時には、角膜側校正用ユニット９８により角膜用参照光路にガラス（中）９８３が配置され、網膜側校正用ユニット９７により網膜・前房深度用参照光路に孔部９７２が配置される。それにより、前房深度及び水晶体厚の測定範囲でパルスモータの経時変化の影響を受けた信号の変位量に基づく校正量が算出される。眼軸長の測定時に使用されるパルスモータに関する校正量の算出時には、角膜側校正用ユニット９８により角膜用参照光路にガラス（厚）９８２が配置され、網膜側校正用ユニット９７により網膜・前房深度用参照光路に孔部９７２が配置される。それにより、眼軸長の測定範囲でパルスモータの経時変化の影響を受けた信号の変位量に基づく校正量が算出される。

【0079】

光干渉計測測定時には、角膜側校正用ユニット９８により角膜用参照光路に孔部９８１が配置され、網膜側校正用ユニット９７により網膜・前房深度用参照光路に分散補償部材９７１が配置される。それにより、分散補償部材を個別に設ける必要がなくなる。

【0080】

図１１に、図９のＳ２の校正の動作例のフロー図を示す。Ｓ１１〜Ｓ１７では、干渉計光源８１に関する校正量が求められる。Ｓ１８〜Ｓ２１では、前房深度及び水晶体厚の測定時に使用されるパルスモータに関する校正量が求められる。Ｓ２２〜Ｓ２５では、眼軸長測定時に使用されるパルスモータに関する校正量が求められる。

【0081】

（Ｓ１１）
校正制御部１１１Ａは、干渉計光源８１から出力される光Ｌ０の光量を所定の校正用の光量まで低下させる。校正制御部１１１Ａは、例えば、パルス幅変調制御により点灯時間を短くすることにより干渉計光源８１からの光Ｌ０の光量を低下させる。校正制御部１１１Ａは、光Ｌ０の光路にＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタを挿入したり、図示しない光減衰器の減衰率を制御したりすることによりファイバカプラ８２に導かれる光Ｌ０の光量を低下させてもよい。また、校正制御部１１１Ａは、クイックリターンミラー６７を前述の分岐光路に挿入させると共に、網膜・前房深度用シャッター９３及び角膜用シャッター９５の双方を光路から退避させる。

【0082】

（Ｓ１２）
校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光とが干渉する位置に、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。校正制御部１１１Ａは、分光器８３により得られる干渉光の検出結果に基づいて網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動を制御することができる。

【0083】

（Ｓ１３）
校正制御部１１１Ａは、Ｓ１２で移動された網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の位置における２つの参照光路の反射光の干渉光に基づく干渉信号を取得する。校正量算出部１２４は、取得された干渉信号の重心位置をガラス未挿入時の信号位置として求める。

【0084】

（Ｓ１４）
校正制御部１１１Ａは、図１０Ｃに示すように、角膜側校正用ユニット９８により角膜用参照光路に孔部９８１を配置させ、網膜側校正用ユニット９７により網膜・前房深度用参照光路にガラス（薄）９７３を配置させる。

【0085】

（Ｓ１５）
校正制御部１１１Ａは、Ｓ１４で網膜・前房深度用参照光路にガラス（薄）９７３が挿入されたときの２つの参照光路の反射光の干渉光に基づく干渉信号を取得する。校正量算出部１２４は、取得された干渉信号の重心位置をガラス（薄）挿入時の信号位置として求める。

【0086】

（Ｓ１６）
校正量算出部１２４は、Ｓ１３で取得された干渉信号の重心位置とＳ１５で取得された干渉信号の重心位置との位置ずれ（重心間距離）を求める。

【0087】

（Ｓ１７）
校正量算出部１２４は、Ｓ１６において求められた位置ずれ分に相当する分光器８３のラインセンサのピクセル数ｐを求め、ガラス（薄）９７３による光路長の変化分Ｔ３を用いて、干渉計光源８１に関する校正量（Ｔ３／ｐ（μｍ／ピクセル））を算出する。Ｔ３は、ガラス（薄）９７３の厚さｔ３と既知の屈折率を用いて特定することが可能である。

【0088】

（Ｓ１８）
次に、校正制御部１１１Ａは、図１０Ｃに示すように、角膜側校正用ユニット９８により角膜用参照光路にガラス（中）９８３を配置させ、網膜側校正用ユニット９７により網膜・前房深度用参照光路に孔部９７２を配置させる。

【0089】

（Ｓ１９）
Ｓ１８において角膜用参照光路の長さが長くなるため、網膜・前房深度用参照光路の長さを長くすることで、２つの参照光路の反射光の干渉光を生成することができる。そのため、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動して、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光とを干渉させる。このとき、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を所望の位置まで移動するパルスモータを制御するための制御パルス数である移動パルス数をカウントし、カウントした移動パルス数ＰＬ１を取得する。

【0090】

（Ｓ２０）
校正制御部１１１Ａは、Ｓ１９で移動された網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の位置における２つの参照光路の反射光の干渉光に基づく干渉信号を取得する。校正量算出部１２４は、取得された干渉信号の重心位置をガラス（中）挿入時の信号位置として求める。

【0091】

（Ｓ２１）
校正量算出部１２４は、Ｓ１９の移動前の干渉信号の重心位置からＳ２０において求められた干渉信号の重心位置までの分光器８３のラインセンサのピクセル数ｐ´を求める。校正量算出部１２４は、Ｓ１７において算出された校正量を用いて、ピクセル数ｐ´に相当する移動距離Ｄ´（μｍ）を求める。校正量算出部１２４は、求められた移動距離Ｄ´と、ガラス（中）９８３による光路長の変化分Ｔ２と、Ｓ１９で取得された移動パルス数ＰＬ１とを用いて、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するパルスモータに関する校正量（（Ｄ´＋Ｔ２）／ＰＬ１（μｍ／パルス））を算出する。Ｓ２１において求められた校正量は、前房深度及び水晶体厚の測定時に使用される。

【0092】

（Ｓ２２）
次に、校正制御部１１１Ａは、図１０Ｃに示すように、角膜側校正用ユニット９８により角膜用参照光路にガラス（厚）９８２を配置させ、網膜側校正用ユニット９７により網膜・前房深度用参照光路に孔部９７２を配置させる。

【0093】

（Ｓ２３）
Ｓ２３では、Ｓ１９と同様に、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動して、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂからの参照光の反射光と角膜用参照ミラー９６Ｂからの参照光の反射光とを干渉させる。このとき、校正制御部１１１Ａは、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を所望の位置まで移動するパルスモータを制御するための制御パルス数である移動パルス数をカウントし、カウントした移動パルス数ＰＬ２を取得する。

【0094】

（Ｓ２４）
校正制御部１１１Ａは、Ｓ２３で移動された網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の位置における２つの参照光路の戻り光の干渉光に基づく干渉信号を取得する。校正量算出部１２４は、取得された干渉信号の重心位置をガラス（厚）挿入時の信号位置として求める。

【0095】

（Ｓ２５）
校正量算出部１２４は、Ｓ２３の移動前の干渉信号の重心位置からＳ２４において求められた干渉信号の重心位置までの分光器８３のラインセンサのピクセル数ｐ´´を求める。校正量算出部１２４は、Ｓ１７において算出された校正量を用いて、ピクセル数ｐ´´に相当する移動距離Ｄ´´（μｍ）を求める。校正量算出部１２４は、求められた移動距離Ｄ´´と、ガラス（厚）９８２による光路長の変化分Ｔ１と、Ｓ２３で取得された移動パルス数ＰＬ２とを用いて、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動するパルスモータに関する校正量（（Ｄ´´＋Ｔ１）／ＰＬ２（μｍ／パルス））を算出する。Ｓ２５において求められた校正量は、眼軸長の測定時に使用される。以上で、図９のＳ２の校正の動作は終了する（エンド）。

【0096】

図１２に、図９のＳ３の測定の動作例のフロー図を示す。

【0097】

（Ｓ３１）
検者等のユーザが操作部１８０に対して所定の操作を行うことで、眼科装置１０００は、アライメントを実行する。具体的には、主制御部１１１は、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１や光源４１を点灯させる。処理部９は、撮像素子５９の撮像面上に結像された前眼部像の撮像信号を取得し、表示部１７０（表示部１０の表示画面１０ａ）に前眼部像Ｅ’を表示させる。その後、図１に示す光学系が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を行うことが可能な位置である。前述のアライメント（Ｚアライメント系１及びＸＹアライメント系２と観察系５とによるアライメント）を介して被検眼Ｅが検査位置に配置される。光学系の移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は制御部１１０による指示にしたがって、制御部１１０によって実行される。

【0098】

また、主制御部１１１は、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２、合焦レンズ８５、光源４１及び視標チャート４２を連動させて、光軸に沿って原点、例えば、０Ｄの位置に移動させる。原点への移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は主制御部１１１による指示にしたがって、主制御部１１１によって実行される。

【0099】

（Ｓ３２）
主制御部１１１は、ケラト測定を実行させる。すなわち、主制御部１１１は、ケラトリング光源３２を点灯させる。ケラトリング光源３２から光が出力されると、角膜Ｋに角膜形状測定用のリング状光束光が投影される。眼屈折力算出部１２１は、撮像素子５９によって取得された像に対して演算処理を施すことにより、角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。制御部１１０では、算出された角膜屈折力などが記憶部１１２に記憶される。

【0100】

（Ｓ３３）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路にクイックリターンミラー６７の反射面を配置させ、レフ測定を実行させる。すなわち、主制御部１１１は、前述のようにレフ測定のためのリング状の測定パターン光束を被検眼Ｅに投影する。被検眼Ｅからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が、撮像素子７４の結像面に結像される。主制御部１１１は、撮像素子７４により検出された眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。例えば、主制御部１１１は、撮像素子７４により検出された戻り光に基づく像のエッジの位置（画素）を検出し、像の幅（外径と内径との差）が所定値以上であるか否かを判定する、或いは強度が所定の高さ以上の点（像）に基づいてリングを形成できるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定する。

【0101】

リング像を取得できたと判定されたとき、眼屈折力算出部１２１は、被検眼Ｅに投影された測定パターン光束の戻り光に基づくリング像を公知の手法で解析し、仮の球面度数Ｓ及び乱視度数Ｃを取得する。仮の球面度数及び乱視度数Ｃ基づき、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）、光源４１及び視標チャート４２を等価球面度数（Ｓ＋Ｃ／２）の位置へ移動させる。その位置から、雲霧を行った後、再度本測定としてリング像を取得し、前述と同様に得られたリング像の解析結果と合焦レンズの移動量から球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａが求める。制御部１１０では、合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）の位置や算出された球面度数などが記憶部１１２に記憶される。

【0102】

リング像を取得できないと判定されたとき、まずは強度屈折異常眼である可能性を考慮してレフ測定光源６１、合焦レンズ７２をあらかじめ設定したステップでマイナス度数側（例えば−１０Ｄ）、プラス度数側（例えば＋１０Ｄ）へ移動し各位置でリング像の検出を実施する。それでもリング像を取得できないと判定されたとき、眼科装置１０００の動作はＳ３４に移行する。制御部１１０では、レフ測定結果が得られなかったことを示す情報が記憶部１１２に記憶される。

【0103】

（Ｓ３４）
主制御部１１１は、眼軸長測定を実行させる。具体的には、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させた後、角膜用参照光路に対し角膜用シャッター９５を挿入させ、網膜・前房深度用参照光路から網膜・前房深度用シャッター９３を退避させる。次に、主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させる。それにより、干渉計ユニット８０と被検眼Ｅとの間に測定光ＬＳの光路が形成され、光干渉計測経路が開放される。主制御部１１１は、Ｓ３３において記憶部１１２に記憶された情報に基づいて、レフ測定結果があるか否かを判定する。

【0104】

レフ測定結果があると判定されたとき、主制御部１１１は、Ｓ３３において記憶部１１２に記憶された合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）の位置から眼軸長測定時の合焦レンズ８５の位置を決定し、決定された位置に合焦レンズ８５を移動する。すなわち、Ｓ３４では、Ｓ３３のレフ測定を行うために被検眼Ｅに対する合焦において求められた合焦レンズ７２の位置から合焦レンズ８５の位置が決定される。具体的には、レフ測定は被検眼Ｅに雲霧させた状態で実行されるため、レフ測定時は、被検眼Ｅに対する合焦において求められた合焦レンズ７２の位置から所定の距離ΔＤだけ移動される。したがって、Ｓ３４において移動された合焦レンズ８５の位置は、レフ測定時の合焦レンズ８５（合焦レンズ７２）の位置から距離（−ΔＤ）だけ移動された位置となる。レフ測定系の移動部（レフ測定光源６１、合焦レンズ７２）と眼内距離測定系８の合焦レンズ８５は一体で移動可能であってもよいし、個別に移動可能であってもよい。一体で移動する場合、Ｓ３３のレフ測定時には合焦レンズ８５は既に雲霧位置にあるので雲霧分のみ戻せばよい。個別に移動される場合や、一体となっていても基準位置や倍率が異なる場合は上記のように移動する。主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。

【0105】

一方、レフ測定結果がないと判定されたとき、主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。次に、主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。

【0106】

以上のように、レフ測定結果に応じて合焦レンズ８５の移動と網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動とが行われると、主制御部１１１は、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と網膜に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。眼軸長算出部１２２Ａは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて眼軸長を算出する。このとき、Ｓ１７で求められた干渉計光源８１に関する校正量を用いた干渉信号の重心位置の移動距離と、Ｓ２５で求められたパルスモータに関する校正量を用いた網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動距離とを加味して、眼軸長が求められる。制御部１１０では、算出された眼軸長が記憶部１１２に記憶される。

【0107】

（Ｓ３５）
主制御部１１１は、前房深度測定を実行させる。具体的には、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させ、角膜用参照光路に対し角膜用シャッター９５を挿入させ、網膜・前房深度用参照光路から網膜・前房深度用シャッター９３を退避させる。次に、主制御部１１１は、水晶体前面に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。主制御部１１１は、水晶体前面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動し、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と水晶体前面に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。前房深度算出部１２２Ｂは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体前面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて前房深度を算出する。このとき、Ｓ１７で求められた干渉計光源８１に関する校正量を用いた干渉信号の重心位置の移動距離と、Ｓ２１で求められたパルスモータに関する校正量を用いた網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動距離とを加味して、前房深度が求められる。制御部１１０では、算出された前房深度が記憶部１１２に記憶される。

【0108】

（Ｓ３６）
主制御部は、水晶体厚測定を実行させる。具体的には、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させ、角膜用参照光路に対し角膜用シャッター９５を挿入させ、網膜・前房深度用参照光路から網膜・前房深度用シャッター９３を退避させる。次に、主制御部１１１は、水晶体後面に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。主制御部は、水晶体後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動し、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と水晶体後面に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。水晶体厚算出部１２２Ｃは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて、角膜頂点と水晶体後面との距離を求める。水晶体厚算出部１２２Ｃは、求められた角膜頂点と水晶体後面との距離からＳ３５において求められた前房深度を差し引くことにより、水晶体厚を算出する。このとき、Ｓ１７で求められた干渉計光源８１に関する校正量を用いた干渉信号の重心位置の移動距離と、Ｓ２１で求められたパルスモータに関する校正量を用いた網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の移動距離とを加味して、水晶体厚が求められる。制御部１１０では、算出された水晶体厚が記憶部１１２に記憶される。

【0109】

（Ｓ３７）
主制御部１１１は、角膜厚測定を実行させる。具体的には、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させ、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させ、網膜・前房深度用参照光路に対し網膜・前房深度用シャッター９３を挿入させる。次に、主制御部１１１は、角膜後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。角膜頂点に相当する干渉信号と角膜後面に相当する干渉信号とが同時に検出することが可能であるため、角膜厚算出部１２２Ｄは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と角膜後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて角膜厚を算出する。このとき、Ｓ１７で求められた干渉計光源８１に関する校正量を用いた干渉信号の重心位置の移動距離を加味して、角膜厚が求められる。制御部１１０では、算出された角膜厚が記憶部１１２に記憶される。

【0110】

（Ｓ３８）
ＩＯＬ度数算出部１２３は、Ｓ３１〜Ｓ３７で求められた角膜屈折力（ケラト値）、眼軸長測定、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つを用いてＩＯＬの度数を求める。制御部１１０では、求められたＩＯＬ度数が記憶部１１２に記憶される。

【0111】

（Ｓ３９）
制御部１１０は、例えば、操作部１８０に対するユーザの指示に基づき、視標チャート４２を制御することにより所望の視標を表示させる。また、制御部１１０は、他覚測定の結果に応じた位置に光源４１及び視標チャート４２を移動する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。

【0112】

或いは、制御部１１０は、他覚測定で得られた被検眼Ｅの乱視状態（乱視度数、乱視軸角度）に基づいて、この乱視状態が矯正されるようにＶＣＣレンズ４４を制御する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。被検者の応答に基づきＶＣＣレンズを制御することも可能である。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。検者又は制御部１１０は、被検者からの応答に基づいて視力値或いは処方値（Ｓ、Ｃ、Ａ）を決定し、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。

【0113】

この実施形態では、干渉計光源８１の特性及びパルスモータの駆動特性の双方の経時変化を考慮して眼軸長、前房深度及び水晶体厚を求める場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、干渉計光源８１の特性の経時変化だけを考慮して眼軸長、前房深度及び水晶体厚を求めてもよいし、パルスモータの駆動特性の経時変化だけを考慮して眼軸長、前房深度及び水晶体厚を求めてもよい。

【0114】

［作用・効果］
実施形態に係る光干渉計測装置の作用及び効果について説明する。

【0115】

実施形態に係る光干渉計測装置（眼科装置１０００）は、光源（干渉計光源８１）からの光（光Ｌ０）を参照光（参照光ＬＲ）と測定光（測定光ＬＳ）とに分割し、測定光を物体（被検眼Ｅ）に照射し、その戻り光と参照光との干渉光（干渉光ＬＣ）を生成し、生成された干渉光を検出する干渉光学系（干渉計ユニット８０）を備えている。光干渉計測装置は、光路分割部材（ビームスプリッタ９２）と、第１参照光路長変更部（網膜側校正用ユニット９７）と、校正量算出部（校正量算出部１２４）と、データ生成部（データ生成部１２５）とを含む。光路分割部材は、参照光を第１参照光路（網膜・前房深度用参照光路）及び第２参照光路（角膜用参照光路）に導く。第１参照光路長変更部は、第１参照光路及び第２参照光路の少なくとも一方である可変参照光路（網膜・前房深度用参照光路）の長さを変更する。校正量算出部は、第１参照光路長変更部により可変参照光路の長さが変更された後に生成された第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第１干渉光を干渉光学系により検出して取得された第１検出データと、可変参照光路の長さが変更される前に生成された第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第２干渉光を干渉光学系により検出して取得された第２検出データとに基づいて、光源に関する校正量を求める。データ生成部は、干渉光の検出結果と校正量とに基づいて、物体に関するデータを生成する。

【0116】

このような構成によれば、物体に関するデータを生成するために用いられる干渉光学系において参照光路を分割して得られた２つの参照光路からの戻り光を干渉させた干渉光を用いるようにしたので、省スペースで光源に関する校正量を求めることができる。

【0117】

また、実施形態に係る光干渉計測装置では、校正量算出部は、第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとが略等しい状態でそれぞれ取得された第１検出データと第２検出データとに基づいて校正量を求めてもよい。

【0118】

このような構成によれば、干渉光学系における参照光路を分割して得られた第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとが略等しい状態で校正量を求めるようにしたので、光源の経時変化に基づく校正量を容易に求めることができる。

【0119】

また、実施形態に係る光干渉計測装置では、第１参照光路長変更部は、１以上の透光部材を含み、可変参照光路に１以上の透光部材を挿脱させることにより当該参照光路の長さを変更してもよい。

【0120】

このような構成によれば、透光部材を挿脱させることにより可変参照光路の長さを変更するようにしたので、校正用の光学系を別途に設けたり、光源からの光を校正用に分岐させたりすることなく、校正量を求めることができる。

【0121】

また、実施形態に係る光干渉計測装置では、１以上の透光部材は、分散補償部材を含んでもよい。

【0122】

このような構成によれば、干渉光学系による測定時に分散補償部材を別途に設ける必要がなくなり、装置の省スペース化を図ることができる。

【0123】

また、実施形態に係る光干渉計測装置は、第２参照光路長変更部と、制御部とを含んでもよい。第２参照光路長変更部は、第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとを相対的に変更する。制御部は、少なくとも第２参照光路長変更部を制御する。校正量算出部は、第１検出データと第２検出データとの間の信号変位量と、信号変位量に対応する第２参照光路長変更部に対する制御量とに基づいて第２参照光路長変更部に関する校正量を求める。

【0124】

このような構成によれば、校正用の光学系を別途に設けることなく、第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとを相対的に変更する手段の特性の経時変化に基づく校正量を高精度に求めることができる。

【0125】

また、実施形態に係る光干渉計測装置は、可変参照光路の長さの変更量が異なる２以上の透光部材を含み、校正量算出部は、２以上の透光部材のそれぞれに対応する校正量を求めてもよい。

【0126】

このような構成によれば、可変参照光路の長さの変更量に対応した測定範囲で校正量を求めることができ、より高精度な光干渉計測測定が可能になる。

【0127】

また、実施形態に係る光干渉計測装置は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を物体に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する干渉光学系を備える。光干渉計測装置は、光路分割部材と、第２参照光路長変更部と、制御部と、校正量算出部と、データ生成部とを含む。光路分割部材は、参照光を第１参照光路及び第２参照光路に導く。第２参照光路長変更部は、第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとを相対的に変更する。制御部は、少なくとも第２参照光路長変更部を制御する。校正量算出部は、第２参照光路長変更部により光路長が相対的に変更された後に生成された第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第１干渉光を干渉光学系により検出して取得された第１検出データと、第２参照光路長変更部により光路長が相対的に変更される前に生成された第１参照光路からの戻り光と第２参照光路からの戻り光との第２干渉光を干渉光学系により検出して取得された第２検出データとに基づいて、第２参照光路長変更部に関する校正量を求める。データ生成部は、干渉光の検出結果と校正量とに基づいて、物体に関するデータを生成する。

【0128】

このような構成によれば、校正用の光学系を別途に設けることなく、第１参照光路の長さと第２参照光路の長さとを相対的に変更する手段の特性の経時変化に基づく校正量を求めることができる。

【0129】

＜変形例＞
実施形態に係る網膜側校正用ユニット９７及び角膜側校正用ユニット９８の構成は、図１０Ａ及び図１０Ｂに示す構成に限定されるものではない。例えば、前述の実施形態では、測定時に網膜側校正用ユニット９７により網膜・前房深度用参照光路に分散補償部材９７１が配置される場合について説明したが、処理部９がソフトウェア処理で分散補償を行ってもよい。

【0130】

図１３Ａは、実施形態の変形例に係る角膜側校正用ユニット９８´の構成の概要を模式的に表したものである。図１３Ａにおいて、図１０Ａ及び図１０Ｂと同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。図１３Ｂは、実施形態の変形例の動作説明図を表したものである。

【0131】

角膜側校正用ユニット９８´は、孔部９８１と、厚さｔ１を有するガラス（厚）９８２と、厚さｔ２を有するガラス（中）９８３と、厚さｔ３を有するガラス（薄）９７３とが円周方向に沿って設けられたターレット板９８ａを含む。

【0132】

図１３Ｂに示すように、網膜・前房深度用参照光路に透光部材等は配置されない。干渉計光源８１に関する校正量の算出時には、角膜側校正用ユニット９８´により角膜用参照光路にガラス（薄）９７３が配置される。前房深度及び水晶体厚の測定時に使用されるパルスモータに関する校正量の算出時には、角膜側校正用ユニット９８´により角膜用参照光路にガラス（中）９８３が配置される。眼軸長の測定時に使用されるパルスモータに関する校正量の算出時には、角膜側校正用ユニット９８´により角膜用参照光路にガラス（厚）９８２が配置される。光干渉計測測定時には、角膜側校正用ユニット９８´により角膜用参照光路に孔部９８１が配置される。

【0133】

以上のように、本変形例によれば、網膜側校正用ユニット９７を設けることなく、前述の実施形態と同様に校正量を算出することができる。

【0134】

＜その他の変形例＞
以上に示された実施形態又はその変形例は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

【0135】

前述の実施形態では、パルスモータについて測定部位に対応した測定範囲で校正量を算出する場合について説明したが、１つの透光部材を用いて求められた校正量を測定範囲にかかわらずに全範囲で用いてもよい。

【0136】

前述の実施形態では、算出された校正量をそのまま用いる場合について説明したが、公知の手法で補正係数を求め、取得された測定値に当該補正係数を適用するようにしてもよい。

【0137】

前述の実施形態では、角膜用参照光路に対してガラス等の透光部材を挿入することにより参照光路の長さを変更してパルスモータの駆動特性の経時変化に基づく校正量を算出する場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、角膜用参照ミラーユニット９６及び網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４の少なくとも一方を光軸に沿って移動することにより参照光路の長さを変更することも可能である。この場合、参照ミラーユニットの移動量は、ロータリーエンコーダ等の位置センサにより検出することができる。

【0138】

前述の実施形態では、測定前に校正を行う場合について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、電源投入直後、スリープモード解除直後、ユーザにより指定された任意のタイミング、自覚検査中、アライメント中、レフ測定中又はケラト測定中に、前述の校正量の算出を行うことが可能である。

【符号の説明】

【0139】

９ 処理部
８０ 干渉計ユニット
９２ ビームスプリッタ
９７ 網膜側校正用ユニット
１２４ 校正量算出部
１２５ データ生成部
１０００ 眼科装置

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10A】

【図10B】

【図10C】

【図11】

【図12】

【図13A】

【図13B】