(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
【発明を実施するための形態】
【0020】
<ガスセンサの概略構成>
初めに、本実施の形態に係るセンサ素子101を含む、ガスセンサ100の概略構成について説明する。本実施の形態においては、ガスセンサ100が、センサ素子101によってNOxを検知し、その濃度を測定する、限界電流型のNOxセンサである場合を例として説明を行う。
【0021】
図1は、センサ素子101の長手方向に沿った垂直断面図を含む、ガスセンサ100の構成の一例を概略的に示す図である。また、
図2は、
図1のA−A’位置におけるセンサ素子101の長手方向に垂直な断面の概略図である。
【0022】
センサ素子101は、それぞれが酸素イオン伝導性固体電解質であるジルコニア(ZrO
2)からなる(例えばイットリウム安定化ジルコニア(YSZ)などからなる)、第1基板層1と、第2基板層2と、第3基板層3と、第1固体電解質層4と、スペーサ層5と、第2固体電解質層6との6つの固体電解質層が、図面視で下側からこの順に積層された構造を有する、平板状の(長尺板状の)素子である。また、これら6つの層を形成する固体電解質は緻密な気密のものである。なお、以降においては、
図1におけるこれら6つの層のそれぞれの上側の面を単に上面、下側の面を単に下面と称することがある。また、センサ素子101のうち固体電解質からなる部分全体を基体部と総称する。
【0023】
係るセンサ素子101は、例えば、各層に対応するセラミックスグリーンシートに所定の加工および回路パターンの印刷などを行った後にそれらを積層し、さらに、焼成して一体化させることによって製造される。
【0024】
センサ素子101の一先端部であって、第2固体電解質層6の下面と第1固体電解質層4の上面との間には、ガス導入口10と、第1拡散律速部11と、緩衝空間12と、第2拡散律速部13と、第1内部空所20と、第3拡散律速部30と、第2内部空所40とが、この順に連通する態様にて隣接形成されてなる。
【0025】
ガス導入口10と、緩衝空間12と、第1内部空所20と、第2内部空所40とは、スペーサ層5をくり抜いた態様にて設けられた上部を第2固体電解質層6の下面で、下部を第1固体電解質層4の上面で、側部をスペーサ層5の側面で区画されたセンサ素子101内部の空間である。
【0026】
第1拡散律速部11と、第2拡散律速部13と、第3拡散律速部30とはいずれも、2本の横長の(図面に垂直な方向に開口が長手方向を有する)スリットとして設けられる。なお、ガス導入口10から第2内部空所40に至る部位をガス流通部とも称する。
【0027】
また、ガス流通部よりも先端側から遠い位置には、第3基板層3の上面と、スペーサ層5の下面との間であって、側部を第1固体電解質層4の側面で区画される位置に基準ガス導入空間43が設けられている。基準ガス導入空間43には、NOx濃度の測定を行う際の基準ガスとして、例えば大気が導入される。
【0028】
大気導入層48は、多孔質アルミナからなる層であって、大気導入層48には基準ガス導入空間43を通じて基準ガスが導入されるようになっている。また、大気導入層48は、基準電極42を被覆するように形成されている。
【0029】
基準電極42は、第3基板層3の上面と第1固体電解質層4とに挟まれる態様にて形成される電極であり、上述のように、その周囲には、基準ガス導入空間43につながる大気導入層48が設けられている。また、後述するように、基準電極42を用いて第1内部空所20内や第2内部空所40内の酸素濃度(酸素分圧)を測定することが可能となっている。
【0030】
ガス流通部において、ガス導入口10は、外部空間に対して開口してなる部位であり、該ガス導入口10を通じて外部空間からセンサ素子101内に被測定ガスが取り込まれるようになっている。
【0031】
第1拡散律速部11は、ガス導入口10から取り込まれた被測定ガスに対して、所定の拡散抵抗を付与する部位である。
【0032】
緩衝空間12は、第1拡散律速部11より導入された被測定ガスを第2拡散律速部13へと導くために設けられた空間である。
【0033】
第2拡散律速部13は、緩衝空間12から第1内部空所20に導入される被測定ガスに対して、所定の拡散抵抗を付与する部位である。
【0034】
被測定ガスが、センサ素子101外部から第1内部空所20内まで導入されるにあたって、外部空間における被測定ガスの圧力変動(被測定ガスが自動車の排気ガスの場合であれば排気圧の脈動)によってガス導入口10からセンサ素子101内部に急激に取り込まれた被測定ガスは、直接第1内部空所20へ導入されるのではなく、第1拡散律速部11、緩衝空間12、第2拡散律速部13を通じて被測定ガスの濃度変動が打ち消された後、第1内部空所20へ導入されるようになっている。これによって、第1内部空所20へ導入される被測定ガスの濃度変動はほとんど無視できる程度のものとなる。
【0035】
第1内部空所20は、第2拡散律速部13を通じて導入された被測定ガス中の酸素分圧を調整するための空間として設けられている。係る酸素分圧は、主ポンプセル21が作動することによって調整される。
【0036】
主ポンプセル21は、第1内部空所20に面する第2固体電解質層6の下面のほぼ全面に設けられた天井電極部22aを有する内側ポンプ電極22と、第2固体電解質層6の上面(センサ素子101の一方主面)の天井電極部22aと対応する領域に外部空間に露出する態様にて設けられた外側ポンプ電極23と、これらの電極に挟まれた第2固体電解質層6とによって構成されてなる電気化学的ポンプセルである。
【0037】
内側ポンプ電極22は、第1内部空所20を区画する上下の固体電解質層(第2固体電解質層6および第1固体電解質層4)、および、側壁を与えるスペーサ層5にまたがって形成されている。具体的には、第1内部空所20の天井面を与える第2固体電解質層6の下面には天井電極部22aが形成され、また、底面を与える第1固体電解質層4の上面には底部電極部22bが形成され、そして、それら天井電極部22aと底部電極部22bとを接続するように、側部電極部22c(
図2)が第1内部空所20の両側壁部を構成するスペーサ層5の側壁面(内面)に形成されて、該側部電極部の配設部位においてトンネル形態とされた構造において配設されている。
【0038】
内側ポンプ電極22と外側ポンプ電極23とは、多孔質サーメット電極(例えば、Auを1%含むPtとZrO
2とのサーメット電極)として形成される。なお、被測定ガスに接触する内側ポンプ電極22は、被測定ガス中のNOx成分に対する還元能力を弱めた材料を用いて形成される。
【0039】
主ポンプセル21においては、内側ポンプ電極22と外側ポンプ電極23との間に可変電源24によって所望のポンプ電圧Vp0を印加して、内側ポンプ電極22と外側ポンプ電極23との間に正方向あるいは負方向にポンプ電流Ip0を流すことにより、第1内部空所20内の酸素を外部空間に汲み出し、あるいは、外部空間の酸素を第1内部空所20に汲み入れることが可能となっている。
【0040】
また、第1内部空所20における雰囲気中の酸素濃度(酸素分圧)を検出するために、内側ポンプ電極22と、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4と、第3基板層3と、基準電極42によって、電気化学的なセンサセル、すなわち、主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル80が構成されている。
【0041】
主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル80における起電力V0を測定することで第1内部空所20内の酸素濃度(酸素分圧)がわかるようになっている。
【0042】
さらに、起電力V0が一定となるようにVp0をフィードバック制御することでポンプ電流Ip0が制御されている。これにより、第1内部空所内20内の酸素濃度は所定の一定値に保たれるようになっている。
【0043】
第3拡散律速部30は、第1内部空所20で主ポンプセル21の動作により酸素濃度(酸素分圧)が制御された被測定ガスに所定の拡散抵抗を付与して、該被測定ガスを第2内部空所40に導く部位である。
【0044】
第2内部空所40は、第3拡散律速部30を通じて導入された被測定ガス中の窒素酸化物(NOx)濃度の測定に係る処理を行うための空間として設けられている。NOx濃度の測定は、主として、補助ポンプセル50により酸素濃度が調整された第2内部空所40において、さらに、測定用ポンプセル41が動作することによりなされる。
【0045】
第2内部空所40では、あらかじめ第1内部空所20において酸素濃度(酸素分圧)が調整された後、第3拡散律速部を通じて導入された被測定ガスに対して、さらに補助ポンプセル50による酸素分圧の調整が行われるようになっている。これにより、第2内部空所40内の酸素濃度を高精度に一定に保つことができるため、係るガスセンサ100においては精度の高いNOx濃度測定が可能となる。
【0046】
補助ポンプセル50は、第2内部空所40に面する第2固体電解質層6の下面の略全体に設けられた天井電極部51aを有する補助ポンプ電極51と、外側ポンプ電極23(外側ポンプ電極23に限られるものではなく、センサ素子101と外側の適当な電極であれば足りる)と、第2固体電解質層6とによって構成される、補助的な電気化学的ポンプセルである。
【0047】
補助ポンプ電極51は、先の第1内部空所20内に設けられた内側ポンプ電極22と同様なトンネル形態とされた構造において、第2内部空所40内に配設されている。つまり、第2内部空所40の天井面を与える第2固体電解質層6に対して天井電極部51aが形成され、また、第2内部空所40の底面を与える第1固体電解質層4には、底部電極部51bが形成され、そして、それらの天井電極部51aと底部電極部51bとを連結する側部電極部(図示省略)が、第2内部空所40の側壁を与えるスペーサ層5の両壁面にそれぞれ形成されたトンネル形態の構造となっている。
【0048】
なお、補助ポンプ電極51についても、内側ポンプ電極22と同様に、被測定ガス中のNOx成分に対する還元能力を弱めた材料を用いて形成される。
【0049】
補助ポンプセル50においては、補助ポンプ電極51と外側ポンプ電極23との間に所望の電圧Vp1を印加することにより、第2内部空所40内の雰囲気中の酸素を外部空間に汲み出し、あるいは、外部空間から第2内部空所40内に汲み入れることが可能となっている。
【0050】
また、第2内部空所40内における雰囲気中の酸素分圧を制御するために、補助ポンプ電極51と、基準電極42と、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4と、第3基板層3とによって電気化学的なセンサセル、すなわち、補助ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル81が構成されている。
【0051】
この補助ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル81にて検出される起電力V1に基づいて電圧制御される可変電源52にて、補助ポンプセル50がポンピングを行う。これにより第2内部空所40内の雰囲気中の酸素分圧は、NOxの測定に実質的に影響がない低い分圧にまで制御されるようになっている。
【0052】
また、これとともに、そのポンプ電流Ip1が、主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル80の起電力の制御に用いられるようになっている。具体的には、ポンプ電流Ip1は、制御信号として主ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル80に入力され、その起電力V0が制御されることにより、第3拡散律速部30から第2内部空所40内に導入される被測定ガス中の酸素分圧の勾配が常に一定となるように制御されている。NOxセンサとして使用する際は、主ポンプセル21と補助ポンプセル50との働きによって、第2内部空所40内での酸素濃度は約0.001ppm程度の一定の値に保たれる。
【0053】
測定用ポンプセル41は、第2内部空所40内において、被測定ガス中のNOx濃度の測定を行う。測定用ポンプセル41は、第2内部空所40に面する第1固体電解質層4の上面であって第3拡散律速部30から離間した位置に設けられた測定電極44と、外側ポンプ電極23と、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4とによって構成された電気化学的ポンプセルである。
【0054】
測定電極44は、多孔質サーメット電極である。測定電極44は、第2内部空所40内の雰囲気中に存在するNOxを還元するNOx還元触媒としても機能する。さらに、測定電極44は、第4拡散律速部45によって被覆されてなる。
【0055】
第4拡散律速部45は、アルミナ(Al
2O
3)を主成分とする多孔体にて構成される膜である。第4拡散律速部45は、測定電極44に流入するNOxの量を制限する役割を担うとともに、測定電極44の保護膜としても機能する。
【0056】
測定用ポンプセル41においては、測定電極44の周囲の雰囲気中における窒素酸化物の分解によって生じた酸素を汲み出して、その発生量をポンプ電流Ip2として検出することができる。
【0057】
また、測定電極44の周囲の酸素分圧を検出するために、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4と、第3基板層3と、測定電極44と、基準電極42とによって電気化学的なセンサセル、すなわち、測定用ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル82が構成されている。測定用ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル82にて検出された起電力V2に基づいて可変電源46が制御される。
【0058】
第2内部空所40内に導かれた被測定ガスは、酸素分圧が制御された状況下で第4拡散律速部45を通じて測定電極44に到達することとなる。測定電極44の周囲の被測定ガス中の窒素酸化物は還元されて(2NO→N
2+O
2)酸素を発生する。そして、この発生した酸素は測定用ポンプセル41によってポンピングされることとなるが、その際、測定用ポンプ制御用酸素分圧検出センサセル82にて検出された制御電圧V2が一定となるように可変電源46の電圧Vp2が制御される。測定電極44の周囲において発生する酸素の量は、被測定ガス中の窒素酸化物の濃度に比例するものであるから、測定用ポンプセル41におけるポンプ電流Ip2を用いて被測定ガス中の窒素酸化物濃度が算出されることとなる。
【0059】
また、測定電極44と、第1固体電解質層4と、第3基板層3と基準電極42を組み合わせて、電気化学的センサセルとして酸素分圧検出手段を構成するようにすれば、測定電極44の周りの雰囲気中のNOx成分の還元によって発生した酸素の量と基準大気に含まれる酸素の量との差に応じた起電力を検出することができ、これによって被測定ガス中のNOx成分の濃度を求めることも可能である。
【0060】
また、第2固体電解質層6と、スペーサ層5と、第1固体電解質層4と、第3基板層3と、外側ポンプ電極23と、基準電極42とから電気化学的なセンサセル83が構成されており、このセンサセル83によって得られる起電力Vrefによりセンサ外部の被測定ガス中の酸素分圧を検出可能となっている。
【0061】
このような構成を有するガスセンサ100においては、主ポンプセル21と補助ポンプセル50とを作動させることによって酸素分圧が常に一定の低い値(NOxの測定に実質的に影響がない値)に保たれた被測定ガスが測定用ポンプセル41に与えられる。そして、測定電極44におけるNOxの還元によって発生する酸素が測定用ポンプセル41より汲み出されることによって流れるポンプ電流Ip2が、被測定ガス中のNOxの濃度に略比例することに基づいて、被測定ガス中のNOx濃度を知ることができるようになっている。
【0062】
<ヒータ部>
センサ素子101は、さらに、基体部を構成する固体電解質の酸素イオン伝導性を高めるために、センサ素子101を加熱して保温する温度調整の役割を担うヒータ部70を備えている。
図3は、ヒータ部70の要部の概略的な平面配置を示す図である。
【0063】
ヒータ部70は、ヒータ電極71(71a、71b、71c)と、ヒータエレメント72と、ヒータリード72a(72a1、72a2)と、抵抗検出リード72bと、スルーホール73と、ヒータ絶縁層74とを備えている。ただし、
図3においてはスルーホール73とヒータ絶縁層74とは省略している。ヒータ部70は、ヒータ電極71を除いて、センサ素子101の基体部に埋設されてなる。
【0064】
ヒータ電極71(71a、71b、71c)は、第1基板層1の下面(センサ素子101の他方主面)に接する態様にて形成されてなる電極である。
【0065】
ヒータエレメント72は、第2基板層2と第3基板層3との間に設けられた抵抗発熱体である。ヒータエレメント72は、センサ素子101の外部から
の通電経路であるヒータ電極71、スルーホール73、およびヒータリード72aを通じて給電されることより発熱する。ヒータエレメント72は、Ptにて、あるいはPtを主成分として、形成されてなる。ヒータエレメント72は、センサ素子101のガス流通部が備わる側の所定範囲に、素子厚み方向においてガス流通部と対向するように埋設されている。ヒータエレメント72は、10μm〜20μm程度の厚みを有するように設けられる。
【0066】
ヒータエレメント72の両端に接続された1対のヒータリード(ヒータリード72a1とヒータリード72a2)は、略同一の形状を有するように、つまりは、両者の抵抗値が同じであるように、設けられる。ヒータリード72a1、72a2はそれぞれ、対応するスルーホール73を介して異なるヒータ電極71a、71bと接続されている。
【0067】
さらに、ヒータエレメント72と一方のヒータリード72a2との接続部75から引き出される態様にて、抵抗検出リード72bが設けられている。なお、抵抗検出リード72bの抵抗値は無視できるものとする。抵抗検出リード72bは、対応するスルーホール73を介してヒータ電極71cと接続されている。
【0068】
センサ素子101においては、ヒータ電極71a、71bの間に電流を流し、ヒータエレメント72による加熱を行うことで、センサ素子101の各部を所定の温度に加熱、保温することができるようになっている。具体的には、センサ素子101は、ガス流通部付近の固体電解質の温度が750℃〜950℃程度になるように加熱される。係る加熱によって、センサ素子101において基体部を構成する固体電解質の酸素イオン伝導性が高められる。
【0069】
ヒータエレメント72の抵抗値(ヒータ抵抗値)R
Hは、ヒータリード72a1とヒータリード72a2の抵抗値が同じであり、抵抗検出リード72bの抵抗値が無視できることから、ヒータ電極71a、71bの間の抵抗値をR
1とし、ヒータ電極71b、71cの間の抵抗値をR
2とした場合、
R
H=R
1−R
2 ・・・・(1)
なる式にて算出される。ヒータ抵抗値は、ヒータエレメント72により加熱を行う際の加熱温度の制御に用いられる。
【0070】
また、上述したヒータエレメント72の厚みは、係るヒータ抵抗値がセンサ素子101の性能・寿命等の観点から定められる所定の範囲内の値となるようにする、という観点から定められる。
【0071】
ヒータ絶縁層74は、ヒータエレメント72を覆う態様にて形成されてなる絶縁層である。ヒータ絶縁層74は、第2基板層2とヒータエレメント72との間の電気的絶縁性、および、第3基板層3とヒータエレメント72との間の電気的絶縁性を得る目的で形成されている。ヒータ絶縁層74は、70μm〜110μm程度の厚みにて、センサ素子101の先端面および側面から200μm〜700μm程度離隔させた位置に設けられる。ただし、ヒータ絶縁層74の厚みは一定である必要はなく、ヒータエレメント72が存在する箇所としない箇所とで異なっていてもよい。
【0072】
ヒータ絶縁層74は、MgOとMgAl
2O
4(スピネル)とMg
4Nb
2O
9とを主成分として合計で97wt%〜100wt%の重量比で含んでなる。そのうちMgOとMgAl
2O
4とについてはそれぞれ30wt%〜60wt%の重量比にて含まれている。また、Mg
4Nb
2O
9については0.5wt%〜15wt%の重量比にて含まれている。以降においては、ヒータ絶縁層74の主成分の重量比に関するこれらの要件を、主成分重量比条件と称する。なお、MgOとMgAl
2O
4の重量比は同じである必要はない。本実施の形態においては、係る主成分重量比条件を充足するヒータ絶縁層74が、気孔率が4.0%以下という緻密化層として設けられてなる。
【0073】
ヒータ絶縁層74はその他、副成分として、原料粉末中に焼結助剤として含まれていたSiO
2およびBaCO
3に由来するSiの化合物およびBaの化合物を含んでなる。
【0074】
ヒータ絶縁層74における4.0%以下という気孔率は、該ヒータ絶縁層74において上述した主成分重量比条件が充足されるようにヒータ絶縁層形成用の原料を混合し、かつ、最終的にセンサ素子101を得る際の焼成条件を特定のものとすることにより、実現されてなる。詳細については後述する。
【0075】
なお、本実施の形態において、ヒータ絶縁層74の気孔率は、センサ素子101のヒータ
エレメント72を含む長手方向に垂直な断面につき、研磨したうえでSEMにて撮像し、得られたSEM像を二値化処理することにより、算出するものとする。
【0076】
ヒータ絶縁層74が緻密化層として設けられるのは、センサ素子101の使用時に、ヒータエレメント72を構成するPtが、ヒータ絶縁層74の気孔内に拡散することを、防ぐためである。本実施の形態に係るセンサ素子101においては、ヒータ絶縁層74を気孔率が4.0%以下の緻密化層として備えることで、センサ素子101を継続的に使用した場合にあっても、Ptの拡散に起因したヒータエレメント72の損傷が好適に抑制されている。それゆえ、従来のセンサ素子に比して、長寿命化が実現されてなる。
【0077】
なお、ヒータエレメント72からのPtの拡散の有無は、一定時間使用した後のセンサ素子101のヒータ絶縁層74を実際に露出させ、係る露出したヒータ絶縁層についてSEMなどによる像観察および組成分析を行うことによって直接に確認できるほか、次の(2)式にて算出される、使用前(初期)のヒータ抵抗値R0を基準としたときの使用後のヒータ抵抗値Rの上昇率(抵抗上昇率)からも把握できる。
【0078】
抵抗上昇率(%)=100×(R−R0)/R0 ・・・・(2)
ヒータ抵抗値は、一方のヒータ電極71から他方のヒータ電極71に至るまでのヒータ電流の経路における電気抵抗値であるが、その変動要因は主としてヒータエレメント72からのPtの拡散であることが、あらかじめ確認されている。それゆえ、使用初期と使用後の双方においてヒータ抵抗値を測定し、(2)式にて算出される抵抗上昇率が、所定の閾値を超えているか否かを判断することで、センサ素子101を破壊せずとも、センサ素子101を使用することでヒータエレメント72からPtが拡散しているか否かを判断することができる。
【0079】
具体的には、抵抗上昇率が2%以上である場合に、ヒータエレメント72からPtが拡散していると判断される。本実施の形態に係る、ヒータ絶縁層74の気孔率が4.0%以下であるセンサ素子101においては、(2)式にて算出される抵抗上昇率が、2%未満に抑制される。
【0080】
加えて、本実施の形態に係るセンサ素子101においては、ヒータ絶縁層74の少なくとも900℃での熱膨張係数(線膨張係数)が、10.3〜12.3(×10
−6/℃)なる範囲をみたすものとなっている。係る熱膨張係数の値は、センサ素子101において固体電解質層を構成しているジルコニアの熱膨張係数(概ね10〜11(×10
−6/℃))と同程度である。これも、ヒータ絶縁層74が主成分重量比条件を充足するように、ヒータ絶縁層形成用の原料を混合することにより、実現されてなる。なお、ヒータ絶縁層74においては、MgAl
2O
4に対するMgOの重量比が大きいほど熱膨張係数が大きくなり、MgAl
2O
4に対するMgOの重量比が小さいほど熱膨張係数が小さくなる傾向がある。
【0081】
すなわち、本実施の形態に係るセンサ素子101においては、ヒータ絶縁層74が、周囲の固体電解質層(例えば第2基板層2および第3基板層3)と同程度の熱膨張係数を有する緻密化層として備わっている。
【0082】
なお、本実施の形態において、ヒータ絶縁層74の熱膨張係数は、センサ素子101からヒータ絶縁層74の部分を切り出したものを被検試料として、熱機械分析装置(TMA)により求めることとする。
【0083】
特許文献5においても言及されているように、従来、本実施の形態に係るセンサ素子101と同様の平板状のセンサ素子において、ヒータ絶縁層の主成分材料に絶縁材料として一般的なアルミナ(熱膨張係数:概ね7〜9(×10
−6/℃))を用い、該ヒータ絶縁層を緻密化層として設けた場合には、使用時の加熱と使用後の冷却という温度サイクルが繰り返された結果として、ヒータ絶縁層と固体電解質層との熱膨張係数差に起因したクラックが発生する場合があった。
【0084】
これに対し、本実施の形態に係るセンサ素子101は、ヒータ絶縁層74の熱膨張係数が上述した範囲の値に調整されてなることによって、ヒータ絶縁層74と固体電解質層(特に第2基板層2および第3基板層3)との熱膨張係数差が小さくなっている。それゆえ、平板状をなし、かつ、緻密化されたヒータ絶縁層74を有しつつも、係る熱膨張係数差に起因したクラックの発生が、好適に抑制されたものとなっている。すなわち、本実施の形態に係るセンサ素子101は、Ptの拡散の抑制に加えて、クラック発生の抑制という観点からも、長寿命化が図られているといえる。
【0085】
<センサ素子の製造プロセス>
次に、上述のような構成および特徴を有するセンサ素子101を製造するプロセスについて説明する。本実施の形態においては、ジルコニアなどの酸素イオン伝導性固体電解質をセラミックス成分として含むグリーンシートからなる積層体を形成し、該積層体を切断・焼成することによってセンサ素子101を作製する。
【0086】
以下においては、
図1に示した6つの層からなるセンサ素子101を作製する場合を例として説明する。係る場合、第1基板層1と、第2基板層2と、第3基板層3と、第1固体電解質層4と、スペーサ層5と、第2固体電解質層6とに対応する6枚のグリーンシートが用意されることになる。
【0087】
図4は、センサ素子101を作製する際の処理の流れを示す図である。
図5は、ヒータエレメント72とヒータ絶縁層74の形成に係る手順をより詳細に示す図である。
【0088】
センサ素子101を作製する場合、まず、パターンが形成されていないグリーンシートであるブランクシート(図示省略)を用意する(ステップS1)。6つの層からなるセンサ素子101を作製する場合であれば、各層に対応させて6枚のブランクシートが用意される。ブランクシートは、印刷時や積層時の位置決めに用いる複数のシート穴が設けられている。係るシート穴は、パターン形成に先立つブランクシートの段階で、パンチング装置による打ち抜き処理などで、あらかじめ形成されている。なお、対応する層が内部空間を構成するグリーンシートの場合、該内部空間に対応する貫通部も、同様の打ち抜き処理などによってあらかじめ設けられる。また、センサ素子101の各層に対応するそれぞれのブランクシートの厚みは、全て同じである必要はない。
【0089】
各層に対応したブランクシートが用意できると、それぞれのブランクシートに対してパターン印刷・乾燥処理を行う(ステップS2)。パターンや接着剤の印刷には、公知のスクリーン印刷技術を利用可能である。また、印刷後の乾燥処理についても、公知の乾燥手段を利用可能である。
【0090】
例えば、ヒータエレメント72、ヒータリード72a、および抵抗検出リード72
bとなるパターン(以下、ヒータパターン)とヒータ絶縁層74となるパターンの形成についてであれば、
図5に示すように、まず、焼成後に第2基板層2となるブランクシートが、印刷対象として用意される(ステップS21)。なお、印刷を繰り返すことによるブランクシートの変形等を考慮し、あらかじめ第1基板層1となるブランクシートと、第2基板層2となるブランクシートとが積層されたもの(先行積層シート)が、用意される態様であってもよい。
【0091】
これらブランクシートあるいは先行積層シートが用意されると、その上に、ヒータ絶縁層74のうち、第2基板層2に隣り合う部分を形成するべく、ヒータ絶縁層形成用のペースト(以下、絶縁ペースト)が所定のパターンに印刷される(ステップS22)。形成しようとするヒータ絶縁層74の厚みによっては、係る印刷が複数回繰り返されてもよい。
【0092】
ヒータ絶縁層形成用の絶縁ペーストとしては、あらかじめヒータ絶縁層74の主成分でもあるMgOおよびMgAl
2O
4と焼結助剤として添加されるSiO
2、BaCO
3、およびNb
2O
5とを湿式混合し、その後粉砕および乾燥させることで得られる無機混合粉末と、あらかじめ溶解させたバインダー成分(分散剤、有機溶媒、ポリビニルブチラール樹脂、および非イオン性界面活性剤)とを混合し、所定の粘度に調整したものが、使用される。なお、ヒータ絶縁層74においてMgOおよびMgAl
2O
4とともに主成分として存在するMg
4Nb
2O
9は、後段の焼成プロセスにおいて原料粉末の反応により生成される。
【0093】
その際、MgOとMgAl
2O
4の原料粉末としては、どちらも平均粒径が0.1μm〜50μm程度のものを用いる。また、Nb
2O
5の原料粉末としては、平均粒径が0.1μm〜20μm程度のものを用いる。また、ヒータ絶縁層74が上述した主成分重量比条件を充足するようにするには、原料粉末の重量比が少なくとも以下の範囲を充足することが求められる。当然ながら、合計の重量比は100wt%である。
【0094】
MgO:39.0wt%〜61.0wt%;
MgAl
2O
4:32.0wt%〜56.0wt%;
Nb
2O
5:0.3wt%〜10.0wt%;
SiO
2およびBaCO
3:合計で3wt%以下。
【0095】
これらの要件を充足することにより、気孔率が4.0%以下と緻密であってPtの拡散が抑制でき、かつ、熱膨張係数がジルコニアと同程度のヒータ絶縁層74を、設けることができる。上述の要件を充足しない場合、Ptの拡散が抑制できる程度に緻密でかつ熱膨張係数がジルコニアと同程度のヒータ絶縁層74の形成は難しい。
【0096】
絶縁ペーストによるパターンが印刷されると、続いてその上に、ヒータパターンを形成するべく、ヒータパターン形成用のペーストが積層印刷される(ステップS23)。なお、ヒータパターンの形成に際しては、形成対象(ヒータエレメント72、ヒータリード72a、および抵抗検出リード72
b)に応じて異なるペーストが使用されてもよい。
【0097】
最後に、ヒータ絶縁層74のうち、第3基板層3に隣り合う部分を形成するべく、絶縁ペーストが所定のパターンに再度印刷される(ステップS24)。その際には、先に印刷した絶縁ペーストによるパターンとの間で、ヒータパターンが隠れるようにする。ヒータパターンが存在しない箇所においては、先に印刷した絶縁ペーストによるパターンの上に、後から印刷した絶縁ペーストによるパターンが重畳することになる。係る印刷についても、形成しようとするヒータ絶縁層74の厚みによっては複数回繰り返されてもよい。
【0098】
より詳細には、絶縁ペーストおよびヒータパターン形成用のペーストによるパターンの形成は、焼成時の収縮を鑑
みて行われる。その他、種々の電極等のパターン形成についても同様に、最終的に得られるセンサ素子101において形成対象物があらかじめ定められたサイズにて形成される条件にて、行われる。
【0099】
各ブランクシートに対するパターン印刷が終わると、各層に対応するグリーンシート同士を積層・接着するための接着用ペーストの印刷・乾燥処理を行う(ステップS3)。
【0100】
続いて、接着剤が塗布されたグリーンシートを所定の順序に積み重ねて、所定の温度・圧力条件を与えることで圧着させ、一の積層体とする圧着処理を行う(ステップS4)。係る圧着処理によって、ヒータパターンおよびこれを被覆するヒータ絶縁層形成用のパターンが、焼成後に第2基板層2になるグリーンシートと第3基板層3になるグリーンシートに挟み込まれた状態が得られる。
【0101】
具体的には、図示しない所定の積層治具に積層対象となるグリーンシートをシート穴により位置決めしつつ積み重ねて保持し、公知の油圧プレス機などの積層機によって積層治具ごと加熱・加圧することによって行う。加熱・加圧を行う圧力・温度・時間については、用いる積層機にも依存するものであるが、良好な積層が実現できるよう、適宜の条件が定められればよい。
【0102】
上述のようにして積層体が得られると、続いて、係る積層体の複数個所を切断してセンサ素子101個々の単位(素子体と称する)に切り出す(ステップS5)。より詳細には、係る切断は、焼成時の収縮を鑑みつつ、最終的に得られるセンサ素子101の全長Lについてセンサ素子寸法条件が充足される態様にて行われる。
【0103】
切り出された素子体を、1300℃〜1500℃程度の焼成温度で焼成する(ステップS6)。これにより、熱膨張係数が10.3〜12.3(×10
−6/℃)であるヒータ絶縁層74を、気孔率が4.0%以下の緻密化層として備えるセンサ素子101が、生成される。
【0104】
このようにして得られたセンサ素子101は、所定のハウジングに収容され、ガスセンサ100の本体(図示せず)に組み込まれる。
【0105】
以上、説明したように、本実施の形態によれば、固体電解質からなる基体部の内部にヒータ部を有する平板状のセンサ素子において、ヒータ絶縁層を、緻密化層であって、周囲の固体電解質層と同程度の熱膨張係数を有するように設ける。具体的には、気孔率が4.0%以下であって、主成分であるMgOとMgAl
2O
4とMg
4Nb
2O
9とが合計で97wt%〜100wt%の重量比で含まれており、MgOとMgAl
2O
4とについてはそれぞれ30wt%〜60wt%の重量比にて含まれ、Mg
4Nb
2O
9については0.5wt%〜15wt%の重量比にて含まれるように設ける。これにより、係るセンサ素子が継続的に使用され、使用時の加熱と使用後の冷却という温度サイクルが繰り返される場合における、Ptの拡散と、固体電解質層とヒータ絶縁層との熱膨張係数差に起因したクラックの発生とが、好適に抑制される。すなわち、本実施の形態によれば、平板状のセンサ素子の長寿命化が、実現される。
【0106】
<変形例>
上述の実施の形態においては、センサ素子101が、限界電流型のNOxセンサに備わる、直列2室構造型の平板状のセンサ素子である場合を例として説明を行っている。しかしながら、ヒータ絶縁層を、気孔率が4.0%以下でかつ熱膨張係数が周囲の固体電解質層と同程度となるように設けることによって、センサ素子の長寿命化を図るという態様は、同様の構成を有しかつ他のガス種を検知するセンサ素子はもとより、センサ部とヒータ部とが一体に構成された種々の平板状のセンサ素子に適用が可能である。
【0107】
例えば、3つの内部空所を有する限界電流型のガスセンサに備わるセンサ素子に適用される態様であってもよいし、上述の実施の形態とは内部空所の配置態様が異なるセンサ素子に適用される態様であってもよいし、混成電位型のガスセンサに備わるセンサ素子に適用される態様であってもよい。
【実施例】
【0108】
実施例1〜実施例8として、ヒータ絶縁層74が主成分重量比条件を充足しつつもMgO、MgAl
2O
4(スピネル)、およびMg
4Nb
2O
9の重量比が相異なる8種類のセンサ素子101を作製した。それぞれのセンサ素子101について、ヒータ絶縁層74の気孔率と熱膨張係数を測定した。また、ヒータ部70による加熱を長時間継続させる耐久試験を行い、試験後の状態を評価した。
【0109】
ヒータ絶縁層74の形成に用いる絶縁ペーストの作製は、次のようにした。まず、容積1Lのポリポット内にMgOおよびMgAl
2O
4(スピネル)の粉末と、SiO
2、BaCO
3、およびNb
2O
5の粉末と、溶媒としてのIPAと、Al
2O
3製の玉石とを投入し、該ポリポットを100rpmの回転数にて24時間混合して得られた混合物を、乾燥して無機混合粉末を得た。係る無機混合粉末と、自動公転攪拌機にて4分間攪拌されることによって溶解されたバインダー成分(分散剤、有機溶媒、ポリビニルブチラール樹脂、および非イオン性界面活性剤)とを、自動公転攪拌機にて15分間、Al
2O
3製の玉石を用いて攪拌・混合することによって、解砕度が50μm以下で、粘度が20〜40Pa・sの絶縁ペーストを得た。
【0110】
実施例1〜実施例8における原料の重量比(単位:wt%)を表1に示す。なお、いずれの場合も、SiO
2とBaCO
3の重量比を1.5wt%ずつとすることによって、最終的に得られたヒータ絶縁層において主成分と副成分の総和100wt%に対する主成分の重量比の合計が97wt%となるようにしている。
【0111】
【表1】
【0112】
ヒータ絶縁層74における主成分の重量比の特定は、リートベルト解析により行った。具体的には、センサ素子101から切り出したヒータ絶縁層
74の部分を被検試料としたX線回折(XRD)測定(2θ/θ測定)を、2θ=10°〜80°の範囲で行い、得られたXRD回折パターンを対象にリートベルト解析を行った。結晶相として、MgO(産業技術総合研究所HP 結晶構造ギャラリー参照)、MgAl
2O
4(ICSD24766)、Mg
4Nb
2O
9(COD1526786)を用いた。解析ソフトとしてはBruker AXS製のTOPASを用いた。
【0113】
また、ヒータ絶縁層74の気孔率は2.5%となるようにした。これは、それぞれのセンサ素子101を得るための素子体の焼成温度を1400℃とすることにより実現されている。
【0114】
なお、ヒータ絶縁層74の気孔率は次のようにして特定した。まず、センサ素子101の長手方向に垂直でかつヒータエレメント72を含む断面を脱粒のないように研磨した面についてSEM像(反射電子像、倍率1000倍、120万画素)を撮像した。係る断面SEM像のうち、ヒータ絶縁層74の断面において面積が2000μm
2以上である2つの領域を気孔率算出領域として特定し、それら2つの領域のそれぞれについて画像処理により気孔率を算出した。そして、得られた2つの値の平均値を、当該実施例あるいは比較例の気孔率とした。
【0115】
画像処理による気孔率の算出は、ソフトウェアとしてImage-Pro Premier 9.2(日本ローパー社製)を使用して行った。具体的には、それぞれの気孔率算出領域について、気孔以外の部分がマスク領域となるように二値化およびマスク画像生成を行い、マスク領域以外の領域について面積比(%)を求め、その値を当該気孔率算出領域についての気孔率とした。
【0116】
また、熱膨張係数は、センサ素子101から切り出したヒータ絶縁層
74の部分を被検試料とし、アルミナを基準物質として、熱機械分析装置(株式会社リガク製, TMA8310)により室温から10℃/分で900℃まで昇降温を2回繰り返し、2回目の40℃での初期寸法との割合(L
0(%))および900℃での初期寸法との割合(L
1(%))から、以下の式にて求めた。
【0117】
熱膨張係数(×10
−6/℃)=10
4×(L
1−L
0)/(900(℃)−40(℃))
耐久試験は、ヒータエレメント72による加熱を900℃で2000時間継続するという条件で行った。係る耐久試験後のセンサ素子101について、クラックの発生有無の確認と、SEM像に基づくヒータ絶縁層74におけるPtの拡散の有無の確認とを行ったほか、試験前後におい
てヒータ抵抗値を測定し、当該測定結果を(2)式に代入することにより試験後における抵抗上昇率を算出した。
【0118】
また、比較例1として、センサ素子101を得るための素子体の焼成温度を1280℃としたほかは、実施例1と同様にセンサ素子101を作製した。
【0119】
また、比較例2および比較例3として、MgOとMgAl
2O
4の重量比が主成分重量比条件から外れるようにしたほかは、実施例1と同様にセンサ素子101を作製した。
【0120】
さらに、比較例4として、Mg
4Nb
2O
9の重量比が主成分重量比条件における下限値を下回るようにしたほかは、実施例1と同様にセンサ素子101を作製した。
【0121】
加えて、比較例5として、多孔質アルミナ(Al
2O
3)層を形成するのに適した、アルミナ(Al
2O
3)を主成分とする絶縁ペーストを用いてヒータ絶縁層74を形成したほかは、実施例1〜実施例8と同じ条件でセンサ素子101を作製した。係る絶縁ペーストにおいて原料としているアルミナは、平均粒径が0.5μm〜1.0μmであり、比表面積が70m
2/g〜100m
2/g程度のものである。
【0122】
さらに、比較例6として、緻密アルミナ(Al
2O
3)層を形成するのに適した、アルミナ(Al
2O
3)を主成分とする絶縁ペーストを用いてヒータ絶縁層74を形成したほかは、実施例1〜実施例8と同じ条件でセンサ素子101を作製した。係る絶縁ペーストにおいて原料としているアルミナは、α−アルミナであって平均粒子径が0.05μm〜0.4μmであり、比表面積が10m
2/g〜30m
2/g程度のものである。
【0123】
比較例1〜比較例6における原料の重量比(単位:wt%)を表2に示す。
【0124】
【表2】
【0125】
比較例1〜比較例6に係るセンサ素子101についても、実施例1〜実施例8に係るセンサ素子と同様に、ヒータ絶縁層74の気孔率と熱膨張係数を測定したほか、ヒータ部70による加熱を長時間継続させる耐久試験を行い、試験後の状態を評価した。
【0126】
実施例1〜実施例8に係るセンサ素子101について、ヒータ絶縁層74の気孔率、主成分の重量比、および熱膨張係数と、各種評価結果とを表3に一覧にして示す。また、比較例1〜比較例6に係るセンサ素子101について、ヒータ絶縁層74の気孔率、主成分の重量比、および熱膨張係数と、各種評価結果とを表4に一覧にして示す。なお、表3および表4においてはヒータ絶縁層74を単に「絶縁層」と記載している。
【0127】
【表3】
【0128】
【表4】
【0129】
実施例1〜実施例8および比較例1〜比較例4を対比すると、まず、ヒータ絶縁層74の気孔率が4.0%以下の2.5%であり、熱膨張係数が10.3〜12.3(×10
−6/℃)なる範囲内の値であった実施例1〜実施例8においては、耐久試験後にクラックの発生も、Ptの拡散も確認されなかった。また、抵抗上昇率はいずれも2%未満であった。
【0130】
これに対し、比較例1および比較例4に係るセンサ素子101においては、ヒータ絶縁層74の熱膨張係数は10.5および10.6と(×10
−6/℃)で実施例1と同程度であったものの、気孔率が4.3%および4.6%と、4.0%を上回った。これらのセンサ素子101については、耐久試験後においてクラックの発生は確認されなかったものの、Ptの拡散が確認された。また、抵抗上昇率は2.4%および2.6%と、2%を上回っていた。
【0131】
係る比較例1および比較例4の結果と実施例1〜実施例8の結果とを併せ考えると、ヒータ絶縁層74の気孔率が4.0%を上回る場合には、Ptの拡散が抑制されないといえる。
【0132】
また、熱膨張係数が10.1(×10
−6/℃)に留まった比較例2のセンサ素子101と熱膨張係数が12.8(×10
−6/℃)と大きかった比較例3のセンサ素子101は、ともにヒータ絶縁層74の気孔率については4.0%を下回っていたものの、耐久試験後においてクラックの発生とPtの拡散の双方が確認された。また、抵抗上昇率は2%を上回っていた。
【0133】
比較例2および比較例3に係るセンサ素子101にクラックが発生したのは、実施例1〜実施例8に比して、ヒータ絶縁層74と周囲の固体電解質層(特に第2基板層2および第3基板層3)との熱膨張係数差が大きく、係る熱膨張係数差に起因する応力が十分に緩和されなかったためであると考えられる。また、ヒータ絶縁層74に気孔率の小さい緻密化層として設けられているにもかかわらず、Ptが拡散しているのは、形成されたクラックを介した拡散が生じたためであると考えられる。
【0134】
係る比較例2および比較例3の結果と実施例1〜実施例8、比較例1、および比較例4の結果とを併せ考えると、上述の実施の形態のように、ヒータ絶縁層74を、熱膨張係数が10.3〜12.3(×10
−6/℃)なる範囲内の値にある緻密化層として設けることが、具体的には、気孔率が4.0%以下であってかつ主成分重量比条件を充足するようにヒータ絶縁層74を設けることが、センサ素子101におけるクラックの抑制とPtの拡散の抑制との双方の実現に有効であるといえる。
【0135】
さらに、比較例5に係るセンサ素子101においては、ヒータ絶縁層74の気孔率は35.1%と4.0%を大きく上回る一方で、熱膨張係数の値は8.5(×10
−6/℃)に留まった。耐久試験後においては、Ptの拡散は確認されたものの、耐久試験後においてクラックの発生はみられなかった。抵抗上昇率は2.0%以上であった。
【0136】
係る比較例5の結果は、多孔質層として設けられたヒータ絶縁層74には、Ptの拡散を抑制する機能はないものの、周囲の固体電解質層(特に第2基板層2および第3基板層3)との応力を緩和する機能があることを意味している。また、実施例1〜実施例8および比較例1の結果をも考慮すると、比較例5の結果は、実施例1〜実施例8に係るセンサ素子101においては、比較例5に係るセンサ素子101とは異なるメカニズムにてクラックの発生が抑制されていることを間接的に示す結果であるともいえる。
【0137】
さらに、比較例6に係るセンサ素子101においては、ヒータ絶縁層74の気孔率は4.0%であったが、熱膨張係数は8.6(×10
−6/℃)に留まった。また、耐久試験後においては、Ptの拡散とクラックの発生が共に確認された。抵抗上昇率は2.0%以上であった。
【0138】
係る比較例6の結果は、比較例2と同様に、ヒータ絶縁層74を単に緻密化層として設けたとしても、熱膨張係数が小さい場合には、クラックの発生は抑制できず、それゆえ、Ptの拡散も抑制できないということを示している。