特許6863377微小粒子測定装置及び微小粒子測定装置の洗浄方法

発明の名称　微小粒子測定装置及び微小粒子測定装置の洗浄方法

出願人　ソニー株式会社　（識別番号 2185）

　　　　特許公開件数ランキング 142 位（229件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 18 位（809件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-6863377

公報発行日　2021年4月21

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-B9-6863377

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