特許第6853411号(P6853411)IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」

▶ 深▲せん▼市華星光電半導体顕示技術有限公司の特許一覧

特許6853411デプレッション型TFTのOLED外部補償回路
<>
  • 特許6853411-デプレッション型TFTのOLED外部補償回路 図000002
  • 特許6853411-デプレッション型TFTのOLED外部補償回路 図000003
  • 特許6853411-デプレッション型TFTのOLED外部補償回路 図000004
  • 特許6853411-デプレッション型TFTのOLED外部補償回路 図000005
  • 特許6853411-デプレッション型TFTのOLED外部補償回路 図000006
  • 特許6853411-デプレッション型TFTのOLED外部補償回路 図000007
  • 特許6853411-デプレッション型TFTのOLED外部補償回路 図000008
  • 特許6853411-デプレッション型TFTのOLED外部補償回路 図000009
< >
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】6853411
(24)【登録日】2021年3月15日
(45)【発行日】2021年3月31日
(54)【発明の名称】デプレッション型TFTのOLED外部補償回路
(51)【国際特許分類】
   G09G 3/3233 20160101AFI20210322BHJP
   G09G 3/20 20060101ALI20210322BHJP
   H01L 51/50 20060101ALI20210322BHJP
   H01L 27/32 20060101ALI20210322BHJP
【FI】
   G09G3/3233
   G09G3/20 611H
   G09G3/20 612T
   G09G3/20 621A
   G09G3/20 622D
   G09G3/20 612E
   G09G3/20 624E
   G09G3/20 670J
   G09G3/20 624B
   H05B33/14 A
   H01L27/32
【請求項の数】4
【全頁数】11
(21)【出願番号】特願2020-506164(P2020-506164)
(86)(22)【出願日】2017年9月15日
(65)【公表番号】特表2020-529632(P2020-529632A)
(43)【公表日】2020年10月8日
(86)【国際出願番号】CN2017101976
(87)【国際公開番号】WO2019033494
(87)【国際公開日】20190221
【審査請求日】2020年2月5日
(31)【優先権主張番号】201710693609.5
(32)【優先日】2017年8月14日
(33)【優先権主張国】CN
(73)【特許権者】
【識別番号】519293715
【氏名又は名称】深▲せん▼市華星光電半導体顕示技術有限公司
【氏名又は名称原語表記】SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR DISPLAY TECHNOLOGY CO.,LTD.
(74)【代理人】
【識別番号】110003063
【氏名又は名称】特許業務法人牛木国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】石 龍強
【審査官】 斎藤 厚志
(56)【参考文献】
【文献】 国際公開第2015/033496(WO,A1)
【文献】 特開2017−068032(JP,A)
【文献】 米国特許出願公開第2015/0187273(US,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G09G 3/3233
G09G 3/20
H01L 27/32
H01L 51/50
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1薄膜トランジスタと、第2薄膜トランジスタと、キャパシタと、有機発光ダイオードと、補償回路とを含む、デプレッション型TFTのOLED外部補償回路であって、
前記第2薄膜トランジスタはデプレッション型であり、
前記第1薄膜トランジスタのゲート電極にはゲート線信号が入力され、ソース電極にはデータ信号が入力され、ドレイン電極は第1ノードに接続されており、
前記第2薄膜トランジスタのゲート電極は前記第1ノードに接続されており、ソース電極には直流高電圧電源が入力され、ドレイン電極は第2ノードに接続されており、
前記キャパシタの両端はそれぞれ前記第1ノード及び前記第2ノードに接続されており、
前記有機発光ダイオードのアノードは前記第2ノードに接続され、カソードは接地されており、
前記補償回路は前記第1ノード及び前記第2ノードに接続されており、第1交流基準電位及び第2交流基準電位が前記補償回路に入力され、
前記第1交流基準電位及び前記第2交流基準電位は、各フレームのブランキング期間に立ち上がり、各フレームが正常に動作している間はオフとなり、
前記第1交流基準電位及び前記第2交流基準電位が立ち上がることで、前記補償回路は前記第1ノード及び前記第2ノードの電位を変更することを特徴とするデプレッション型TFTのOLED外部補償回路。
【請求項2】
前記補償回路は第3薄膜トランジスタ及び第4薄膜トランジスタを含んでおり、前記第3薄膜トランジスタのゲート電極には前記第1交流基準電位が入力され、ソース電極には前記第1交流基準電位が入力され、ドレイン電極は前記第1ノードに接続されており、前記第4薄膜トランジスタのゲート電極には前記第1交流基準電位が入力され、ソース電極には前記第2交流基準電位が入力され、ドレイン電極は前記第2ノードに接続されていることを特徴とする請求項に記載のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路。
【請求項3】
動作時において、
第1段階では、前記第1交流基準電位及び前記第2交流基準電位が高電位にあるため、前記第3薄膜トランジスタ及び前記第4薄膜トランジスタはオンとなり、前記第1交流基準電位の信号は前記第1ノードに書き込まれ、前記第2交流基準電位の信号は前記第2ノードに書き込まれ、
第2段階では、前記ゲート線信号及び前記第1交流基準電位は低電位にあり、前記第1薄膜トランジスタ、前記第3薄膜トランジスタ及び前記第4薄膜トランジスタはオフとなり、前記第2薄膜トランジスタは依然としてオンの状態にあり、
第3段階では、前記ゲート線信号が高電位にあるとき、前記第1薄膜トランジスタはオンとなり、前記データ信号は前記第1ノードに書き込まれることを特徴とする請求項に記載のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路。
【請求項4】
前記第1交流基準電位と前記第2交流基準電位との間の電圧差を調節することができることを特徴とする請求項に記載のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は液晶ディスプレイの分野に関するものであり、特にデプレッション型TFTのOLED外部補償回路に関するものである。
【背景技術】
【0002】
有機発光ダイオード(Organic Light Emitting Display、OLED)表示装置は、自発光、低駆動電圧、高発光効率、短応答時間、高解像度、高コントラスト、180°に近い視野角、広動作温度範囲、フレキシブル表示の実現可能性、及び大面積フルカラー表示の実現可能性等の様々な優れた点を有しており、業界で開発ポテンシャルが最も高いディスプレイ装置であると認識されている。
【0003】
図1は、従来の2T1CのOLED駆動回路を示す図である。従来のOLED駆動回路は2T1Cの構成をなしており、即ち、2つの薄膜トランジスタ(TFT)に1つのキャパシタを加えた構成で電圧を電流に変換するものである。T1はデータ信号Vdataの入力を制御するためのスイッチングTFTであり、T2はOLEDを流れる電流を制御するための駆動TFTであり、Cstはストレージキャパシタである。長時間の動作により、T2に強い電圧ストレス(stress)がかかることで、閾値電圧Vthはシフトすることになる。既知の電流の公式Ids=β/2(Vgs−Vth)^2によると、Vdataが不変である場合、Vthの変化は必然的にIdsに変化をもたらす。OLEDは電流駆動であるため、この変化はOLEDの輝度に必然的に影響を及ぼし、正常な表示に影響を及ぼすこととなる。このような問題を解決するために、内部補償回路を導入することでVthシフト(shift)の影響を打ち消す考え方がある。しかしながら、現在使用されている補償回路は比較的複雑で、TFTの数は通常5つ以上である。このような多数のTFTは非常に多くのスペースを占有し、必然的にピクセル(pixel)の開口領域の面積に影響を与えるため、高開口率及び高解像度ディスプレイの設計に不利となる。
【0004】
BCE(バックチャネルエッチング)構造を有するIGZO(酸化インジウムガリウム亜鉛)TFTは、現在注目されている研究テーマである。しかしながら、既存のIGZO TFTの電気的性能としては、そのほとんどがデプレッション型TFTであるため、閾値電圧(Vth)は負である。図2に示すようなデプレッション型IGZO-TFTの伝達特性曲線において、横軸は電圧(ボルト)を表し、縦軸は電流(アンペア)を表す。デプレッション型IGZO-TFTの特性により、回路設計はより複雑なものとなる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
このため、本発明の目的は、従来におけるデプレッション型TFT及びOLED外部補償の設計が複雑であるという点に対して、デプレッション型TFTのOLED外部補償回路を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記の目的を達成するために、本発明はデプレッション型TFTのOLED外部補償回路を提供し、当該外部補償回路は、
第1薄膜トランジスタと、第2薄膜トランジスタと、キャパシタと、有機発光ダイオードと、補償回路とを含んでおり、
前記第2薄膜トランジスタはデプレッション型であり、
前記第1薄膜トランジスタのゲート電極にはゲート線信号が入力され、ソース電極にはデータ信号が入力され、ドレイン電極は第1ノードに接続されており、
前記第2薄膜トランジスタのゲート電極は前記第1ノードに接続されており、ソース電極には直流高電圧電源が入力され、ドレイン電極は第2ノードに接続されており、
前記キャパシタの両端はそれぞれ前記第1ノード及び前記第2ノードに接続されており、
前記有機発光ダイオードのアノードは前記第2ノードに接続され、カソードは接地されており、
前記補償回路は前記第1ノード及び前記第2ノードに接続されており、交流リセット信号が前記補償回路に入力され、
前記交流リセット信号は、OLEDディスプレイ装置が画像を表示する際の各フレームのブランキング期間に立ち上がり、各フレームが正常に動作している間はオフとなり、
前記交流リセット信号が立ち上がることで、前記補償回路は前記第1ノード及び前記第2ノードの電位を変更する。
【0007】
ここで、前記補償回路は第3薄膜トランジスタを含んでおり、前記第3薄膜トランジスタのゲート電極には前記交流リセット信号が入力され、ソース電極には直流基準電位が入力され、ドレイン電極は前記第1ノード及び前記第2ノードの双方に接続されている。
【0008】
ここで、動作時において、
第1段階では、前記交流リセット信号が高電位にあるため、前記第3薄膜トランジスタはオンとなり、前記直流基準電位の信号は前記第1ノード及び前記第2ノードに書き込まれ、
第2段階では、前記ゲート線信号及び前記交流リセット信号は低電位にあり、前記第1薄膜トランジスタ及び前記第3薄膜トランジスタはオフとなり、前記第2薄膜トランジスタは依然としてオンの状態にあり、
第3段階では、前記ゲート線信号が高電位にあるとき、前記第1薄膜トランジスタはオンとなり、前記データ信号は前記第1ノードに書き込まれる。
【0009】
本発明は他のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路を提供し、当該外部補償回路は、
第1薄膜トランジスタと、第2薄膜トランジスタと、キャパシタと、有機発光ダイオードと、補償回路とを含んでおり、
前記第2薄膜トランジスタはデプレッション型であり、
前記第1薄膜トランジスタのゲート電極にはゲート線信号が入力され、ソース電極にはデータ信号が入力され、ドレイン電極は第1ノードに接続されており、
前記第2薄膜トランジスタのゲート電極は前記第1ノードに接続されており、ソース電極には直流高電圧電源が入力され、ドレイン電極は第2ノードに接続されており、
前記キャパシタの両端はそれぞれ前記第1ノード及び前記第2ノードに接続されており、
前記有機発光ダイオードのアノードは前記第2ノードに接続され、カソードは接地されており、
前記補償回路は前記第1ノード及び前記第2ノードに接続されており、交流基準電位が前記補償回路に入力され、
前記交流基準電位は、OLEDディスプレイ装置が画像を表示する際の各フレームのブランキング期間に立ち上がり、各フレームが正常に動作している間はオフとなり、
前記交流基準電位が立ち上がることで、前記補償回路は前記第1ノード及び前記第2ノードの電位を変更する。
【0010】
ここで、前記補償回路は第3薄膜トランジスタ及び第4薄膜トランジスタを含んでおり、前記第3薄膜トランジスタのゲート電極には前記交流基準電位が入力され、前記第3薄膜トランジスタのソース電極は前記第4薄膜トランジスタのソース電極/ドレイン電極の内の一方に接続されており、前記第3薄膜トランジスタのドレイン電極は前記第1ノード及び前記第2ノードの双方に接続されており、前記第4薄膜トランジスタのゲート電極には前記交流基準電位が入力され、ソース電極/ドレイン電極の内の他方にも前記交流基準電位が入力される。
【0011】
ここで、動作時において、
第1段階では、前記交流基準電位が高電位にあるため、前記第3薄膜トランジスタ及び前記第4薄膜トランジスタはオンとなり、前記交流基準電位の信号は前記第1ノード及び前記第2ノードに書き込まれ、
第2段階では、前記ゲート線信号及び前記交流基準電位は低電位にあり、前記第1薄膜トランジスタ、前記第3薄膜トランジスタ及び前記第4薄膜トランジスタはオフとなり、前記第2薄膜トランジスタは依然としてオンの状態にあり、
第3段階では、前記ゲート線信号が高電位にあるとき、前記第1薄膜トランジスタはオンとなり、前記データ信号は前記第1ノードに書き込まれる。
【0012】
本発明はさらなるデプレッション型TFTのOLED外部補償回路を提供し、当該外部補償回路は、
第1薄膜トランジスタと、第2薄膜トランジスタと、キャパシタと、有機発光ダイオードと、補償回路とを含んでおり、
前記第2薄膜トランジスタはデプレッション型であり、
前記第1薄膜トランジスタのゲート電極にはゲート線信号が入力され、ソース電極にはデータ信号が入力され、ドレイン電極は第1ノードに接続されており、
前記第2薄膜トランジスタのゲート電極は前記第1ノードに接続されており、ソース電極には直流高電圧電源が入力され、ドレイン電極は第2ノードに接続されており、
前記キャパシタの両端はそれぞれ前記第1ノード及び前記第2ノードに接続されており、
前記有機発光ダイオードのアノードは前記第2ノードに接続され、カソードは接地されており、
前記補償回路は前記第1ノード及び前記第2ノードに接続されており、第1交流基準電位及び第2交流基準電位が前記補償回路に入力され、
前記第1交流基準電位及び前記第2交流基準電位は、OLEDディスプレイ装置が画像を表示する際の各フレームのブランキング期間に立ち上がり、各フレームが正常に動作している間はオフとなり、
前記第1交流基準電位及び前記第2交流基準電位が立ち上がることで、前記補償回路は前記第1ノード及び前記第2ノードの電位を変更する。
【0013】
ここで、前記補償回路は第3薄膜トランジスタ及び第4薄膜トランジスタを含んでおり、前記第3薄膜トランジスタのゲート電極には前記第1交流基準電位が入力され、ソース電極には前記第1交流基準電位が入力され、ドレイン電極は前記第1ノードに接続されており、前記第4薄膜トランジスタのゲート電極には前記第1交流基準電位が入力され、ソース電極には前記第2交流基準電位が入力され、ドレイン電極は前記第2ノードに接続されている。
【0014】
ここで、動作時において、
第1段階では、前記第1交流基準電位及び前記第2交流基準電位が高電位にあるため、前記第3薄膜トランジスタ及び前記第4薄膜トランジスタはオンとなり、前記第1交流基準電位の信号は前記第1ノードに書き込まれ、前記第2交流基準電位の信号は前記第2ノードに書き込まれ、
第2段階では、前記ゲート線信号及び前記第1交流基準電位は低電位にあり、前記第1薄膜トランジスタ、前記第3薄膜トランジスタ及び前記第4薄膜トランジスタはオフとなり、前記第2薄膜トランジスタは依然としてオンの状態にあり、
第3段階では、前記ゲート線信号が高電位にあるとき、前記第1薄膜トランジスタはオンとなり、前記データ信号は前記第1ノードに書き込まれる。
【0015】
ここで、前記第1交流基準電位と前記第2交流基準電位との間の電圧差を調節することができる。
【発明の効果】
【0016】
以上のように、本発明は、従来におけるデプレッション型TFT及びOLED外部補償の設計が複雑であるという点に対して、デプレッション型TFTに好適に用いられ得るOLED外部補償回路を提供する。本発明における他のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路では、システムチップのコストが削減され、コストの削減を達成することができる。本発明におけるさらなるデプレッション型TFTのOLED外部補償回路は、増強型TFT(Vthは正である)の回路と互換性を有する。
【図面の簡単な説明】
【0017】
以下において、添付の図面を用いて、本発明の具体的な実施形態について詳述することで、本発明の技術案及びその他の有益な効果が明確にされる。
【0018】
添付の図面において、
図1】従来における2T1CのOLED駆動回路を示す図である。
図2】デプレッション型IGZO-TFTの伝達特性曲線である。
図3】本発明における第1のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路を示す図である。
図4】本発明における第1のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路に係る波形図である。
図5】本発明における第2のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路を示す図である。
図6】本発明における第2のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路に係る波形図である。
図7】本発明における第3のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路を示す図である。
図8】本発明における第3のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路に係る波形図である。
【発明を実施するための形態】
【0019】
図3は本発明における第1の外部補償回路を示し、当該回路は、3つのTFT及び1つのCstで構成されている。当該回路と既存の外部補償回路との主な相違点は、補償回路10を有していることであり、補償回路10は薄膜トランジスタT3を含んでいる。薄膜トランジスタT3のゲート電極には交流リセット信号Resetが入力され、ソース電極には直流基準電位Vrefが入力され、ドレイン電極はノードS(N)及びノードT(N)の双方に接続されている。Vdataはデータ信号であり;G(N)は任意の1本のゲート線(gate line)に対応する信号であり、高電位が28V、低電位が−7Vであり;VDDは直流(DC)高電圧電源であり、電位は通常28Vに設定されており; Vrefは、基準電位であり、VDDよりも低いDC高電圧電源であり、電位は通常5Vに設定されており;リセット信号Resetは交流であり、高電位が28V、低電位が−7Vである。
【0020】
本発明の対象とするデプレッション型TFTは、IGZOTFTであってもよい。
【0021】
図4は、対応する波形図である。各信号間の対応関係が示されている。ここで、STVはトリガー信号であり、最初のSTVから2番目のSTVまでの間隔を1フレーム(frame)の時間として定義する。ここで、補償回路の動作工程を理解するために、OLEDディスプレイ装置のSTV信号を用いる。リセット信号Resetは、各フレームのブランキング期間(blanking time)に立ち上がり、各フレームが正常に動作している間はオフとなる。ブランキング期間とは、OLEDディスプレイ装置の第n番目のフレーム画像信号の終わりと、第n+1番目のフレーム画像信号の始まりとの間の期間である。
【0022】
以下において、動作状態について説明する。
【0023】
第1段階:
Blanking time段階、この段階では、Resetが高電位にあるため、T3はオンとなり、Vrefの信号はS(N)及びT(N)に書き込まれ、T2TFTのゲート電極(Gate)及びソース電極(source)側の電位はVrefの電位に書き換えられ、全てのTFTに対してリセットが行われ、この際、Vgs = Vg−Vs = V_S(N)−V_T(N)= Vref−Vref =0となる。
【0024】
第2段階:Vth抽出段階。このとき、G(N)及びResetの電位は低電位であり、T1及びT3はオフとなる。デプレッション型TFT(Vth <0)であるため、T2は依然としてオンの段階にある。
【0025】
Vds=VDD−T(N)、Vgs=0≪Vdsであるため、T2は飽和段階にある。従って、最終平衡段階では、Vgs= Vth、Vs = Vg−Vth= Vref−Vthが得られる。
【0026】
第3段階:Vth補償段階。G(N)がオンとなったとき、T1はオンとなり、データ(data)の信号VdataはノードS(N)に書き込まれ、この際、T2では、Vgs = V_S(N)−V_T(N)= Vdata−(Vref−Vth)= Vdata−Vref+Vthとなる。
【0027】
このとき、飽和電流の公式Ids=β/2(Vgs−Vth)^2= β/2(Vdata−Vref+Vth−Vth)^2=β/2(Vdata−Vref)^2に基づき、電流とVthとが無関係となるため、非常に好ましい補償効果が得られる。
【0028】
図5は本発明における第2の外部補償回路を示し、当該回路は、4つのTFT及び1つのCstで構成されている。補償回路20は、薄膜トランジスタT3及び薄膜トランジスタT4を含む。T3のゲート電極には交流基準電位VRefが入力され、T3のソース電極は前記T4のソース電極/ドレイン電極の内の一方に接続されており、T3のドレイン電極はノードS(N)及びノードT(N)の双方に接続されている。T4のゲート電極には当該交流基準電位VRefが入力され、ソース電極/ドレイン電極の内の他方にも当該交流基準電位VRefが入力される。Vdataはデータ信号であり;G(N)は任意の1本のgate lineに対応する信号であり、高電位が28V、低電位が−7Vであり;VDDはDC高電圧電源であり、電位は通常28Vに設定されており; Vrefは基準電位であり、交流であり、高電位が28V、低電位が−7Vである。
【0029】
図6は、対応する波形図である。各信号間の対応関係が示されている。ここで、STVはトリガー信号であり、最初のSTVから2番目のSTVまでの間隔を1フレームの時間として定義する。Vrefは、各フレームのblanking timeに立ち上がり、各フレームが正常に動作している間はオフとなる。
【0030】
第1の外部補償回路と比較して、第2の外部補償回路では、TFTが1つ増加されており、スペースの増加を要しているものの、Resetの信号が省かれており、システムチップ(IC)のコストが削減されるため、コストの削減を達成することができる。
【0031】
以下において、動作状態について説明する。
【0032】
第1段階:
Blanking time段階、この段階では、Vrefが高電位にあるため、T3及びT4はオンとなり、Vrefの信号はS(N)及びT(N)に書き込まれ、T2TFTのGate及びsource側の電位はVrefの電位に書き換えられ、全てのTFTに対してリセットが行われ、この際、Vgs = Vg−Vs = V_S(N)−V_T(N)= Vref−Vref =0となる。
【0033】
第2段階:Vth抽出段階。このとき、G(N)及びVrefの電位は低電位であり、T1、T3及びT4はオフとなる。デプレッション型TFT(Vth <0)であるため、T2は依然としてオンの段階にある。
【0034】
Vds=VDD−T(N)、 Vgs=0≪Vdsであるため、T2は飽和段階にある。従って、最終平衡段階では、Vgs= Vth、Vs = Vg−Vth= Vref−Vthが得られる。
【0035】
第3段階:Vth補償段階。G(N)がオンとなったとき、T1はオンとなり、dataの信号VdataはノードS(N)に書き込まれ、この際、T2では、Vgs = V_S(N)−V_T(N)= Vdata−(Vref−Vth)= Vdata−Vref+Vthとなる。
【0036】
このとき、飽和電流の公式Ids=β/2(Vgs−Vth)^2= β/2(Vdata−Vref+Vth−Vth)^2=β/2(Vdata−Vref)^2に基づき、電流とVthとが無関係となるため、非常に好ましい補償効果が得られる。
【0037】
図7は本発明における第3の外部補償回路を示し、当該回路は、4つのTFT及び1つのCstで構成されている。補償回路30は、薄膜トランジスタT3及び薄膜トランジスタT4を含む。T3のゲート電極には交流基準電位Vref1が入力され、T3のソース電極には当該交流基準電位Vref1が入力され、T3のドレイン電極はノードS(N)に接続されている。T4のゲート電極には交流基準電位Vref1が入力され、T4のソース電極には交流基準電位Vref2が入力され、T4のドレイン電極はノードT(N)に接続されている。Vdataはデータ信号であり;G(N)は任意の1本のgate lineに対応する信号であり、高電位が28V、低電位が−7Vであり;VDDはDC高電圧電源であり、電位は通常28Vに設定されており; Vref1及びVref2はいずれも基準電位であり、交流であり、高電位が28V、低電位が−7Vである。ここで、Vref1とVref2との間の電圧差を調節することができる。
【0038】
図8は、対応する波形図である。各信号間の対応関係が示されている。 ここで、STVはトリガー信号であり、最初のSTVから2番目のSTVまでの間隔を1フレームの時間として定義する。Vrefは、各フレームのblanking timeに立ち上がり、各フレームが正常に動作している間はオフとなる。
【0039】
先述の2つの回路と比較して、本回路の特徴は、Vref1とVref2との間の電圧差を調節できることである。増強型TFT(Vthは正である)の回路と互換性を有する。
【0040】
以下において、動作状態について説明する。
【0041】
第1段階:
Blanking time段階、この段階では、Vref1及びVRef2が高電位にあるため、T3及びT4はオンとなり、Vref1の信号はS(N)に書き込まれ、Vref2の信号はT(N)に書き込まれる。即ち、T2TFTのGate及びsource側の電位はそれぞれVref1及びVref2の電位に書き換えられ、全てのTFTに対してリセットが行われ、この際、Vgs = Vg−Vs = V_S(N)−V_T(N)= Vref−Vrefとなる。
【0042】
デプレッション型のTFTである場合、即ちVth<0、Vgs=Vref1−Vref2を0以下でVthより大きくなるように設定することができる。
【0043】
増強型のTFTである場合、即ちVth>0、Vgs=Vref1−Vref2を0以上でVthより大きくなるように設定することができる。
【0044】
第2段階:Vth抽出段階。このとき、G(N)とVref1の電位は低電位であり、T1、T3及びT4はオフとなる。Vref1及びVref2の設定では、Vgs=Vref1−Vref2>=Vthであることが保証されているため、T2は依然としてオンの段階にある。
【0045】
Vds=VDD−T(N)、Vgs=Vref1−Vref2≪Vdsであるため、T2は飽和段階にある。従って、最終平衡段階では、Vgs= Vth、Vs = Vg−Vth= Vref1−Vthが得られる。
【0046】
第3段階:Vth補償段階。G(N)がオンとなったとき、T1はオンとなり、dataの信号VdataはノードS(N)に書き込まれ、この際、T2では、Vgs = V_S(N)−V_T(N)= Vdata−(Vref1−Vth)= Vdata−Vref1+Vthとなる。
【0047】
このとき、飽和電流の公式Ids=β/2(Vgs−Vth)^2= β/2(Vdata−Vref1+Vth−Vth)^2=β/2(Vdata−Vref1)^2に基づき、電流とVthとが無関係となるため、非常に好ましい補償効果が得られる。
【0048】
以上のように、本発明は、従来におけるデプレッション型TFT及びOLED外部補償の設計が複雑であるという点に対して、デプレッション型TFTに好適に用いられ得るOLED外部補償回路を提供する。本発明における他のデプレッション型TFTのOLED外部補償回路では、システムチップのコストが削減され、コストの削減を達成することができる。本発明におけるさらなるデプレッション型TFTのOLED外部補償回路は、増強型TFT(Vthは正である)の回路と互換性を有する。
【0049】
このように、本分野の通常の技術者は、本発明の技術案及び技術的思想に基づいて、その他各種の対応する改変及び変形を施すことができ、これら改変及び変形はいずれも本発明の特許請求の範囲で保護を求める範囲に属する。
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8