特許 6796052 Ｘ線検査装置およびＸ線検査方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6796052

(24)【登録日】2020年11月17日

(45)【発行日】2020年12月2日

(54)【発明の名称】Ｘ線検査装置およびＸ線検査方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 23/18 20180101AFI20201119BHJP

【ＦＩ】

   G01N23/18

【請求項の数】5

【全頁数】11

(21)【出願番号】特願2017-213945(P2017-213945)

(22)【出願日】2017年11月6日

(65)【公開番号】特開2019-86367(P2019-86367A)

(43)【公開日】2019年6月6日

【審査請求日】2019年7月11日

(73)【特許権者】

【識別番号】302046001

【氏名又は名称】アンリツインフィビス株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100067323

【弁理士】

【氏名又は名称】西村 教光

(74)【代理人】

【識別番号】100124268

【弁理士】

【氏名又は名称】鈴木 典行

(72)【発明者】

【氏名】井上 学

【審査官】 田中 洋介

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０１４−０４１０１９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００６−３０８３１５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００５−１２７９６２（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００２−２４３６６５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００５−００３４８０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００６−３０８４０６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２００４／０１０１１０９（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ ２３／００−２３／２２７６

Ａ２３Ｆ ３／００−５／５０

ＪＳＴＰｌｕｓ／ＪＳＴ７５８０（ＪＤｒｅａｍＩＩＩ）

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

粉粒物（Ｗｃ）が収容された小袋（Ｗｂ）を包装材（Ｗａ）で包んだ被検査物（Ｗ）を所定間隔おきに搬送しながらＸ線を照射し、前記被検査物を透過するＸ線の透過画像を用いて前記被検査物を検査するＸ線検査装置（１）であって、
前記小袋を抽出するための所定の閾値で前記透過画像を２値化した２値化画像のうち最大領域の塊から所定の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像（Ｓ１）を生成し、予め設定された前記小袋の大きさのマスク領域（Ｓ２）を前記小袋画像上に設定して、前記マスク領域外に前記小袋画像が存在するか否かにより前記小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定する信号処理部（６）を備えたことを特徴とするＸ線検査装置。

【請求項2】

前記信号処理部（６）は、前記２値化画像のうち最大領域の塊から所定の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像（Ｓ１）を生成する画像形成手段（１２）と、
前記小袋画像の重心を算出する重心算出手段（１３）と、
前記マスク領域（Ｓ２）を前記重心算出手段が算出した重心位置に対応させて前記小袋画像上に設定するマスク領域設定手段（１５）と、
前記マスク領域から外れる位置に前記小袋画像による塊が存在するか否かにより前記小袋（Ｗｂ）からの粉粒物（Ｗｃ）の漏れ不良を判定する漏れ不良判定手段（１６）とを備えたことを特徴とする請求項１記載のＸ線検査装置。

【請求項3】

前記信号処理部（６）は、前記小袋画像（Ｓ１）の傾きを算出する傾き算出手段（１４）を備え、
前記マスク領域設定手段（１５）は、前記傾き算出手段が算出した傾きに対応させて前記マスク領域（Ｓ２）を前記小袋画像上に設定することを特徴とする請求項２記載のＸ線検査装置。

【請求項4】

前記信号処理部（６）は、前記マスク領域（Ｓ２）から外れる位置に存在する前記小袋画像（Ｓ１）の塊の数に応じて前記小袋（Ｗｂ）からの粉粒物（Ｗｃ）の漏れ不良を判定することを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載のＸ線検査装置。

【請求項5】

粉粒物（Ｗｃ）が収容された小袋（Ｗｂ）を包装材（Ｗａ）で包んだ被検査物（Ｗ）を所定間隔おきに搬送しながらＸ線を照射し、前記被検査物を透過するＸ線の透過画像を用いて前記被検査物を検査するＸ線検査方法であって、
前記小袋を抽出するための所定の閾値で前記透過画像を２値化するステップと、
前記２値化した２値化画像のうち最大領域の塊から所定の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像（Ｓ１）を生成するステップと、
予め設定された前記小袋の大きさのマスク領域（Ｓ２）を前記小袋画像上に設定して、前記マスク領域外に前記小袋画像が存在するか否かにより前記小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定するステップとを含むことを特徴とするＸ線検査方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、搬送される被検査物にＸ線を照射し、このＸ線を照射したときのＸ線の透過画像を用いて被検査物の内容物の収容不良の検査を行うＸ線検査装置およびＸ線検査方法に関する。

【背景技術】

【0002】

Ｘ線検査装置は、例えば、生肉、魚、加工食品、医薬などを被検査物とし、被検査物にＸ線を照射したときのＸ線の透過画像を用いて被検査物の検査を行う装置として従来から知られている。

【0003】

例えば、下記特許文献１のＸ線検査装置では、被検査物にＸ線を照射し、このＸ線を照射したときのＸ線の透過画像を用いて被検査物の検査を行うにあたって、被検査物のＸ線透過データから内容物の領域を抽出し、抽出した内容物の領域以外の領域を不存在領域として認識し、認識した不存在領域内における内容物の有無によって被検査物の良／不良の判定を行っている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２００５−１２７９６２号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

ところで、ドリップバッグやティーバッグなどのような液体用フィルタの製品を被検査物とした場合、包装状況や搬送状況などの検査状況に応じて粉粒物が小袋から漏れて包装材内でランダムに分散することがある。このため、包装材内での小袋からの粉粒物の漏れは、利用者が包装材を開封したときの影響を考慮して良否判定基準を設定し、製品の良否を判断する必要がある。具体的には、製品の良否判定基準として、包装材内で小袋から粉粒物が許容範囲以上の大きい塊で漏れている場合は不良品とし、包装材内で小袋から粉粒物が許容範囲内の少量の塊で散在して漏れている場合は良品として扱いたいという要求がある。

【0006】

しかしながら、上述したドリップバッグやティーバッグなどの製品を被検査物とした場合、粉粒物が包装材内のどこにでも存在する可能性があるため、上述した特許文献１のＸ線検査装置では不存在領域を設定することが困難であった。仮に、不存在領域を設定した場合には、不存在領域における内容物の有無を判定することになるので、不存在領域に少量の塊が内容物として漏れて散在する場合であっても不良と判定してしまう。その結果、上述した要求を満たすことができず、製品の歩留りも悪くなるという問題があった。

【0007】

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、製品の歩留りを考慮した検査を行うことができるＸ線検査装置およびＸ線検査方法を提供することを目的としている。

【課題を解決するための手段】

【0008】

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載されたＸ線検査装置は、粉粒物Ｗｃが収容された小袋Ｗｂを包装材Ｗａで包んだ被検査物Ｗを所定間隔おきに搬送しながらＸ線を照射し、前記被検査物を透過するＸ線の透過画像を用いて前記被検査物を検査するＸ線検査装置１であって、
前記小袋を抽出するための所定の閾値で前記透過画像を２値化した２値化画像のうち最大領域の塊から所定の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像Ｓ１を生成し、予め設定された前記小袋の大きさのマスク領域Ｓ２を前記小袋画像上に設定して、前記マスク領域外に前記小袋画像が存在するか否かにより前記小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定する信号処理部６を備えたことを特徴とする。

【0009】

請求項２に記載されたＸ線検査装置は、請求項１のＸ線検査装置において、
前記信号処理部６は、前記２値化画像のうち最大領域の塊から所定の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像Ｓ１を生成する画像形成手段１２と、
前記小袋画像の重心を算出する重心算出手段１３と、
前記マスク領域Ｓ２を前記重心算出手段が算出した重心位置に対応させて前記小袋画像上に設定するマスク領域設定手段１５と、
前記マスク領域から外れる位置に前記小袋画像による塊が存在するか否かにより前記小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ不良を判定する漏れ不良判定手段１６とを備えたことを特徴とする。

【0010】

請求項３に記載されたＸ線検査装置は、請求項２のＸ線検査装置において、
前記信号処理部６は、前記小袋画像Ｓ１の傾きを算出する傾き算出手段１４を備え、
前記マスク領域設定手段１５は、前記傾き算出手段が算出した傾きに対応させて前記マスク領域Ｓ２を前記小袋画像上に設定することを特徴とする。

【0011】

請求項４に記載されたＸ線検査装置は、請求項１〜３の何れかのＸ線検査装置において、
前記信号処理部６は、前記マスク領域Ｓ２から外れる位置に存在する前記小袋画像Ｓ１の塊の数に応じて前記小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ不良を判定することを特徴とする。

【0012】

請求項５に記載されたＸ線検査方法は、粉粒物Ｗｃが収容された小袋Ｗｂを包装材Ｗａで包んだ被検査物Ｗを所定間隔おきに搬送しながらＸ線を照射し、前記被検査物を透過するＸ線の透過画像を用いて前記被検査物を検査するＸ線検査方法であって、
前記小袋を抽出するための所定の閾値で前記透過画像を２値化するステップと、
前記２値化した２値化画像のうち最大領域の塊から所定の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像Ｓ１を生成するステップと、
予め設定された前記小袋の大きさのマスク領域Ｓ２を前記小袋画像上に設定して、前記マスク領域外に前記小袋画像が存在するか否かにより前記小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定するステップとを含むことを特徴とする。

【発明の効果】

【0013】

本発明によれば、小袋を抽出するための所定の閾値で被検査物を透過するＸ線の透過画像の２値化画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像を生成し、予め設定された小袋の大きさのマスク領域を小袋画像上に設定して小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定するので、製品の良否判断基準に応じて包装材内の内容物の収容不良を判定でき、包装材内で小さい塊の粉粒物が分散した被検査物を不良として判別することがなく、従来よりも生産の歩留りを向上させて被検査物の検査を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0014】

【図1】本発明に係るＸ線検査装置の概略構成を示すブロック図である。

【図2】本発明に係るＸ線検査装置を用いたＸ線検査方法の概略手順を示すフローチャートである。

【図3】（ａ）〜（ｄ）本発明に係るＸ線検査装置において小袋画像上にマスク領域を設定する場合の説明図である。

【図4】（ａ）〜（ｄ）本発明に係るＸ線検査装置において傾いた小袋画像上にマスク領域を設定する場合の説明図である。

【発明を実施するための形態】

【0015】

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。

【0016】

［本発明の概要］
本発明に係るＸ線検査装置は、例えば搬送ラインの一部に組み込まれ、一定間隔おきに順次搬送されてくる被検査物（物品）に対し、包装材に包まれた小袋からの粉粒物（粉、粒）の漏れによる収容不良の有無を検査するものである。

【0017】

例えばドリップバッグやティーバッグなどの液体用フィルタであり、網目や紙などの小袋に粉粒物が収容され、さらに小袋がアルミ製や樹脂製の包装材に包まれた製品を被検査物とし、小袋より粉粒物のＸ線吸収量が高いことを利用して小袋の２値化画像を求めると、小袋から漏れた粉粒物も同時に抽出される。その際、小袋から漏れた粉粒物は、粉粒物の量によって大きい塊やノイズのような小さい塊などの複数の塊ができる。この塊を画像処理して調整し、粉粒物を含む小袋の画像を生成することで製品の良否判断基準に応じて包装材内の内容物（粉粒物）の収容不良を判定できるようになる。

【0018】

そこで、本発明は、２値化画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去して小袋画像を生成し、予め設定された外形サイズの疑似領域からなる小袋のマスク領域を、重心と傾きが一致するように小袋画像上に設定し、マスク領域から外れた２値化画像の存在の有無により小袋からの粉粒物の漏れがあるか否かを判定して収容不良の検査を行う機能を有する。

【0019】

［Ｘ線検査装置の構成］
図１に示すように、本実施の形態のＸ線検査装置１は、上記機能を実現するため、搬送装置２、Ｘ線発生器３、Ｘ線検出器４、設定入力部５、信号処理部６、表示部７を含んで概略構成される。

【0020】

搬送装置２は、検査対象の被検査物Ｗを搬送路上で所定間隔おきに順次搬送するもので、例えば装置本体に対して水平に配置されたベルトコンベアで構成される。

【0021】

搬送装置としてのベルトコンベア２は、Ｘ線を透過しやすい材料（原子量の大きい元素以外の元素）からなる搬送ベルト２ａを備え、被検査物Ｗの検査を行うときに、不図示の搬送制御手段の制御に基づく駆動モータＭの回転により予め設定入力部５にて設定される搬送速度で搬送ベルト２ａを駆動する。これにより、搬入口から搬入された被検査物Ｗは、搬出口側に向けて図１の搬送方向Ｘに搬送される。

【0022】

Ｘ線発生器３は、搬入口から搬出口に向かって搬送方向Ｘに搬送路上を搬送される被検査物ＷにＸ線を照射するもので、電圧を印可して加速させた電子をターゲットに射突させてＸ線を発生させる円筒状のＸ線管と、Ｘ線管が発生させたＸ線をＸ線検出器４に向けて照射するための照射スリットとを有する。

【0023】

Ｘ線管は、例えば金属製の箱体内部に設けられる円筒状のＸ線管を絶縁油により浸漬した構成であり、Ｘ線管の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてＸ線を生成する。Ｘ線管は、その長手方向が被検査物Ｗの搬送方向（図１のＸ方向）の平面上で直交する方向に設けられ、生成したＸ線を、下方のＸ線検出器４に向けて、長手方向に沿った照射スリットによりスクリーン状にして照射する。

【0024】

Ｘ線検出器４は、搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘの平面上で搬送方向Ｘと直交する方向に複数の素子が一直線上に配置されたものである。さらに説明すると、Ｘ線検出器４は、ライン状に整列して配設された複数のフォトダイオードと、ライン状のフォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えてアレイ状に構成される。

【0025】

Ｘ線検出器４は、複数の素子（フォトダイオードとシンチレータのアレイ）によって被検査物Ｗおよび搬送ベルト２ａを透過するＸ線を検出し、この検出した検出データを素子毎に複数の素子数を１ラインとして信号処理部６に順次出力し、被検査物Ｗの搬送に伴い順次出力を繰り返す。

【0026】

設定入力部５は、装置本体に設けられる例えばキー、押しボタン、スイッチ、表示部７の表示画面上のソフトキーなどで構成される。

【0027】

設定入力部５は、図３（ａ）に示す被検査物Ｗの包装材Ｗａ内での小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ不良の検査を行うにあたって、小袋Ｗｂを抽出するための閾値、小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ不良の判定基準となる設定カウント値、設定面積、判定閾値を被検査物Ｗの品種や粉粒物Ｗｃの種類などに応じて適宜設定して信号処理部６の後述する記憶手段１１に記憶する際に操作される。

【0028】

また、設定入力部５は、搬送装置２の搬送ベルト２ａの搬送速度の設定、検査対象となる被検査物Ｗの小袋Ｗｂの大きさを示す外形サイズ（縦長さ、横長さ）を設定して信号処理部６の記憶手段１１に記憶する際に操作される。

【0029】

信号処理部６は、被検査物Ｗを透過するＸ線の透過画像を２値化した２値化画像から小袋画像（粉粒物Ｗｃを含む小袋Ｗｂの画像）を生成し、この生成した小袋画像に基づいて小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ不良の有無を判定するもので、図１に示すように、記憶手段１１、画像形成手段１２、重心算出手段１３、傾き算出手段１４、マスク領域設定手段１５、漏れ不良判定手段１６を含んで構成される。

【0030】

記憶手段１１は、Ｘ線検出器４からの各被検査物Ｗ毎のＸ線透過データを記憶する。Ｘ線透過データは、Ｘ線検出器４からの電気信号を不図示のＡ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換して得られる。さらに説明すると、記憶手段１１は、１つの被検査物Ｗの検査を行う毎に、Ｘ線検出器４の１ライン（Ｙ方向）あたり例えば数百個のＸ線透過データを、少なくとも搬送される被検査物Ｗの搬送方向の長さ（前端から後端までの検出期間に相当）に対応した所定ライン数（例えば数百ライン）だけ格納する。

【0031】

画像形成手段１２は、図３（ｂ）や図４（ｂ）に示すように、記憶手段１１に記憶された被検査物ＷのＸ線透過データによる透過画像を小袋Ｗｂ（粉粒物Ｗｃを含む）を抽出するための所定の閾値で２値化処理し、この２値化処理した２値化画像から所定の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像Ｓ１を生成する。これにより、包装材Ｗａ内で小袋Ｗｂから少量の粉粒物Ｗｃが散在して漏れた被検査物Ｗを不良として判定するのを防いでいる。

【0032】

なお、画像形成手段１２は、２値化画像における最大領域の塊のみを小袋画像Ｓ１として捉えるように塊を見つけるための２値化処理を行ってもよい。この２値化処理による最大領域（ラベリング後の最大面積）の塊からなる小袋画像Ｓ１は、ラベリング前にスムージングを行い、最大領域の塊の近傍の細かい塊を連結したり、消去して２値化画像の形を整える。

【0033】

重心算出手段１３は、図３（ｃ）や図４（ｃ）に示すように、画像形成手段１２にて生成した小袋画像Ｓ１のうち最大領域の塊からなる小袋画像Ｓ１の重心Ｇ１を算出する。また、傾き算出手段１４は、画像形成手段１２にて生成した小袋画像Ｓ１のうち最大領域の塊からなる小袋画像Ｓ１の傾き（楕円Ｃの長軸方向の角度）θを算出する。

【0034】

例えば図３（ｃ）や図４（ｃ）に示すように、最大領域の塊からなる小袋画像Ｓ１の４つの頂点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４を通る楕円（円）Ｃを描き、描いた楕円（円）Ｃの長軸Ｌ１と短軸Ｌ２との交点を小袋画像Ｓ１の重心Ｇ１として算出する。なお、小袋画像Ｓ１の４つの頂点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４を通る円Ｃの場合は、円Ｃの中心を小袋画像Ｓ１の重心Ｇ１として算出する。

【0035】

また、描いた楕円Ｃの重心Ｇ１を原点、搬送方向ＸをＸ軸、搬送方向Ｘと直交する方向をＹ軸として、長軸Ｌ１と短軸Ｌ２からＸ軸（搬送方向Ｘ）に対する小袋画像Ｓ１の傾きθを算出する。

【0036】

さらに、画像処理では、２値化画像のモーメントを用いて小袋画像Ｓ１の重心と傾きを求めることができる。

【0037】

一般的に、モーメントとは物体を回転させる力の大きさを表すが、これを画像の統計量として捉えて、特徴量抽出に利用することもできる。２値画像のモーメント特徴とは、画素の位置の重みづけをして合計した数値である。

【0038】

画像のモーメントは、一般的に下記式（１）で定義される（ｐ＋ｑ）次のモーメントＭ（ｐ，ｑ）を用いて計算される。

【0039】

【数1】

【0040】

ここで、ｆ_ijは画素値であり、対象の画素は１で、対象より外側のバックグランドは０である。重心座標（Ｉ，Ｊ）を決定する場合、Ｉ＝Ｍ（１，０）／Ｍ（０，０）、Ｊ＝Ｍ（０，１）／Ｍ（０，０）が用いられる。すなわち、重心算出手段１４は、１次モーメントを用いて重心を求める（但し、面積は０次モーメント）。

【0041】

なお、１次モーメントを用いた重心座標（Ｉ，Ｊ）は、Ｉ＝ｉ方向の１次モーメント／０次モーメント（ｉ方向の座標位置の合計／面積）、Ｊ＝ｊ方向の１次モーメント／０次モーメント（ｊ方向の座標位置の合計／面積）である。

【0042】

主軸の方向を示すｔａｎθは、対象画像が伸びている方向を表し、２次モーメントと相乗モーメントを用いた下記式（２）によって計算される。すなわち、傾き算出手段１３は、下記式（２）を用いて傾きを求める。但し、Ｍ（２，０）＝ｉ方向の２次モーメント、Ｍ（０，２）＝ｊ方向の２次モーメント、Ｍ（１，１）＝相乗モーメントである。

【0043】

【数2】

【0044】

マスク領域設定手段１５は、図３（ｄ）や図４（ｄ）に示すように、設定入力部５にて設定された外形サイズの疑似領域からなる小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２を、重心算出手段１３にて算出した重心の位置と傾き算出手段１４にて算出した傾きに対応させて小袋画像Ｓ１上に設定する。すなわち、マスク領域設定手段１５は、小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２の重心の位置が重心算出手段１３にて算出した重心の位置と一致し、かつ小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２の傾きが傾き算出手段１４にて算出した傾きと一致するように、小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２を小袋画像Ｓ１上に設定する。

【0045】

漏れ不良判定手段１６は、マスク領域設定手段１５にて設定されたマスク領域Ｓ２から外れる位置に小袋画像Ｓ１（粉粒物Ｗｃ）が存在するか否かにより小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れの有無を判定する。

【0046】

さらに説明すると、漏れ不良判定手段１６は、マスク領域設定手段１５にて設定されたマスク領域Ｓ２から外れる位置に存在する小袋画像Ｓ１の塊をラベリングしてその数をカウントし、カウント値が設定入力部５にて設定された設定カウント値以上のときに、小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ有りと判定する。

【0047】

また、漏れ不良判定手段１６は、マスク領域設定手段１５にて設定されたマスク領域Ｓ２からはみ出した小袋画像Ｓ１が存在すると、小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ有りと判定する。その際、マスク領域Ｓ２からはみ出した小袋画像Ｓ１の総面積が予め設定される設定面積を超えたときに、小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ有りと判定してもよい。

【0048】

さらに、漏れ不良判定手段１６は、マスク領域設定手段１５にて設定されたマスク領域Ｓ２から外れる位置の小袋画像Ｓ１において、予め設定入力部５にて設定される判定閾値を超える濃度の領域が存在すると、小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ有りと判定してもよい。

【0049】

表示部７は、例えば液晶表示器などの表示装置で構成され、小袋画像Ｓ１、小袋画像Ｓ１やマスク領域Ｓ２を含む被検査物Ｗの全体画像、判定結果に基づく被検査物Ｗを平面視したＸ線の透過画像、「ＯＫ」や「ＮＧ」の良否判定結果、総検査数、良品数、ＮＧ総数などの検査結果を設定入力部５の操作に基づいて表示画面に表示する。

【0050】

［Ｘ線検査方法］
そして、上記のように構成されるＸ線検査装置１を用いて被検査物Ｗの漏れ不良の有無を判定するＸ線検査方法について図２のフローチャートおよび図３、図４を用いて説明する。

【0051】

まず、記憶手段１１に記憶されたＸ線透過データによる透過画像（図３（ａ）や図４（ａ）に示す包装材Ｗａを除く小袋Ｗｂと粉粒物Ｗｃの透過画像）を２値化処理した２値化画像から小袋画像Ｓ１を画像形成手段１２にて生成する（ＳＴ１）。その際、２値化画像から所定の大きさ以下の小さい塊を除去する処理を行う。

【0052】

次に、重心算出手段１３にて小袋画像Ｓ１の重心を算出するとともに、傾き算出手段１４にて小袋画像Ｓ１の傾きを算出する（ＳＴ２）。例えば図３（ｃ）や図４（ｃ）に示すように、小袋画像Ｓ１の４つの頂点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４を通る円（楕円）Ｃを描き、描いた円（楕円）Ｃの長軸Ｌ１と短軸Ｌ２から小袋画像Ｓ１の重心Ｇ１と傾きθを算出する。

【0053】

次に、マスク領域設定手段１５は、図３（ｄ）や図４（ｄ）に示すように、予め設定入力部５にて設定された外形サイズの小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２を小袋画像Ｓ１上に設定する（ＳＴ３）。その際、小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２の重心Ｇ２の位置が重心算出手段１３にて算出した重心Ｇ１の位置と一致し、かつ小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２の傾きが傾き算出手段１４にて算出した傾きθと一致するように、小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２を小袋画像Ｓ１上に設定する。

【0054】

そして、漏れ不良判定手段１６は、小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２から外れる位置に小袋画像Ｓ１（粉粒物Ｗｃ）の塊が存在するか否かにより小袋Ｗｂからの粉粒物Ｗｃの漏れ不良を判定する（ＳＴ４）。例えば図３（ｄ）や図４（ｄ）の例では、小袋Ｗｂのマスク領域Ｓ２から外れる位置に小袋画像Ｓ１による粉粒物Ｗｃの塊が存在するので、粉粒物Ｗｃの漏れ不良有りと判定する。

【0055】

このように、本実施の形態のＸ線検査装置及びＸ線検査方法では、２値化画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像（粉粒物を収容した小袋の画像）を生成し、予め設定された外形サイズの小袋のマスク領域を、重心の位置と傾きが一致するように小袋画像上に設定し、マスク領域から外れた２値化画像の存在の有無により小袋からの粉粒物の漏れがあるか否かを判定する。これにより、製品の良否判断基準に応じて包装材内の内容物（粉粒物）の収容不良を判定でき、包装材内で小さい塊の粉粒物が分散した被検査物を不良として判別することがなく、従来よりも生産の歩留りを向上させて被検査物の検査を行うことができる。

【0056】

以上、本発明に係るＸ線検査装置およびＸ線検査方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

【符号の説明】

【0057】

１ Ｘ線検査装置
２ 搬送装置
２ａ 搬送ベルト
３ Ｘ線発生器
４ Ｘ線検出器
５ 設定入力部
６ 信号処理部
７ 表示部
１１ 記憶手段
１２ 画像形成手段
１３ 重心算出手段
１４ 傾き算出手段
１５ マスク領域設定手段
１６ 漏れ不良判定手段
Ｗ 被検査物
Ｗａ 包装材
Ｗｂ 小袋
Ｗｃ 粉粒物
Ｓ１ 小袋画像
Ｓ２ マスク領域
Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４ 頂点
Ｃ 円（楕円）
Ｌ１ 長軸
Ｌ２ 短軸
Ｇ１，Ｇ２ 重心
θ 傾き

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】