特許第6755823号(P6755823)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6755823
(24)【登録日】2020年8月28日
(45)【発行日】2020年9月16日
(54)【発明の名称】光パルス試験装置及び光パルス試験方法
(51)【国際特許分類】
   G01M 11/00 20060101AFI20200907BHJP
【FI】
   G01M11/00 F
【請求項の数】4
【全頁数】9
(21)【出願番号】特願2017-65510(P2017-65510)
(22)【出願日】2017年3月29日
(65)【公開番号】特開2018-169233(P2018-169233A)
(43)【公開日】2018年11月1日
【審査請求日】2019年7月24日
(73)【特許権者】
【識別番号】000000572
【氏名又は名称】アンリツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100119677
【弁理士】
【氏名又は名称】岡田 賢治
(74)【代理人】
【識別番号】100115794
【弁理士】
【氏名又は名称】今下 勝博
(72)【発明者】
【氏名】牧 達幸
【審査官】 伊藤 裕美
(56)【参考文献】
【文献】 特開2013−238592(JP,A)
【文献】 米国特許出願公開第2013/0301036(US,A1)
【文献】 特開平06−102421(JP,A)
【文献】 特開2016−076841(JP,A)
【文献】 特開平11−271174(JP,A)
【文献】 特開平08−082573(JP,A)
【文献】 特開2012−213490(JP,A)
【文献】 米国特許出願公開第2015/0198503(US,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01M 11/00 − G01M 11/08
H04B 10/00 − H04B 10/90
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1の光ファイバ(31)と第2の光ファイバ(32)とが共に近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記第1の光ファイバの前記遠端が前記第2の光ファイバの前記遠端に接続されてなる被測定光ファイバにおける前記第1の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定部(11)と、
前記測定部が測定した測定波形から光損失地点を検出する検出部(21)と、
前記検出した光損失地点のなかから前記第2の光ファイバの前記遠端及び前記近端を特定し、前記第2の光ファイバの前記遠端から前記近端までの光損失地点の配列を、前記第2の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点の配列に反転させる反転部(22)と、
を備える光パルス試験装置(10)。
【請求項2】
前記第1の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンと、前記反転部によって反転された前記第2の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンと、を表示する表示部(13)をさらに備える、
請求項1に記載の光パルス試験装置。
【請求項3】
測定部(11)が、第1の光ファイバ(31)と第2の光ファイバ(32)とが共に近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記第1の光ファイバの前記遠端が前記第2の光ファイバの前記遠端に接続されてなる被測定光ファイバにおける前記第1の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定手順と、
検出部(21)が、前記測定部が測定した測定波形から光損失地点を検出する検出手順と、
反転部(22)が、前記検出した光損失地点のなかから前記第2の光ファイバの前記遠端及び前記近端を特定し、前記第2の光ファイバの前記遠端から前記近端までの光損失地点の配列を、前記第2の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点の配列に反転させる反転手順と、
を実行する光パルス試験方法。
【請求項4】
表示部(13)が、前記第1の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンと、前記反転部によって反転された前記第2の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンと、を表示する表示手順をさらに有する、
請求項3に記載の光パルス試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、光パルス試験装置及び光パルス試験方法に関する。
【背景技術】
【0002】
近年の通信需要の拡大により、通信を支える媒体の主役は同軸ケーブルから光ファイバケーブルに取って代わってきた。光ファイバケーブルは、幹線系からアクセス系まで用いられており、あらゆる場所に敷設されている。
【0003】
最近では、データセンタ内の通信配線やモバイルアクセスの通信装置とアンテナの配線に用いられる媒体は光ファイバケーブルが主流となっている。これらの光ファイバケーブルは敷設効率を上げて大容量通信を実現するため、単心ではなく多心の光ファイバケーブルが敷設されている。工事時には、すべての光ファイバケーブルの敷設状態を光パルス試験装置で測定しなければならないため、測定の効率化が求められている。
【0004】
光ファイバケーブルに備わる各光ファイバを一度に測定するためのコネクタが提案されている(例えば、特許文献1参照。)。特許文献1のコネクタは、光ファイバケーブルに備わる光ファイバ同士を1本に接続する。これにより、多心の光ファイバケーブルを1本の光ファイバとして光パルス試験装置で測定可能になる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開2013−238592号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
光ファイバ同士を1本に接続した場合、光パルス試験装置からの距離と各光ファイバの測定波形との対応関係が分かりにくくなる問題があった。そこで、本開示は、多心の光ファイバケーブルに備わる各光ファイバを接続して1本の光ファイバとして光パルス試験を行った場合であっても、光パルス試験装置からの距離と各光ファイバの測定波形との対応関係を分かりやすくすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
具体的には、本開示の光パルス試験装置(10)は、
第1の光ファイバ(31)と第2の光ファイバ(32)とが共に近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記第1の光ファイバの前記遠端が前記第2の光ファイバの前記遠端に接続されてなる被測定光ファイバにおける前記第1の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定部(11)と、
前記測定部が測定した測定波形から光損失地点を検出する検出部(21)と、
前記検出した光損失地点のなかから前記第2の光ファイバの前記遠端及び前記近端を特定し、前記第2の光ファイバの前記遠端から前記近端までの光損失地点の配列を、前記第2の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点の配列に反転させる反転部(22)と、
を備える。
【0008】
本開示の光パルス試験装置では、前記第1の光ファイバ(31)の前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンと、前記反転部によって反転された前記第2の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンと、を表示する表示部(13)をさらに備えてもよい。
【0009】
具体的には、本開示の光パルス試験方法は、
測定部(11)が、第1の光ファイバ(31)と第2の光ファイバ(32)とが共に近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記第1の光ファイバの前記遠端が前記第2の光ファイバの前記遠端に接続されてなる被測定光ファイバにおける前記第1の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定手順と、
検出部(21)が、前記測定部が測定した測定波形から光損失地点を検出する検出手順と、
反転部(22)が、前記検出した光損失地点のなかから前記第2の光ファイバの前記遠端及び前記近端を特定し、前記第2の光ファイバの前記遠端から前記近端までの光損失地点の配列を、前記第2の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点の配列に反転させる反転手順と、
を実行する。
【0010】
本開示の光パルス試験方法では、表示部(13)が、前記第1の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンと、前記反転部によって反転された前記第2の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンと、を表示する表示手順をさらに有していてもよい。
【発明の効果】
【0011】
本開示によれば、多心の光ファイバケーブルに備わる各光ファイバを接続して1本の光ファイバとして光パルス試験を行った場合であっても、光パルス試験装置からの距離と各光ファイバの測定波形との対応関係を分かりやすくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【0012】
図1】本開示に係る光ファイバ試験方法の適用例を示す。
図2】光ファイバケーブルの第1例を示す。
図3】実施形態1に係る光パルス試験装置の構成例である。
図4】測定波形の第1例である。
図5】光損失地点の第1の検出例である。
図6】光損失地点の配置の調整における光ファイバの分離例である。
図7】光損失地点の配置の調整における光ファイバの反転例である。
図8】表示部への第1の表示例である。
図9】測定波形の第2例である。
図10】光損失地点の第2の検出例である。
図11】表示部への第2の表示例である。
図12】光ファイバケーブルの第2例を示す。
【発明を実施するための形態】
【0013】
以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本開示は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。これらの実施の例は例示に過ぎず、本開示は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【0014】
本開示は、複数の光ファイバを備える光ファイバケーブルを効率的に測定するためになされたものである。本実施形態では、光ファイバケーブルに備わる光ファイバが2本の場合で説明する。光パルス試験装置は、OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)波形を測定することで光ファイバケーブルの特性を測定する装置である。OTDR波形は、光ファイバの入射端から光パルスを入射し、光ファイバ中で散乱する後方散乱光の光強度を入射端で測定することで得られる。
【0015】
図1は、本開示に係る光ファイバ試験方法の適用例を示す。鉄塔42の上にアンテナ41があり、アンテナ41まで多心の光ファイバケーブルである光ファイバケーブル3が敷設されている。この場合、複数のうちの2本を送信と受信で用いるケースが多い。本開示の光ファイバ試験方法は、端部36にて2本の光ファイバをパッチコードで接続した光ファイバケーブル3を被測定光ファイバとし、光ファイバケーブル3に備わる1本の光ファイバの端部35に光パルス試験装置10を接続して、光ファイバケーブル3の光パルス試験を行う。
【0016】
図2に、光ファイバケーブル3の一例を示す。2本の光ファイバ31及び32のうち光ファイバ31の端部35に光パルス試験装置10を接続し、光ファイバ31の端部36と光ファイバ32の端部36を光ファイバパッチコード5で接続する。この状態で光パルス試験を実施することで、光ファイバケーブル3に備わる全ての光ファイバの光パルス試験を連続的に一度に測定することが出来る。
【0017】
以下の本実施形態において、端部35を近端と呼び、端部36を遠端と呼び、光ファイバ31及び32が2か所の接続点C及びCで接続されている場合を示す。また、光ファイバパッチコード5の長さは任意であるが、例えば10m程度のコードを用いることができる。
【0018】
図3は、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。光パルス試験装置10は、測定部11と、信号処理部12と、表示部13と、を備える。信号処理部12は、検出部21と、反転部22と、を備える。
【0019】
本実施形態に係る光パルス試験方法は、光パルス試験装置10が、測定手順と、検出手順と、反転手順と、表示手順と、を順に実行する。測定手順では、測定部11が光ファイバケーブル3のOTDR波形を測定する。
【0020】
図4に、測定手順で得られるOTDR波形の一例を示す。距離P1〜P4が光ファイバ31の測定結果を、距離P5〜P8が光ファイバ32の測定結果を示す。OTDR波形では、光ファイバ32の近端での反射が距離P8に位置し、光ファイバ31の遠端での反射が距離P4に位置する。
【0021】
検出手順では、検出部21が、測定部11の測定したOTDR波形から光損失地点であるイベント発生地点を検出する。図5に、変換前の全体配列として、検出した各イベントをアイコンで示した一例を示す。右に向うほど遠方となる表示となっており、No.1と8のアイコンが光ファイバの“端”を表わし、No.2〜7のアイコンがコネクタ接続点などの“フレネル反射”を表わしている。光ファイバ32の近端での反射がNo.8に位置し、光ファイバ31の遠端での反射がNo.4に位置する。このため、光ファイバ32の近端が光ファイバ31の遠端よりも遠方に存在するように、表示部13に表示されることになる。
【0022】
反転手順では、反転部22が、光パルス試験装置10からの現実の距離に一致するよう、各光ファイバ31及び32の光損失地点の配置を調整する。例えば、検出したNo.1〜No.8の光損失地点のなかから光ファイバ32の遠端に位置するNo.5及び近端に位置するNo.8を特定し、図6に示すように、これらを分離する。そして、図7に示すように、No.5からNo.8までのイベントの配列を、No.8からNo.5の配列に反転させる。これにより、光ファイバ32のイベント発生地点のアイコンの配列を、光ファイバ32の現実の位置と一致させることができる。
【0023】
ここで、光ファイバ32の近端及び遠端は、光ファイバ31及び32の長さを用いて特定してもよいし、光ファイバパッチコード5の長さを用いて特定してもよい。被測定光ファイバの長さを取得することで、光ファイバパッチコード5の接続位置を特定することができる。また、光ファイバパッチコード5の長さを取得することで、OTDR波形の距離軸上での光ファイバパッチコード5の位置を特定することができる。
【0024】
表示手順では、図8に示すように、表示部13は、光ファイバ31のイベント発生地点を示すNo.1からNo.4のアイコンと、光ファイバ32のイベント発生地点を示すNo.8からNo.5のアイコンと、を変換後の分離配列として表示する。表示部13には、光ファイバ31と光ファイバ32をそれぞれ一回ずつ測定したかのように半分の位置(光ファイバパッチコード5の位置)で分割したイベント発生地点が測定結果として表示されている。No.8からNo.5のアイコンの配列は現実の距離に一致する。このため、光パルス試験装置10は、測定時間を半減し、測定結果は所望のものを得ることが可能である。ここで、光ファイバ31が送信用であり、光ファイバ32が受信用である場合、表示部13は、No.1からNo.4のアイコンは送信側(Tx)であり、No.8からNo.5のアイコンは受信側(Rx)である旨を表示することが好ましい。
【0025】
また、図8において、No.4と5のアイコンを光ファイバの“端”を表わすアイコンに変えて表示させるようにしてもよい。これにより、操作者は各光ファイバの区切りであることがよりイメージしやすくなる。さらには、図5に示す変換前の全体配列と図8に示す変換後の分離配列とを一緒に表示させるようにしてもよい。
【0026】
なお、図4では、光ファイバパッチコード5の両端の距離P4及びP5が識別可能な程度に光ファイバパッチコード5が長い例を示したが、本開示はこれに限定されない。例えば、図9に示すように、光ファイバパッチコード5が短いために距離P5における反射が距離P4における反射に埋没して識別できない場合でも適用できる。この場合、検出部21の検出するイベントは図10のようになり、表示部13の表示は図11に示すようなものとなる。光ファイバパッチコード5を示すNo.4のイベントは表示部13に表示しなくてもよい。
【0027】
また、No.1〜No.8のイベント発生地点の間に、各光ファイバ31−1、31−2、31−3、32−1、32−2、32−3での損失を表示してもよい。
【0028】
また、光ファイバケーブル3を構成する光ファイバの数は任意である。例えば、図12に示すように、4本の光ファイバ31、32、33、34を備える場合、光ファイバ31及び32の遠端を光ファイバパッチコード5−1で接続し、光ファイバ32及び33の近端を光ファイバパッチコード5−2で接続し、光ファイバ33及び34の遠端を光ファイバパッチコード5−3で接続すればよい。この場合、反転手順では、反転部22が、光パルス試験装置10から奇数番目に接続されている光ファイバ31及び33のアイコン配列は反転させず、偶数番目に接続されている光ファイバ32及び34のアイコン配列を反転させる。
【0029】
上述の実施形態において説明したように、本開示に係る光パルス試験装置10及び光パルス試験方法は、多心の光フィバケーブル3を構成する各光ファイバ31及び32を接続して1本の光ファイバとして光パルス試験を行った場合であっても、光パルス試験装置10からの距離と各光ファイバのOTDR波形との対応関係が一致するよう表示可能にすることができる。
【0030】
なお、3本以上の場合でも、それぞれの光ファイバの端部35及び36を光ファイバパッチコード5で接続することで、一本のファイバとし、測定を一回で実施し、形態情報を光パルス試験装置10に入力することで測定結果をそれぞれの光ファイバケーブル3の結果と分割し、保存、レポートすることで効率の良い工事を実施することが可能となる。
【0031】
また、以上の実施形態では、光ファイバ31及び32を含んでなる1の多心の光ファイバケーブル3を敷設するとして説明してきたが、これに限定されるものではなく、本開示は各個独立した光ファイバ2本を並べて敷設した場合であっても、適用可能であることは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【0032】
本開示は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【0033】
10:光パルス試験装置
11:測定部
12:信号処理部
13:表示部
21:検出部
22:反転部
3:光ファイバケーブル
31−1、31−2、31−3、32−1、32−2、32−3、33、34:光ファイバ
35、36:端部
41:アンテナ
42:鉄塔
5、5−1、5−2、5−3:光ファイバパッチコード
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11
図12