特許6615329パワー半導体モジュールの損傷レベル又は寿命予測を推定する方法及びデバイス

発明の名称　パワー半導体モジュールの損傷レベル又は寿命予測を推定する方法及びデバイス

出願人　ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィ　（識別番号 503163527）

　　　　特許公開件数ランキング 1192 位（6件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 609 位（12件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6615329

公報発行日　2019年12月4

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6615329

知財ポータルサイト IP Force にログインすれば、特許-6615329「パワー半導体モジュールの損傷レベル又は寿命予測を推定する方法及びデバイス」の公報全文を閲覧することができます。

ログインはこちら　ログイン・ユーザー登録