発明の名称 電子顯微鏡試料チップ及びその関連応用
出願人 国立成功大学 (識別番号 504455908)
特許公開件数ランキング 3192 位(5件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 4065 位(3件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-6694939
公報発行日 2020年5月20
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6694939
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