特許 6624562 寸法測定装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6624562

(24)【登録日】2019年12月6日

(45)【発行日】2019年12月25日

(54)【発明の名称】寸法測定装置

(51)【国際特許分類】

   G01B 11/02 20060101AFI20191216BHJP

【ＦＩ】

   G01B11/02 H

【請求項の数】4

【全頁数】15

(21)【出願番号】特願2016-32501(P2016-32501)

(22)【出願日】2016年2月23日

(65)【公開番号】特開2017-150907(P2017-150907A)

(43)【公開日】2017年8月31日

【審査請求日】2018年12月19日

(73)【特許権者】

【識別番号】314012076

【氏名又は名称】パナソニックＩＰマネジメント株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110002527

【氏名又は名称】特許業務法人北斗特許事務所

(74)【代理人】

【識別番号】100087767

【弁理士】

【氏名又は名称】西川 惠清

(74)【代理人】

【識別番号】100155745

【弁理士】

【氏名又は名称】水尻 勝久

(74)【代理人】

【識別番号】100161883

【弁理士】

【氏名又は名称】北出 英敏

(74)【代理人】

【識別番号】100162248

【弁理士】

【氏名又は名称】木村 豊

(72)【発明者】

【氏名】門脇 信諭

【審査官】 川村 大輔

(56)【参考文献】

【文献】 米国特許出願公開第２０１２／０１１３２５０（ＵＳ，Ａ１）

【文献】 米国特許出願公開第２０１２／０１４００６５（ＵＳ，Ａ１）

【文献】 特開２００６−１１９７９２（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１４−０３５１９６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００７−１９２８３２（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００２−２５０６２１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１１−１７９９８０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１３−０００８５１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１２−１６８８００（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１４−０５２２７０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０１−１４１３０７（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平１０−２１４３４９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００１−２６４０１８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００９−２２２５２５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 独国特許出願公開第１０２０１５１０１１４４（ＤＥ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｂ １１／００−１１／３０

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

被測定物を出し入れ自在に収容する収容室と、前記収容室に設けられ、前記収容室に収容される前記被測定物を撮像する撮像部と、前記撮像部で撮像された画像の情報に基づいて画像処理を行ない前記被測定物のサイズを測定する画像処理部と、を備え、
前記収容室は、前記被測定物が置かれる矩形状の下面部と、前記下面部から上方に延出される矩形状の第１側面部と、前記下面部から上方に延出され、前記第１側面部に隣接する矩形状の第２側面部と、前記下面部と前記第１側面部とが交差した部分に形成される第１入隅と、前記下面部と前記第２側面部とが交差した部分に形成される第２入隅と、前記第１側面部と前記第２側面部とが交差した部分に形成される第３入隅と、前記第１側面部、前記第２側面部および前記下面部に設けられそれぞれの辺の位置を表示するマーカーと、を有し、
前記画像処理部は、前記収容室に前記被測定物が配置される前の状態で、前記撮像部で撮像した前記画像に対して二値化を行なうことで二値画像を作成し、前記二値画像内の前記マーカーを識別し、前記マーカーから前記二値画像内の前記第１側面部、前記第２側面部および前記下面部の辺に対応するエッジを識別して、前記エッジの歪みを基に歪み補正用データを作成し、前記収容室に前記被測定物が配置された状態で、前記撮像部で撮像した前記画像に対して二値化を行なうことで二値画像を作成し、前記二値画像内で識別された前記被測定物のエッジの歪みを前記歪み補正用データを基に補正することで補正画像を取得し、前記補正画像の前記第１側面部、前記第２側面部および前記下面部に対応する面内を走査することで前記被測定物のサイズを測定するものであり、
前記マーカーとして、前記第１側面部において前記第３入隅に沿うライン及び前記第１入隅に平行なラインを有する矩形枠状をした第１マーカーと、前記第２側面部において前記第３入隅に沿うライン及び前記第２入隅に平行なラインを有する矩形枠状をした第２マーカーと、前記下面部において前記第１入隅に沿うライン及び前記第２入隅に平行なラインを有する矩形枠状をした第３マーカーと、を有することを特徴とする寸法測定装置。

【請求項2】

異なる面に設けられたマーカーは、それぞれ色調が異なることを特徴とする請求項１に記載の寸法測定装置。

【請求項3】

前記収容室は、前記第１側面部および前記第２側面部の上縁から延出される矩形状の上面部と、前記第１側面部に対向し、前記被測定物を出し入れするための出入口と、を有し、前記第１入隅、前記第２入隅および前記第３入隅が交差した部分を基準隅部とし、
前記撮像部は、前記上面部の出入口側の端部における前記基準隅部とは反対側の端部に設けられることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の寸法測定装置。

【請求項4】

前記収容室では、被測定物を前記下面部の奥隅に配置されることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか一項に記載の寸法測定装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、寸法測定装置に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、宅配物等の被測定物を収容する直方体の収容室と、収容室の上面の一頂点に固定される撮像部と、撮像部で撮像された被測定物の画像に対して画像処理を行う画像処理部と、を備えた寸法測定装置が知られている（例えば特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【特許文献1】特開２００６−１１９７９２号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

特許文献１に記載の寸法測定装置では、撮像部で撮像した画像に歪みが発生すると、精度良く被測定物のサイズを得ることが困難であった。

【0005】

上記従来の問題点に鑑みて発明された本発明の目的は、精度良く被測定物のサイズが得られる、寸法測定装置を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記目的を達成するために、本発明に係る一態様の寸法測定装置は、以下のような構成を備える。

【0007】

寸法測定装置は、被測定物を出し入れ自在に収容する収容室と、前記収容室に設けられ、前記収容室に収容される前記被測定物を撮像する撮像部と、を備える。前記寸法測定装置は、前記撮像部で撮像された画像の情報に基づいて画像処理を行ない前記被測定物のサイズを測定する画像処理部を備える。

【0008】

前記収容室は、前記被測定物が置かれる矩形状の下面部と、前記下面部から上方に延出される矩形状の第１側面部と、前記下面部から上方に延出され、前記第１側面部に隣接する矩形状の第２側面部と、前記下面部と前記第１側面部とが交差した部分に形成される第１入隅と、前記下面部と前記第２側面部とが交差した部分に形成される第２入隅と、前記第１側面部と前記第２側面部とが交差した部分に形成される第３入隅と、を有する。前記収容室は、前記第１側面部、前記第２側面部および前記下面部に設けられそれぞれの辺の位置を表示するマーカーを有する。前記画像処理部は、前記収容室に前記被測定物が配置される前の状態で、前記撮像部で撮像した前記画像に対して二値化を行なうことで二値画像を作成し、前記二値画像内の前記マーカーを識別する。前記画像処理部は、前記マーカーから前記二値画像内の前記第１側面部、前記第２側面部および前記下面部の辺に対応するエッジを識別して、前記エッジの歪みを基に歪み補正用データを作成する。前記画像処理部は、前記収容室に前記被測定物が配置された状態で、前記撮像部で撮像した前記画像に対して二値化を行なうことで二値画像を作成する。前記画像処理部は、前記二値画像内で識別された前記被測定物のエッジの歪みを前記歪み補正用データを基に補正することで補正画像を取得する。前記画像処理部は、前記補正画像の前記第１側面部、前記第２側面部および前記下面部に対応する面内を走査することで前記被測定物のサイズを測定するものである。前記収容室は、前記マーカーとして、第１マーカーと、第２マーカーと、第３マーカーと、を有する。前記第１マーカーは、前記第１側面部において前記第３入隅に沿うライン及び前記第１入隅に平行なラインを有する矩形枠状をしている。前記第２マーカーは、前記第２側面部において前記第３入隅に沿うライン及び前記第２入隅に平行なラインを有する矩形枠状をしている。前記第３マーカーは、前記下面部において前記第１入隅に沿うライン及び前記第２入隅に平行なラインを有する矩形枠状をしている。

【発明の効果】

【0009】

本発明の寸法測定装置では、撮像部で撮像した画像の歪みを除去し易いので、精度良く被測定物のサイズを測定できる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】図１は本発明の一実施形態に係る寸法測定装置を示した斜視図である。

【図2】図２は撮像部と画像処理部とを示したブロック図である。

【図3】図３は寸法測定方法の補正モードのフローチャートである。

【図4】図４は撮像部で撮像し二値化を行なった二値画像を示した説明図である。

【図5】図５は補正モードで補正した二値画像を示した説明図である。

【図6】図６Ａは収容室に被測定物を配置した状態を撮像部で撮像した測定用画像を示した説明図である。図６Ｂは収容室に被測定物を配置した状態の二値画像を示した説明図である。

【図7】図７は寸法測定方法のサイズ測定モードのフローチャートである。

【図8】図８Ａは図６Ｂの二値画像の第１側面部の側面図である。図８Ｂは図６Ｂの二値画像の下面部の平面図である。図８Ｃは図６Ｂの二値画像の下面部の平面図である。

【図9】図９は寸法測定方法の補正モードの他例を示したフローチャートである。

【図10】図１０はエッジＡ３を平行移動した仮想線ＣをエッジＡ６に重ね合わせた状態の説明図である。

【図11】図１１Ａは寸法測定装置のマーカーの他例を示した斜視図である。図１１Ｂは寸法測定装置のマーカーの他例を示した斜視図である。図１１Ｃは寸法測定装置のマーカーの他例を示した斜視図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

＜実施形態＞
以下に示す本発明の一実施形態は、特に、収容室内にマーカーを設けた寸法測定装置に関する。

【0012】

（構成の説明）
以下、添付した図１〜図８に基づき本実施形態の寸法測定装置について説明する。

【0013】

寸法測定装置１は、宅配物等の被測定物５０のサイズを測定する。ここで、被測定物５０のサイズとは、被測定物５０の縦、横および高さの寸法となっている。被測定物５０の形状は、立方体または直方体となっている。

【0014】

寸法測定装置１は、図１に示すように、収容室１１を備える。

【0015】

収容室１１は、寸法測定装置１の外郭を構成する外郭体１１１と、外郭体１１１の内側に形成される内部空間１１２と、を有する。外郭体１１１の形状は、直方体である。外郭体１１１は、下壁部２０、側壁部２１および上壁部２５を有する。ここで、外郭体１１１の側壁部２１には、被測定物５０を内部空間１１２に出し入れさせるための開口である出入口２６１が形成される。

【0016】

本実施形態の寸法測定装置１では、出入口２６１が設けられる側を前方Ｆ、その反対側を後方Ｂとする。そして、ユーザーが寸法測定装置１の出入口２６１に向かって立ったときを基準として、右方Ｒ、左方Ｌを定義する。ここで、被測定物５０の縦の寸法は、被測定物５０の前後方向の寸法とする。被測定物５０の横の寸法は、被測定物５０の左右方向の寸法とする。被測定物５０の高さの寸法は、被測定物５０の上下方向の寸法とする。

【0017】

下壁部２０は、その形状が下方から視て矩形状に形成される。下壁部２０の内部空間１１２側（上側）の面は、下面部２０１である。下面部２０１には、被測定物５０が置かれる。

【0018】

側壁部２１は、右壁部２２、左壁部２３および後壁部２４を有する。右壁部２２は下壁部２０の右側端部から上方に延出される。左壁部２３は下壁部２０の左側端部から上方に延出される。後壁部２４は下壁部２０の後側端部から上方に延出される。

【0019】

右壁部２２は、右方から視て矩形状に形成される。右壁部２２において、その内部空間１１２側（左側）の面を右面部２２１とする。左壁部２３は、左方から視て矩形状に形成される。左壁部２３において、その内部空間１１２側（右側）の面を左面部２３１とする。後壁部２４は、後方から視て矩形状に形成される。後壁部２４において、その内部空間１１２側（前側）の面を後面部２４１とする。

【0020】

上壁部２５は、右壁部２２の上縁部、左壁部２３の上縁部および後壁部２４の上縁部に接続される。上壁部２５は、上方から視て矩形状に形成される。上壁部２５において、その内部空間１１２側（下側）の面を上面部２５１とする。

【0021】

外郭体１１１は、前方Ｆに開口した直方体状であり、その前方Ｆへの開口を出入口２６１とする。外郭体１１１には、出入口２６１を開閉する扉が設けられる。扉は、右壁部２２の前側端部に取り付けられ、右壁部２２の前側端部を軸２６２として回転する。扉は、閉じた状態において、前方から視て矩形状に形成される。また、扉は、閉じた状態において、外郭体１１１の前壁部２６を構成する。扉において、その内部空間１１２側（後側）の面を前面部２６３とする。

【0022】

収容室１１の内部空間１１２は、下面部２０１、右面部２２１、左面部２３１、後面部２４１、上面部２５１および前面部２６３で囲まれて形成される。内部空間１１２は、直方体状に形成される。以下の記載において、後面部２４１を第１側面部２４２と記載し、左面部２３１を第２側面部２３２と記載する。

【0023】

外郭体１１１は、下面部２０１と第１側面部２４２とが交差した部分に形成される第１入隅１２を有する。外郭体１１１は、下面部２０１と第２側面部２３２とが交差した部分に形成される第２入隅１３を有する。外郭体１１１は、第１側面部２４２と第２側面部２３２とが交差した部分に形成される第３入隅１４を有する。外郭体１１１において、第１入隅１２、第２入隅１３および第３入隅１４が交差した部分を基準隅部１５とする。

【0024】

収容室１１では、被測定物５０を所定位置に配置するための基準となる基準点が基準隅部１５に設定される。

【0025】

収容室１１では、基準隅部１５に合わせて置かれた被測定物５０は、下面部２０１、第１側面部２４２および第２側面部２３２に接触することで、縦位置、横位置および高さ位置の位置決めが行われる。この位置決めされた被測定物５０の位置が、被測定物５０の所定位置となる。

【0026】

収容室１１の内面には、図１に示すように、マーカー１６が設けられる。マーカー１６は、第１側面部２４２、第２側面部２３２および下面部２０１に設けられる。第１側面部２４２に設けられるマーカー１６を第１マーカー１６１とし、第２側面部２３２に設けられるマーカー１６を第２マーカー１６２とし、下面部２０１に設けられるマーカー１６を第３マーカー１６３とする。

【0027】

マーカー１６は、矩形枠状となっている。第１側面部２４２において、第１マーカー１６１は第３入隅１４に沿うラインが引かれ、その上端部および下端部のそれぞれから第１入隅１２に平行なラインが引かれ、それぞれのラインの右端部を繋ぐラインが引かれる。

【0028】

第２側面部２３２において、第２マーカー１６２は第３入隅１４に沿うラインが引かれ、その上端部および下端部のそれぞれから第２入隅１３に平行なラインが引かれ、それぞれのラインの前端部を繋ぐラインが引かれる。

【0029】

下面部２０１において、第３マーカー１６３は第１入隅１２に沿うラインが引かれ、その左端部および右端部のそれぞれから第２入隅１３に平行なラインが引かれ、それぞれのラインの前端部を繋ぐラインが引かれる。

【0030】

本実施形態の第１マーカー１６１、第２マーカー１６２および第３マーカー１６３は、同じ色調であるが、それぞれの色調は異なった色調である方が好ましい。ここで、色調とは、色の明度と彩度などの色の調子のことを意味する。

【0031】

寸法測定装置１には、図１に示すように、収容室１１に撮像部３が設置される。撮像部３は、収容室１１の内部を全体的に撮像できる位置に配置される。本実施形態の寸法測定装置１では、撮像部３が基準隅部１５の対角となる上面部２５１、右面部２２１および前面部２６３で形成される隅部に設置される。

【0032】

撮像部３は、カメラ本体３１と、照明具３２と、を有する。

【0033】

カメラ本体３１には、収容室１１内の全体を撮像可能なカメラが用いられる。特に、カメラ本体３１には、被測定物５０、下面部２０１、第１側面部２４２および第２側面部２３２のそれぞれの全体を撮像可能なカメラが用いられる。カメラ本体３１には、ＣＣＤ（Charge-Coupled Device）カメラが用いられる。カメラ本体３１では、収容室１１内の全体を撮影し易いように広角レンズが用いられる。

【0034】

照明具３２は、カメラ本体３１の制御部と電気的に接続される。照明具３２は、収容室１１内を明るくする。特に、照明具３２は、被測定物５０、第１入隅１２、第２入隅１３、第３入隅１４、第１マーカー１６１、第２マーカー１６２および第３マーカー１６３を、カメラ本体３１に明瞭に撮像させるために用いられる。照明具３２には、白色ＬＥＤ（Light Emitting Diode）が用いられる。

【0035】

寸法測定装置１は、図２に示すように、画像処理部４を有する。画像処理部４は、マイクロコンピューターを備える。マイクロコンピューターは、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、メモリ等を有する。マイクロコンピューターは、メモリに格納されたプログラムをＣＰＵが実行することにより制御を行なう。

【0036】

画像処理部４では、撮像部３で撮像された画像に対して画像処理が行われる。また、画像処理部４は、メモリに格納された被測定物５０の画像の補正を行うプログラムを有する補正モード４１を有する。

【0037】

画像処理部４は、収容室１１に被測定物５０が配置される前の状態で、下面部２０１、第１側面部２４２、第２側面部２３２およびマーカー１６を撮像部３で撮像させることで原画像を取得する。この原画像に基づいて図３に示す補正モード４１がステップＳ１で開始される。

【0038】

補正モード４１は、ステップＳ２において、原画像（グレースケール画像）に対しノイズ除去を行なう。そして、ノイズ除去をした画像の情報の一つである輝度値に基づいてフィルター処理が行われる。

【0039】

補正モード４１は、ステップＳ３において、フィルター処理が行われた画像に対して二値化が行なわれることで、エッジを検出する。このような処理を行なった画像を二値画像４２（図４参照）とする。二値画像４２は、二次元画像である。二値画像４２のデータは、画像処理部４のメモリに格納される。

【0040】

補正モード４１は、ステップＳ４において、事前に取得していたマーカー１６の形状や輝度値の情報により、二値画像４２内のマーカー１６をパターンマッチングにより識別する。

【0041】

補正モード４１は、ステップＳ５において、識別された第１マーカー１６１、第２マーカー１６２および第３マーカー１６３から、二値画像４２内の第１側面部２４２、第２側面部２３２および下面部２０１の辺を識別する。ここで、補正モード４１では、二値画像４２内のエッジＡ１〜Ａ９が識別される。

【0042】

補正モード４１は、ステップ６において、歪み補正前の二値画像４２と歪み補正後の二値画像４２の座標を関連付ける、光軸中心座標、焦点距離、レンズ歪み係数などで構成される内部パラメーターを調整する。内部パラメーターは、例えば、マス目サイズが既知のチェッカーボードの撮影画像における、チェッカーボードのパターンの交点の位置を検出し、交点の間隔が均等になるように内部パラメーターを算出する。補正モードでは、ステップ６において、この事前に求めた内部パラメーターをサイズが既知の収容室１１に用いてさらに収容室１１に対して最適になるように調整する。この場合、内部パラメータが歪み補正用データとなる。

【0043】

補正モード４１は、ステップＳ７において、内部パラメーターを用いてエッジＡ１〜Ａ９の歪みを補正し、エッジＡ１〜Ａ９を直線状とすることで、図５に示す補正した二値画像４２を取得する。なお、本実施形態では補正モード４１の方法として内部パラメーターを用いる公知の方法（例えば特開２０１５−３５６８５号公報）を用いたが、他の公知の方法（例えば後述する特開２０１１−２５４２８号公報）を用いてもよい。

【0044】

次に、補正モード４１は、ステップ８において、収容室１１の所定位置に被測定物５０が配置された状態で、下面部２０１、第１側面部２４２、第２側面部２３２、マーカー１６および被測定物５０を撮像部３で撮像させることで測定用画像を取得する。そして、補正モード４１は、測定用画像に対してノイズ除去、フィルター処理および二値化を行なうことで、図６Ａに示すような二値画像４２を取得する。

【0045】

補正モード４１は、ステップ９において、図６Ｂに示すように、内部パラメーター（歪み補正用データ）を用いてエッジＡ１〜Ａ９、被測定物５０のエッジＴ１〜Ｔ８の歪みを補正する。

【0046】

このようにして、補正モード４１は、測定用画像内のエッジＡ１〜Ａ９，エッジＴ１〜Ｔ８を補正した図６Ｂに示す補正画像４４を取得する。

【0047】

次に、画像処理部４では、補正モード４１で補正された二値画像４２に対して画像処理が行われ、図７に示す被測定物５０のサイズを測定するサイズ測定モード４３が行なわれる。

【0048】

サイズ測定モード４３は、ステップＳ８において、同次座標を用いた射影変換処理を行うことで、図６Ｂに示す、被測定物５０が配置された補正した二値画像４２の第１側面部２４２を右斜め前方から視た側面図（図８Ａ参照）を得る。さらに、サイズ測定モード４３は、補正した二値画像４２の下面部２０１を上方から視た第１平面図（図８Ｂ参照）、補正した二値画像４２の下面部２０１を上方から視た第２平面図（図８Ｃ参照）を得る。

【0049】

サイズ測定モード４３は、ステップＳ１３において、側面図のエッジＡ３の長さ方向に沿って並ぶピクセルを走査する。このとき、図８Ａに示すように、エッジＡ９からエッジＴ８までのピクセル数に基づく長さとエッジＡ９からエッジＡ２までのピクセル数に基づく長さとの差である第１変化量Ｈ１を求める。

【0050】

サイズ測定モード４３は、また、第１平面図のエッジＡ２の長さ方向に沿って並ぶピクセルを走査する。このとき、図８Ｂに示すように、エッジＡ５からエッジＴ５までのピクセル数に基づく長さとエッジＡ５からエッジＡ１までのピクセル数に基づく長さとの差である第２変化量Ｈ２を求める。

【0051】

サイズ測定モード４３は、第２平面図のエッジＡ１の長さ方向に沿って並ぶピクセルを走査する。このとき、図８Ｃに示すように、エッジＡ４からエッジＴ４までのピクセル数に基づく長さとエッジＡ４からエッジＡ２までのピクセル数に基づく長さとの差である第３変化量Ｈ３を求める。

【0052】

サイズ測定モード４３では、図７に示すステップＳ１４において、図６Ｂに示す補正した二値画像４２内のエッジＡ３のピクセル数に基づく長さと実際の第３入隅１４の長さとの比から、第１変化量Ｈ１に基づいて被測定物５０の高さが求まる。また、同様に第２変化量Ｈ２に基づいて被測定物５０の縦の長さ、第３変化量Ｈ３に基づいて被測定物５０の横の長さが求まる。

【0053】

なお、補正モード４１の他例として、図９に示す歪みの補正方法がある。

【0054】

この補正モード４１では、ステップＳ１６〜ステップＳ２０が上記したステップＳ１〜ステップＳ５と同様であるので、説明を省略する。

【0055】

補正モード４１は、ステップＳ２１において、エッジＡ１〜Ａ９とエッジＡ１〜Ａ９に対応する直線とを比較しその直線に対する歪み量Ｙを求める。例えば、エッジＡ６に対して直線である仮想線Ｃを重ね合わせる（図１０参照）ことで歪み量Ｙが求められる。そして、補正モード４１は、ステップＳ２２において、この歪み量Ｙに基づいてエッジＡ６を直線とする補正係数Ｋを求める。補正モード４１は、他のエッジに対しても同様のことを行ない、それぞれの補正係数Ｋを求める。

【0056】

補正モード４１は、ステップＳ２３において、それぞれの補正係数ＫからエッジＡ１〜Ａ９の歪みを補正し、エッジＡ１〜Ａ９を直線状とすることで、図６Ｂに示す補正した二値画像４２を取得する。この場合、補正係数Ｋが歪み補正用データとなる。

【0057】

なお、画像処理部４で識別されたエッジのうちエッジＡ１，エッジＡ２，エッジＡ３は、撮像部３が広角レンズを用いて撮像したとしても歪み難く直線となっているため、エッジＡ１〜Ａ３を用いて歪み量Ｙを求めてもよい。

【0058】

次に、補正モード４１は、ステップ２４において、収容室１１の所定位置に被測定物５０が配置された状態で、下面部２０１、第１側面部２４２、第２側面部２３２、マーカー１６および被測定物５０を撮像部３で撮像させることで図６Ａに示す測定用画像を取得する。

【0059】

補正モード４１は、ステップ２５において、補正係数Ｋ（歪み補正用データ）を用いることで、図６Ｂに示すように、エッジＡ１〜Ａ９、被測定物５０のエッジＴ１〜Ｔ８の歪みを補正する。

【0060】

エッジＡ１〜Ａ９は、それぞれに対応する補正係数Ｋで補正する。エッジＴ１の補正係数Ｋは、例えば、エッジＡ３とエッジＡ６に対するエッジＴ１の位置関係と、エッジＡ３の補正係数ＫおよびエッジＡ６の補正係数Ｋと、を比例関係とみて求める。そして、他のエッジＴ２〜Ｔ８に関しても同様に、エッジＡ１〜Ａ９のうちの二つのエッジに対する位置関係に基づいて、補正係数Ｋを決定する。

【0061】

なお、エッジＴ１〜Ｔ８の補正係数の決定の方法は上記した方法に限定されない。

【0062】

本実施形態の寸法測定装置１の構成は、上記した一態様に限定されず、以下に示す態様であってもよい。

【0063】

補正モード４１では、撮像部３で撮像した画像のノイズ除去が移動平均フィルターやメディアンフィルターで行われてもよい。

【0064】

補正モード４１のフィルター処理では、例えば一次差分オペレータとして、SobelフィルターやPrewittフィルターが用いられる。また、フィルター処理では、二次差分オペレータが用いられてもよい。

【0065】

補正モード４１では、フィルター処理が行われた画像の二値化が、移動平均法による二値化や、閾値を二つ用いた二値化であってもよい。

【0066】

マーカー１６の形状は、円状や矩形状に限定されず、他の多角形であってもよい。

【0067】

被測定物５０の形状は、立方体または直方体に限定されず、撮像部３で撮像される三面の形状が略矩形状であればよい。

【0068】

外郭体１１１の形状は、直方体となっているが立方体でもよく、その形状は限定されない。また、部分的に突起を有するような形状でもよい。

【0069】

内部空間１１２の形状は、直方体状となっているが立方体状であってもよく、その形状は限定されない。

【0070】

基準隅部１５は、下面部２０１、右面部２２１、左面部２３１、後面部２４１および前面部２６３で形成される４つの隅部の内のいずれか１つの隅部であればよい。

【0071】

カメラ本体３１は、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）カメラでもよい。

【0072】

撮像部３では、撮像する画像はグレースケールでもよいし、カラーでもよい。ここで、撮像部３で撮像する画像がカラーの場合、画像処理を行う際にグレースケール画像への変換をすることが好ましい。

【0073】

撮像部３では、カメラ本体３１の制御部と照明具３２とが接続され、照明具３２のＯＮ・ＯＦＦは、カメラ本体３１の制御部で操作されているが、照明具３２と画像処理部４とが接続され、画像処理部４で照明具３２を操作してもよい。

【0074】

撮像部３では、カメラ本体３１の制御部と照明具３２６２とが無線で接続されてもよい。

【0075】

撮像部３では、カメラ本体３１と照明具３２とは別体で設けられてもよい。

【0076】

照明具３２には、蛍光灯や電球や他の色のＬＥＤが用いられてもよい。なお、照明具３２は、画像処理部４において、カメラ本体３１で撮像した画像のエッジが検出され易い色や明るさであることが好ましい。

【0077】

画像処理部４のＣＰＵには、公知の様々なマイクロコンピューターが適宜利用可能される。

【0078】

（効果）
上記した寸法測定装置１では、マーカー１６を用いることで容易に二値画像４２内の下面部２０１、第１側面部２４２および第２側面部２３２の辺に対応するエッジＡ１〜Ａ９を識別し易い。そのため、二値画像４２内のエッジＡ１〜Ａ９，エッジＴ１〜Ｔ８の歪みを補正するための処理が容易になるので、被測定物５０のサイズの測定を早めることができる。

【0079】

また、第１マーカー１６１、第２マーカー１６２および第３マーカー１６３の色調を変えることで、下面部２０１、第１側面部２４２および第２側面部２３２の辺に対応するエッジＡ１〜Ａ９をより識別し易くなる。

【0080】

以上説明したように、本実施形態の寸法測定装置１は以下に示す構成を備える。

【0081】

本実施形態の寸法測定装置１は、次の第１の特徴を備える。第１の特徴では、寸法測定装置１は、被測定物５０を出し入れ自在に収容する収容室１１と、収容室１１に設けられ、収容室１１に収容される被測定物５０を撮像する撮像部３と、を備える。寸法測定装置１は、撮像部３で撮像された画像の情報に基づいて画像処理を行ない被測定物５０のサイズを測定する画像処理部４と、を備える。

【0082】

収容室１１は、被測定物５０が置かれる矩形状の下面部２０１と、下面部２０１から上方に延出される矩形状の第１側面部２４２と、下面部２０１から上方に延出され、第１側面部２４２に隣接する矩形状の第２側面部２３２と、を有する。収容室１１は、第１側面部２４２、第２側面部２３２および下面部２０１に設けられそれぞれの辺の位置を表示するマーカー１６を有する。

【0083】

第１の特徴を有する寸法測定装置１では、マーカー１６を用いることで、容易に二値画像４２内の歪みを補正することができる。

【0084】

第１の特徴を有する寸法測定装置１は、以下の付加的な第２の特徴を有する。第２の特徴では、マーカー１６が、第１側面部２４２、第２側面部２３２および下面部２０１の辺に沿ったラインまたは沿って並んだ円である。

【0085】

第２の特徴を有する寸法測定装置１では、容易に二値画像４２内の第１側面部２４２、第２側面部２３２および下面部２０１の辺に対応するエッジＡ１〜Ａ９を識別できる。

【0086】

第１または第２の特徴を有する寸法測定装置１は、以下の付加的な第３の特徴を有する。第３の特徴では、異なる面に設けられたマーカー１６は、それぞれ色調が異なる。

【0087】

第３の特徴を有する寸法測定装置１では、容易に二値画像４２内の第１側面部２４２、第２側面部２３２および下面部２０１の辺に対応するエッジＡ１〜Ａ９を識別できる。

【0088】

第１〜第３の特徴を有する寸法測定装置１は、以下の付加的な第４の特徴を有する。第４の特徴では、収容室１１は、第１側面部２４２および第２側面部２３２の上縁から延出される矩形状の上面部２５１と、第１側面部２４２に対向し、被測定物５０を出し入れするための出入口２６１と、を有する。

【0089】

撮像部３は、上面部２５１の出入口２６１側の端部における基準隅部１５とは反対側の端部に設けられる。

【0090】

第４の特徴を有する寸法測定装置１では、下面部２０１、第１側面部２４２、第２側面部２３２、被測定物５０およびマーカー１６の全体を撮像部３が撮像し易くなる。

【0091】

第１〜第４の特徴を有する寸法測定装置１は、以下の付加的な第５の特徴を有する。第５の特徴では、収容室１１では、被測定物５０が下面部２０１の奥隅に配置される。

【0092】

第５の特徴を有する寸法測定装置１では、被測定物５０の全体を撮像部３が撮像し易くなる。
（マーカーの他例）
上記した実施形態の寸法測定装置１の設けられるマーカー１６は、例えば図１１に示すような態様であってもよい（これを他例とする）。本他例の寸法測定装置１は、特に、マーカー１６の形状に関する。

【0093】

収容室１１の内面には、図１１Ａに示すように、複数のマーカー１６が設けられてもよい。ここで、マーカー１６は、円状となっている。第１マーカー１６１は、第１側面部２４２に複数設けられる。第１マーカー１６１は、第１側面部２４２の四隅に設けられる。第２マーカー１６２は、第２側面部２３２の四隅に設けられる。第３マーカー１６３は、下面部２０１の四隅に設けられる。

【0094】

また、収容室１１の内面には、図１１Ｂに示すように、複数のマーカー１６が設けられてもよい。ここで、マーカー１６は、円状となっているが、図９Ａとは異なり下面部２０１の四隅に設けられる第３マーカー１６３が円の内部に色が塗られていない。

【0095】

また、収容室１１の内面には、図１１Ｃに示すように、複数のマーカー１６が設けられてもよい。ここで、マーカー１６は、円状となっている。第１マーカー１６１は、第１側面部２４２の第３入隅１４とは反対側の両端部に設けられる。第２マーカー１６２は、第２側面部２３２の第３入隅１４とは反対側の端部の両端部に設けられる。第３マーカー１６３は、下面部２０１に設けられていない。

【符号の説明】

【0096】

１ 寸法測定装置
１１ 収容室
１２ 第１入隅
１３ 第２入隅
１４ 第３入隅
１５ 基準隅部
１６ マーカー
２０１ 下面部
２３２ 第２側面部
２４２ 第１側面部
３ 撮像部
４ 画像処理部
４２ 二値画像
４４ 補正画像
５０ 被測定物
Ａ１〜Ａ９ エッジ
Ｔ１〜Ｔ８ エッジ

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】