特許6754174設計レイアウトデータの不良検出方法及び設計レイアウトデータの不良検出プログラム

発明の名称　設計レイアウトデータの不良検出方法及び設計レイアウトデータの不良検出プログラム

出願人　ＡＬＩＴＥＣＳ株式会社　（識別番号 515152878）

　　　　特許公開件数ランキング 30460 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 24686 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6754174

公報発行日　2020年9月9

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6754174

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