特許 6687064 溶融加工性フッ素樹脂射出成型品の検査方法及び溶融加工性フッ素樹脂射出成型品の製造方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6687064

(24)【登録日】2020年4月6日

(45)【発行日】2020年4月22日

(54)【発明の名称】溶融加工性フッ素樹脂射出成型品の検査方法及び溶融加工性フッ素樹脂射出成型品の製造方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 3/08 20060101AFI20200413BHJP

   B29C 45/17 20060101ALI20200413BHJP

【ＦＩ】

   G01N3/08

   B29C45/17

【請求項の数】7

【全頁数】21

(21)【出願番号】特願2018-134253(P2018-134253)

(22)【出願日】2018年7月17日

(65)【公開番号】特開2020-12701(P2020-12701A)

(43)【公開日】2020年1月23日

【審査請求日】2019年6月17日

(73)【特許権者】

【識別番号】000002853

【氏名又は名称】ダイキン工業株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000914

【氏名又は名称】特許業務法人 安富国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】青山 高久

(72)【発明者】

【氏名】津田 早登

(72)【発明者】

【氏名】桑嶋 祐己

【審査官】 島田 保

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０１７−０３０３７１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１４−２２８２９０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１０−２３０６４４（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特表２００６−５２６７７５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００８−１８０６９３（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ ３／００−３／６２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

溶融加工性フッ素樹脂射出成形品を引張試験して得られた応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線から、該射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定する工程、
を含み、
前記判定工程は、前記応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線を、ひずみの大きさにより２以上の領域に分割し、ひずみが小さい領域の応力又は抗張力に対する、ひずみが大きい領域の応力又は抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程である
ことを特徴とする溶融加工性フッ素樹脂射出成形品の検査方法。

【請求項2】

前記判定工程は、前記応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線において、ひずみＹ^１％（Ｙ^１は５以上、８０以下の数）以下の領域の最大応力又は最大抗張力に対する、ひずみＺ^１〜Ｚ^２％（Ｚ^１は、Ｙ^１以上、２００以下の数であり、Ｚ^２は、Ｚ^１を超え、３００以下の数である）の領域の最低応力又は最低抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程である請求項１記載の検査方法。

【請求項3】

前記判定工程は、前記応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線において、ひずみＹ^２％（Ｙ^２は５以上、８０以下の数）以下の領域の最大応力又は最大抗張力に対する、ひずみＺ^３％（Ｚ^３は、Ｙ^２以上、３００以下の数）の応力又は抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程である請求項１又は２記載の検査方法。

【請求項4】

前記判定工程は、前記応力−ひずみ曲線を、ひずみＸ％（Ｘは５以上の数）毎にｎ個の領域に分割し、各領域において、応力の最大値ＳＭＡＸ_ｍと最小値ＳＭＩＮ_ｍを算出して、
ＳＭＡＸ_ｍ及びＳＭＩＮ_ｍ＋１が、下記式（１）
ＳＭＡＸ_ｍ×α≦ＳＭＩＮ_ｍ＋１ （１）
（α＝０．９０以上の数、ｍ＝１〜（ｎ−１）の整数）
を満足する射出成形品を良品、満足しない射出成形品を不良品と判定する工程である請求項１記載の検査方法。

【請求項5】

前記判定工程は、前記抗張力−ひずみ曲線を、ひずみＸ％（Ｘは５以上の数）毎にｎ個の領域に分割し、各領域において、抗張力の最大値ＴＭＡＸ_ｍと最小値ＴＭＩＮ_ｍを算出して、
ＴＭＡＸ_ｍ及びＴＭＩＮ_ｍ＋１が、下記式（２）
ＴＭＡＸ_ｍ×α≦ＴＭＩＮ_ｍ＋１ （２）
（α＝０．９０以上の数、ｍ＝１〜（ｎ−１）の整数）
を満足する射出成形品を良品、満足しない射出成形品を不良品と判定する工程である請求項１記載の検査方法。

【請求項6】

溶融加工性フッ素樹脂射出成形品におけるフッ素樹脂が、テトラフルオロエチレン／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）共重合体、及び、テトラフルオロエチレン／ヘキサフルオロプロピレン共重合体からなる群より選択される少なくとも１種である請求項１〜５のいずれかに記載の検査方法。

【請求項7】

（ｘ）１のロット中の溶融加工性フッ素樹脂を射出成形して複数の射出成形品を得る工程、
（ｙ）複数の射出成形品から任意に１以上の射出成形品を選択し、引張試験して得られた応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線から、該射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定する工程、
（ｚ）不良品と判定された射出成形品と同ロットの溶融加工性フッ素樹脂から得られた射出成形品から良品を選別する工程、
を含み、
前記判定工程は、前記応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線を、ひずみの大きさにより２以上の領域に分割し、ひずみが小さい領域の応力又は抗張力に対する、ひずみが大きい領域の応力又は抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程である
溶融加工性フッ素樹脂射出成形品の製造方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、溶融加工性フッ素樹脂射出成型品の検査方法及び溶融加工性フッ素樹脂射出成型品の製造方法に関する。

【背景技術】

【0002】

フッ素樹脂は耐熱性、耐摩耗性、耐薬品性などに優れており、代表的なエンジニアリングプラスチックスの一つとして広く利用されている。フッ素樹脂の成形方法の一つとして、射出成形が挙げられる。

【0003】

例えば、特許文献１には、テトラフルオロエチレン／フルオロアルコキシトリフルオロエチレン共重合体である熱溶融性フッ素樹脂と、ポリテトラフルオロエチレンとを含む組成物を射出圧力４００ｋｇ／ｃｍ^２以上８００ｋｇ／ｃｍ^２以下で射出成形することにより射出方向の投影面積１１００ｃｍ^２以上の射出成形品を製造する方法が記載されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１７−３０３７１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本開示は、クラック又はデラミネーションによる不良品か否かを容易に判定することができる溶融加工性フッ素樹脂射出成型品の検査方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本開示は、溶融加工性フッ素樹脂射出成形品を引張試験して得られた応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線から、該射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定する工程、を含むことを特徴とする溶融加工性フッ素樹脂射出成形品の検査方法を提供する。

【0007】

上記判定工程は、上記応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線を、ひずみの大きさにより２以上の領域に分割し、ひずみが小さい領域の応力又は抗張力に対する、ひずみが大きい領域の応力又は抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程であることが好ましい。

【0008】

上記判定工程は、上記応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線において、ひずみＹ^１％（Ｙ^１は５以上、８０以下の数）以下の領域の最大応力又は最大抗張力に対する、ひずみＺ^１〜Ｚ^２％（Ｚ^１は、Ｙ^１以上、２００以下の数であり、Ｚ^２は、Ｚ^１を超え、３００以下の数である）の領域の最低応力又は最低抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程であることが好ましい。

【0009】

上記判定工程は、上記応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線において、ひずみＹ^２％（Ｙ^２は５以上、８０以下の数）以下の領域の最大応力又は最大抗張力に対する、ひずみＺ^３％（Ｚ^３は、Ｙ^２以上、３００以下の数）の応力又は抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程であることが好ましい。

【0010】

上記判定工程は、上記応力−ひずみ曲線を、ひずみＸ％（Ｘは５以上の数）毎にｎ個の領域に分割し、各領域において、応力の最大値ＳＭＡＸ_ｍと最小値ＳＭＩＮ_ｍを算出して、
ＳＭＡＸ_ｍ及びＳＭＩＮ_ｍ＋１が、下記式（１）
ＳＭＡＸ_ｍ×α≦ＳＭＩＮ_ｍ＋１ （１）
（α＝０．９０以上の数、ｍ＝１〜ｎ−１の整数）
を満足する射出成形品を良品、満足しない射出成形品を不良品と判定する工程であることが好ましい。

【0011】

上記判定工程は、上記抗張力−ひずみ曲線を、ひずみＸ％（Ｘは５以上の数）毎にｎ個の領域に分割し、各領域において、抗張力の最大値ＴＭＡＸ_ｍと最小値ＴＭＩＮ_ｍを算出して、
ＴＭＡＸ_ｍ及びＴＭＩＮ_ｍ＋１が、下記式（２）
ＴＭＡＸ_ｍ×α≦ＴＭＩＮ_ｍ＋１ （２）
（α＝０．９０以上の数、ｍ＝１〜（ｎ−１）の整数）
を満足する射出成形品を良品、満足しない射出成形品を不良品と判定する工程であることも好ましい。

【0012】

溶融加工性フッ素樹脂射出成形品におけるフッ素樹脂が、テトラフルオロエチレン／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）共重合体、及び、テトラフルオロエチレン／ヘキサフルオロプロピレン共重合体からなる群より選択される少なくとも１種であることが好ましい。

【0013】

本開示はまた、（ｘ）１のロット中の溶融加工性フッ素樹脂を射出成形して複数の射出成形品を得る工程、（ｙ）複数の射出成形品から任意に１以上の射出成形品を選択し、引張試験して得られた応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線から、該射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定する工程、（ｚ）不良品と判定された射出成形品と同ロットの溶融加工性フッ素樹脂から得られた射出成形品から良品を選別する工程、を含む溶融加工性フッ素樹脂射出成形品の製造方法をも提供する。

【発明の効果】

【0014】

本開示の製造方法は、上記構成を有することにより、溶融加工性フッ素樹脂射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを容易に判定することができる。

【図面の簡単な説明】

【0015】

【図1】応力−ひずみ曲線の一例を示す模式図である。

【図2】応力−ひずみ曲線のひずみによる分割の一例を示す模式図である。

【図3】応力−ひずみ曲線のひずみによる分割の一例を示す模式図である。

【図4】応力−ひずみ曲線のひずみによる分割の一例を示す模式図である。

【図5】（ａ）及び（ｂ）は２つの応力−ひずみ曲線から本開示の判定工程の一例を説明するための模式図である。

【図6】（ａ）及び（ｂ）は２つの応力−ひずみ曲線から本開示の判定工程の一例を説明するための模式図である。

【図7】（ａ）及び（ｂ）は２つの応力−ひずみ曲線から本開示の判定工程の一例を説明するための模式図である。

【図8】本開示の検査方法の一例の流れを示すフローチャートである。

【図9】実施例において、射出成型品から試験片を切り出す領域を示した模式図である。

【発明を実施するための形態】

【0016】

溶融加工性フッ素樹脂の成形方法としては圧縮成形、射出成形等が挙げられるが、射出成形を用いた場合、得られた成形品にクラック又はデラミネーションが生じることがある。射出成型品に生じたクラック又はデラミネーションは顕微鏡観察によっても確認することもできるが、試料として厚さ２０〜１００ミクロンで表面が平滑で傷がない厚みが均一な断面スライスフィルムを作成する必要があり、ミクロトームのような特殊な器具を使用し出来栄えを確認しながらの作成となり、かなり手間である。また、人の目によりクラックを確認する必要があるため労力が増加する上に、射出成形品の良否に影響しない程度のクラック又はデラミネーションも存在するため射出成型品の良否判断が困難である。
本発明者等が鋭意検討したところ、引張試験による応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線を定量的に解析することによりクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定できることが見出され、本開示の検査方法の開発にいたった。
以下に、本開示の検査方法を詳細に説明する。

【0017】

本開示の検査方法は、溶融加工性フッ素樹脂射出成形品を引張試験して得られた応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線から、該射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定する工程を含む。

【0018】

上記溶融加工性フッ素射出成型品とは、溶融加工性フッ素樹脂を射出成形して得られた成形品を意味する。
溶融加工性とは、射出成形機等の従来の加工機器を用い、溶融して加工することが可能であることを意味する。溶融加工性フッ素樹脂は、メルトフローレート（ＭＦＲ）が０．０１〜５００ｇ／１０分であることが通常である。
本明細書において、ＭＦＲは、ＡＳＴＭ Ｄ １２３８に準拠し、温度３７２℃、荷重５ｋｇで測定して得られる値である。

【0019】

上記溶融加工性フッ素樹脂としては、テトラフルオロエチレン［ＴＦＥ］／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）［ＰＡＶＥ］共重合体［ＰＦＡ］、ＴＦＥ／ヘキサフルオロプロピレン［ＨＦＰ］共重合体［ＦＥＰ］、エチレン［Ｅｔ］／ＴＦＥ共重合体［ＥＴＦＥ］、Ｅｔ／ＴＦＥ／ＨＦＰ共重合体、ポリクロロトリフルオロエチレン［ＰＣＴＦＥ］、クロロトリフルオロエチレン［ＣＴＦＥ］／ＴＦＥ共重合体、Ｅｔ／ＣＴＦＥ共重合体、ポリフッ化ビニリデン［ＰＶＤＦ］、ポリフッ化ビニル［ＰＶＦ］等が挙げられる。中でも、耐熱性の観点から、ＰＦＡ、ＦＥＰ、ＥＴＦＥ、Ｅｔ／ＴＦＥ／ＨＦＰ共重合体、ＰＣＴＦＥ、ＣＴＦＥ／ＴＦＥ共重合体、Ｅｔ／ＣＴＦＥ共重合体及びＰＶＤＦからなる群より選択される少なくとも１種が好ましく、ＰＦＡ及びＦＥＰからなる群より選択される少なくとも１種がより好ましい。

【0020】

上記ＰＦＡとしては、特に限定されないが、ＴＦＥ単位とＰＡＶＥ単位とのモル比（ＴＦＥ単位／ＰＡＶＥ単位）が７０／３０以上９９．５／０．５未満である共重合体が好ましい。より好ましいモル比は、７０／３０以上９８．９／１．１以下であり、更に好ましいモル比は、８０／２０以上９８．５／１．５以下である。ＴＦＥ単位が少なすぎると機械物性が低下する傾向があり、多すぎると融点が高くなりすぎ成形性が低下する傾向がある。上記ＰＦＡは、ＴＦＥ及びＰＡＶＥのみからなる共重合体であってもよいし、ＴＦＥ及びＰＡＶＥと共重合可能な単量体に由来する単量体単位が０．１〜１０モル％であり、ＴＦＥ単位及びＰＡＶＥ単位が合計で９０〜９９．９モル％である共重合体であることも好ましい。ＴＦＥ及びＰＡＶＥと共重合可能な単量体としては、ＨＦＰ、ＣＺ^３Ｚ^４＝ＣＺ^５（ＣＦ_２）ｎＺ^６（式中、Ｚ^３、Ｚ^４及びＺ^５は、同一若しくは異なって、水素原子又はフッ素原子を表し、Ｚ^６は、水素原子、フッ素原子又は塩素原子を表し、ｎは２〜１０の整数を表す。）で表されるビニル単量体、及び、ＣＦ_２＝ＣＦ−ＯＣＨ_２−Ｒｆ^７（式中、Ｒｆ^７は炭素数１〜５のパーフルオロアルキル基を表す。）で表されるアルキルパーフルオロビニルエーテル誘導体等が挙げられる。

【0021】

上記ＰＦＡは、融点が１８０〜３４０℃であることが好ましく、２３０〜３３０℃であることがより好ましく、２８０〜３２０℃であることが更に好ましい。上記融点は、示差走査熱量計〔ＤＳＣ〕を用いて１０℃／分の速度で昇温したときの融解熱曲線における極大値に対応する温度である。

【0022】

上記ＰＦＡは、メルトフローレート（ＭＦＲ）が０．１〜１００ｇ／１０分であることが好ましく、０．５〜９０ｇ／１０分であることがより好ましく、１．０〜８５ｇ／１０分であることが更に好ましい。

【0023】

上記ＦＥＰとしては、特に限定されないが、ＴＦＥ単位とＨＦＰ単位とのモル比（ＴＦＥ単位／ＨＦＰ単位）が７０／３０以上９９／１未満である共重合体が好ましい。より好ましいモル比は、７０／３０以上９８．９／１．１以下であり、更に好ましいモル比は、８０／２０以上９７／３以下である。ＴＦＥ単位が少なすぎると機械物性が低下する傾向があり、多すぎると融点が高くなりすぎ成形性が低下する傾向がある。ＦＥＰは、ＴＦＥ及びＨＦＰと共重合可能な単量体に由来する単量体単位が０．１〜１０モル％であり、ＴＦＥ単位及びＨＦＰ単位が合計で９０〜９９．９モル％である共重合体であることも好ましい。ＴＦＥ及びＨＦＰと共重合可能な単量体としては、ＰＡＶＥ、アルキルパーフルオロビニルエーテル誘導体等が挙げられる。

【0024】

上記ＦＥＰは、融点が１５０〜３２０℃であることが好ましく、２００〜３００℃であることがより好ましく、２４０〜２８０℃であることが更に好ましい。上記融点は、示差走査熱量計〔ＤＳＣ〕を用いて１０℃／分の速度で昇温したときの融解熱曲線における極大値に対応する温度である。

【0025】

上記ＦＥＰは、ＭＦＲが０．０１〜１００ｇ／１０分であることが好ましく、０．１〜８０ｇ／１０分であることがより好ましく、１〜６０ｇ／１０分であることが更に好ましく、１〜５０ｇ／１０分であることが特に好ましい。

【0026】

本明細書において、フッ素樹脂を構成する各単量体単位の含有量は、ＮＭＲ、ＦＴ−ＩＲ、元素分析、蛍光Ｘ線分析を単量体の種類によって適宜組み合わせることで算出できる。

【0027】

上記射出成形としては特に限定されず、本開示の検査方法はどのような射出成形品にも採用可能である。本開示の検査方法は、溶融加工性フッ素樹脂を射出成形して、溶融加工性フッ素樹脂射出成形品を得る工程を含むものであってよい。
上記射出成型品の形状は特に限定されない。例えば、シート形状、円筒形状等、いかなる形状の射出成型品にも適用することができる。
試験をおこなう際、射出成型品をそのまま引張試験に供するのもよいが、実験の精度を高めるため、適宜射出成型品の一部を取り出して試験片とすることが好ましい場合がある。通常の射出成型品は、厚みの大小があったり、突起があったり、穴が開いていたり、そのままでは精度良く、また再現性良く、引張試験をおこなうことが困難な場合もある。
上記試験片として、射出成型品が標準試験片を切り出すに十分な大きさを持つものについては、標準試験片を使用することができる。標準試験片を切り出すに十分な大きさがない場合は、試験片の形状は、短冊形状や、標準試験片をダウンサイジングした形状等から選択できる。
また、射出成型品が単純なシートではなく、厚みに大小がある形状の場合、研磨、切削、切断により、あらかじめ引張試験にかかわる部分から厚みの大小を少なくすることもできる。
また、引張試験にかかわる部分を限定するために、引張試験したい部分のギリギリ外側を挟み込む冶具２組を作成し、引張試験に使用することもできる。挟み込む場所を選ぶことにより、厚みの大小がある部分や、突起の部分、穴の開いた部分などの影響を低減することができる。
また、射出成型品の突起がちょうどはまるような冶具を２組作成し引張試験をおこなうことができる。引張試験の際に、突起部分を引っ掛けるような形で引張試験をおこなうことになるため、チャック部分での試験片の滑りの影響が少なくなる。また、通常の引張試験機では、チャック部分が平たいものが多いので、試験片の固定が安定する効果が得られ、試験精度が向上する。
上記の冶具を作成する方法として、射出成型品の設計図を基にして切削加工する方法が例示できる。また、常温硬化性の物質（シリコン、エポキシなど）、又は、熱硬化性の物質（エポキシなど）を射出成形品の周辺に充填し、硬化させ、その後射出成形品から硬化した樹脂を取り外し、該樹脂を切削加工して完成させる方法も例示できる。熱可塑性の樹脂を、加熱して溶けた状態で射出成形品の周辺に充填し、冷却したのち、射出成形品から樹脂を取り外し、該樹脂を切削加工して完成させる方法も例示できる。

【0028】

上記応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線は、溶融加工性フッ素樹脂射出成型品を引張試験して得られる。引張試験の条件は限定されず、対象となる射出成型品に応じて適宜決定すればよい。本開示の検査方法は、溶融加工性フッ素樹脂射出成型品を引張試験して、応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線を得る工程を含むものであってよい。

【0029】

上記応力−ひずみ曲線は、通常、横軸にひずみ（％、又は、ｍ；％である場合、変形にかかわる部分の初期の長さ、もしくはチャック間距離を１００％とした時の変化割合）、縦軸に応力（通常、ＭＰａ）をとり、引張試験により生じるひずみに応じて生じる応力を示したものである。
図１は、応力−ひずみ曲線の一例を示す模式図である。
図１に示すように、通常、応力−ひずみ曲線ではひずみが大きくなるにつれて応力が増加していくが、射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品である場合、射出成型品が層状になっており、一部の層が破断することにより、ひずみの増加によって応力が低下する場合がある。そのような場合、応力が一旦低下したり、低下しない場合でもひずみに対する応力の増加量が減る、すなわち、応力−ひずみ曲線の傾きが小さくなることが本発明者等によって見出された。
従って、射出成型品の応力−ひずみ曲線から、クラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定することができる。具体的には後述する方法で判定することができるが、本開示の検査方法は下記の方法に限定されるものではなく、上記の観点に基づき不良品か否かを判定するものであれば、本開示の検査方法に含まれる。
溶融加工性フッ素樹脂射出成型品では、一部の層の破断によりいったん応力が減少し、その後増加することで最終的に応力が大きくなる場合もあり、単純に従来の引張試験で得られる統計値のみでクラック又はデラミネーションによる良品か不良品かを判断することは不可能である。本開示の新規な検査方法によれば、そのような応力−ひずみ曲線を取るものであっても、良品か不良品かを判別できる。
上記抗張力−ひずみ曲線は、通常、横軸にひずみ（％、又は、ｍ；％である場合、上記応力−ひずみ曲線の場合と同じ）、縦軸に抗張力（通常、Ｎ〔ニュートン〕）をとり、引張試験により生じるひずみに応じて生じる抗張力を示したものである。
品質管理の場では、通常、成型品の大きさが一定なので、応力（単位面積当たりの抗張力）と抗張力は１：１に対応している。そのため、成型品の形状、引っ張る部位を限定すれば、抗張力で管理することができる。すなわち、応力−ひずみ曲線を用いた場合と同様に、抗張力−ひずみ曲線から、溶融加工性フッ素樹脂射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定することもできる。
なお、本開示の検査方法において、応力−ひずみ曲線から良品か不良品かを判定する場合は、応力とひずみとの関係から判定を行い、抗張力−ひずみ曲線から良品か不良品かを判定する場合は、抗張力とひずみとの関係から判定を行う。
また、良品か不良品かは、射出成型品の用途等によって異なるため、その用途等に適した判定基準、判定方法を選択すればよい。従って、同じ射出成型品であっても判定の基準等によって良品か不良品かが変わることもある。

【0030】

本開示の検査方法において、引張試験では、まず、射出成型品の応力値（絶対量）又は抗張力値（絶対量）を測定する。本開示の検査方法では、その応力値（絶対量）又は抗張力値（絶対量）に基づいて良品と不良品とを判定してもよいし、応力値又は抗張力値から低下率等を算出して良品と不良品とを判定してもよい。
具体的には、ひずみにより異なる２つの応力値又は抗張力値から算出された低下量、上記低下量を複数算出して低下量のひずみにより異なる２つの応力値又は抗張力値から算出された低下率、低下量等から良品、不良品を判定することができる。
また、ひずみにより異なる２以上の応力値又は抗張力値から低下量又は低下率を複数算出し、それらを総合的にみて判定してもよい。
引張試験条件は限定されず、射出成型品の形状、材料、用途等に従って適宜設定する。

【0031】

上記判定工程は、応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線を、ひずみの大きさにより２以上の領域に分割し、ひずみが小さい領域の応力又は抗張力に対する、ひずみが大きい領域の応力又は抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程であることが好ましい。
分割する領域の数は限定されないが、例えば、２〜２０であってよく、２〜１５であることが好ましく、２〜１０であることがより好ましい。

【0032】

ひずみの大きさにより２以上の領域に分割する例としては、図２〜図４が挙げられるが、これらに限定されるものではない。
図２では、応力−ひずみ曲線を、ひずみα^１を境として２つの領域に分割している。図２において、ひずみが小さい領域は、ひずみα^１以下の領域であり、ひずみが大きい領域とは、α^１以上の領域である。この場合、ひずみの最大値は、射出成型品が破断する破断点のひずみとなる。
また、図３に示すように、ひずみα^２以下の領域と、ひずみα^２〜α^３の２つの領域に分割する方法が挙げられる。この場合、ひずみが小さい領域は、ひずみα^２以下の領域であり、ひずみが大きい領域は、ひずみα^２〜α^３の領域である。
図４に示すように、ひずみα^４以下の領域と、ひずみα^５〜α^６の領域とに分割する方法も挙げられる。この場合、ひずみが小さい領域は、ひずみα^４以下の領域であり、ひずみが大きい領域は、ひずみα^５〜α^６の領域である。
抗張力−ひずみ曲線から判定を行う場合にも同様に行うことができる。

【0033】

上記「ひずみが小さい領域の応力」及び「ひずみが大きい領域の応力」としては、各領域の応力から任意のひずみを１点選択し、その点の応力を採用してもよいし、各領域の応力の平均値、積分値、最大値、最小値等を採用してもよい。
抗張力−ひずみ曲線から判定を行う場合も同様である。

【0034】

図８に、上記検査方法の一例の流れを示すフローチャートを示す。まず、サブステップ１（ＳＳ１）で溶融加工性フッ素樹脂の射出成型品を引張試験して応力−ひずみ曲線を得る。次に、ＳＳ２で応力−ひずみ曲線をひずみにより２以上の領域に分割する。そして、ＳＳ３でひずみが小さい領域における最大応力と、ひずみが大きい領域における最低応力を抽出する。最後に、ＳＳ４で、ひずみが小さい領域の最大応力に対する、ひずみが大きい領域の最低応力の低下量又は低下率を算出して、低下量又は低下率が小さい射出成型品を良品、大きい射出成型品を不良品と判定する。
抗張力−ひずみ曲線から判定を行う場合も、同様に実施できる。

【0035】

上記判定工程は、応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線において、ひずみＹ^１％（Ｙ^１は５以上、８０以下の数）以下の領域の最大応力又は最大抗張力に対する、ひずみＺ^１〜Ｚ^２％（Ｚ^１は、Ｙ^１以上、２００以下の数であり、Ｚ^２は、Ｚ^１を超え、３００以下の数である）の領域の最低応力又は最低抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程（以下「判定工程（１）」ともいう）であることが好ましい形態の１つである。
上記応力の低下量及び低下率は、下記式で表される。
低下量＝ＳＭ１−Ｓｍ１
低下率＝１−（Ｓｍ１／ＳＭ１）
式中、Ｓｍ１は、ひずみＺ^１〜Ｚ^２％の領域の最低応力であり、ＳＭ１は、ひずみＹ^１％以下の領域の最大応力である。
また、上記抗張力の低下量及び低下率は、下記式で表される。
低下量＝ＴＭ１−Ｔｍ１
低下率＝１−（Ｔｍ１／ＴＭ１）
式中、Ｔｍ１は、ひずみＺ^１〜Ｚ^２％の領域の最低抗張力であり、ＴＭ１は、ひずみＹ^１％以下の領域の最大抗張力である。
上記式で表される低下量又は低下率が小さければ良品、大きければ不良品と判定する。Ｓｍ１がＳＭ１よりも大きい場合又はＴｍ１がＴＭ１よりも大きい場合に低下量又は低下率は負の値となるが、その場合、負の値が大きいほど低下量又は低下率は小さいと判断する。
上記Ｙ^１は５以上、８０以下の数であり、好ましくは、１０以上、７０以下の数である。より好ましくは、１５以上、６０以下の数である。
上記Ｚ^１は、Ｙ^１以上、２００以下の数であり、好ましくは、４０以上、１６０以下の数であり、より好ましくは、５０以上、１５０以下の数である。
上記Ｚ^２は、Ｚ^１を超え、３００以下の数であり、好ましくは、５０以上、２００以下の数であり、より好ましくは、６０以上、１６０以下の数である。
上記Ｚ^１は、Ｙ^１に２０以上加えた数であることが好ましく、２５以上加えた数であることがより好ましく、３０以上加えた数であることが更に好ましい。
上記Ｚ^２は、Ｚ^１に５以上加えた数であることが好ましく、１０以上加えた数であることがより好ましい。

【0036】

図５（ａ）及び（ｂ）を用いて上記判定工程（１）を具体的に説明する。まず、図５（ａ）及び（ｂ）に示すようにひずみＹ^１％、Ｚ^１％及びＺ^２％を決定し、Ｙ^１％以下の領域と、ひずみＺ^１〜Ｚ^２％の領域に分割する。
図５（ａ）の応力−ひずみ曲線において、Ｙ^１％以下の領域の最大応力はＳＭ１ａであり、Ｚ^１〜Ｚ^２％の領域の最低応力はＳｍ１ａであり、低下量は下記式で表される。
低下量＝ＳＭ１ａ−Ｓｍ１ａ
また、低下率は下記式で表される。
低下率＝１−（Ｓｍ１ａ／ＳＭ１ａ）
図５（ｂ）の応力−ひずみ曲線において、Ｙ^１％以下の領域の最大応力はＳＭ１ｂであり、Ｚ^１〜Ｚ^２％の領域の最低応力はＳｍ１ｂであり、低下量及び低下率は下記式で表される。
低下量＝ＳＭ１ｂ−Ｓｍ１ｂ
低下率＝１−（Ｓｍ１ｂ／ＳＭ１ｂ）
抗張力−ひずみ曲線から低下量又は低下率を算出する場合も同様に行うことができる。

【0037】

上記判定工程（１）において良品、不良品を判定する具体的な低下量又は低下率は適宜決定すればよく、例えば、低下量が１．５ＭＰａ以下であれば良品と判定することもできる。また、低下率が０．３以下であれば良品と判断してよく、０．１以下であればより良品と判定することができる。
抗張力−ひずみ曲線から判定する場合も同様に適宜決定することができる。例えば、抗張力の低下量としては、抗張力を応力に換算した場合に、低下量が１．５ＭＰａ以下となる量であれば良品と判定することもできる。低下率は、応力の場合と同様に、０．３以下であれば良品と判断してよく、０．１以下であればより良品と判定することができる。

【0038】

上記判定工程は、応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線において、ひずみＹ^２％（Ｙ^２は５以上、８０以下の数）以下の領域の最大応力又は最大抗張力に対する、ひずみＺ^３％（Ｚ^３は、Ｙ^２以上、３００以下の数）の応力又は抗張力の低下量又は低下率が小さい射出成形品を良品、大きい射出成形品を不良品と判定する工程（以下「判定工程（２）」ともいう）であることも好ましい形態の１つである。
上記応力の低下量及び低下率は、下記式で表される。
低下量＝ＳＭ２−Ｓｍ２
低下率＝１−（Ｓｍ２／ＳＭ２）
式中、Ｓｍ２は、ひずみＺ^３％の応力であり、ＳＭ２は、ひずみＹ^２％以下の領域の最大応力である。
上記抗張力の低下量及び低下率は、下記式で表される。
低下量＝ＴＭ２−Ｔｍ２
低下率＝１−（Ｔｍ２／ＴＭ２）
式中、Ｔｍ２は、ひずみＺ^３％の抗張力であり、ＴＭ２は、ひずみＹ^２％以下の領域の最大抗張力である。
上記式で表される低下量又は低下率が小さければ良品、大きければ不良品と判定する。Ｓｍ２がＳＭ２よりも大きい場合又はＴｍ２がＴＭ２よりも大きい場合に低下量又は低下率は負の値となるが、その場合、負の値が大きいほど低下量又は低下率は小さいと判断する。
上記Ｙ^２は５以上、８０以下の数であり、好ましくは、１０以上、７０以下の数であり、より好ましくは、１５以上、６０以下の数である。
上記Ｚ^３は、Ｙ^２以上、３００以下の数であり、好ましくは、４０以上、２００以下の数であり、より好ましくは、５０以上、１５０以下の数である。
上記Ｚ^３は、Ｙ^２に２０以上加えた数であることが好ましく、２５以上加えた数であることがより好ましく、３０以上加えた数であることが更に好ましい。

【0039】

図６（ａ）及び（ｂ）を用いて上記判定工程（２）を具体的に説明する。図６（ａ）及び（ｂ）に示すようにひずみＹ^２％及びＺ^３％を決定し、Ｙ^２％以下の領域と、ひずみＹ^２％以上の領域に分割する。
図６（ａ）の応力−ひずみ曲線において、Ｙ^２％以下の領域の最大応力はＳＭ２ａであり、Ｚ^３％の応力はＳｍ２ａであり、低下量及び低下率は、下記式で表される。
低下量＝ＳＭ２ａ−Ｓｍ２ａ
低下率＝１−（Ｓｍ２ａ／ＳＭ２ａ）
図６（ｂ）の応力−ひずみ曲線において、Ｙ^２％以下の領域の最大応力はＳＭ２ｂであり、Ｚ^３％の応力はＳｍ２ｂであり、低下量及び低下率は、下記式で表される。
低下量＝ＳＭ２ｂ−Ｓｍ２ｂ
低下率＝１−（Ｓｍ２ｂ／ＳＭ２ｂ）
抗張力−ひずみ曲線から低下量又は低下率を算出する場合も同様に行うことができる。

【0040】

上記判定工程（２）において良品、不良品を判定する具体的な低下量又は低下率は適宜決定すればよく、例えば、応力−ひずみ曲線から判定する場合、低下量が１．５ＭＰａ以下であれば良品と判定することもできる。また、低下率が０．３以下であれば良品と判断してよく、０．１以下であればより良品と判定することができる。
抗張力−ひずみ曲線から判定する場合も同様に適宜決定することができる。例えば、抗張力の低下量としては、抗張力を応力に換算した場合に、低下量が１．５ＭＰａ以下となる量であれば良品と判定することもできる。低下率は、応力の場合と同様に、０．３以下であれば良品と判断してよく、０．１以下であればより良品と判定することができる。

【0041】

上記判定工程はまた、上記応力−ひずみ曲線を、ひずみＸ％（Ｘは５以上の数）毎にｎ個の領域に分割し、各領域において、応力の最大値ＳＭＡＸ_ｍと最小値ＳＭＩＮ_ｍを算出して、
ＳＭＡＸ_ｍ及びＳＭＩＮ_ｍ＋１が、下記式（１）
ＳＭＡＸ_ｍ×α≦ＳＭＩＮ_ｍ＋１ （１）
（α＝０．９０以上の数、ｍ＝１〜（ｎ−１）の整数）
を満足する射出成形品を良品、満足しない射出成形品を不良品と判定する工程（以下「判定工程（３）」ともいう）であることも好ましい形態の一つである。
上記式（１）は、ＳＭＡＸ_ｍはＸ％毎にｎ個に分割された領域をひずみが小さい領域から順にｍ＝１、２、３・・・の領域とした場合に、ｍ＝２の領域における応力の最低値ＳＭＩＮ_２が、ｍ＝１の領域における応力の最大値ＳＭＡＸ_１に０．９を乗じた値より大きい場合、ｍ＝１の場合に式（１）を満足することとなる。
例えば、ｎが３の場合には、ｍが１及び２の場合について式（１）を満足すればよく、ｎが４の場合には、ｍが１、２及び３の場合に式（１）を満足すればよい。

【0042】

上記式（１）おけるＸは適宜決定すればよく、例えば、５〜５０であってよく、５〜３０であることが好ましく、１０〜２０であることがより好ましい。
応力−ひずみ曲線が降伏点を有する場合には、Ｘが降伏点におけるひずみより大きいことが好ましい。例えば、降伏点がひずみ５％に存在する場合、Ｘは５を超える数であることが好ましい。

【0043】

上記式（１）におけるｎは適宜決定すればよく、Ｘ×ｎ（％）が、応力−ひずみ曲線における破断点のひずみ（％）より小さければよい。ｎは多い方がより詳細な判定をすることができる。

【0044】

上記式（１）におけるαは０．９０以上であればよく、適宜決定することができるが、０．９２以上が好ましく、０．９５以上がより好ましい。αの最大値は１．００であってよい。

【0045】

図７（ａ）及び（ｂ）を用いて上記判定工程（３）を具体的に説明する。図７（ａ）及び（ｂ）に示すようにＸ％毎にひずみを分割した場合（図７中、Ｘ^１はＸ、Ｘ^２＝２Ｘ、Ｘ^３＝３Ｘ、Ｘ^４＝４Ｘである）、ひずみ０〜Ｘ^１がｍ＝１の領域、Ｘ^１〜Ｘ^２がｍ＝２の領域、Ｘ^２〜Ｘ^３がｍ＝３の領域、Ｘ^３〜Ｘ^４がｍ＝４の領域となり、ｍ＝２の領域における最低応力ＳＭＩＮ_２が、ｍ＝１の領域における最大応力ＳＭＡＸ_１に０．９を乗じた数よりも大きければよい。ｍ＝２〜４の領域においても同様に式（１）を満足すれば良品と判定し、いずれか１つの領域でも式（１）を満足しなければ不良品と判定する。
図７（ａ）の応力−ひずみ曲線では、ｍ＝１〜４の全ての領域で式（１）を満足するため、射出成型品を良品と判定する。図７（ｂ）の応力−ひずみ曲線では、ｍ＝１〜４の全てで式（１）を満足しないため、不良品と判定する。

【0046】

上記判定工程はまた、上記抗張力−ひずみ曲線を、ひずみＸ％（Ｘは５以上の数）毎にｎ個の領域に分割し、各領域において、抗張力の最大値ＴＭＡＸ_ｍと最小値ＴＭＩＮ_ｍを算出して、
ＴＭＡＸ_ｍ及びＴＭＩＮ_ｍ＋１が、下記式（２）
ＴＭＡＸ_ｍ×α≦ＴＭＩＮ_ｍ＋１ （２）
（α＝０．９０以上の数、ｍ＝１〜（ｎ−１）の整数）
を満足する射出成形品を良品、満足しない射出成形品を不良品と判定する工程（以下「判定工程（４）」ともいう）であることも好ましい形態の一つである。
上記式（２）は、ＴＭＡＸ_ｍはＸ％毎にｎ個に分割された領域をひずみが小さい領域から順にｍ＝１、２、３・・・の領域とした場合に、ｍ＝２の領域における抗張力の最低値ＴＭＩＮ_２が、ｍ＝１の領域における抗張力の最大値ＴＭＡＸ_１に０．９を乗じた値より大きい場合、ｍ＝１の場合に式（２）を満足することとなる。
例えば、ｎが３の場合には、ｍが１及び２の場合について式（２）を満足すればよく、ｎが４の場合には、ｍが１、２及び３の場合に式（２）を満足すればよい。

【0047】

上記式（２）おけるＸは適宜決定すればよく、例えば、５〜５０であってよく、５〜３０であることが好ましく、１０〜２０であることがより好ましい。
抗張力−ひずみ曲線が降伏点を有する場合には、Ｘが降伏点におけるひずみより大きいことが好ましい。例えば、降伏点がひずみ５％に存在する場合、Ｘは５を超える数であることが好ましい。

【0048】

上記式（２）におけるｎは適宜決定すればよく、Ｘ×ｎ（％）が、抗張力−ひずみ曲線における破断点のひずみ（％）より小さければよい。ｎは多い方がより詳細な判定をすることができる。

【0049】

上記式（２）におけるαは０．９０以上であればよく、適宜決定することができるが、０．９２以上が好ましく、０．９５以上がより好ましい。αの最大値は１．００であってよい。

【0050】

本開示の検査方法は、溶融加工性フッ素樹脂射出成型品の良否を容易に判定することができるため、溶融加工性フッ素樹脂の射出成型における成形条件の調整に役立つ。また、射出成形品の製造における良品又は不良品の選別、成形品の受入検査等に用いることができる。

【0051】

本開示の溶融加工性フッ素樹脂射出成形品の製造方法は、（ｘ）１のロット中の溶融加工性フッ素樹脂を射出成形して複数の射出成形品を得る工程、（ｙ）複数の射出成形品から任意に１の射出成形品を選択し、引張試験して得られた応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線から、該射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かを判定する工程、（ｚ）不良品と判定された射出成形品と同ロットの溶融加工性フッ素樹脂から得られた射出成形品から良品を選別する工程、を含む。
本開示の製造方法により、溶融加工性フッ素樹脂射出成型品のクラック又はデラミネーションによる良否を容易に判断することができ、生産性を向上させることができる。

【0052】

上記工程（ｘ）では、１のロット中の溶融加工性フッ素樹脂を射出成形して複数の射出成形品を得る工程である。同一ロットの溶融加工性フッ素樹脂から得られた射出成型品は、類似の性能を有している可能性が高い。後述する工程（ｙ）は、溶融加工性フッ素樹脂のロットを単位として行うのが適当である。

【0053】

上記工程（ｙ）では、複数の射出成形品から任意に１以上の射出成形品を選択する。選択する射出成型品は１つであってもよいし、２以上であってもよい。
引張試験して得られた応力−ひずみ曲線又は抗張力−ひずみ曲線から、該射出成型品がクラック又はデラミネーションによる不良品か否かの判定は、上述した本開示の検査方法における判定工程と同様に行うことができる。

【0054】

上記工程（ｚ）は、不良品と判定された射出成形品と同ロットの溶融加工性フッ素樹脂から得られた射出成形品から良品を選別する工程を含む。上記選別の方法は特に限定されない。また、同ロット中の溶融加工性フッ素樹脂から得られた射出成型品から非破壊で良品を選別することができない場合には、同ロットの溶融加工性フッ素樹脂から得られた射出成型品を全て除去する方法も挙げられる。

【0055】

本開示の製造方法は、クラック又はデラミネーションによる不良品を除外した溶融加工性フッ素樹脂射出成形品を製造することができる。

【実施例】

【0056】

つぎに本開示の検査方法及び製造方法を実施例により説明するが、本開示の検査方法及び製造方法は下記実施例に限定されるものではない。

【0057】

本実施例では、以下の溶融加工性フッ素樹脂を用いた。
溶融加工性フッ素樹脂１：ＴＦＥ／ＰＰＶＥ共重合体、ＴＦＥ／ＰＰＶＥ＝９８．５／１．５（モル比）、ＭＦＲ：１５．２ｇ／１０分

【0058】

本実施例で用いた溶融加工性フッ素樹脂のメルトフローレート（ＭＦＲ）は、ＡＳＴＭ Ｄ １２３８に準拠し、温度３７２℃、荷重５ｋｇで測定した。

【0059】

製造例１
溶融加工性フッ素樹脂１を、射出成型機ＭＤＸ７５ＸＡ（宇部興産機械株式会社製）を用い、製造条件を射出速度５０ｍｍ／ｓ、ヘッダー温度３７５℃、金型温度１８０℃として、４個の射出成型品（３０ｍｍ×６０ｍｍ×厚さ１．０ｍｍ）を得た。

【0060】

製造例２
射出速度を４０ｍｍ／ｓに変更したこと以外は、製造例１と同様にして、４個の射出成型品を得た。

【0061】

製造例３
射出速度を３０ｍｍ／ｓに変更したこと以外は、製造例１と同様にして、４個の射出成型品を得た。

【0062】

製造例４
射出速度を２０ｍｍ／ｓに変更したこと、以外は、製造例１と同様にして、４個の射出成型品を得た。

【0063】

製造例５
ヘッダー温度を３７０℃に変更した以外は、製造例４と同様にして、４個の射出成型品を得た。

【0064】

製造例６
射出速度を１０ｍｍ／ｓに変更したこと以外は、製造例１と同様にして、４個の射出成型品を得た。

【0065】

引張試験
製造例１で得られた射出成型品を下記条件で引張試験して応力−ひずみ曲線を得た。
製造例４で得られた射出成型品を下記条件で引張試験して応力−ひずみ曲線を得た。
［引張試験条件］
ＡＳＴＭ Ｄ１７０８の試験片形状で、引張速度５０ｍｍ／秒、室温で測定をおこなった。図９は、射出成型品から試験片を切り出す領域を示した模式図である。試験片は、図９に示す射出成型品９０の点線で囲んだ領域９１から切り出して作製した。図９における９２はゲート部分を示す。

【0066】

実施例１−１
応力−ひずみ曲線を、ひずみ２０％以下の領域Ａ１と、ひずみ５０〜６０％の領域Ｂ１に分割し、Ａ１の領域における最大応力と、Ｂ１の領域における最低応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例２で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が０％以下であった。そのためすべての射出成型品を良品と判定した。

【0067】

実施例１−２
応力−ひずみ曲線を、ひずみ２０％以下の領域Ａ２と、ひずみ６０〜７０％の領域Ｂ２に分割し、Ａ２の領域における最大応力と、Ｂ２の領域における最低応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が０％以下であった。そのためすべての射出成型品を良品と判定した。

【0068】

実施例１−３
応力−ひずみ曲線を、ひずみ２０％以下の領域Ａ３と、ひずみ１００〜１１０％の領域Ｂ３に分割し、Ａ３の領域における最大応力と、Ｂ３の領域における最低応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えていたので、全ての射出成型品を不良品と判定した。

【0069】

実施例１−４
応力−ひずみ曲線を、ひずみ２０％以下の領域Ａ４と、ひずみ１５０〜１６０％の領域Ｂ４に分割し、Ａ４の領域における最大応力と、Ｂ４の領域における最低応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えていたので、全ての射出成型品を不良品と判定した。

【0070】

実施例１−５
応力−ひずみ曲線を、ひずみ６０％以下の領域Ａ５と、ひずみ５０〜６０％の領域Ｂ５に分割し、Ａ５の領域における最大応力と、Ｂ５の領域における最低応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率がいずれの測定値も９％よりも低かったので、全ての射出成型品を良品と判定した。

【0071】

実施例１−６
応力−ひずみ曲線を、ひずみ６０％以下の領域Ａ６と、ひずみ６０〜７０％の領域Ｂ６に分割し、Ａ６の領域における最大応力と、Ｂ６の領域における最低応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率がいずれの測定値も９％よりも低かったので、全ての射出成型品を良品と判定した。

【0072】

実施例１−７
応力−ひずみ曲線を、ひずみ６０％以下の領域Ａ７と、ひずみ１００〜１１０％の領域Ｂ７に分割し、Ａ７の領域における最大応力と、Ｂ７の領域における最低応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えていたので、全ての射出成型品を不良品と判定した。

【0073】

実施例１−８
応力−ひずみ曲線を、ひずみ６０％以下の領域Ａ８と、ひずみ１５０〜１６０％の領域Ｂ８に分割し、Ａ８の領域における最大応力と、Ｂ８の領域における最低応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対する最低応力の低下率が１０％を超えていたので、全ての射出成型品を不良品と判定した

【0074】

実施例２−１
応力−ひずみ曲線を、ひずみ２０％以下の領域Ｃ１と、ひずみ２０％以上の領域Ｄ１とに分割し、領域Ｃ１における最大応力を抽出した。また、領域Ｄ１の中からひずみ５０％における応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ５０％における応力がいずれも９％を下回ったため、全ての射出成型品をクラック又はデラミネーションによる良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ５０％における応力の低下率がいずれの測定値も９％よりも低かったので、全ての射出成型品を良品と判定した。

【0075】

実施例２−２
応力−ひずみ曲線を、ひずみ２０％以下の領域Ｃ２と、ひずみ２０％以上の領域Ｄ２とに分割し、領域Ｃ２における最大応力を抽出した。また、領域Ｄ２の中からひずみ６０％における応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ６０％における応力の低下率が１０％を超えているものがあった。低下率が１０％を超えているものは、クラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ６０％における応力の低下率がいずれの測定値も９％よりも低かったので、全ての射出成型品を良品と判定した。

【0076】

実施例２−３
応力−ひずみ曲線を、ひずみ２０％以下の領域Ｃ３と、ひずみ２０％以上の領域Ｄ３とに分割し、領域Ｃ３における最大応力を抽出した。また、領域Ｄ３の中からひずみ１００％における応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ１００％における応力の低下率が１０％を超えており、全ての射出成型品をクラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ１００％における応力の低下率が９％よりも大きいものがあった。低下率が９％よりも大きい射出成型品を不良品と判定した。

【0077】

実施例２−４
応力−ひずみ曲線を、ひずみ２０％以下の領域Ｃ４と、ひずみ２０％以上の領域Ｄ４とに分割し、領域Ｃ４における最大応力を抽出した。また、領域Ｄ４の中からひずみ１５０％における応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ１５０％における応力の低下率が１０％を超えており、全ての射出成型品をクラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ１５０％における応力の低下率が９％よりも大きいものがあった。低下率が９％よりも大きいものを不良品と判定した。

【0078】

実施例２−５
応力−ひずみ曲線を、ひずみ６０％以下の領域Ｃ５と、ひずみ６０％以上の領域Ｄ５とに分割し、領域Ｃ５における最大応力を抽出した。また、領域Ｄ５の中からひずみ６０％における応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ６０％における応力の低下率が１０％を超えており、全ての射出成型品をクラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ６０％における応力の低下率がいずれも９％よりも小さかったので、全ての射出成型品を良品と判定した。

【0079】

実施例２−６
応力−ひずみ曲線を、ひずみ６０％以下の領域Ｃ６と、ひずみ６０％以上の領域Ｄ６とに分割し、領域Ｃ６における最大応力を抽出した。また、領域Ｄ６の中からひずみ１００％における応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ１００％における応力の低下率が１０％を超えており、全ての射出成型品をクラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。

【0080】

実施例２−７
応力−ひずみ曲線を、ひずみ６０％以下の領域Ｃ７と、ひずみ６０％以上の領域Ｄ７とに分割し、領域Ｃ７における最大応力を抽出した。また、領域Ｄ７の中からひずみ１５０％における応力を抽出した。
製造例１で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ１５０％における応力の低下率が１０％を超えており、全ての射出成型品をクラック又はデラミネーションによる不良品と判定した。
また、製造例４で得られた４個の射出成型品は、上記最大応力に対するひずみ１５０％における応力の低下率がいずれも９％よりも大きかったので、全ての射出成型品を不良品と判定した

【0081】

実施例３−１
製造例１〜６で得られた成形品を各４個用いて引張試験を行い、応力−ひずみ曲線を得た。応力−ひずみ曲線を、ひずみ１０％毎に、１０個の領域に分割し、ひずみが小さい順に領域ｍ＝１〜９とした。
各領域毎に最大応力及び最低応力を抽出して、
下記式：
ＳＭＡＸ_ｍ×α≦ＳＭＩＮ_ｍ＋１
（α＝０．９３、ｍ＝１〜９の整数）
を満足するか否かを調べた。
下記表１に、各製造例毎に、ｍ＝１〜９の場合のＳＭＩＮ_ｍ＋１／ＳＭＡＸ_ｍを示す。表１では、αが０．９２以下となる場合に欄をグレーにして表示している。
表１中、ｍは１の場合、（１−ＳＭＩＮ_２／ＳＭＡＸ_１）×１００の値であり、ｍは２の場合、（１−ＳＭＩＮ_３／ＳＭＡＸ_２）×１００の値である。
製造例１で得られた４個のうち２個の射出成型品は、ｍ＝１〜４で上記式を満足し、ｍ＝５で上記式を満足しなくなるので、不良品と判定した。また、他の２個の射出成型品は、ｍ＝１〜５で上記式を満足し、ｍ＝６で上記式を満足しなくなるので、不良品と判定した。
製造例２で得られた４個のうち１個の射出成型品は、上記式を満たさなくなるのはｍ＝５であるので、不良品と判定した。また、ｍ＝１〜５で上記式を満足し、ｍ＝６で上記式を満足しなくなる射出成型品を不良品と判定した。ｍ＝１〜７で上記式を満足し、ｍ＝８で上記式を満足しなくなる射出成型品を不良品と判定した。また、ｍ＝１〜９で上記式を満足する１個の射出成型品を良品と判定した。
製造例３で得られた４個のうち１個の射出成型品は、上記式を満たさなくなるのはｍ＝６であるので、不良品と判定した。また、ｍ＝１〜５で上記式を満足し、ｍ＝６で上記式を満足しなくなる射出成型品を不良品と判定した。ｍ＝１〜６で上記式を満足し、ｍ＝７で上記式を満足しなくなる射出成型品を不良品と判定した。また、ｍ＝１〜８で上記式を満足する２個の射出成型品を良品と判定した。
製造例４で得られた４個の射出成型品は、ｍ＝８まで上記式を満たすので、全てを良品と判定した。
製造例５で得られた４個のうち１個の射出成型品は、上記式を満たさなくなるのはｍ＝６であるので、不良品と判定した。３個の射出成型品は、上記式を満たさなくなるのはｍ＝７であるので、不良品と判定した。
製造例６で得られた４個のうち３個の射出成型品は、ｍ＝１ですでに上記式を満たさないので、全ての射出成型品を不良品と判定した。製造例６で得られた１個の射出成型品は、ｍ＝９まで上記式を満たすので、良品と判定した。
上に述べる結果を応用し、最初に上記式を満たさなくなった領域のｍの数を点数とすることで、欠陥の少なさの指標にできる。製造例１〜６で得られた射出成型品は、例えば、下記点数となる。
製造例１：５点（ｍ＝１〜４で上記式を満足するもの）
製造例２：５点（ｍ＝１〜４で上記式を満足するもの）
製造例３：６点（ｍ＝１〜５で上記式を満足するもの）
製造例４：９点（ｍ＝１〜８で上記式を満足するもの）
製造例５：６点（ｍ＝１〜５で上記式を満足するもの）
製造例６：１点（ｍ＝１で既に上記式を満足しないもの）

【0082】

【表1】

【符号の説明】

【0083】

９０：射出成型品
９１：試験片を切り出した領域
９２：ゲート部分

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】