特許6791230不揮発性メモリーの検査方法及び集積回路装置

発明の名称　不揮発性メモリーの検査方法及び集積回路装置

出願人　セイコーエプソン株式会社　（識別番号 2369）

　　　　特許公開件数ランキング 6 位（1809件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 13 位（962件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6791230

公報発行日　2020年11月25

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6791230

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