(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
1.第1の実施の形態(抵抗素子アレイを有する抵抗素子アレイ回路の例)
2.第2の実施の形態(複数の抵抗素子アレイ回路を備えた抵抗素子アレイ回路ユニットの例)
3.変形例
【0011】
<1.第1の実施の形態>
[抵抗素子アレイ回路1の全体構成例]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る抵抗素子アレイ回路1の全体構成例を模式的に表した回路図である。抵抗素子アレイ回路1は、例えば赤外線サーモグラフィに搭載され、抵抗素子アレイ回路1に照射される赤外線を、その強度に応じた電気信号に変換して出力信号Sとして出力するように構成されている。
【0012】
図1に示したように、抵抗素子アレイ回路1は、例えば複数のワード線W(W1〜Wm)と、複数のビット線B(B1〜Bn)と、複数の抵抗素子R(R(1,1)〜R(m,n))と、選択部SELと、差動アンプAMPと、接地端子GNDと、抵抗器RGと、制御部CTRLと、配線L1〜L3とを備える。なお、本明細書では、複数のワード線W1〜Wmのうちのa番目のワード線Waと、複数のビット線B1〜Bnのうちのb番目のビット線Bbとの交差点に位置する抵抗素子RをR(a,b)と表記する。
【0013】
(ワード線W)
複数のワード線Wは、X軸方向にそれぞれ延在すると共にY軸方向において互いに隣り合うように並んでいる。なお、
図1ではm本のワード線Wが配設された状態を例示しているが、複数のワード線Wの数は任意に設定可能である。複数のワード線Wの一端は、それぞれ選択部SELにおける選択スイッチSW1(後出)を介して電源Vと接続可能となっている。複数の抵抗素子Rのうちの任意の一の抵抗素子Rにおける抵抗値を読み出す際には、その一の抵抗素子Rに対応するワード線Wに対し電源Vから所定のセンス電流が供給されるようになっている。ここで、X軸方向が本発明の「第1の方向」に対応する一具体例であり、Y軸方向が本発明の「第2の方向」に対応する一具体例である。
【0014】
(ビット線B)
複数のビット線Bは、それぞれ複数のワード線Wと交差するように設けられている。具体的には、複数のビット線Bは、Y軸方向にそれぞれ延在すると共にX軸方向において互いに隣り合うように並んでいる。但し、複数のビット線Bは、複数のワード線Wと直接的に接しておらず、複数のワード線WとZ軸方向において離間して配置されている。なお、
図1ではn本のビット線Bが配設された状態を例示しているが、複数のビット線Bの数は任意に設定可能である。但し、複数のワード線Wの数が複数のビット線Bの数よりも多いことが望ましい。各抵抗素子Rの抵抗値を読み出す際に、各抵抗素子Rの温度上昇を抑えるのに有利だからである。
【0015】
(抵抗素子R)
複数の抵抗素子Rは、複数のワード線Wと複数のビット線Bとの複数の交差点にそれぞれ配置され、複数のワード線Wと各々接続される第1端部および複数のビット線Bと各々接続される第2端部をそれぞれ有している。具体的には、ワード線W1とビット線B1〜Bnとの各交差点に抵抗素子R(1,1)〜R(1,n)がそれぞれ配置され、ワード線W2とビット線B1〜Bnとの各交差点に、抵抗素子R(2,1)〜R(2,n)がそれぞれ配置され、ワード線Wmとビット線B1〜Bnとの各交差点に抵抗素子R(m,1)〜R(m,n)がそれぞれ配置されている。
【0016】
抵抗素子Rは、例えばレンズ等により集光された赤外線を電気信号に変換する赤外線の受光素子であり、具体的には例えば温度変化により抵抗変化を発現する抵抗変化層と、その抵抗変化層に隣接して設けられ、赤外線を吸収して発熱する赤外線吸収層とを有するマイクロボロメータである。抵抗変化層は、例えば酸化バナジウムなどを含んでいる。赤外線吸収層は、例えば酸化シリコン(SiO
2)を含んでいる。抵抗素子Rは、受光する赤外線の強度に応じて赤外線吸収層における温度変化が生じ、その結果、赤外線吸収層に隣接する抵抗変化層の抵抗値が変化するようになっている。
【0017】
(選択部SEL)
選択部SELは、選択スイッチSW1と、選択スイッチSW2とを有している。選択スイッチSW1は、複数のワード線Wのうちの一の選択ワード線Wsを選択して配線L1と接続するようになっている。なお、
図1では、選択スイッチSW1が選択ワード線Wsとしてワード線W2を選択し、それを配線L1と接続した状態を例示している。一方、選択スイッチSW2は、複数のビット線Bのうちの一の選択ビット線Bsを選択するようになっている。なお、
図1では、選択スイッチSW2が選択ビット線Bsとしてビット線B2を選択し、それを配線
L3と接続した状態を例示している。選択部SELにおける選択スイッチSW1および選択スイッチSW2の各動作は、制御部CTRLからの指令に基づいて実行されるようになっている。
【0018】
(差動アンプAMP)
差動アンプAMPは、正入力端子T1と負入力端子T2と出力端子T3とを含んでいる。正入力端子T1は、複数のビット線Bのうち選択スイッチSW2により選択された一のビット線Bが接続されるようになっている。負入力端子T2は、複数のビット線Bのうち選択スイッチSW2により選択されなかった非選択のビット線Bおよび複数のワード線Wのうち選択スイッチSW1により選択されなかった非選択のワード線Wの双方と配線L2を介して接続されるようになっている。出力端子T3は、配線L2を通じて負入力端子T2と接続されている。
【0019】
(接地端子GND,抵抗器RG)
接地端子GNDは、配線L3を介して正入力端子T1と接続されている。抵抗器RGは、配線L3上において接地端子GNDと正入力端子T1との間に設けられている。抵抗器RGは可変抵抗型の抵抗体であってもよいし、固定抵抗型の抵抗体であってもよい。
【0020】
(制御部CTRL)
ビット線Bに沿ってY軸方向に並ぶ複数の抵抗素子Rに対し、各々の抵抗素子Rに対応した複数のワード線Wを介してセンス電流Cを順次供給するように電源Vを制御するようになっている。なお、電源Vは、抵抗素子アレイ回路1の内部に設けられていてもよいし、抵抗素子アレイ回路1の外部に設けられていてもよい。
【0021】
[抵抗素子アレイ回路1における読み出し動作]
この抵抗素子アレイ回路1では、例えば以下のようにして各抵抗素子Rにおける抵抗値を読み出すことができる。
【0022】
例えば抵抗素子アレイ回路1において、Y軸方向にm個並ぶと共にX軸方向にn個並ぶようにマトリックス状に(m×n)個の抵抗素子Rが並んでいるものとする。その場合、制御部CTRLは、
図1に示した矢印Aの順に(m×n)個の全ての抵抗素子Rに対してセンス電流Cを順次供給し、差動アンプAMPの出力端子T3から出力信号Sを出力させる。
【0023】
具体的には、制御部CTRLは、例えば抵抗素子R(1,1)を第1番目とし、そののち、Y軸方向に並ぶ抵抗素子R(2,1)から抵抗素子R(m,1)までを順にカウントしてセンス電流Cを順次供給する。すなわち、制御部CTRLは、まず、選択スイッチSW2によりビット線B1を選択すると共に、それに沿って並ぶ抵抗素子R(1,1),R(2,1),R(3,1),・・・,R(m,1)に対し、選択スイッチSW1によりワード線W1〜Wmを順次選択して電源Vからワード線W1〜Wmへセンス電流Cを順次流すように制御する。
【0024】
制御部CTRLは、次に、Y軸方向に並ぶ抵抗素子R(1,2)から抵抗素子R(m,2)までを順にカウントしてセンス電流Cを順次供給する。すなわち、制御部CTRLは、選択スイッチSW2によりビット線B2を選択すると共に、それに沿って並ぶ抵抗素子R(1,2),R(2,2),R(3,2),・・・,R(m,2)に対し、選択スイッチSW1によりワード線W1〜Wmを順次選択して電源Vからワード線W1〜Wmへセンス電流Cを順次流すように制御する。
【0025】
制御部CTRLは、最後に、Y軸方向に並ぶ抵抗素子R(1,n)から抵抗素子R(m,n)までを順にカウントしてセンス電流Cを順次供給する。すなわち、制御部CTRLは、選択スイッチSW2によりビット線Bnを選択すると共に、それに沿って並ぶ抵抗素子R(1,n),R(2,n),R(3,n),・・・,R(m,n)に対し、選択スイッチSW1によりワード線W1〜Wmを順次選択して電源Vからワード線W1〜Wmへセンス電流Cを順次流すように制御する。
【0026】
以上の要領により、抵抗素子アレイ回路1では、各抵抗素子Rにおける抵抗値が、差動アンプAMPの出力端子T3から出力信号Sとして読み出すことができる。
【0027】
なお、
図1では、抵抗素子R(2,2)を選択した場合のセンス電流Cの経路を示している。このとき、この抵抗素子アレイ回路1では、選択スイッチSW1によりワード線W2が選択されると共に選択スイッチSW2によりビット線B2が選択されている。この場合、電源Vから配線L1を介してセンス電流
Cがワード線W2へ供給されたのち、センス電流Cは抵抗素子R(2,2)を経由して配線L3に流入する。そののち、センス電流Cは、抵抗器RGを介して接地端子GNDへ流出する。センス電流Cの大きさは、抵抗器RGの抵抗値により制限されるので、この抵抗素子アレイ回路1における読み出し動作の際に消費される消費電力量は、抵抗器RGの抵抗値に応じて低減することができる。
【0028】
[抵抗素子アレイ回路1の作用効果]
以上説明したように、本実施の形態の抵抗素子アレイ回路1では、複数のビット線Bのうち選択部SELにより選択された一の選択ビット線が接続される正入力端子T1と、非選択ビット線および非選択ワード線の双方と接続される負入力端子T2と、その負入力端子T2と接続される出力端子T3とを含む差動アンプAMPを有するようにした。このため、差動アンプAMPにおける正入力端子T1、負入力端子T2および出力端子T3の電位が実質的に同一となる。よって、出力信号Sは、非選択ビット線および非選択ワード線における電位の影響を実質的に受けず、より正確な数値となる。
【0029】
さらに、本実施の形態の抵抗素子アレイ回路1では、差動アンプAMPの正入力端子T1と接地端子GNDとの間に抵抗器RGをさらに備えるようにした。このため、抵抗器RGの抵抗値を適切な値に設定することにより、接地端子GNDへ流入するセンス電流Cを制限することができ、その結果、抵抗素子アレイ回路1の全体における読み出し動作に伴う消費電力を低減できる。
【0030】
これに対し、例えば先に挙げた特許文献1の赤外線検知回路では、選択セルからの出力を反転増幅器OPの負入力端子に接続し、反転増幅器OPの正入力端子を接地に接続するようにしている。さらに、特許文献1の赤外線検知回路では、非選択行および非選択列の双方を接地し、非選択行および非選択列の双方を反転増幅器OPの正入力端子と同電位としている。特許文献1の赤外線検知回路では、このような構成により、非選択行からの電流の回り込みを回避するようにしている。しかしながら、特許文献1の赤外線検知回路では、非選択行に流入するセンス電流は結果的に接地へ流れ込むことになるので、この赤外線検知回路全体で消費される消費電力量は極めて大きくなることが予想される。
【0031】
この点、本実施の形態の抵抗素子アレイ回路1では、差動アンプAMPにおける正入力端子T1、負入力端子T2および出力端子T3の電位が実質的に同一としつつ、抵抗器RGを設けるようにしている。したがって、出力信号Sの安定性を向上させつつ、接地端子GNDへ流入するセンス電流Cを制限することができ、その結果、抵抗素子アレイ回路1の全体における読み出し動作に伴う消費電力を低減できる。すなわち、本実施の形態の抵抗素子アレイ回路1によれば、低消費電力でありながら、より優れた動作信頼性が期待できる。
【0032】
ところで、このような抵抗素子アレイ回路1では、抵抗素子Rにおける抵抗値を読み出すにあたり、上述したように抵抗素子Rにセンス電流Cが供給される。しかしながら、抵抗素子Rは、センス電流Cが供給されることにより発熱する。そのため、本来検知すべき輻射熱により変化する抵抗値に影響が及ぶ場合がある。本実施の形態の抵抗素子アレイ回路1では、僅かながらではあるが、選択した抵抗素子R以外の非選択の抵抗素子Rにもセンス電流
Cが漏れることがある。例えば
図2に示した説明図のように、選択スイッチSW1によりワード線W2を選択すると共に選択スイッチSW2によりビット線B2を選択した場合、例えば矢印CCで示した経路で回り込み電流CCが発生する場合がある。そのとき、回り込み電流CCが通過する非選択の抵抗素子Rが発熱するので、その抵抗素子Rの抵抗値が増大することとなる。その結果、受光した赤外線の強度に関する情報を有する出力信号Sに影響が及ぶこととなる。
【0033】
そこで抵抗素子アレイ回路1では、制御部CTRLが、ビット線Bに沿ってY軸方向に並ぶ複数の抵抗素子Rに対し複数のワード線Wを介して順次センス電流
Cを供給するように電源Vを制御するようにしている。こうすることにより、回り込み電流CCに起因する発熱による出力信号Sへの影響を抑制できる。これは、例えば一のワード線Wに沿ってX軸方向に並ぶ複数の抵抗素子Rから各々の抵抗値を順次読み出す場合と比較して、同一のワード線Wに対し連続してセンス電流
Cを流す時間(連続給電時間)を短縮することができるからである。すなわち、同一のワード線Wに対する連続給電時間が長ければ、そのワード線Wに沿って並ぶ複数の抵抗素子Rにおける発熱量も増大することとなる。しかし、上述のように制御部CTRLが電源Vを制御することにより連続給電時間を短くできるので、抵抗素子Rにおける発熱量を低減できる。
【0034】
さらに、抵抗素子アレイ回路1では、複数のワード線Wの数mを複数のビット線Bの数nよりも多くした場合(m>n)には、抵抗素子Rの発熱による出力信号Sへの影響を抑制できる。その理由は、第1に、同数の抵抗素子Rを配列した場合に、複数のビット線Bの数nが複数のワード線Wの数mよりも多い場合(m<n)と比較して各ワード線W上に並ぶ抵抗素子Rの数を減らすことができるからである。このため、あるワード線Wにセンス電流
Cを給電した際の、当該ワード線Wに沿って並ぶ全ての抵抗素子Rの合計の発熱量を抑えることができるからである。第2に、同数の抵抗素子Rを配列した場合に、複数のビット線Bの数nが複数のワード線Wの数mよりも多い場合(m<n)と比較して、複数のワード線Wに対して順次給電したのち、再度同一のワード線Wに給電するまでの時間の間隔を広げることができるからである。このため、各ワード線Wに沿って並ぶ抵抗素子Rを冷却する時間がより多く確保され、各ワード線Wに沿って並ぶ抵抗素子Rの温度上昇を抑えることができる。
【0035】
<2.第2の実施の形態>
[抵抗素子アレイ回路ユニット2の全体構成例]
図3は、本発明の第2の実施の形態に係る抵抗素子アレイ回路ユニット2の全体構成例を模式的に表した概略図である。抵抗素子アレイ回路ユニット2は、複数の抵抗素子アレイ回路1(1A〜1D)を備えている。なお、
図3では、4つの抵抗素子アレイ回路1A〜1Dを備える場合を例示しているが、本発明はこれに限定されない。また、抵抗素子アレイ回路1A〜1Dは、いずれも、上記第1の実施の形態で説明した抵抗素子アレイ回路1と実質的に同じ構成を有する。但し、抵抗素子アレイ回路ユニット2では、抵抗素子アレイ回路1A〜1Dには制御部CTRLが含まれておらず、抵抗素子アレイ回路1A〜1Dの全てに対し共通に制御部3が設けられている。
【0036】
制御部3は、ビット線Bに沿ってY軸方向に並ぶ複数の抵抗素子Rに対し複数のワード線Wを介してセンス電流
Cを順次供給するように電源Vを制御する読み出し制御を、複数の抵抗素子アレイ回路1A〜1Dにおいて並行して行うようになっている。また、制御部3は、記憶部31と、処理部としての中央演算処理装置(CPU)32とを有している。記憶部31には、上述した読み出し制御により複数の抵抗素子アレイ回路1A〜1Dからそれぞれ読み出された複数の抵抗値データが保持されるようになっている。CPU32は、記憶部31に保持された複数の抵抗値データを順次出力するようになっている。
【0037】
このように、本実施の形態に係る抵抗素子アレイ回路ユニット2では、複数の抵抗素子がマトリックス状に配列された抵抗素子アレイを複数の(例えば4つの)領域に分割し、複数の領域における読み出し動作を時間的に並行して行うようにした。このため、より短時間で出力信号Sを得ることができる。
【0038】
<3.変形例>
以上、いくつかの実施の形態を挙げて本開示を説明したが、本開示はこれらの実施の形態に限定されず、種々の変形が可能である。
【0039】
例えば、上記実施の形態では、抵抗素子アレイ回路1における各構成要素の構成例(配置、個数等)を具体的に挙げて説明したが、それらは上記実施の形態で説明したものには限られず、他の配置や個数等を選択してもよい。
【0040】
また、上記実施の形態では、抵抗素子アレイ回路が赤外線サーモグラフィに搭載され、抵抗素子アレイ回路に照射される赤外線を、その強度に応じた電気信号に変換して出力信号Sとして出力する場合について説明した。しかしながら、本発明はこれに限定されるものではない。例えば抵抗素子はマイクロボロメータに限定されず、磁気トンネル接合素子であってもよい。その場合、抵抗素子アレイ回路はMRAM回路として利用できる。
【0041】
また、上記第2の実施の形態で説明した抵抗素子アレイ回路ユニット2は、複数の抵抗素子アレイ回路1(1A〜1D)が同一の基板に設けられたものであってもよいし、複数の抵抗素子アレイ回路1(1A〜1D)が2以上の基板に設けられたものであってもよい。
【0042】
加えて、上記実施の形態で説明した一連の処理は、ハードウェア(回路)で行われるようにしてもよいし、ソフトウェア(プログラム)で行われるようにしてもよい。ソフトウェアで行われるようにした場合、そのソフトウェアは、各機能をコンピュータにより実行させるためのプログラム群で構成される。各プログラムは、例えば、上記コンピュータに予め組み込まれて用いられてもよいし、ネットワークや記録媒体から上記コンピュータにインストールして用いられてもよい。
【0043】
なお、本明細書中に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、また、他の効果があってもよい。