特許6623811IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体モジュールの製造方法及び半導体モジュール

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、特許文献2の半導体モジュールでも、特許文献1と同様に、金型とピン状の外部端子との隙間に樹脂が入り込んで、当該外部端子にバリが形成されてしまう。ピン状の外部端子は、バリが形成されると、電気的導通が阻害される可能性が高まり、半導体モジュールの機能、性能が十分に発揮されずに、半導体モジュールの特性が低下してしまうおそれがある。 本発明は、このような点を鑑みてなされたものであり、外部端子にバリが形成されることを抑制することができる半導体モジュールの製造方法及び半導体モジュールを提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一観点によれば、外面部を押圧し前記外面部を隆起させて凸部を形成することにより、前記外面部に流出阻止部を設けた、ピン状の外部端子を用意する工程と、前記外部端子を基板に固定し、前記基板に電気的に接続する工程と、第1金型部分及び第2金型部分を備える金型を用意し、前記第1金型部分及び前記第2金型部分を組み合わせて前記基板を収納する第1キャビティと、前記第1キャビティに連通し、前記外部端子を収・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
開示の技術によれば、半導体モジュールの特性の低下を抑制することができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】第1の実施の形態の半導体モジュールを示す図である。

【図2】第1の実施の形態の半導体モジュールにより構成される回路構成を示す等価回路図である。

【図3】第1の実施の形態の半導体モジュールの一例を説明するための図である。

【図4】第1の実施の形態の半導体モジュールの製造に用いられる金型を説明するための側断面図である。

【図5】第1の実施の形態の半導体モジュールの製造に用いられる金型を説明するための上面図である。

【図6】比較例の半導体モジュールの樹脂封止工程を説明するための図である。

【図7】比較例の半導体モジュールの側面図である。

【図8】第1の実施の形態の半導体モジュールのピン状の外部端子を説明するための図である。

【図9】第1の実施の形態の半導体モジュールの樹脂封止工程を説明するための図である。

【図10】第1の実施の形態の半導体モジュールの側面図である。

【図11】第2の実施の形態の半導体モジュールのピン状の外部端子を説明するための図である。

【図12】第3の実施の形態の半導体モジュールのピン状の外部端子を説明するための図である。

【図13】第3の実施の形態の半導体モジュールのピン状の外部端子の形成方法を説明するための図である。

【図14】第3の実施の形態の半導体モジュールの製造のための金型の取り付けを説明するための図である。

【図15】第3の実施の形態の半導体モジュールのピン状の外部端子に形成された流出阻止部を説明するための図である。

【図16】第3の実施の形態の半導体モジュールのピン状の外部端子に形成された別の流出阻止部を説明するための図である。

【図17】第4の実施の形態の半導体モジュールと半導体モジュールに対して用いられる金型とを説明するための図である。

【図18】第4の実施の形態の半導体モジュールの製造工程を説明するためのフロー図である。

【図19】第4の実施の形態の半導体モジュールの変形例の上面図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

10 半導体モジュール   20 基板   21a,21b 半導体チップ   22 絶縁基板   22a,22b 銅箔   23 配線基板   24 電極用部材   25,25a,25b,25c,25d 外部端子   25f,30,40 流出阻止部   25g1,25g2 凹部   26 貫通孔   27a,27b 銅板   28 封止樹脂   28a バリ   50 押付工具   100 金型   101 第1キャビティ   102 第2キャビティ   110 固定下型   111,121 窪み   120 可動下型   130 上型

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