特許第6714508号(P6714508)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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特許6714508試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置
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  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000002
  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000003
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  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000005
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  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000007
  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000008
  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000009
  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000010
  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000011
  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000012
  • 特許6714508-試料内の複数の点物体を局在化するための局在顕微鏡検査の光学顕微鏡的方法、並びに試料内の複数の点物体を局在化するための光学顕微鏡装置 図000013
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