特許6804882IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

走査型電子顕微鏡などによって観察、分析される試料に付着する汚染物を除去する装置に関し、特に、紫外線照射による汚染物除去

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

試料室外部から照射窓を通じて試料室内を照射する場合、汚染物が付着していない部分にも紫外線を照射することにより、紫外光が減衰して汚染物除去昨日が低下する。また、試料表面の照射対象領域外や汚染物が付着していない部分にも、紫外光を照射することになり、不要なガス発生、試料損傷などが生じる。さらに、試料室内に設置された試料台などの部品に対しても紫外線が照射することとなり、不要なガス放出や部品劣化を生じさせる。 したがって、紫外線照射による試料汚染物の除去処理において、汚染物除去機能の低下なく、試料損傷、不要ガス発生などを抑えることが求められる。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の紫外線照射装置は、紫外光放射面から紫外光を放射する紫外光源と、試料が配置される試料室と、紫外光放射面が試料を向くように、紫外光源を支持する支持部材とを備え、紫外光放射面が、試料室内において、試料室内壁よりも試料に近い位置で露出している。
【発明の効果】
本発明によれば、試料の観察、分析などにおいて、試料汚染物を効果的に除去することができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本実施形態である走査型電子顕微鏡の試料室を中心とした概略的構成を示した図である。

【図2】エキシマランプを光放射面側から見た平面図である。

【図3】図2のIII−III’に沿ったエキシマランプの断面図である。

【図4】図3IV−IV’に沿ったエキシマランプの断面図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

10 走査型電子顕微鏡   40 試料室   50 試料   50S 試料表面   100 エキシマランプ(紫外光源)   105 光放射面(紫外光放射面)   110 ランプ取付部材   120 支持部材   122 固定部   124 連結部

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