特許6805845IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

レーザーを照射することで生じる超音波を用いて検査対象物を探傷するレーザー超音波探傷装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

特許文献1に記載された技術において、超音波の集束位置は、各光ファイバの長さの差で決定されることとなる。このため、超音波の集束位置が固定されてしまい、検査対象物において検査が不可能となる箇所が生じてしまうという問題がある。 このような課題に鑑み、超音波の集束位置を変更することが可能なレーザー超音波探傷装置を提供することを目的としている。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

課題を解決するために、本開示の一態様に係るレーザー超音波探傷装置は、第1反射面を有する複数の第1ミラー部と、第2反射面を有する1または複数の第2ミラー部と、前記第2反射面を前記第1反射面に臨ませて前記第1ミラー部および前記第2ミラー部を支持する第1支持部とを含んで構成される第1ステージと、光束の一部を反射し、他を透過するスプリッタ面を有する複数のビームスプリッタと、第3反射面を有する1ま・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
超音波の集束位置を変更することが可能となる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】レーザー超音波探傷装置を説明する図である。

【図2】実施形態にかかる送信部を説明する図である。

【図3】送信部によるレーザーの分岐と、分岐したビームの照射タイミングを説明する図である。

【図4】第1の変形例にかかる送信部を説明する図である。

【図5】第2の変形例にかかる送信部を説明する図である。

【図6】光路長と、超音波の入射角度との関係を説明する図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

100 レーザー超音波探傷装置   210 第1ステージ   212 第1ミラー部   212a 第1反射面   214 第2ミラー部   214a 第2反射面   216 第1支持部   220 第2ステージ   222 ビームスプリッタ   222a スプリッタ面   224 第3ミラー部   224a 第3反射面   226 第2支持部   230 屈折率媒質   240 移動部

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