特許6804061IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

誘電分光法を用いた生体の非侵襲な成分濃度測定技術に関する。特に、成分濃度測定を行うために生体に照射した電磁波の振幅及び位相を観測する技術

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、テラヘルツ帯等の高帯域電磁波において、図5に示した従来の誘電分光装置では、光源の位相雑音に伴うフォトミキサで生じる雑音の影響によりSN比の低下が生ずる。これらの雑音は観測する電気信号の振幅及び位相の変動をもたらすため、測定再現性や妥当な測定精度が得られないという課題があった。 本発明は、事情を鑑みてなされたものであり、環境変動による不安定性を低減し、テラヘルツ帯等の高周波帯での誘電分光測定を高精度に行うことを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

以上の課題を解決するため、請求項1に係る誘電分光装置は、第1のフォトミキサから第2のフォトミキサへ放射される2つの光の差周波に対応する周波数の電磁波が伝搬する伝搬路に配置され、測定試料が設置されたATRプリズムと、前記第1のフォトミキサと前記ATRプリズムとの間を伝搬する前記電磁波の伝搬路に配置されたハーフミラーと、前記ハーフミラーで反射した前記電磁波を受信する第3のフォトミキサと、前記第2・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
本発明によれば、環境変動による不安定性を低減し、テラヘルツ帯等の高周波帯での誘電分光測定を高精度に行うことができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本実施の形態に係る誘電分光装置の構成を示す図である。

【図2】ATRプリズムでのテラヘルツ波の屈折及び反射のイメージを示す図である。

【図3】ATRプリズム未使用時の振幅と位相の時間推移を示すグラフである。

【図4】ATRプリズム使用時の振幅と位相の時間推移を示すグラフである。

【図5】従来の誘電分光装置の構成を示す図である。

【図6】従来の誘電分光装置の構成を示す図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1a…第1連続波光源   1b…第2連続波光源   2a…第1スプリッタ   2b…第2スプリッタ   2c…第3スプリッタ   3a…第1カプラ   3b…第2カプラ   4…光位相変調器   4a…第1位相変調器   4b…第2位相変調器   5…発振器   6a…第1フォトミキサ   6b…第2フォトミキサ   6c…第3フォトミキサ   7a…第1放物面鏡   7b…第2放物面鏡   7c…第3放物面鏡   8…ハーフミラー   9…ATRプリズム   10…遅延線   11…ロックインアンプ   12…モニタ   13…温調素子   30…レンズ   50…支持台   100…測定試料

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