特許6624300IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体装置に関する。 従来、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等のトランジスタと、FWD(Free Wheeling Diode)等のダイオードとが同一チップに形成された半導体装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。また、ゲート電極を有するトレンチ部をp型半導体層中に設けることが知られている(例えば、特許文献2参照)。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1] 特開2015−135954号公報
[特許文献2] 特開平09−270512号公報

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】第1実施形態における半導体装置100の上面図である。

【図2】領域Aの拡大図である。

【図3】図2のa‐a'断面図である。

【図4】図2のb‐b'断面図である。

【図5】比較例の半導体装置500における領域Aの拡大図である。

【図6】図5のc‐c'断面図である。

【図7】比較例におけるマスク垂れを説明する図である。

【図8】第2実施形態における半導体装置200のa‐a'断面図である。

【図9】第3実施形態の半導体装置300において活性部70およびエッジ終端部80にまたがる領域の断面図である。

【図10】第4実施形態における半導体装置400の領域Aの拡大図である。

【図11】第4実施形態における半導体装置400のa‐a'断面図である。

【図12】第4実施形態の変形例における半導体装置400のa‐a'断面図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

10・・半導体基板、12・・エミッタ領域、14・・ベース領域、15・・コンタクト領域、16・・蓄積領域、17・・ウェル領域、18・・ドリフト領域、20・・バッファ領域、22・・コレクタ領域、23・・逆型半導体領域、24・・コレクタ電極、26・・層間絶縁膜、30・・ダミートレンチ部、32・・ダミートレンチ絶縁膜、34・・ダミートレンチ導電部、36・・ダミートレンチ、40・・ゲートトレンチ部、41・・対向部、42・・ゲート絶縁膜、43・・突出部、44・・ゲート導電部、46・・ゲートトレンチ、50・・ゲート金属層、51・・ゲートランナー、52・・エミッタ電極、54、55、56・・コンタクトホール、57・・接続部、60・・メサ領域、70・・活性部、72・・IGBT領域、74・・FWD領域、76・・温度検知ダイオード、80・・エッジ終端部、82・・ガードリング、84・・電極層、88・・チャネルストッパー領域、90・・パッド部、92・・ゲートパッド、93・・センスIGBT、94・・センスエミッタパッド、96・・アノードパッド、98・・カソードパッド、100・・半導体装置、110・・マスク、112・・マスク垂れ領域、115・・最外部、116・・蓄積層、117・・湾曲部分、130・・ダミートレンチ領域、140・・混合トレンチ領域、145・・ゲートトレンチ領域、150・・ウェルコンタクト領域、200、300、400、500・・半導体装置

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