特許6805851IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

超音波装置、及び超音波装置の駆動方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ところで、特許文献1に記載の超音波装置では、操作者による操作によってモードが変更されることで、超音波測定のスキャンモード(リニアスキャン及びセクタースキャン)が切り替えられる。しかしながら、特許文献1に記載の装置では、超音波測定を実施する度に操作者がモードを選択する必要があり、測定における手間がかかるとの課題がある。
また、超音波プローブによるスキャンモードのデフォルトを例えばリニアスキャンに設定することも可能である。しかしながら、超音波プローブにより狭範囲に対する測定を実施する場合、セクタースキャンを実施することが多く、広範囲に対する測定を実施する場合は、リニアスキャンを実施する場合が多い。よって、例えばデフォルトのスキャンモードをリニアスキャンとした場合、狭範囲に対する測定を実施する際に、やはり、操作者がモードを切り替える操作を行う必要が生じる。 本発明は、所望のスキャンモードの超音波測定を容易に実施できる超音波装置、及び超音波装置の駆動方法を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る一適用の超音波装置は、第一面積の超音波送受信面が被検体に接触可能となる第一形状、及び前記第一面積とは異なる第二面積の前記超音波送受信面が前記被検体に接触可能となる第二形状に形状を変更可能な超音波プローブと、前記超音波プローブの形状を判定する形状判定部と、前記形状判定部にて判定された形状に応じて、前記超音波プローブにて実施する超音波測定のスキャンモードを切り替えるスキャン制御部と、・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】第一実施形態の超音波測定装置の概略構成を示す模式図。

【図2】第一実施形態の超音波プローブの概略構成を示す平面図。

【図3】第一実施形態の超音波プローブの概略構成を示す断面図。

【図4】図3における第一基部を拡大した概略断面図。

【図5】第一実施形態の超音波基板の概略構成を示す平面図。

【図6】超音波基板を図5のA−A線で切断した際の概略断面図。

【図7】第一実施形態の第一部材の概略構成を示す断面図。

【図8】第一実施形態の超音波測定装置のブロック図。

【図9】第一実施形態の第二部材の概略構成を示す断面図。

【図10】第一実施形態の超音波プローブを第一形状に変形した際の概略正面図。

【図11】第一実施形態の超音波プローブを第二形状に変形した際の概略正面図。

【図12】第一実施形態の第一角度固定部の構成を示す平面図。

【図13】第一実施形態の第一角度固定部により、第一補助部及び第二補助部の角度を固定した状態を示す斜視図。

【図14】第一実施形態の制御装置の概略構成を示すブロック図。

【図15】第一実施形態の超音波測定処理を示すフローチャート。

【図16】第二実施形態の超音波装置の概略構成を示す図。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1…超音波測定装置(超音波装置)、2…超音波プローブ、10…制御装置、12…操作部、13…表示部、14…記憶部、15…演算部、20…第一基部、30…第二基部、40…第一部材、50…第二部材、73A…基部連結部、73B…第一連結部、73C…第二連結部、73D…第三連結部、73E…第四連結部、73F…第五連結部、73G…第六連結部、73H…第七連結部、73I…第八連結部、81…超音波基板、90…把持部、91…角度センサー、151…形状判定部、152…音声解析部、153…スキャン制御部、153A…モード設定部、153B…送受信制御部、154…画像生成部、155…表示制御部、432B…第一駆動回路部、432C…マイク制御回路、432D…駆動制御回路、434…第一磁石(脱合部)、435…マイク(音声取得部)、522…第二回路基板、522B…第二駆動回路部、522C…検知信号出力回路、524…第二磁石(脱合部)、524A…第一検知センサー、525…第三磁石(脱合部)、525A…第二検知センサー、Ar…アレイ領域、Ch…送受信列、Tr…超音波トランスデューサー。  

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