特許 6761519 眼科撮影装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6761519

(24)【登録日】2020年9月8日

(45)【発行日】2020年9月23日

(54)【発明の名称】眼科撮影装置

(51)【国際特許分類】

   A61B 3/10 20060101AFI20200910BHJP

【ＦＩ】

   A61B3/10 100

【請求項の数】4

【全頁数】20

(21)【出願番号】特願2019-135448(P2019-135448)

(22)【出願日】2019年7月23日

(62)【分割の表示】特願2015-212804(P2015-212804)の分割

【原出願日】2015年10月29日

(65)【公開番号】特開2019-171220(P2019-171220A)

(43)【公開日】2019年10月10日

【審査請求日】2019年7月24日

(73)【特許権者】

【識別番号】000220343

【氏名又は名称】株式会社トプコン

(74)【代理人】

【識別番号】100124626

【弁理士】

【氏名又は名称】榎並 智和

(72)【発明者】

【氏名】森口 祥聖

【審査官】 冨永 昌彦

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０１２−０１６６２０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特表２０１３−５２５０３５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２０１１／０２６７３４０（ＵＳ，Ａ１）

【文献】 特開２０１２−１１５５７８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１２−１８７２２９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２０１２／０２２９７６１（ＵＳ，Ａ１）

【文献】 特開２０１４−１４４１７８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許第０８６９０３２８（ＵＳ，Ｂ１）

【文献】 特開２０１２−２３６００６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２０１２／０２７４９０４（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ａ６１Ｂ ３／００ − ３／１８

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

対物レンズと、
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記対物レンズを介して被検眼に入射させ、前記被検眼から出射し前記対物レンズを通過した前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記測定光を偏向する光スキャナと、
前記被検眼の眼底に固視標を投影する固視標投影系と、
第１座標系において前記光スキャナを制御することにより前記測定光のスキャン位置を制御すると共に、第２座標系において前記固視標投影系を制御することにより前記固視標の位置を制御する制御部と、
を含み、
前記制御部は、前記対物レンズの光軸に対する前記第１座標系の相対位置及び前記光軸に対する前記第２座標系の相対位置の少なくとも一方を変更する、眼科撮影装置。

【請求項2】

前記制御部は、第３座標系における所定の位置が基準となるように前記スキャン位置を制御することにより前記光軸に対する前記第１座標系の相対位置を変更する
ことを特徴とする請求項１に記載の眼科撮影装置。

【請求項3】

前記制御部は、第３座標系における所定の位置が基準となるように前記固視標の位置を制御することにより前記光軸に対する前記第２座標系の相対位置を変更する
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科撮影装置。

【請求項4】

前記制御部は、前記光スキャナによる前記測定光の偏向方向におけるアーチファクトのサイズに基づいて、前記光軸に対する前記第１座標系の相対位置及び前記光軸に対する前記第２座標系の相対位置の少なくとも一方を変更する
ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

この発明は、眼科撮影装置に関する。

【背景技術】

【0002】

光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉａｃｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下、ＯＣＴ）は、被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像の形成に利用される。ＯＣＴを用いて取得されたＯＣＴ画像には、被測定物体以外の物体からの反射やコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトが現れることがある。これらアーチファクトは、注目部位に重なって現れたり、セグメンテーション処理等の画像処理の結果に影響を及ぼしたりする場合がある。

【0003】

例えば、ＯＣＴ画像を取得するための干渉光学系を構成する光学部材に対して減反射コーティングを施すことにより、被測定物体以外の物体からの反射に起因したアーチファクトを除去する場合がある。また、コヒーレンスリバイバル現象の発生が抑制されるように光源からの光に対して位相変調を行うことで、アーチファクトを除去する手法が知られている（特許文献１）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】米国特許出願公開第２０１４／００２９０１５号明細書

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、光学部材に対して減反射コーティングを施した場合でも、反射を完全に抑制することは困難である。また、特許文献１に開示された手法では、光学系を構成する光学部材の種類やその配置等の光学的条件に応じた設計が必要になり、光学系や制御系の設計が複雑化する。

【0006】

一般に、コヒーレンス長が長くなるほど被測定物体以外の物体からの反射に起因したアーチファクトがＯＣＴ画像に現れやすくなる。また、コヒーレンスリバイバル間隔が短くなるほどコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトがＯＣＴ画像に現れやすくなる。従って、コヒーレンス長が長い光源やコヒーレンスリバイバル間隔が短い光源を用いる場合にはＯＣＴ画像の画質の劣化を招きやすくなり、前述のアーチファクトを除去するための新たな技術が求められる。

【0007】

本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、干渉光学系を用いて取得された画像に現れるアーチファクトを除去するための新たな技術を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0008】

実施形態の眼科撮影装置は、対物レンズと、干渉光学系と、光スキャナと、固視標投影系と、制御部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を対物レンズを介して被検眼に入射させ、被検眼から出射し対物レンズを通過した測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。光スキャナは、測定光を偏向する。固視標投影系は、被検眼の眼底に固視標を投影する。制御部は、第１座標系において光スキャナを制御することにより測定光のスキャン位置を制御すると共に、第２座標系において固視標投影系を制御することにより固視標の位置を制御する。制御部は、対物レンズの光軸に対する第１座標系の相対位置及び光軸に対する前記第２座標系の相対位置の少なくとも一方を変更する。

【発明の効果】

【0009】

この発明によれば、干渉光学系を用いて取得された画像に現れるアーチファクトを除去するための新たな技術を提供することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略図である。

【図2】実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略図である。

【図3】実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略図である。

【図4A】実施形態の比較例に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。

【図4B】実施形態の比較例に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。

【図5】実施形態に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。

【図6】実施形態に係る眼科撮影装置の動作例のフローを表すフロー図である。

【図7】実施形態に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。

【図8】実施形態の変形例に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。

【図9】実施形態の変形例に係る眼科撮影装置を説明するための概略図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

この発明の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。この発明に係る眼科撮影装置は、光干渉断層計の機能を有し、被検眼に対してＯＣＴを実行する。このＯＣＴは、例えば眼底や前眼部など、被検眼の任意の部位に対して実行される。

【0012】

この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ノイズをアーチファクトと同一視して表記する場合がある。また、この明細書において引用された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として援用することが可能である。

【0013】

以下の実施形態では、フーリエドメインタイプのＯＣＴを実行可能な眼科撮影装置について説明する。特に、実施形態に係る眼科撮影装置は、スウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を適用可能である。なお、スウェプトソースタイプ以外のタイプ、例えばスペクトラルドメインタイプのＯＣＴを実行可能な眼科撮影装置に対して、この発明に係る構成を適用することも可能である。また、以下の実施形態ではＯＣＴ装置と眼底カメラとを組み合わせた装置について説明する。しかしながら、眼底カメラ以外のモダリティ、例えばＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）、スリットランプ、眼科手術用顕微鏡、光凝固装置などに、実施形態に係る構成を有するＯＣＴ装置を組み合わせることも可能である。また、実施形態に係る構成を、単体のＯＣＴ装置に組み込むことも可能である。

【0014】

［構成］
図１に示すように、眼科撮影装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、ＯＣＴを実行するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。

【0015】

〔眼底カメラユニット〕
図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を取得するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、例えば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、例えば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像、または近赤外光若しくは可視光を照明光として用いたモノクロの静止画像であってもよい。眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、例えばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。

【0016】

眼底カメラユニット２には、被検者の顔を支持するための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、照明光学系１０と撮影光学系３０が設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ（単にＣＣＤと呼ぶことがある）３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの測定光を被検眼Ｅに導くとともに、被検眼Ｅを経由した測定光をＯＣＴユニット１００に導く。

【0017】

照明光学系１０の観察光源１１は、例えばハロゲンランプまたはＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）により構成される。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆを照明する。

【0018】

観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ２２により屈折され、ダイクロイックミラー４６を透過し、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ミラー３２により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー３３Ａを透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、例えば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された眼底反射光に基づく画像（観察画像）が表示される。なお、撮影光学系３０のピントが前眼部に合わせられている場合、被検眼Ｅの前眼部の観察画像が表示される。

【0019】

撮影光源１５は、例えばキセノンランプまたはＬＥＤにより構成される。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された眼底反射光に基づく画像（撮影画像）が表示される。なお、観察画像を表示する表示装置３と撮影画像を表示する表示装置３は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。また、被検眼Ｅを赤外光で照明して同様の撮影を行う場合には、赤外の撮影画像が表示される。また、撮影光源としてＬＥＤを用いることも可能である。

【0020】

ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用指標を表示する。固視標は被検眼Ｅを固視させるための指標であり、眼底撮影時やＯＣＴ計測時などに使用される。

【0021】

ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー３３Ａにて反射され、ミラー３２に反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過し、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。

【0022】

更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系５０とフォーカス光学系６０が設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための指標（アライメント指標）を生成する。フォーカス光学系６０は、被検眼Ｅに対してフォーカス（ピント）を合わせるための指標（スプリット指標）を生成する。

【0023】

アライメント光学系５０のＬＥＤ５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過し、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜に投影される。

【0024】

アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２、ダイクロイックミラー４６及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ミラー３２により反射され、ハーフミラー３３Ａを透過し、ダイクロイックミラー３３に反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント指標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい（オートアライメント機能）。

【0025】

フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット指標板６３により２つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５に反射され、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

【0026】

フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット指標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う（オートフォーカス機能）。また、スプリット指標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。

【0027】

ダイクロイックミラー４６は、眼底撮影用の光路からＯＣＴ用の光路を分岐させている。ダイクロイックミラー４６は、ＯＣＴに用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。このＯＣＴ用の光路には、ＯＣＴユニット１００側から順に、コリメータレンズユニット４０と、光路長変更部４１と、光スキャナ４２と、合焦レンズ４３と、ミラー４４と、リレーレンズ４５とが設けられている。

【0028】

光路長変更部４１は、図１に示す矢印の方向に移動可能とされ、ＯＣＴ用の光路の光路長を変更する。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部４１は、例えばコーナーキューブと、これを移動する機構とを含んで構成される。

【0029】

光スキャナ４２は、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置に配置されている。光スキャナ４２は、ＯＣＴ用の光路を通過する光（測定光ＬＳ）の進行方向を変更する。それにより、被検眼Ｅを測定光ＬＳでスキャンすることができる。光スキャナ４２は、例えば、測定光ＬＳをｘ方向にスキャンするガルバノミラーと、ｙ方向にスキャンするガルバノミラーと、これらを独立に駆動する機構とを含んで構成される。それにより、測定光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向にスキャンすることができる。

【0030】

〔ＯＣＴユニット〕
ＯＣＴユニット１００の構成の一例を図２に示す。ＯＣＴユニット１００には、被検眼ＥのＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、波長掃引型（波長走査型）光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系による干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット２００に送られる。

【0031】

光源ユニット１０１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引型（波長走査型）光源を含んで構成される。波長掃引型光源は、共振器を含むレーザ光源を含んで構成される。光源ユニット１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。

【0032】

光源ユニット１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバ１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏光状態が調整される。偏波コントローラ１０３は、例えばループ状にされた光ファイバ１０２に対して外部から応力を与えることで、光ファイバ１０２内を導かれる光Ｌ０の偏光状態を調整する。

【0033】

偏波コントローラ１０３により偏光状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバ１０４によりファイバカプラ１０５に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

【0034】

参照光ＬＲは、光ファイバ１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束となる。平行光束となった参照光ＬＲは、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、コーナーキューブ１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲの光路長（光学距離）と測定光ＬＳの光路長とを合わせるための遅延手段として作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳとの間の分散特性を合わせるための分散補償手段として作用する。

【0035】

コーナーキューブ１１４は、コリメータ１１１により平行光束となった参照光ＬＲの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ１１４に入射する参照光ＬＲの光路と、コーナーキューブ１１４から出射する参照光ＬＲの光路とは平行である。また、コーナーキューブ１１４は、参照光ＬＲの入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により参照光ＬＲの光路の長さが変更される。

【0036】

なお、図１及び図２に示す構成においては、測定光ＬＳの光路（測定光路、測定アーム）の長さを変更するための光路長変更部４１と、参照光ＬＲの光路（参照光路、参照アーム）の長さを変更するためのコーナーキューブ１１４の双方が設けられているが、これらのうちのいずれか一方が設けられていてもよい。また、これら以外の光学部材を用いて、測定光路長と参照光路長との差を変更することも可能である。

【0037】

コーナーキューブ１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバ１１７に入射し、偏波コントローラ１１８に導かれて参照光ＬＲの偏光状態が調整される。

【0038】

偏波コントローラ１１８は、例えば、偏波コントローラ１０３と同様の構成を有する。偏波コントローラ１１８により偏光状態が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ１１９によりアッテネータ１２０に導かれて、演算制御ユニット２００の制御の下で光量が調整される。アッテネータ１２０により光量が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ１２１によりファイバカプラ１２２に導かれる。

【0039】

一方、ファイバカプラ１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバ１２７により導かれ、コリメータレンズユニット４０により平行光束とされる。平行光束にされた測定光ＬＳは、光路長変更部４１、光スキャナ４２、合焦レンズ４３、ミラー４４、及びリレーレンズ４５を経由してダイクロイックミラー４６に到達する。そして、測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー４６により反射され、対物レンズ２２により屈折されて被検眼Ｅに照射される。測定光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。このような後方散乱光を含む測定光ＬＳの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０５に導かれ、光ファイバ１２８を経由してファイバカプラ１２２に到達する。

【0040】

ファイバカプラ１２２は、光ファイバ１２８を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバ１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバカプラ１２２から出射した一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバ１２３、１２４により検出器１２５に導かれる。

【0041】

検出器１２５は、例えば一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ）である。検出器１２５は、その検出結果（検出信号）をＤＡＱ（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）１３０に送る。ＤＡＱ１３０には、光源ユニット１０１からクロックＫＣが供給される。クロックＫＣは、光源ユニット１０１において、波長掃引型光源により所定の波長範囲内で掃引（走査）される各波長の出力タイミングに同期して生成される。光源ユニット１０１は、例えば、各出力波長の光Ｌ０を分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。ＤＡＱ１３０は、クロックＫＣに基づき、検出器１２５の検出結果をサンプリングする。ＤＡＱ１３０は、サンプリングされた検出器１２５の検出結果を演算制御ユニット２００に送る。演算制御ユニット２００は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、検出器１２５により得られた検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、演算制御ユニット２００は、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成する。

【0042】

〔演算制御ユニット〕
演算制御ユニット２００の構成について説明する。演算制御ユニット２００は、検出器１２５から入力される検出信号を解析して被検眼ＥのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様である。

【0043】

また、演算制御ユニット２００は、眼底カメラユニット２、表示装置３及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。例えば演算制御ユニット２００は、被検眼ＥのＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。

【0044】

演算制御ユニット２００は、例えば、プロセッサ、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含む。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。プロセッサは、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路により実現される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科撮影装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

【0045】

〔制御系〕
眼科撮影装置１の制御系の構成について図３を参照しつつ説明する。なお、図３においては、眼科撮影装置１のいくつかの構成要素が省略されており、この実施形態を説明するために特に必要な構成要素が選択的に示されている。

【0046】

（制御部）
眼科撮影装置１の制御系は、制御部２１０を中心に構成される。制御部２１０は、例えば、前述のプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。制御部２１０には、主制御部２１１と記憶部２１２が設けられている。

【0047】

（主制御部）
主制御部２１１は前述の各種制御を行う。特に、図３に示すように、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２の撮影合焦駆動部３１Ａ、ＣＣＤイメージセンサ３５及び３８、ＬＣＤ３９、光路長変更部４１、光スキャナ４２及びＯＣＴ合焦駆動部４３Ａなどを制御する。また、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００の光源ユニット１０１、参照駆動部１１４Ａ、検出器１２５及びＤＡＱ１３０などを制御する。

【0048】

撮影合焦駆動部３１Ａは、合焦レンズ３１を光軸方向に移動させる。それにより、撮影光学系３０の合焦位置が変更される。なお、主制御部２１１は、図示しない光学系駆動部を制御して、眼底カメラユニット２に設けられた光学系を３次元的に移動させることができる。この制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとピント合わせが実行される。トラッキングは、被検眼Ｅを動画撮影して得られる画像に基づき被検眼Ｅの位置や向きに合わせて装置光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。

【0049】

ＯＣＴ合焦駆動部４３Ａは、測定光路の光軸に沿って合焦レンズ４３を移動させる。それにより、測定光ＬＳの合焦位置が変更される。測定光ＬＳの合焦位置は、測定光ＬＳのビームウェストの深さ位置（ｚ位置）に相当する。

【0050】

参照駆動部１１４Ａは、参照光路に設けられたコーナーキューブ１１４を移動させる。それにより、参照光路の長さが変更される。なお、前述したように、光路長変更部４１と、コーナーキューブ１１４及び参照駆動部１１４Ａとのいずれか一方のみが設けられた構成であってもよい。

【0051】

主制御部２１１は、固視標座標系における所望の位置を指定してＬＣＤ３９を制御することにより、ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更する。固視標座標系は、ＬＣＤ３９の画面に対して定義された座標系に関連付けられた２次元の直交座標系（ｘｙ座標系）である。主制御部２１１は、対物レンズ２２の光軸に対する固視標座標系の相対位置を変更することが可能である。

【0052】

例えば、主制御部２１１は、所定の制御座標系（装置座標系）における所望の位置が固視標座標系の原点となるようにＬＣＤ３９における固視標の表示位置を制御することにより、対物レンズ２２の光軸に対する固視標座標系の相対位置を変更する。この場合、記憶部２１２には、固視標座標系の原点を制御座標系における初期位置（Ｘ０，Ｙ０）に設定するための基準位置情報２１２Ａがあらかじめ記憶されている。例えば、初期位置（Ｘ０，Ｙ０）は、対物レンズ２２の光軸上の位置である。また、記憶部２１２には、出荷工程やメンテナンス工程で行われた固視標座標系の原点位置の調整により得られた両軸方向のオフセット量（Δｘ０，Δｙ０）を含む調整情報２１２Ｂが事後的に保存される。主制御部２１１は、記憶部２１２から基準位置情報２１２Ａ及び調整情報２１２Ｂを読み出し、当該制御座標系における新たな位置（Ｘ０＋Δｘ０，Ｙ０＋Δｙ０）が固視標座標系の原点となるようにＬＣＤ３９における固視標の表示位置を制御する。すなわち、主制御部２１１は、対物レンズ２２の光軸から外れた位置を制御中心とする固視標座標系に変更してＬＣＤ３９を制御することが可能である。

【0053】

また、主制御部２１１は、スキャナ座標系における所望の位置を指定して光スキャナ４２を制御することにより、測定光ＬＳのスキャン位置やスキャン範囲を変更する。スキャナ座標系は、被検眼Ｅの測定部位に対して定義された座標系に関連付けられた２次元の直交座標系（ｘｙ座標系）である。主制御部２１１は、対物レンズ２２の光軸に対するスキャナ座標系の相対位置を変更することが可能である。

【0054】

例えば、主制御部２１１は、所定の制御座標系における所望の位置がスキャナ座標系の原点となるように被検眼Ｅに対するスキャン位置を制御することにより、対物レンズ２２の光軸に対するスキャナ座標系の相対位置を変更する。この場合、記憶部２１２には、スキャナ座標系の原点を制御座標系における初期位置（Ｘ１，Ｙ１）に設定するための基準位置情報２１２Ａがあらかじめ記憶されている。例えば、初期位置（Ｘ１，Ｙ１）は、対物レンズ２２の光軸上の位置である（Ｘ０＝Ｘ１、かつ、Ｙ０＝Ｙ１）。また、記憶部２１２には、出荷工程やメンテナンス工程で行われたスキャナ座標系の原点位置の調整により得られた両軸方向のオフセット量（Δｘ１，Δｙ１）を含む調整情報２１２Ｂが事後的に保存される。主制御部２１１は、記憶部２１２から基準位置情報２１２Ａ及び調整情報２１２Ｂを読み出し、当該制御座標系における新たな位置（Ｘ１＋Δｘ１，Ｙ１＋Δｙ１）がスキャナ座標系の原点となるように被検眼Ｅに対するスキャン位置を制御する。すなわち、主制御部２１１は、対物レンズ２２の光軸から外れた位置を制御中心として測定光ＬＳを偏向するように光スキャナ４２を制御することが可能である。

【0055】

主制御部２１１は、前述のスキャナ座標系の相対位置の変更に連動して、対物レンズ２２の光軸に対する固視標座標系の相対位置を変更することが可能である。例えば、調整情報２１２Ｂに含まれるオフセット量を同一（Δｘ０＝Δｘ１、かつ、Δｙ０、Δｙ１）にして、主制御部２１１は、対物レンズ２２の光軸に対する両座標系の相対位置を変更する。すなわち、主制御部２１１は、対物レンズ２２の光軸Ｏからの光スキャナ４２の制御中心の変位に応じて固視標座標系の位置を変更することが可能である。また、例えば、基準位置情報２１２Ａに含まれる両座標系の初期位置を同一（Ｘ０＝Ｘ１、かつ、Ｙ０＝Ｙ１）にして、かつ、調整情報２１２Ｂに含まれるオフセット量を同一（Δｘ０＝Δｘ１、かつ、Δｙ０、Δｙ１）にしてよい。それにより、主制御部２１１は、固視標座標系の原点とスキャナ座標系の原点とが一致した状態で、対物レンズ２２の光軸に対する両座標系の相対位置を変更することが可能である。

【0056】

或いは、主制御部２１１は、前述のスキャナ座標系の相対位置の変更とは独立に、対物レンズ２２の光軸に対する固視標座標系の相対位置を変更してもよい。

【0057】

（記憶部）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、前述の基準位置情報２１２Ａ及び調整情報２１２Ｂの他に、例えば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部２１２には、眼科撮影装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

【0058】

（画像形成部）
画像形成部２２０は、検出器１２５（ＤＡＱ１３０）からの検出信号に基づいて、眼底Ｅｆの断面像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部２２０は、干渉光学系による干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼Ｅの画像データを形成する。この処理には、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴと同様に、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のＡライン（被検眼Ｅ内における各測定光ＬＳの経路）における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。

【0059】

画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセットを重ね合わせる（加算平均する）ことができる。

【0060】

画像形成部２２０は、例えば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。また、被検眼Ｅの部位とその画像とを同一視することもある。

【0061】

（データ処理部）
データ処理部２３０は、画像形成部２２０により形成されたＯＣＴ画像に対して各種のデータ処理（画像処理）や解析処理を施す。例えば、データ処理部２３０は、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部２３０は、眼底カメラユニット２により得られた画像（眼底像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。

【0062】

データ処理部２３０は、断面像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行することにより、被検眼Ｅのボリュームデータ（ボクセルデータ）を形成することができる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像を形成する。

【0063】

データ処理部２３０は、眼底像とＯＣＴ画像との位置合わせを行うことができる。眼底像とＯＣＴ画像とが並行して取得される場合には、双方の光学系が同軸であることから、（ほぼ）同時に取得された眼底像とＯＣＴ画像とを、撮影光学系３０の光軸を基準として位置合わせすることができる。また、眼底像とＯＣＴ画像との取得タイミングに関わらず、ＯＣＴ画像のうち眼底Ｅｆの相当する画像領域の少なくとも一部をｘｙ平面に投影して得られる正面画像と、眼底像との位置合わせをすることにより、そのＯＣＴ画像とその眼底像とを位置合わせすることも可能である。この位置合わせ手法は、眼底像取得用の光学系とＯＣＴ用の光学系とが同軸でない場合においても適用可能である。また、双方の光学系が同軸でない場合であっても、双方の光学系の相対的な位置関係が既知であれば、この相対位置関係を参照して同軸の場合と同様の位置合わせを実行することが可能である。

【0064】

以上のように機能するデータ処理部２３０は、例えば、プロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。

【0065】

（ユーザインターフェイス）
ユーザインターフェイス２４０には、表示部２４１と操作部２４２とが含まれる。表示部２４１は、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスや表示装置３を含んで構成される。操作部２４２は、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。操作部２４２には、眼科撮影装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。また、表示部２４１は、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

【0066】

なお、表示部２４１と操作部２４２は、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部２４２は、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部２４２に対する操作内容は、電気信号として制御部２１０に入力される。また、表示部２４１に表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部２４２とを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。

【0067】

ＯＣＴユニット１００、コリメータレンズユニット４０、光路長変更部４１、光スキャナ４２、合焦レンズ４３、ミラー４４、及びリレーレンズ４５は、この実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。ＬＣＤ３９、ハーフミラー３３Ａ、ミラー３２、合焦レンズ３１、ダイクロイックミラー５５、孔開きミラー２１、及びダイクロイックミラー４６は、この実施形態に係る「固視標投影系」の一例である。ＬＣＤ３９は、この実施形態に係る「発光位置を変更可能な発光部」の一例である。基準位置情報２１２Ａは、この実施形態に係る「発光位置情報」の一例である。

【0068】

［動作例］
眼科撮影装置１の動作について説明する。

【0069】

図４Ａ及び図４Ｂに、実施形態の比較例の説明図を示す。図４Ａは、比較例における固視標座標系及びスキャナ座標系の説明図を表す。図４Ｂは、比較例における眼科撮影装置により得られたＯＣＴ画像を模式的に表す。

【0070】

図４Ａに示すように、スキャナ座標系ＳＣの原点が対物レンズ２２の光軸Ｏに一致するように設けられている。このような位置調整は、設計段階や、出荷工程やメンテナンス工程で行われる。それにより、比較例に係る眼科撮影装置では、被検眼Ｅの注目部位が光軸Ｏの位置に配置されるようにアライメントが行われ、光軸Ｏを含むスキャンによる撮影頻度が高くなる。

【0071】

ところが、光軸Ｏを含むスキャンにより取得されたＯＣＴ画像ＩＭＧ１では、図４Ｂに示すように、対物レンズ２２のレンズ面の頂点からの反射光がアーチファクトＮ１として現れる場合がある。例えば、図４Ｂに示すように中心窩ＣＦを注目部位とする断層画像を観察する目的で撮影したにもかかわらず、注目部位付近にアーチファクトＮ１が現れてしまい、画像中の注目部位付近の観察が難しくなる。この現象は、コヒーレンス長が長くなるほど、眼科撮影装置が有する光学系からの反射に起因したアーチファクトがＯＣＴ画像に現れやすくなる。

【0072】

そこで、実施形態では、対物レンズ２２の光軸Ｏから外れた位置を光スキャナ４２の制御中心としてＯＣＴが実行される。

【0073】

図５に、実施形態における固視標座標系及びスキャナ座標系の説明図を表す。図５において、図４Ａと同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

【0074】

図５に示すように、実施形態では、対物レンズ２２の光軸Ｏから外れた位置がスキャナ座標系ＳＣの原点となるように光スキャナ４２が制御される。それにより、注目部位付近にアーチファクトが現れないＯＣＴ画像を取得することが可能になる。特に、撮影頻度が高いＯＣＴ画像（光軸Ｏを含むスキャンにより取得されたＯＣＴ画像）において、注目部位付近の詳細な観察が可能になる。

【0075】

また、実施形態では、スキャナ座標系ＳＣの原点が固視標座標系ＦＣの原点となるようにＬＣＤ３９が制御される。それにより、ＬＣＤ３９により固視標の表示位置を変更して被検眼Ｅの固視位置を誘導することで、頻度が高い中心窩を含むスキャンによるアーチファクトフリーの画像の取得が可能になる。

【0076】

この実施形態では、主制御部２１１が、前述の基準位置情報２１２Ａ及び調整情報２１２Ｂを用いることにより、制御座標系における任意の位置を制御中心として、ＬＣＤ３９又は光スキャナ４２を制御する。それにより、対物レンズ２２の反射光に起因したアーチファクトだけではなく、光学系の状態に応じて発生するコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトの除去も可能になる。なお、スキャナ座標系ＳＣの原点及び固視標座標系ＦＣの原点は、設計段階で、対物レンズ２２の光軸Ｏから外れた位置に設けられるように調整されてもよい。

【0077】

以下では、基準位置情報２１２Ａに含まれる両座標系の初期位置及びオフセット量が同一であるものとする。すなわち、主制御部２１１は、固視標座標系の原点とスキャナ座標系の原点とが一致した状態で、対物レンズ２２の光軸Ｏに対して、同一方向に同一オフセット量だけ固視標座標系ＦＣの原点の位置及びスキャナ座標系ＳＣの原点の位置を変更するものとする。

【0078】

図６に、眼科撮影装置１の動作例のフロー図を示す。この動作例には、画像に基づく被検眼Ｅと装置光学系との位置合わせの処理と、画像に基づくスキャン領域の設定処理とが含まれる。位置合わせの処理には、ＯＣＴ計測のためのアライメント（オートアライメント）、ピント合わせ（オートフォーカス）、トラッキング（オートトラッキング）が含まれる。

【0079】

（Ｓ１）
まず、固視標座標系の原点及びスキャナ座標系の原点が対物レンズ２２の光軸Ｏから外れた位置となるように、座標系の調整が行われる。Ｓ１では、調整情報２１２Ｂの決定と決定された調整情報２１２Ｂの記憶部２１２への保存が行われる。

【0080】

例えば、主制御部２１１は、基準位置情報２１２Ａに基づいて特定された位置がスキャナ座標系の原点となるように光スキャナ４２を制御し、所定のスキャン範囲について眼底Ｅｆをスキャンする。画像形成部２２０は、検出器１５０により得られた検出信号をサンプリングすることにより得られた収集データに基づいて、ＯＣＴ画像を形成する。形成されたＯＣＴ画像は表示部２４１に表示される。ユーザは、表示部２４１に表示されたＯＣＴ画像を観察しながら操作部２４２を用いてオフセット量（Δｘ，Δｙ）を設定することで、スキャナ座標系の原点の位置が変更される。次に、スキャナ座標系の原点の位置が変更された状態で次のＯＣＴ画像を取得し、取得されたＯＣＴ画像を表示部２４１に表示させ、これを繰り返し行う。その結果、ユーザは、適正と判断するオフセット量を決定することができる。決定されたオフセット量は、調整情報２１２Ｂとして記憶部２１２に保存される。

【0081】

或いは、例えば、データ処理部２３０が、オフセット量を所定のステップで増減しつつ、取得されたＯＣＴ画像又は干渉光に基づく干渉信号を解析することによりアーチファクトの有無を判別することで、適正と判断されるオフセット量を決定してもよい。

【0082】

Ｓ１において、オフセット量は、次のように決定されることが望ましい。

【0083】

図７は、実施形態に係るオフセット量の説明図である。図７は、被検眼Ｅのプロジェクション画像を模式的に表す。プロジェクション画像ＩＭＧ２には、アーチファクトＡＦが描出されている。アーチファクトＡＦの半径をｒとすると、オフセット量Δｘ、Δｙは、半径ｒより大きいことが望ましい（Δｘ＞ｒ、かつ、Δｙ＞ｒ）。すなわち、対物レンズ２２の光軸Ｏに対する光スキャナ４２の制御中心の変位量は、光スキャナ４２による測定光ＬＳの偏向方向におけるアーチファクトのサイズに基づいて設定される。図７では、スキャンラインＧ１において取得された断層画像中にはアーチファクトＡＦが現れるが、ｙ方向にｄ（ｄ＞ｒ）だけシフトさせたスキャンラインＧ１´において取得された断層画像中にはアーチファクトＡＦが現れなくなる。

【0084】

（Ｓ２）
次に、観察光源１１からの照明光（可視カットフィルタ１４により近赤外光となる）で眼底Ｅｆを連続照明することにより、眼底Ｅｆの近赤外動画像の取得を開始する。この近赤外動画像は、連続照明が終了するまでリアルタイムで得られる。この動画像を構成する各フレームの画像は、フレームメモリ（記憶部２１２）に一時記憶され、データ処理部２３０に逐次送られる。

【0085】

なお、被検眼Ｅには、アライメント光学系５０によるアライメント指標と、フォーカス光学系６０によるスプリット指標とが投影されている。よって、近赤外動画像にはアライメント指標とスプリット指標とが描出されている。これら指標を用いてアライメントやピント合わせを行うことができる。また、被検眼Ｅには、ＬＣＤ３９による固視標も投影されている。被検者は、この固視標を凝視するように指示を受ける。

【0086】

（Ｓ３）
データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより得られるフレームを逐次に解析して、アライメント視標の位置を求め、光学系の移動量を算出する。制御部２１０は、データ処理部２３０により算出された光学系の移動量に基づいて図示しない光学系駆動部を制御することにより、オートアライメントを行う。

【0087】

（Ｓ４）
データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより得られるフレームを逐次に解析して、スプリット視標の位置を求め、合焦レンズ３１の移動量を算出する。制御部２１０は、データ処理部２３０により算出された合焦レンズ３１の移動量に基づいて撮影合焦駆動部３１Ａを制御することにより、オートフォーカスを行う。

【0088】

（Ｓ５）
続いて、制御部２１０は、オートトラッキングを開始する。具体的には、データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより逐次に得られるフレームをリアルタイムで解析して、被検眼Ｅの動き（位置の変化）を監視する。制御部２１０は、逐次に取得される被検眼Ｅの位置に合わせて光学系を移動させるように図示しない光学系駆動部を制御する。それにより、被検眼Ｅの動きに対して光学系をリアルタイムで追従させることができ、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持することが可能となる。

【0089】

（Ｓ６）
制御部２１０は、近赤外動画像を表示部２４１にリアルタイムで表示させる。ユーザは、操作部２４２を用いることにより、この近赤外動画像上にスキャン領域を設定する。設定されるスキャン領域は１次元領域でも２次元領域でもよい。

【0090】

なお、測定光ＬＳのスキャン態様や注目部位（視神経乳頭、黄斑部、病変部等）があらかじめ設定されている場合などには、これら設定内容に基づいて制御部２１０がスキャン領域を設定するように構成することも可能である。具体的には、データ処理部２３０による画像解析により注目部位を特定し、制御部２１０が、この注目部位を含むように（例えば、この注目部位が中心に位置するように）所定パターンの領域を設定する。

【0091】

（Ｓ７）
制御部２１０は、光源ユニット１０１や光路長変更部４１を制御するとともに、Ｓ５で設定されたスキャン領域に基づいて光スキャナ４２を制御することにより、眼底ＥｆのＯＣＴ計測を行う。

【0092】

画像形成部２２０は、上記のようにクロックＫＣに基づいて、検出器１５０により得られた検出信号をサンプリングすることにより得られた収集データに基づいて、当該Ａラインの断層像（画像）を形成する。走査態様が３次元スキャンである場合、データ処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された複数の断層像に基づいて眼底Ｅｆの３次元画像を形成する。以上で、この動作例は終了となる（エンド）。

【0093】

［変形例］
（第１変形例）
前述の実施形態では、対物レンズ２２の光軸Ｏから外れた位置に固視標座標系ＦＣの原点及びスキャナ座標系ＳＣの原点を変更する場合について説明したが、実施形態に係る眼科撮影装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、対物レンズ２２の光軸Ｏから外れた位置にスキャナ座標系ＳＣの原点だけを変更してもよい。

【0094】

図８に、実施形態の第１変形例における固視標座標系及びスキャナ座標系の説明図を表す。図８において、図５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

【0095】

図８に示すように、第１変形例では、対物レンズ２２の光軸Ｏ上の位置が固視標座標系ＦＣの原点となるようにＬＣＤ３９が制御され、光軸Ｏから外れた位置がスキャナ座標系ＳＣの原点となるように光スキャナ４２が制御される。第１変形例によれば、前述の実施形態と同様に、注目部位付近にアーチファクトが現れないＯＣＴ画像を取得することが可能になる。

【0096】

（第２変形例）
図９に、実施形態の第２変形例における眼科撮影装置の構成の要部を示す。図９では、図１の被検眼Ｅと対物レンズ２２との間のみが図示されている。

【0097】

第２変形例に係る眼科撮影装置は、対物レンズ２２と被検眼Ｅとの間に配置可能な前置レンズ２３を含む。前置レンズ２３は、手動または自動で対物レンズ２２と被検眼Ｅとの間に配置可能である。対物レンズ２２と被検眼Ｅとの間に前置レンズ２３が配置された場合、座標系に対する制御に関して前述の実施形態における「対物レンズ」を「前置レンズ」に置き換えて本発明を適用することが可能である。例えば、対物レンズ２２と被検眼Ｅとの間に前置レンズ２３が配置された場合、主制御部は、前置レンズ２３の光軸から外れた位置を中心として測定光を偏向するように光スキャナ４２を制御することが可能である。同様に、主制御部は、前置レンズ２３の光軸から外れた位置が固視標座標系の原点となるようにＬＣＤ３９を制御することが可能である。

【0098】

［効果］
この実施形態に係る眼科撮影装置の効果について説明する。

【0099】

実施形態に係る眼科撮影装置（眼科撮影装置１）は、対物レンズ（対物レンズ２２）と、干渉光学系（ＯＣＴユニット１００からリレーレンズ４５までの光学系）と、光スキャナ（光スキャナ４２）と、制御部（制御部２１０、主制御部２１１）と、画像形成部（画像形成部２２０）とを含む。干渉光学系は、光源（光源ユニット１０１）からの光（光Ｌ０）を測定光（測定光ＬＳ）と参照光（参照光ＬＲ）とに分割し、測定光を対物レンズを介して被検眼（被検眼Ｅ）に入射させ、被検眼から出射し対物レンズを通過した測定光の戻り光と参照光との干渉光（干渉光ＬＣ）を検出する。光スキャナは、測定光を偏向する。制御部は、対物レンズの光軸（光軸Ｏ）から外れた位置を中心として測定光を偏向するように光スキャナを制御する。画像形成部は、干渉光学系による干渉光の検出結果に基づいて被検眼の画像を形成する。

【0100】

このような構成によれば、注目部位付近にアーチファクトが現れない被検眼の画像を取得することが可能になる。特に、対物レンズの光軸を含むような撮影頻度が高い画像において、注目部位付近の詳細な観察が可能になる。また、対物レンズの反射光に起因したアーチファクトだけではなく、光学系の状態に応じて発生するコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトの除去も可能になる。

【0101】

また、実施形態に係る眼科撮影装置は、被検眼の眼底（眼底Ｅｆ）に固視標を投影する固視標投影系（ＬＣＤ３９からダイクロイックミラー４６までの光学系）を含み、制御部は、光スキャナの制御とともに固視標投影系の制御を行ってもよい。

【0102】

このような構成によれば、被検眼の固視位置を移動させることにより、対物レンズの反射光に起因したアーチファクトの出現位置から離れた位置で、注目部位付近の詳細な観察が可能になる。

【0103】

また、実施形態に係る眼科撮影装置では、固視標投影系は、発光位置を変更可能な発光部（ＬＣＤ３９）を含み、発光部からの光を被検眼の眼底に投影し、発光部による発光位置を表す発光位置情報（基準位置情報２１２Ａ）をあらかじめ記憶する記憶部（記憶部２１２）を含み、制御部は、発光位置情報を変更して固視標投影系の制御を行ってもよい。

【0104】

このような構成によれば、簡素な構成及び制御で、光スキャナの制御に応じた固視標の表示位置の変更が可能になる。

【0105】

また、実施形態に係る眼科撮影装置では、制御部は、対物レンズの光軸からの光スキャナの制御中心の変位に応じて発光位置情報を変更してもよい。

【0106】

このような構成によれば、固視標の表示位置を変更して被検眼の固視位置を誘導することで、頻度が高い中心窩を含むスキャンによるアーチファクトフリーの画像の取得が可能になる。

【0107】

また、実施形態に係る眼科撮影装置では、対物レンズの光軸に対する光スキャナの制御中心の変位量（Δｘ又はΔｙ）は、光スキャナによる測定光の偏向方向におけるアーチファクトのサイズ（半径ｒ）に基づいて設定されてもよい。

【0108】

このような構成によれば、高い確度でアーチファクトが描出されない画像の取得が可能になる。

【0109】

また、実施形態に係る眼科撮影装置は、対物レンズと被検眼との間に配置可能な前置レンズを含み、対物レンズと被検眼との間に前置レンズが配置されているとき、制御部は、前置レンズの光軸から外れた位置を中心として測定光を偏向するように光スキャナを制御してもよい。

【0110】

このような構成によれば、前置レンズの光軸を含むような撮影頻度が高い画像において、注目部位付近の詳細な観察が可能になる。また、前置レンズの反射光に起因したアーチファクトだけではなく、光学系の状態に応じて発生するコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトの除去も可能になる。

【0111】

以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形（省略、置換、付加等）を適宜に施すことが可能である。適用される構成は、例えば目的に応じて選択される。また、適用される構成に応じ、当業者にとって自明の作用効果や、本明細書において説明された作用効果が得られる。

【符号の説明】

【0112】

１ 眼科撮影装置
２ 眼底カメラユニット
２２ 対物レンズ
２３ 前置レンズ
４２ 光スキャナ
１００ ＯＣＴユニット
２００ 演算制御ユニット
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１２ 記憶部
２２０ 画像形成部
２３０ データ処理部
Ｅ 被検眼

【図1】

【図2】

【図3】

【図4A】

【図4B】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】