特許 6883248 微粒子計測機、分析装置、及び、分析方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6883248

(24)【登録日】2021年5月12日

(45)【発行日】2021年6月9日

(54)【発明の名称】微粒子計測機、分析装置、及び、分析方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 15/14 20060101AFI20210531BHJP

   G01N 21/47 20060101ALI20210531BHJP

【ＦＩ】

   G01N15/14 B

   G01N15/14 C

   G01N15/14 D

   G01N21/47 Z

   G01N21/47 B

【請求項の数】6

【全頁数】27

(21)【出願番号】特願2018-58391(P2018-58391)

(22)【出願日】2018年3月26日

(65)【公開番号】特開2019-168420(P2019-168420A)

(43)【公開日】2019年10月3日

【審査請求日】2020年8月31日

(73)【特許権者】

【識別番号】308036402

【氏名又は名称】株式会社ＪＶＣケンウッド

(74)【代理人】

【識別番号】100083806

【弁理士】

【氏名又は名称】三好 秀和

(74)【代理人】

【識別番号】100101247

【弁理士】

【氏名又は名称】高橋 俊一

(72)【発明者】

【氏名】岩間 茂彦

(72)【発明者】

【氏名】山本 雅弘

(72)【発明者】

【氏名】齋藤 敦

【審査官】 野田 華代

(56)【参考文献】

【文献】 特開２０１７−１３８１８６（ＪＰ，Ａ）

【文献】 国際公開第２０１７／１５４７５１（ＷＯ，Ａ１）

【文献】 特開平５−９０９１８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０００−２０９６９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許第９０３４２６１（ＵＳ，Ｂ２）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ １５／００−１５／１４

Ｇ０１Ｎ ２１／４７

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

内周部から外周部に向かって複数のトラックを有する試料分析用ディスクに形成され、検出対象物質と結合する微粒子が前記トラックごとに捕捉されている反応領域における第１のトラック区間に対応する第１のタイミング信号と、前記反応領域とは異なる第２のトラック区間に対応する第２のタイミング信号とを生成するタイミング信号生成部と、
前記反応領域にレーザ光が照射され、前記反応領域からの反射光を受光して生成された受光信号から、前記第２のタイミング信号に基づいて前記試料分析用ディスクの反りに起因して変動する低周波成分を抽出する低周波成分抽出部と、
前記低周波成分に基づいて補間された、前記第１のトラック区間に対応する補間低周波成分を算出する低周波成分演算部と、
予め設定されている閾値を前記補間低周波成分に基づいて補正し、補正閾値を設定する閾値補正部と、
前記第１のタイミング信号と前記補正閾値とに基づいて前記受光信号から微粒子パルス信号を抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントすることにより、前記反応領域の前記第１のトラック区間に捕捉されている前記微粒子をカウントする計測部と、
を備える微粒子計測機。

【請求項2】

前記試料分析用ディスクは、前記反応領域の外周部に位置し、かつ、所定の幅を有する領域が計測対象外の夾雑領域として設定されている請求項１に記載の微粒子計測機。

【請求項3】

前記反応領域にレーザ光が照射され、前記反応領域からの反射光を受光して受光信号が生成され、前記受光信号に基づいて、前記反応領域における前記複数のトラックのうちの第１のトラックに捕捉されている前記微粒子をカウントする場合、
前記タイミング信号生成部は、前記第１のトラックとは異なる第２のトラックにおいて、前記レーザ光が前記反応領域及び前記夾雑領域に到達する前のトラック区間に対応し、かつ、前記第２のタイミング信号に相当する第３のタイミング信号と、前記レーザ光が前記反応領域及び前記夾雑領域を通過した後のトラック区間に対応し、かつ、前記第２のタイミング信号に相当する第４のタイミング信号とを生成し、
前記低周波成分抽出部は、前記第３のタイミング信号に基づいて前記受光信号から第１の低周波成分を抽出し、前記第４のタイミング信号に基づいて前記受光信号から第２の低周波成分を抽出し、
前記低周波成分演算部は、前記第１及び第２の低周波成分に基づいて前記第１のトラック区間に対応する補間低周波成分を算出する
請求項２に記載の微粒子計測機。

【請求項4】

前記反応領域にレーザ光が照射され、前記反応領域からの反射光を受光して受光信号が生成され、前記受光信号に基づいて、前記反応領域における前記複数のトラックのうちの第３のトラックに捕捉されている前記微粒子をカウントする場合、
前記タイミング信号生成部は、前記第３のトラックとは異なる第４のトラックにおいて、前記レーザ光が前記反応領域及び前記夾雑領域を通過した後のトラック区間に対応し、かつ、前記第２のタイミング信号に相当する第５のタイミング信号とを生成し、前記第３のトラックにおいて、前記レーザ光が前記反応領域及び前記夾雑領域に到達する前のトラック区間に対応し、かつ、前記第２のタイミング信号に相当する第６のタイミング信号とを生成し、
前記低周波成分抽出部は、前記第５のタイミング信号に基づいて前記受光信号から第３の低周波成分を抽出し、前記第６のタイミング信号に基づいて前記受光信号から第４の低周波成分を抽出し、
前記低周波成分演算部は、前記第３及び第４の低周波成分に基づいて前記第１のトラック区間に対応する補間低周波成分を算出する
請求項２に記載の微粒子計測機。

【請求項5】

前記試料分析用ディスクが保持されるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転させるターンテーブル駆動部と、
前記ターンテーブル駆動部を制御するターンテーブル駆動回路と、
前記ターンテーブルの回転軸に直交する方向に沿って駆動され、前記反応領域にレーザ光を照射し、前記反応領域からの反射光を受光して前記受光信号を生成する光ピックアップと、
前記光ピックアップの駆動を制御する光ピックアップ駆動回路と、
前記ターンテーブル駆動回路及び前記光ピックアップ駆動回路を制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、請求項１〜４のうちのいずれか１項に記載の微粒子計測機を有する
分析装置。

【請求項6】

内周部から外周部に向かって複数のトラックを有し、かつ、検出対象物質と結合する微粒子が前記トラックごとに捕捉されている反応領域を有する試料分析用ディスクを回転させ、
前記反応領域にレーザ光を前記トラックごとに照射し、
前記反応領域からの反射光を受光して受光信号を生成し、
前記反応領域における第１のトラック区間に対応する第１のタイミング信号と、前記反応領域とは異なる第２のトラック区間に対応する第２のタイミング信号とを生成し、
前記第２のタイミング信号に基づいて前記受光信号から前記試料分析用ディスクの反りに起因して変動する低周波成分を抽出し、
前記低周波成分に基づいて補間された、前記第１のトラック区間に対応する補間低周波成分を算出し、
予め設定されている閾値を前記補間低周波成分に基づいて補正して補正閾値を設定し、
前記第１のタイミング信号と前記補正閾値とに基づいて前記受光信号から微粒子パルス信号を抽出し、
前記微粒子パルス信号をカウントすることにより、前記反応領域の前記第１のトラック区間に捕捉されている前記微粒子をカウントする
分析方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、抗原、抗体等の生体物質を分析するための微粒子計測機、分析装置、及び、分析方法に関する。

【背景技術】

【0002】

疾病に関連付けられた特定の抗原または抗体をバイオマーカーとして検出することで、疾病の発見及び治療の効果等を定量的に分析する免疫検定法（immunoassay）が知られている。

【0003】

特許文献１には、試料分析用ディスク上の反応領域に固定された抗体と試料中の抗原とを結合させた後、抗体を有する微粒子によって抗原を標識し、光ピックアップから照射されるレーザ光を走査することにより、反応領域に捕捉された微粒子を検出する分析装置が記載されている。特許文献１に記載されている分析装置は、光ディスク装置を検体検出用に利用したものである。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１５−１２７６９１号公報

【特許文献2】特開２００１−１２６２６１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

試料分析用ディスク上に反応領域を形成する工程等により、試料分析用ディスクに反りが生じる場合がある。試料分析用ディスクの反りに起因して反応領域が形成されている面に傾きが生じ、レーザ光を走査した場合に、反応領域に捕捉された微粒子を検出するための検出信号は、試料分析用ディスクの面の傾きに起因する低周波成分の変動が発生する。低周波成分の変動は、微粒子の検出精度を悪化させる。従って、試料分析用ディスクの反りは、微粒子の検出精度を悪化させる要因となる。

【0006】

特許文献２には、光ディスクの反りによる影響を低減する光ディスク装置が記載されている。しかしながら、特許文献２に記載されているような光ディスク装置では、光ディスクの半径方向（ラジアル方向）に対しては反りによる影響を低減できるものの、接線方向（タンジェンシャル方向）に対しては対策されていない。

【0007】

本発明は、試料分析用ディスクの反り等によって生じる低周波成分の変動の影響を低減することにより、低周波成分の変動による微粒子の検出精度の悪化を抑制することができる微粒子計測機、分析装置、及び、分析方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本発明は、内周部から外周部に向かって複数のトラックを有する試料分析用ディスクに形成され、検出対象物質と結合する微粒子が前記トラックごとに捕捉されている反応領域における第１のトラック区間に対応する第１のタイミング信号と、前記反応領域とは異なる第２のトラック区間に対応する第２のタイミング信号とを生成するタイミング信号生成部と、前記反応領域にレーザ光が照射され、前記反応領域からの反射光を受光して生成された受光信号から、前記第２のタイミング信号に基づいて前記試料分析用ディスクの反りに起因して変動する低周波成分を抽出する低周波成分抽出部と、前記低周波成分に基づいて補間された、前記第１のトラック区間に対応する補間低周波成分を算出する低周波成分演算部と、予め設定されている閾値を前記補間低周波成分に基づいて補正し、補正閾値を設定する閾値補正部と、前記第１のタイミング信号と前記補正閾値とに基づいて前記受光信号から微粒子パルス信号を抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントすることにより、前記反応領域の前記第１のトラック区間に捕捉されている前記微粒子をカウントする計測部とを備える微粒子計測機を提供する。

【0009】

また、本発明は、前記試料分析用ディスクが保持されるターンテーブルと、前記ターンテーブルを回転させるターンテーブル駆動部と、前記ターンテーブル駆動部を制御するターンテーブル駆動回路と、前記ターンテーブルの回転軸に直交する方向に沿って駆動され、前記反応領域にレーザ光を照射し、前記反応領域からの反射光を受光して前記受光信号を生成する光ピックアップと、前記光ピックアップの駆動を制御する光ピックアップ駆動回路と、前記ターンテーブル駆動回路及び前記光ピックアップ駆動回路を制御する制御部とを備え、前記制御部は上記の微粒子計測機を有する分析装置を提供する。

【0010】

また、本発明は、内周部から外周部に向かって複数のトラックを有し、かつ、検出対象物質と結合する微粒子が前記トラックごとに捕捉されている反応領域を有する試料分析用ディスクを回転させ、前記反応領域にレーザ光を前記トラックごとに照射し、前記反応領域からの反射光を受光して受光信号を生成し、
前記反応領域における第１のトラック区間に対応する第１のタイミング信号と、前記反応領域とは異なる第２のトラック区間に対応する第２のタイミング信号とを生成し、前記第２のタイミング信号に基づいて前記受光信号から前記試料分析用ディスクの反りに起因して変動する低周波成分を抽出し、前記低周波成分に基づいて補間された、前記第１のトラック区間に対応する補間低周波成分を算出し、予め設定されている閾値を前記補間低周波成分に基づいて補正して補正閾値を設定し、前記第１のタイミング信号と前記補正閾値とに基づいて前記受光信号から微粒子パルス信号を抽出し、前記微粒子パルス信号をカウントすることにより、前記反応領域の前記第１のトラック区間に捕捉されている前記微粒子をカウントする分析方法を提供する。

【発明の効果】

【0011】

本発明の微粒子計測機、分析装置、及び、分析方法によれば、試料分析用ディスクの反り等によって生じる低周波成分の変動の影響を低減することにより、低周波成分の変動による微粒子の検出精度の悪化を抑制することができる。

【図面の簡単な説明】

【0012】

【図1】検出対象物質捕捉ユニットの構成例を示す平面図である。

【図2】検出対象物質捕捉ユニットの構成例を示す平面図である。

【図3A】図１のＡ−Ａで切断した検出対象物質捕捉ユニットの断面図である。

【図3B】カートリッジを試料分析用ディスクより取り外した状態を示す断面図である。

【図4】図１のＢ−Ｂで切断したウェルを示す拡大斜視図である。

【図5】検出対象物質が抗体と微粒子とによってトラック領域の凹部にサンドイッチ捕捉されている状態を示す模式的な断面図である。

【図6】微粒子が検出対象物質と結合した状態でトラック領域の凹部に捕捉されている状態を示す模式的な平面図である。

【図7】第１及び第２実施形態の分析装置の一例を示す構成図である。

【図8A】第１実施形態の分析装置による分析方法の一例を示すフローチャートである。

【図8B】第１実施形態の分析装置による分析方法の一例を示すフローチャートである。

【図8C】第１実施形態の分析装置による分析方法の一例を示すフローチャートである。

【図9】基準位置検出センサ及び光ピックアップの検出位置と試料分析用ディスクの切欠き部及び反応領域との位置関係の一例を示す平面図である。

【図10】反応領域と夾雑領域とトラックとトラック区間との関係の一例を示す図である。

【図11】第１及び第２実施形態の分析装置における微粒子計測機の一例を示す構成図である。

【図12】受光信号と微粒子計測タイミング信号と低周波成分計測タイミング信号と基準位置検出信号との関係の一例を示すタイミングチャートである。

【図13】受光信号と微粒子計測タイミング信号と低周波成分計測タイミング信号と低周波成分と閾値と基準位置検出信号との関係の一例を示すタイミングチャートである。

【図14A】第２実施形態の分析装置による分析方法の一例を示すフローチャートである。

【図14B】第２実施形態の分析装置による分析方法の一例を示すフローチャートである。

【図14C】第２実施形態の分析装置による分析方法の一例を示すフローチャートである。

【図14D】第２実施形態の分析装置による分析方法の一例を示すフローチャートである。

【図15】受光信号と微粒子計測タイミング信号と低周波成分計測タイミング信号と低周波成分と閾値と基準位置検出信号との関係の一例を示すタイミングチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0013】

［検出対象物質捕捉ユニット］
図１、図２、図３Ａ、図３Ｂ、及び、図４を用いて、検出対象物質捕捉ユニットの一例を説明する。図１は検出対象物質捕捉ユニットをカートリッジ側から見た状態を示している。図２は検出対象物質捕捉ユニットを試料分析用ディスク側から見た状態を示している。図３Ａは図１のＡ−Ａで切断した検出対象物質捕捉ユニットの断面を示している。図３Ｂはカートリッジを試料分析用ディスクより取り外した状態を示している。図４は図１のウェルをＢ−Ｂで切断した状態を部分的に拡大して示している。

【0014】

図１または図２に示すように、検出対象物質捕捉ユニット１００は、試料分析用ディスク２００とカートリッジ３００とを備える。試料分析用ディスク２００は、例えば、ブルーレイディスク（ＢＤ）、ＤＶＤ、コンパクトディスク（ＣＤ）等の光ディスクと同等の円板形状を有する。試料分析用ディスク２００は、例えば、一般的に光ディスクに用いられるポリカーボネート樹脂またはシクロオレフィンポリマー等の樹脂材料で形成されている。なお、試料分析用ディスク２００は、上記の光ディスクに限定されるものではなく、他の形態または所定の規格に準拠した光ディスクを用いることもできる。

【0015】

図１、図２、図３Ａ、または、図３Ｂに示すように、試料分析用ディスク２００は、中心部に形成された中心孔２０１と、外周部に形成された切欠き部２０２とを有する。切欠き部２０２は試料分析用ディスク２００の基準位置を識別するための基準位置識別部である。

【0016】

図４に示すように、試料分析用ディスク２００の表面には、凸部２０３と凹部２０４とが半径方向に交互に配置されたトラック領域２０５が形成されている。凸部２０３及び凹部２０４は、内周部から外周部に向かってスパイラル状または同心円状に形成されている。凸部２０３は光ディスクのランドに相当する。凹部２０４は光ディスクのグルーブに相当し、かつ、試料分析用ディスク２００のトラックに相当する。即ち、試料分析用ディスク２００は、内周部から外周部に向かって複数のトラックを有する。凹部２０４の半径方向のピッチに相当するトラックピッチは例えば３２０ｎｍである。

【0017】

図１、図２、図３Ａ、または、図３Ｂに示すように、カートリッジ３００は、周方向に複数の円筒状の貫通孔３０１が形成されている。複数の貫通孔３０１は、それぞれの中心が同一円周上に位置するように等間隔に形成されている。カートリッジ３００は、中心部に形成された凸部３０２と、外周部に形成された凸部３０３と、外周部に複数の貫通孔３０１に対応して形成された複数のシール部材３０４とを有する。シール部材３０４は、例えばシリコーンゴム等の弾性変形部材で作製されたリング状のパッキンである。図３Ａ、図３Ｂ、または、図４に示すように、シール部材３０４は、複数の貫通孔３０１の周囲にそれぞれ配置されている。

【0018】

カートリッジ３００を試料分析用ディスク２００に取り付ける場合に、凸部３０２を試料分析用ディスク２００の中心孔２０１に挿入し、凸部３０３を切欠き部２０２に挿入することにより、カートリッジ３００と試料分析用ディスク２００とを位置決めすることができる。カートリッジ３００を試料分析用ディスク２００に取り付けると、シール部材３０４は、トラック領域２０５の凹部２０４を埋めるように弾性変形する。なお、図４はシール部材３０４が弾性変形する前の状態を示している。

【0019】

図３Ａまたは図４に示すように、検出対象物質捕捉ユニット１００は、カートリッジ３００の貫通孔３０１と試料分析用ディスク２００のトラック領域２０５とによって形成される複数のウェル１０１を有する。貫通孔３０１の内側の側面（以下、内周面とする）はウェル１０１の内周面を構成し、試料分析用ディスク２００のトラック領域２０５はウェル１０１の底面を構成している。

【0020】

ウェル１０１は試料液、緩衝液、及び、洗浄液等の溶液を溜めるための容器である。シール部材３０４は、ウェル１０１から溶液が漏れる危険性を低減させる。なお、図１及び図２では、一例として８つのウェル１０１を示しているが、ウェル１０１の数はこれに限定されるものではない。

【0021】

図３Ｂに示すように、カートリッジ３００を試料分析用ディスク２００から分離することができる。検出対象物質を標識する微粒子の検出及び計測は、カートリッジ３００が分離された試料分析用ディスク２００単体で行われる。

【0022】

［反応領域の形成］
図５、及び、図６を用いて、反応領域の形成方法の一例を説明する。オペレータは、抗体１１１を含む緩衝液を、検出対象物質捕捉ユニット１００のウェル１０１に注入する。オペレータは、検出対象物質捕捉ユニット１００を、適切な時間、かつ、適切な温度でインキュベートさせる。

【0023】

これにより、抗体１１１は、図５に示すように、ウェル１０１の底面を構成する試料分析用ディスク２００のトラック領域２０５上に固定される。オペレータは、ウェル１０１から緩衝液を排出し、ウェル１０１を別の緩衝液または洗浄液で洗浄する。トラック領域２０５に固定されなかった抗体１１１はこの洗浄によって除去される。

【0024】

オペレータは、検出対象物質１２１を含む試料液をウェル１０１に注入する。検出対象物質１２１は、例えばエクソソームである。なお、試料液には検出対象物質１２１が含まれていない場合がある。説明をわかりやすくするために、試料液１２２に検出対象物質１２１が含まれている場合について説明する。

【0025】

オペレータは、検出対象物質捕捉ユニット１００を、適切な時間、かつ、適切な温度でインキュベートさせる。これにより、検出対象物質１２１は、トラック領域２０５上に固定されている抗体１１１と抗原抗体反応により特異的に結合する。その結果、検出対象物質１２１はトラック領域２０５に捕捉される。

【0026】

オペレータは、ウェル１０１から試料液を排出し、ウェル１０１を緩衝液または洗浄液で洗浄する。なお、抗体１１１と結合しないで試料液中に分散している検出対象物質１２１、及び、抗原抗体反応ではない非特異吸着によってトラック領域２０５上に付着している検出対象物質１２１は、この洗浄によって除去される。

【0027】

オペレータは、標識となる微粒子１３１を含む緩衝液をウェル１０１に注入する。微粒子１３１の表面には検出対象物質１２１と抗原抗体反応により特異的に結合する抗体が形成されている。オペレータは、検出対象物質捕捉ユニット１００を、適切な時間、かつ、適切な温度でインキュベートさせる。

【0028】

これにより、微粒子１３１は、トラック領域２０５上に捕捉されている検出対象物質１２１と抗原抗体反応により特異的に結合する。その結果、微粒子１３１は、トラック領域２０５、具体的にはトラック領域２０５の凹部２０４に、検出対象物質１２１と結合した状態で捕捉される。

【0029】

オペレータは、ウェル１０１から緩衝液を排出し、ウェル１０１を別の緩衝液または洗浄液で洗浄し、乾燥させる。なお、検出対象物質１２１と結合しないで緩衝液中に分散している微粒子１３１は洗浄により除去される。

【0030】

オペレータは、図３Ｂに示すように、検出対象物質捕捉ユニット１００のカートリッジ３００と試料分析用ディスク２００とを分離する。試料分析用ディスク２００には、複数のウェル１０１に対応して複数の円形の反応領域２１０が形成されている。

【0031】

図５に示すように、反応領域２１０には、微粒子１３１が検出対象物質１２１と結合した状態でトラック領域２０５の凹部２０４に捕捉されている。即ち、検出対象物質１２１は、抗体１１１と微粒子１３１とによってトラック領域２０５の凹部２０４にサンドイッチ捕捉されている。図６は、微粒子１３１が検出対象物質１２１と結合した状態でトラック領域２０５の凹部２０４に捕捉されている状態の一例を示している。

【0032】

［第１実施形態］
図７、図８Ａ、図８Ｂ、図８Ｃ、図９、図１０、図１１、図１２、及び、図１３を用いて、第１実施形態の微粒子計測機、分析装置、及び、分析方法を説明する。図７を用いて、第１実施形態の分析装置を説明する。検出対象物質１２１がエクソソームである場合、エクソソームの大きさは１００ｎｍ程度と小さいため、光学的に直接検出することは難しい。第１実施形態の分析装置は、反応領域２１０に捕捉されている微粒子１３１を検出し、計測することにより、微粒子１３１と特異的に結合している検出対象物質１２１を間接的に検出し、計測する。

【0033】

図７に示すように、分析装置１は、ターンテーブル２と、クランパ３と、ターンテーブル駆動部４と、ターンテーブル駆動回路５と、基準位置検出センサ６とを備える。また、分析装置１は、ガイド軸７と、光ピックアップ２０と、光ピックアップ駆動回路８と、微粒子計測機９と、記憶部１０と、表示部１１とを備える。なお、分析装置１は表示部１１を備えていなくてもよく、外部の表示部を用いてもよい。

【0034】

ターンテーブル２上には、試料分析用ディスク２００が、反応領域２１０が下向きになるように載置される。クランパ３は、ターンテーブル２に対して離隔する方向及び接近する方向に駆動される。試料分析用ディスク２００は、クランパ３がターンテーブル２に対して接近する方向に駆動されることにより、クランパ３とターンテーブル２とによって保持される。

【0035】

ターンテーブル駆動部４は、ターンテーブル２を試料分析用ディスク２００及びクランパ３と共に、回転軸Ｃ２回りに回転駆動させる。ターンテーブル駆動部４としてスピンドルモータを用いてもよい。ターンテーブル駆動回路５はターンテーブル駆動部４を制御する。例えば、ターンテーブル駆動回路５は、ターンテーブル２が試料分析用ディスク２００及びクランパ３と共に一定の線速度で回転するようにターンテーブル駆動部４を制御する。

【0036】

基準位置検出センサ６は、試料分析用ディスク２００の外周部近傍に配置されている。基準位置検出センサ６は、例えばフォトリフレクタ等の光センサである。基準位置検出センサ６は、試料分析用ディスク２００が回転している状態で、試料分析用ディスク２００の外周部に検出光６ａを照射し、試料分析用ディスク２００からの反射光を受光する。

【0037】

基準位置検出センサ６は、試料分析用ディスク２００の切欠き部２０２を検出して基準位置検出信号ＰＤＳを生成し、微粒子計測機９へ出力する。基準位置検出信号ＰＤＳは、切欠き部２０２が基準位置検出センサ６の検出位置、即ち検出光６ａが照射される位置に到達すると立ち上がってオン状態となり、通過すると立ち下がってオフ状態となるパルス信号である。

【0038】

即ち、基準位置検出センサ６は、試料分析用ディスク２００の回転周期及びトラックごとに基準位置を検出する。基準位置検出センサ６として透過型の光センサを用いてもよい。この場合、基準位置検出センサ６は、試料分析用ディスク２００に検出光６ａを照射し、切欠き部２０２を通過する検出光６ａを受光することにより、試料分析用ディスク２００の回転周期及びトラックごとに基準位置を検出する。

【0039】

ガイド軸７は、試料分析用ディスク２００と平行に、かつ、試料分析用ディスク２００の半径方向に沿って配置されている。光ピックアップ２０は、ガイド軸７に支持されている。光ピックアップ２０は、ガイド軸７に沿って、ターンテーブル２の回転軸Ｃ２に直交する方向であり、試料分析用ディスク２００の半径方向に、かつ、試料分析用ディスク２００と平行に駆動される。

【0040】

光ピックアップ２０は、対物レンズ２１を備えている。光ピックアップ２０は、試料分析用ディスク２００に向けてレーザ光２０ａを照射する。レーザ光２０ａは、対物レンズ２１によって試料分析用ディスク２００の反応領域２１０が形成されているトラック領域２０５に集光される。図５に示す符号２１及び２０ａは、図７に示す対物レンズ２１及びレーザ光２０ａに相当し、上下反転させた状態に相当する。

【0041】

試料分析用ディスク２００を回転させた状態で、光ピックアップ２０を試料分析用ディスク２００の半径方向に駆動させる。これにより、図５に示すように、レーザ光２０ａは、トラックに相当する凹部２０４に沿って走査される。光ピックアップ２０は、試料分析用ディスク２００からの反射光を受光する。光ピックアップ２０は、反射光の受光レベルを検出して受光信号ＬＲＳを生成し、微粒子計測機９へ出力する。

【0042】

光ピックアップ駆動回路８は、光ピックアップ２０の駆動を制御する。光ピックアップ駆動回路８は、光ピックアップ２０をガイド軸７に沿って移動させたり、光ピックアップ２０の対物レンズ２１を上下方向に移動させたりする。

【0043】

微粒子計測機９は、ターンテーブル駆動回路５、及び、光ピックアップ駆動回路８を制御する。即ち、微粒子計測機９は制御部として機能する。微粒子計測機９は、ターンテーブル駆動回路５を制御して、ターンテーブル２を例えば一定の線速度で回転させたり、停止させたりする。

【0044】

微粒子計測機９は、光ピックアップ駆動回路８を制御して、光ピックアップ２０を試料分析用ディスク２００の半径方向の目標位置まで移動させたり、レーザ光２０ａがトラック領域２０５に集光されるように対物レンズ２１の上下位置を調整したりする。

【0045】

微粒子計測機９は、基準位置検出センサ６から出力された基準位置検出信号ＰＤＳに基づいて試料分析用ディスク２００の回転周期及びトラックごとに基準位置を検出する。微粒子計測機９は、検出された基準位置に基づいて反応領域２１０を特定する。

【0046】

記憶部１０には、各反応領域２１０に対してトラックごとに計測パラメータＳＰが記憶されている。計測パラメータＳＰは、反応領域２１０の数、基準位置識別部である切欠き部２０２から各反応領域２１０までの距離に相当する時間、及び各トラックにおけるタイミング信号のタイミング等の計測情報を含んでいる。

【0047】

微粒子計測機９は、記憶部１０から計測パラメータＳＰを読み出し、計測パラメータＳＰに基づいて、各反応領域２１０に対してトラックごとに複数の計測タイミング信号として、例えば複数の微粒子計測タイミング信号ＢＴＳと複数の低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳとを生成する。

【0048】

微粒子計測タイミング信号ＢＴＳは、反応領域２１０に捕捉されている微粒子１３１を計測するためのタイミング信号である。低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳは、試料分析用ディスク２００の反りに起因して変動する低周波成分を計測するためのタイミング信号である。微粒子計測タイミング信号ＢＴＳを第１のタイミング信号とし、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳを第２のタイミング信号とする。

【0049】

微粒子計測機９は、光ピックアップ２０から出力された受光信号ＬＲＳから、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳごとに微粒子パルス信号ＢＳを抽出する。なお、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ、及び、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳの生成方法、並びに、微粒子パルス信号ＢＳの抽出方法については後述する。

【0050】

微粒子計測機９は、抽出された微粒子パルス信号ＢＳをカウントすることによって、検出対象物質１２１を標識する微粒子１３１をカウントする。微粒子計測機９は、各反応領域２１０の微粒子１３１の数を微粒子計測タイミング信号ＢＴＳごとに記憶部１０に記憶させる。微粒子計測機９は、反応領域２１０ごとに微粒子１３１の数を合算し、表示部１１に表示させる。表示される微粒子１３１の数は、微粒子１３１と特異的に結合している検出対象物質１２１の数に相当する。

【0051】

図８Ａ、図８Ｂ、図８Ｃ、図９、図１０、図１１、図１２、及び、図１３を用いて、分析装置１による検出対象物質１２１の分析方法、具体的には検出対象物質１２１を標識する微粒子１３１の分析方法の一例を説明する。図８Ａ、図８Ｂ、及び、図８Ｃは、分析装置１による検出対象物質１２１の分析方法の一例をフローチャートとして示している。

【0052】

微粒子計測機９は、図８Ａに示すフローチャートのステップＳ１１にて、試料分析用ディスク２００が一定の線速度で回転するようにターンテーブル駆動回路５を制御し、ターンテーブル駆動部４にターンテーブル２を回転駆動させる。

【0053】

微粒子計測機９は、ステップＳ１２にて、基準位置検出センサ６から試料分析用ディスク２００に向けて検出光６ａを照射させる。微粒子計測機９は、ステップＳ１３にて、光ピックアップ２０から試料分析用ディスク２００に向けてレーザ光２０ａを照射させる。なお、ステップＳ１２の後にステップＳ１３を実行させてもよいし、ステップＳ１３の後にステップＳ１２を実行させてもよいし、ステップＳ１２とステップＳ１３とを同時に実行させてもよい。

【0054】

図９は、基準位置検出センサ６及び光ピックアップ２０の検出位置と、試料分析用ディスク２００の切欠き部２０２及び反応領域２１０との位置関係を模式的に示している。図９中の矢印は試料分析用ディスク２００の回転方向を示している。符号６ｂは基準位置検出センサ６の検出位置を示している。軸線ＪＬはガイド軸７に相当する。

【0055】

図９では、基準位置検出センサ６の検出位置６ｂは軸線ＪＬ上に位置しているが、これに限定されるものではない。検出位置６ｂは、切欠き部２０２を検出できる位置であれば試料分析用ディスク２００の外周部の任意の位置とすることができる。光ピックアップ２０は軸線ＪＬに沿って試料分析用ディスク２００の半径方向に移動する。図８中の符号２０ｂは光ピックアップ２０の検出位置を示している。

【0056】

図９に示すように、複数の反応領域２１０は、それぞれの中心が試料分析用ディスク２００の中心Ｃ２００に対して同一円周上に等間隔になるように形成されている。複数の反応領域２１０を区別するために、基準位置検出センサ６が切欠き部２０２を検出光６ａにより検出した後、最初にレーザ光２０ａが照射される反応領域の符号を２１１とし、レーザ光２０ａが順次照射される反応領域の符号を２１２、２１３、２１４、２１５、２１６、２１７、及び、２１８とする。

【0057】

反応領域２１１〜２１８には、試料分析用ディスク２００の内周側に位置するトラックＴＲｓから外周側に位置するトラックＴＲｅに向かってトラックＴＲごとにレーザ光２０ａが順次照射される。

【0058】

反応領域２１２のトラックＴＲｉ（ｓ＜ｉ＜ｅ）における微粒子１３１を計測する場合について説明する。図１０では、説明を分かりやすくするために、基準位置検出センサ６が切欠き部２０２を検出した後に、レーザ光２０ａが最初に照射される反応領域２１１と、反応領域２１１の次に照射される反応領域２１２と、反応領域２１２の次に照射される反応領域２１３とを示している。

【0059】

図１０は、レーザ光２０ａが、反応領域２１１、２１２、及び、２１３のトラックＴＲｉ−１（ｓ＜ｉ−１＜ｅ）上を順次走査され、さらにトラックＴＲｉ（ｓ＜ｉ−１＜ｉ＜ｅ）上を順次走査される状態を示している。なお、第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法では、トラックＴＲｉを第１のトラックとし、トラックＴＲｉ−１を第２のトラックとする。説明をわかりやすくするために、反応領域２１２のトラックＴＲｉ（ｓ＜ｉ＜ｅ）における微粒子１３１を計測するための信号処理のみについて説明する。

【0060】

微粒子計測機９は、図８Ｂに示すフローチャートのステップＳ２１にて、光ピックアップ駆動回路８を制御し、試料分析用ディスク２００のトラックＴＲｉ−１にレーザ光２０ａが照射されるように光ピックアップ２０をトラックＴＲｉ−１の上方に移動させる。これにより、レーザ光２０ａはトラックＴＲｉ−１上を走査される。

【0061】

図１１は微粒子計測機９の構成例を示している。図１１に示すように、微粒子計測機９は、基準位置検出部９１と、タイミング信号生成部９２と、受光信号検出部９３と、計測部９４と、低周波成分抽出部９５と、低周波成分演算部９６と、閾値補正部９７とを備える。

【0062】

微粒子計測機９、並びに、微粒子計測機９を構成する基準位置検出部９１、タイミング信号生成部９２、受光信号検出部９３、計測部９４、低周波成分抽出部９５、低周波成分演算部９６、及び、閾値補正部９７は、回路等のハードウェア、または、ＣＰＵ（Central Processing Unit）により実行されるソフトウェア（コンピュータプログラム）のいずれかによって構成されていてもよいし、ハードウェアとソフトウェアとを組み合わせた構成としてもよい。

【0063】

タイミング信号生成部９２は、ステップＳ２２にて、記憶部１０からトラックＴＲｉ−１の計測パラメータＳＰｉ−１を読み出す。基準位置検出センサ６は、ステップＳ２３にて、切欠き部２０２を検出することにより基準位置検出信号ＰＤＳを生成する。さらに基準位置検出センサ６は、基準位置検出信号ＰＤＳを微粒子計測機９の基準位置検出部９１へ出力する。基準位置検出部９１は基準位置検出信号ＰＤＳをタイミング信号生成部９２へ出力する。

【0064】

光ピックアップ２０は、ステップＳ２４にて、試料分析用ディスク２００からの反射光を受光して受光信号ＬＲＳを生成し、微粒子計測機９の受光信号検出部９３へ出力する。受光信号検出部９３は、受光信号ＬＲＳを低周波成分抽出部９５、及び、計測部９４へ出力する。

【0065】

図１２は、受光信号ＬＲＳと微粒子計測タイミング信号ＢＴＳと低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳと基準位置検出信号ＰＤＳとの関係の一例をタイミングチャートとして示している。図１２では、図１０に対応させて反応領域２１１〜２１３に捕捉されている微粒子１３１を計測するための受光信号ＬＲＳ、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ、及び、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳのみを示している。

【0066】

図１３は、受光信号ＬＲＳと低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳと閾値ＴＨと補正閾値ＣＴＨ１と基準位置検出信号ＰＤＳとの関係の一例をタイミングチャートとして示している。図１３は図１２に対応する。

【0067】

検出対象物質捕捉ユニット１００を用いて反応領域２１０（２１１〜２１８）を形成する場合、試料分析用ディスク２００における反応領域２１０よりも外側の領域はシール部材３０４と接触する。反応領域２１０の外周部に位置し、かつ、所定の幅を有する領域は、ノイズ成分が含まれるため、計測対象外の夾雑領域２２０として設定されている。図１０に示す符号２２１、２２２、及び、２２３は、反応領域２１１、２１２、及び、２１３に対応する夾雑領域２２０を区別して示している。

【0068】

タイミング信号生成部９２は、計測パラメータＳＰと基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳを生成し、低周波成分抽出部９５へ出力する。トラックＴＲｉ−１において、タイミング信号生成部９２は、計測パラメータＳＰｉ−１と基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、図１２または図１３に示すように、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉ−１、及び、ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を生成する。

【0069】

なお、第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法において、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉ−１を第３のタイミング信号とし、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を第４のタイミング信号とする。タイミング信号生成部９２は、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉ−１、及び、ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を低周波成分抽出部９５へ出力する。

【0070】

具体的には、トラックＴＲｉ−１において、タイミング信号生成部９２は、ステップＳ２５にて、計測パラメータＳＰｉ−１と基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉ−１を生成する。さらにタイミング信号生成部９２は、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉ−１を低周波成分抽出部９５へ出力する。

【0071】

低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉ−１は、レーザ光２０ａが夾雑領域２２１、及び、反応領域２１１に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿１＿ｉ−１を通過した後のトラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉ−１で例えばハイレベルとなるゲートパルス信号である。

【0072】

トラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉ−１は、レーザ光２０ａがトラック区間Ｔｐｓ＿１＿ｉ−１を通過した後の区間であり、かつ、レーザ光２０ａが夾雑領域２２２、及び、反応領域２１２に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉ−１に到達する前の区間である。即ち、トラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉ−１は、トラックＴＲｉ−１において、レーザ光２０ａが夾雑領域２２１及び反応領域２１１と夾雑領域２２２及び反応領域２１２との間隙を走査する区間に相当する。

【0073】

なお、レーザ光２０ａが反応領域２１０及び夾雑領域２２０以外の領域を走査するトラック区間Ｔｂｓを第１のトラック区間とし、レーザ光２０ａが反応領域２１０を走査するトラック区間Ｔｃｓを第２のトラック区間とする。

【0074】

トラックＴＲｉ−１において、タイミング信号生成部９２は、ステップＳ２６にて、計測パラメータＳＰｉ−１と基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を生成する。さらにタイミング信号生成部９２は、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を低周波成分抽出部９５へ出力する。

【0075】

低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１は、レーザ光２０ａが夾雑領域２２２、及び、反応領域２１２に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉ−１を通過した後のトラック区間Ｔｂｓ＿２＿ｉ−１で例えばハイレベルとなるゲートパルス信号である。

【0076】

トラック区間Ｔｂｓ＿２＿ｉ−１は、レーザ光２０ａがトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉ−１を通過した後の区間であり、かつ、レーザ光２０ａが夾雑領域２２３、及び、反応領域２１３に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿３＿ｉ−１に到達する前の区間である。即ち、トラック区間Ｔｂｓ＿２＿ｉ−１は、トラックＴＲｉ−１において、レーザ光２０ａが夾雑領域２２２及び反応領域２１２と夾雑領域２２３及び反応領域２１３との間隙を走査する区間に相当する。

【0077】

低周波成分抽出部９５は、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳにより、受光信号ＬＲＳから試料分析用ディスク２００の反りに起因して変動する低周波成分ＬＦＣを抽出し、低周波成分演算部９６へ出力する。トラックＴＲｉ−１において、低周波成分抽出部９５は、ステップＳ２７にて、図１３に示すように、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉ−１により、受光信号ＬＲＳから試料分析用ディスク２００の反りに起因して変動する低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１を抽出する。さらに低周波成分抽出部９５は、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１を低周波成分演算部９６へ出力する。なお、第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法では、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１を第１の低周波成分とする。

【0078】

トラックＴＲｉ−１において、低周波成分抽出部９５は、ステップＳ２８にて、図１３に示すように、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１により、受光信号ＬＲＳから試料分析用ディスク２００の反りに起因して変動する低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１を抽出する。さらに低周波成分抽出部９５は、低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１を低周波成分演算部９６へ出力する。なお、第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法では、低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１を第２の低周波成分とする。

【0079】

低周波成分演算部９６は、ステップＳ２９にて、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１と低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１とを例えば補間多項式を用いて演算し、図１３に示すように、トラックＴＲｉのトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける補間低周波成分ＣＬＦＣ１＿２＿ｉを算出する。補間低周波成分ＣＬＦＣ１＿２＿ｉは、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１と低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１とによって補間された、トラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける低周波成分である。さらに低周波成分演算部９６は、補間低周波成分ＣＬＦＣ１＿２＿ｉを閾値補正部９７へ出力する。

【0080】

閾値補正部９７は、ステップＳ３０にて、図１３に示すように、予め設定されている閾値ＴＨを補間低周波成分ＣＬＦＣ１＿２＿ｉに基づいて補正し、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける補正閾値ＣＴＨ１＿２＿ｉを設定する。さらに閾値補正部９７は、補正閾値ＣＴＨ１＿２＿ｉを計測部９４へ出力する。

【0081】

微粒子計測機９は、図８Ｃに示すフローチャートのステップＳ３１にて、光ピックアップ駆動回路８を制御し、試料分析用ディスク２００のトラックＴＲｉにレーザ光２０ａが照射されるように光ピックアップ２０をトラックＴＲｉの上方に移動させる。これにより、レーザ光２０ａはトラックＴＲｉ上を走査される。

【0082】

タイミング信号生成部９２は、ステップＳ３２にて、記憶部１０からトラックＴＲｉの計測パラメータＳＰｉを読み出す。基準位置検出センサ６は、ステップＳ３３にて、切欠き部２０２を検出することにより基準位置検出信号ＰＤＳを生成する。さらに基準位置検出センサ６は、基準位置検出信号ＰＤＳを微粒子計測機９の基準位置検出部９１へ出力する。基準位置検出部９１は基準位置検出信号ＰＤＳをタイミング信号生成部９２へ出力する。

【0083】

光ピックアップ２０は、ステップＳ３４にて、試料分析用ディスク２００からの反射光を受光して受光信号ＬＲＳを生成し、微粒子計測機９の受光信号検出部９３へ出力する。受光信号検出部９３は、受光信号ＬＲＳを計測部９４、及び、低周波成分抽出部９５へ出力する。

【0084】

トラックＴＲｉにおいて、タイミング信号生成部９２は、計測パラメータＳＰｉと基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、図１２に示すように、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿１＿ｉ、ＢＴＳ＿２＿ｉ、及び、ＢＴＳ＿３＿ｉを生成する。タイミング信号生成部９２は、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿１＿ｉ、ＢＴＳ＿２＿ｉ、及び、ＢＴＳ＿３＿ｉを計測部９４へ出力する。

【0085】

例えば、トラックＴＲｉにおいて、タイミング信号生成部９２は、ステップＳ３５にて、計測パラメータＳＰｉと基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉを生成する。微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉは、図１０、図１２、または、図１３に示すように、レーザ光２０ａが反応領域２１２を走査するトラック区間Ｔｃｓ＿２＿ｉで例えばハイレベルとなるゲートパルス信号である。さらにタイミング信号生成部９２は、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉを計測部９４へ出力する。

【0086】

計測部９４は、ステップＳ３６にて、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉに基づいて受光信号ＬＲＳからパルス信号を抽出する。さらに計測部９４は、抽出されたパルス信号と補正閾値ＣＴＨ１＿２＿ｉとを比較し、例えば補正閾値ＣＴＨ１＿２＿ｉよりも低い信号レベルのパルス信号を微粒子パルス信号ＢＳと判定し、抽出する。

【0087】

計測部９４は、ステップＳ３７にて、微粒子パルス信号ＢＳをカウントすることにより、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１をカウントする。さらに計測部９４は、反応領域２１２とトラックＴＲｉと微粒子１３１の数とを関連付けて記憶部１０に記憶させる。

【0088】

従って、微粒子計測機９は、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１を計測する場合、トラックＴＲｉよりも１つ前のトラックＴＲｉ−１において、レーザ光２０ａが反応領域２１２及び夾雑領域２２２を通過する前後のトラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉ−１及びＴｂｓ＿２＿ｉ−１で受光信号ＬＲＳから低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１及びＬＦＣ＿２＿ｉ−１を抽出する。微粒子計測機９は、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１及びＬＦＣ＿２＿ｉ−１に基づいて、トラックＴＲｉのトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける補間低周波成分ＣＬＦＣ１＿２＿ｉを算出する。

【0089】

微粒子計測機９は、予め設定されている閾値ＴＨを補間低周波成分ＣＬＦＣ１＿２＿ｉに基づいて補正し、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける補正閾値ＣＴＨ１＿２＿ｉを設定する。さらに、微粒子計測機９は、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉと補正閾値ＣＴＨ１＿２＿ｉとにより、受光信号ＬＲＳから微粒子パルス信号ＢＳを抽出し、カウントする。

【0090】

微粒子計測機９は、ステップＳ３８にて、全ての反応領域２１０（２１１〜２１８）のトラックＴＲｓからトラックＴＲｅまでの全てのトラックＴＲに対して、ステップＳ２１〜Ｓ３８と同様の処理を実行する。即ち、微粒子計測機９は、全ての反応領域２１０の全てトラックＴＲにおける微粒子１３１をカウントする。

【0091】

微粒子計測機９は、各反応領域２１１〜２１８における微粒子１３１をカウントすることにより、微粒子１３１と抗原抗体反応により特異的に結合している検出対象物質１２１を間接的にカウントすることができる。さらに計測部９４は、反応領域２１０とトラックＴＲと微粒子１３１の数とを関連付けて記憶部１０に記憶させる。

【0092】

計測部９４は、ステップＳ３９にて、記憶部１０から微粒子１３１の数を読み出し、反応領域２１０（２１１〜２１８）ごとに微粒子１３１の数を合算する。さらに計測部９４は、反応領域２１０ごとに微粒子１３１の計測結果を表示部１１に表示させる。例えば、計測部９４は、反応領域２１０ごとに微粒子１３１の総数を表示部１１に表示させたり、微粒子１３１の計数分布を表示させたりする。

【0093】

第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法では、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１を計測する場合、トラックＴＲｉに対して試料分析用ディスク２００の半径方向（ラジアル方向）に隣り合うトラックＴＲｉ−１において、反応領域２１２に対して試料分析用ディスク２００のトラックＴＲｉ−１の接線方向（タンジェンシャル方向）の前後のトラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉ−１及びＴｂｓ＿２＿ｉ−１で受光信号ＬＲＳから低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１及びＬＦＣ＿２＿ｉ−１を抽出する。

【0094】

第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法では、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ−１及びＬＦＣ＿２＿ｉ−１に基づいて、トラックＴＲｉのトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける補間低周波成分ＣＬＦＣ１＿２＿ｉを算出する。第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法では、予め設定されている閾値ＴＨを補間低周波成分ＣＬＦＣ１＿２＿ｉに基づいて補正し、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける補正閾値ＣＴＨ１＿２＿ｉを設定する。第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法では、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉと補正閾値ＣＴＨ１＿２＿ｉとにより、受光信号ＬＲＳから微粒子パルス信号ＢＳを抽出し、カウントする。

【0095】

従って、第１実施形態の微粒子計測機９、分析装置１、及び、分析方法によれば、試料分析用ディスク２００の半径方向及び接線方向の反り等によって生じる低周波成分の変動の影響を低減させることができるため、低周波成分の変動による微粒子１３１の検出精度の悪化を抑制することができる。

【0096】

［第２実施形態］
図７、図１１、図１４Ａ、図１４Ｂ、図１４Ｃ、図１４Ｄ、及び、図１５を用いて、第２実施形態の微粒子計測機、分析装置、及び、分析方法を説明する。図７に示すように、第２実施形態の分析装置４０１は、第１実施形態の分析装置１と比較して、微粒子計測機４０９の処理が微粒子計測機９の処理と異なり、それ以外の構成及び処理は同じである。そこで、微粒子計測機４０９の処理について説明する。なお、説明をわかりやすくするために、第１実施形態の分析装置１と同じ構成部及び信号には同じ符号を付す。

【0097】

図７に示すように、分析装置４０１は、ターンテーブル２と、クランパ３と、ターンテーブル駆動部４と、ターンテーブル駆動回路５と、基準位置検出センサ６とを備える。また、分析装置１は、ガイド軸７と、光ピックアップ２０と、光ピックアップ駆動回路８と、微粒子計測機４０９と、記憶部１０と、表示部１１とを備える。微粒子計測機４０９はターンテーブル駆動回路５、及び、光ピックアップ駆動回路８を制御する制御部として機能する。なお、分析装置４０１は表示部１１を備えていなくてもよく、外部の表示部を用いてもよい。

【0098】

微粒子計測機４０９は、抽出された微粒子パルス信号ＢＳから、検出対象物質１２１を標識する微粒子１３１の数を計測する。微粒子計測機４０９は、各反応領域２１０の微粒子１３１の数を微粒子計測タイミング信号ＢＴＳごとに記憶部１０に記憶させる。微粒子計測機４０９は、反応領域２１０ごとに微粒子１３１の数を合算し、表示部１１に表示させる。表示される微粒子１３１の数は検出対象物質１２１の数に相当する。

【0099】

図１１、図１４Ａ、図１４Ｂ、図１４Ｃ、図１４Ｄ、及び、図１５を用いて、分析装置４０１による検出対象物質１２１の分析方法、具体的には検出対象物質１２１を標識する微粒子１３１の分析方法の一例を説明する。図１４Ａ、図１４Ｂ、図１４Ｃ、及び、図１４Ｄは、分析装置４０１による検出対象物質１２１の分析方法の一例をフローチャートとして示している。

【0100】

微粒子計測機４０９は、図１４Ａに示すフローチャートのステップＳ４１にて、試料分析用ディスク２００が一定の線速度で回転するようにターンテーブル駆動回路５を制御し、ターンテーブル駆動部４にターンテーブル２を回転駆動させる。

【0101】

微粒子計測機４０９は、ステップＳ４２にて、基準位置検出センサ６から試料分析用ディスク２００に向けて検出光６ａを照射させる。微粒子計測機４０９は、ステップＳ４３にて、光ピックアップ２０から試料分析用ディスク２００に向けてレーザ光２０ａを照射させる。なお、ステップＳ４２の後にステップＳ４３を実行させてもよいし、ステップＳ４３の後にステップＳ４２を実行させてもよいし、ステップＳ４２とステップＳ４３とを同時に実行させてもよい。

【0102】

反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１を計測する場合について説明する。説明をわかりやすくするために、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１を計測するための信号処理のみについて説明する。

【0103】

微粒子計測機４０９は、図１４Ｂに示すフローチャートのステップＳ５１にて、光ピックアップ駆動回路８を制御し、試料分析用ディスク２００のトラックＴＲｉ−１にレーザ光２０ａが照射されるように光ピックアップ２０をトラックＴＲｉ−１の上方に移動させる。これにより、レーザ光２０ａはトラックＴＲｉ−１上を走査される。なお、第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法では、トラックＴＲｉを第３のトラックとし、トラックＴＲｉ−１を第４のトラックとする。

【0104】

図１１に示すように、微粒子計測機４０９は、基準位置検出部９１と、タイミング信号生成部９２と、受光信号検出部９３と、計測部４９４と、低周波成分抽出部４９５と、低周波成分演算部４９６と、閾値補正部４９７とを備える。

【0105】

微粒子計測機４０９、並びに、微粒子計測機４０９を構成する基準位置検出部９１、タイミング信号生成部９２、受光信号検出部９３、計測部４９４、低周波成分抽出部４９５、低周波成分演算部４９６、及び、閾値補正部４９７は、回路等のハードウェア、または、ＣＰＵにより実行されるソフトウェア（コンピュータプログラム）のいずれかによって構成されていてもよいし、ハードウェアとソフトウェアとを組み合わせた構成としてもよい。

【0106】

タイミング信号生成部９２は、ステップＳ５２にて、記憶部１０からトラックＴＲｉ−１の計測パラメータＳＰｉ−１を読み出す。基準位置検出センサ６は、ステップＳ５３にて、切欠き部２０２を検出することにより基準位置検出信号ＰＤＳを生成する。さらに基準位置検出センサ６は、基準位置検出信号ＰＤＳを微粒子計測機４０９の基準位置検出部９１へ出力する。基準位置検出部９１は基準位置検出信号ＰＤＳをタイミング信号生成部９２へ出力する。

【0107】

光ピックアップ２０は、ステップＳ５４にて、試料分析用ディスク２００からの反射光を受光して受光信号ＬＲＳを生成し、微粒子計測機４０９の受光信号検出部９３へ出力する。受光信号検出部９３は、受光信号ＬＲＳを低周波成分抽出部４９５、及び、計測部４９４へ出力する。

【0108】

図１５は、受光信号ＬＲＳと低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳと閾値ＴＨと補正閾値ＣＴＨ２と基準位置検出信号ＰＤＳとの関係の一例をタイミングチャートとして示している。図１５は図１２または図１３に対応している。

【0109】

タイミング信号生成部９２は、計測パラメータＳＰと基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳを生成し、低周波成分抽出部９５へ出力する。トラックＴＲｉ−１において、タイミング信号生成部９２は、計測パラメータＳＰｉ−１と基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、図１２または図１５に示すように、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を生成する。

【0110】

具体的には、トラックＴＲｉ−１において、タイミング信号生成部９２は、ステップＳ５５にて、計測パラメータＳＰｉ−１と基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を生成する。さらにタイミング信号生成部９２は、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を低周波成分抽出部４９５へ出力する。

【0111】

低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１は、レーザ光２０ａが夾雑領域２２２、及び、反応領域２１２に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉ−１を通過した後のトラック区間Ｔｂｓ＿２＿ｉ−１で例えばハイレベルとなるゲートパルス信号である。

【0112】

トラック区間Ｔｂｓ＿２＿ｉ−１は、レーザ光２０ａがトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉ−１を通過した後の区間であり、かつ、レーザ光２０ａが夾雑領域２２３、及び、反応領域２１３に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿３＿ｉ−１に到達する前の区間である。即ち、トラック区間Ｔｂｓ＿２＿ｉ−１は、トラックＴＲｉ−１において、レーザ光２０ａが夾雑領域２２２及び反応領域２１２と夾雑領域２２３及び反応領域２１３との間隙を走査する区間に相当する。

【0113】

低周波成分抽出部４９５は、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳにより、受光信号ＬＲＳから試料分析用ディスク２００の反応領域２１０の反りに起因して変動する低周波成分ＬＦＣを抽出し、低周波成分演算部４９６へ出力する。トラックＴＲｉ−１において、低周波成分抽出部４９５は、ステップＳ５６にて、図１５に示すように、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１により、受光信号ＬＲＳから試料分析用ディスク２００の反りに起因して変動する低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１を抽出する。さらに低周波成分抽出部４９５は、低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１を低周波成分演算部４９６へ出力する。なお、第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法では、低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１を第３の低周波成分とする。

【0114】

微粒子計測機４０９は、図１４Ｃに示すフローチャートのステップＳ６１にて、光ピックアップ駆動回路８を制御し、試料分析用ディスク２００のトラックＴＲｉにレーザ光２０ａが照射されるように光ピックアップ２０をトラックＴＲｉの上方に移動させる。これにより、レーザ光２０ａはトラックＴＲｉ上を走査される。

【0115】

タイミング信号生成部９２は、ステップＳ６２にて、記憶部１０からトラックＴＲｉの計測パラメータＳＰｉを読み出す。基準位置検出センサ６は、ステップＳ６３にて、切欠き部２０２を検出することにより基準位置検出信号ＰＤＳを生成する。さらに基準位置検出センサ６は、基準位置検出信号ＰＤＳを微粒子計測機４０９の基準位置検出部９１へ出力する。基準位置検出部９１は基準位置検出信号ＰＤＳをタイミング信号生成部９２へ出力する。

【0116】

光ピックアップ２０は、ステップＳ６４にて、試料分析用ディスク２００からの反射光を受光して受光信号ＬＲＳを生成し、微粒子計測機４０９の受光信号検出部９３へ出力する。受光信号検出部９３は、受光信号ＬＲＳを低周波成分抽出部４９５、及び、計測部４９４へ出力する。

【0117】

トラックＴＲｉにおいて、タイミング信号生成部９２は、ステップＳ６５にて、計測パラメータＳＰｉと基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、図１２または図１５に示すように、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉを生成する。さらにタイミング信号生成部９２は、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉを低周波成分抽出部４９５へ出力する。なお、第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法において、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿２＿ｉ−１を第５のタイミング信号とし、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉを第６のタイミング信号とする。

【0118】

低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉは、レーザ光２０ａが夾雑領域２２２、及び、反応領域２１２に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉに到達する前のトラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉで例えばハイレベルとなるゲートパルス信号である。

【0119】

トラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉは、レーザ光２０ａが夾雑領域２２１、及び、反応領域２１１に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿１＿ｉを通過した後の区間であり、かつ、レーザ光２０ａが夾雑領域２２２、及び、反応領域２１２に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉに到達する前の区間である。即ち、トラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉは、トラックＴＲｉにおいて、レーザ光２０ａが夾雑領域２２１及び反応領域２１１と夾雑領域２２２及び反応領域２１２との間隙を走査する区間に相当する。

【0120】

トラックＴＲｉにおいて、低周波成分抽出部４９５は、ステップＳ６６にて、図１５に示すように、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉにより、受光信号ＬＲＳから試料分析用ディスク２００の反応領域２１０の反りに起因して変動する低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉを抽出する。さらに低周波成分抽出部４９５は、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉを低周波成分演算部４９６へ出力する。なお、第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法では、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉを第４の低周波成分とする。

【0121】

低周波成分演算部４９６は、ステップＳ６７にて、低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１と低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉとを例えば補間多項式を用いて演算し、図１５に示すように、トラックＴＲｉのトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける補間低周波成分ＣＬＦＣ２＿２＿ｉを算出する。補間低周波成分ＣＬＦＣ２＿２＿ｉは、低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１と低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉとによって補間された、トラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける低周波成分である。さらに低周波成分演算部４９６は、補間低周波成分ＣＬＦＣ２＿２＿ｉを閾値補正部４９７へ出力する。

【0122】

閾値補正部４９７は、ステップＳ６８にて、図１５に示すように、予め設定されている閾値ＴＨを補間低周波成分ＣＬＦＣ２＿２＿ｉに基づいて補正し、トラックＴＲｉにおける反応領域２１２の補正閾値ＣＴＨ２＿２＿ｉを設定する。さらに閾値補正部４９７は、補正閾値ＣＴＨ２＿２＿ｉを計測部４９４へ出力する。

【0123】

トラックＴＲｉにおいて、タイミング信号生成部９２は、計測パラメータＳＰｉと基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、図１２に示すように、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿１＿ｉ、ＢＴＳ＿２＿ｉ、及び、ＢＴＳ＿３＿ｉを生成する。タイミング信号生成部９２は、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿１＿ｉ、ＢＴＳ＿２＿ｉ、及び、ＢＴＳ＿３＿ｉを計測部４９４へ出力する。

【0124】

例えば、トラックＴＲｉにおいて、タイミング信号生成部９２は、図１４Ｄに示すフローチャートのステップＳ７１にて、計測パラメータＳＰｉと基準位置検出信号ＰＤＳとに基づいて、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉを生成する。微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉは、図１０、図１２、または、図１５に示すように、レーザ光２０ａが反応領域２１２を走査するトラック区間Ｔｃｓ＿２＿ｉで例えばハイレベルとなるゲートパルス信号である。さらにタイミング信号生成部９２は、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉを計測部４９４へ出力する。

【0125】

計測部４９４は、ステップＳ７２にて、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉに基づいて受光信号ＬＲＳからパルス信号を抽出する。さらに計測部４９４は、抽出されたパルス信号と補正閾値ＣＴＨ２＿２＿ｉとを比較し、例えば補正閾値ＣＴＨ２＿２＿ｉよりも低い信号レベルのパルス信号を微粒子パルス信号ＢＳと判定し、抽出する。

【0126】

計測部４９４は、ステップＳ７３にて、微粒子パルス信号ＢＳをカウントすることにより、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１をカウントする。さらに計測部４９４は、反応領域２１２とトラックＴＲｉと微粒子１３１の数とを関連付けて記憶部１０に記憶させる。

【0127】

従って、微粒子計測機４０９は、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１を計測する場合、トラックＴＲｉよりも１つ前のトラックＴＲｉ−１においてレーザ光２０ａが反応領域２１２及び夾雑領域２２２を通過した後のトラック区間Ｔｂｓ＿２＿ｉ−１で受光信号ＬＲＳから低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１を抽出する。

【0128】

さらに微粒子計測機４０９は、トラックＴＲｉにおいてレーザ光２０ａが反応領域２１２及び夾雑領域２２２に到達する前のトラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉで受光信号ＬＲＳから低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉを抽出する。微粒子計測機４０９は、低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１及びＬＦＣ＿１＿ｉに基づいて、トラックＴＲｉのトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける補間低周波成分ＣＬＦＣ２＿２＿ｉを算出する。

【0129】

微粒子計測機４０９は、予め設定されている閾値ＴＨを補間低周波成分ＣＬＦＣ２＿２＿ｉに基づいて補正し、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける補正閾値ＣＴＨ２＿２＿ｉを設定する。さらに、微粒子計測機４０９は、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉと補正閾値ＣＴＨ２＿２＿ｉとにより、受光信号ＬＲＳから微粒子パルス信号ＢＳを抽出し、カウントする。

【0130】

微粒子計測機４０９は、ステップＳ７４にて、全ての反応領域２１０（２１１〜２１８）のトラックＴＲｓからトラックＴＲｅまでの全てのトラックＴＲに対して、ステップＳ５１〜Ｓ７４と同様の処理を実行する。即ち、微粒子計測機４０９は、全ての反応領域２１０の全てトラックＴＲにおける微粒子１３１をカウントする。

【0131】

微粒子計測機４０９は、各反応領域２１１〜２１８における微粒子１３１をカウントすることにより、微粒子１３１と抗原抗体反応により特異的に結合している検出対象物質１２１を間接的にカウントすることができる。計測部４９４は、反応領域２１０とトラックＴＲと微粒子１３１の数とを関連付けて記憶部１０に記憶させる。

【0132】

計測部４９４は、ステップＳ７５にて、記憶部１０から微粒子１３１の数を読み出し、反応領域２１０（２１１〜２１８）ごとに微粒子１３１の数を合算する。さらに計測部４９４は、反応領域２１０ごとに微粒子１３１の計測結果を表示部１１に表示させる。例えば、計測部４９４は、表示部１１に各反応領域２１０の微粒子１３１の総数を表示させたり、微粒子１３１の計数分布を表示させたりする。

【0133】

第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法では、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１を計測する場合、トラックＴＲｉに対して試料分析用ディスク２００の半径方向（ラジアル方向）に隣り合うトラックＴＲｉ−１において反応領域２１２に対して試料分析用ディスク２００のトラックＴＲの接線方向（タンジェンシャル方向）のトラック区間Ｔｂｓ＿２＿ｉ−１における受光信号ＬＲＳから低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１を抽出する。

【0134】

第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法では、さらにトラックＴＲｉにおいて反応領域２１２に対して試料分析用ディスク２００のトラックＴＲの接線方向のトラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉにおける受光信号ＬＲＳから低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉを抽出する。第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法では、低周波成分ＬＦＣ＿２＿ｉ−１及びＬＦＣ＿１＿ｉに基づいて、トラックＴＲｉのトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける補間低周波成分ＣＬＦＣ２＿２＿ｉを算出する。

【0135】

第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法では、予め設定されている閾値ＴＨを補間低周波成分ＣＬＦＣ２＿２＿ｉに基づいて補正し、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける補正閾値ＣＴＨ２＿２＿ｉを設定する。第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法では、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉと補正閾値ＣＴＨ２＿２＿ｉとにより、受光信号ＬＲＳから微粒子パルス信号ＢＳを抽出し、カウントする。

【0136】

従って、第２実施形態の微粒子計測機４０９、分析装置４０１、及び、分析方法によれば、試料分析用ディスク２００の半径方向及び接線方向の反り等によって生じる低周波成分の変動の影響を低減させることができるため、低周波成分の変動による微粒子１３１の検出精度の悪化を抑制することができる。

【0137】

なお、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。

【0138】

第１実施形態の分析装置１では、図１１に示すように、微粒子計測機９は、基準位置検出部９１と、タイミング信号生成部９２と、受光信号検出部９３と、計測部９４と、低周波成分抽出部９５と、低周波成分演算部９６と、閾値補正部９７とを備える。例えば、第１実施形態の分析装置１では、微粒子計測機９が、タイミング信号生成部９２と、計測部９４と、低周波成分抽出部９５と、低周波成分演算部９６と、閾値補正部９７とを備える構成としてもよい。

【0139】

この場合、分析装置１は、ターンテーブル２と、クランパ３と、ターンテーブル駆動部４と、ターンテーブル駆動回路５と、基準位置検出センサ６と、ガイド軸７と、光ピックアップ２０と、光ピックアップ駆動回路８と、制御部と、記憶部１０と、表示部１１とを備え、かつ、制御部が、基準位置検出部９１と、受光信号検出部９３と、微粒子計測機９とを有する構成となる。

【0140】

第２実施形態の分析装置４０１では、図１１に示すように、微粒子計測機４０９は、基準位置検出部９１と、タイミング信号生成部９２と、受光信号検出部９３と、計測部４９４と、低周波成分抽出部４９５と、低周波成分演算部４９６と、閾値補正部４９７とを備える。例えば、第２実施形態の分析装置４０１では、微粒子計測機４０９が、タイミング信号生成部９２と、計測部４９４と、低周波成分抽出部４９５と、低周波成分演算部４９６と、閾値補正部４９７とを備える構成としてもよい。

【0141】

この場合、分析装置４０１は、ターンテーブル２と、クランパ３と、ターンテーブル駆動部４と、ターンテーブル駆動回路５と、基準位置検出センサ６と、ガイド軸７と、光ピックアップ２０と、光ピックアップ駆動回路８と、制御部と、記憶部１０と、表示部１１とを備え、かつ、制御部が、基準位置検出部９１と、受光信号検出部９３と、微粒子計測機４０９とを有する構成となる。

【0142】

図１２、図１３、または、図１５では、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ、及び、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳを、開始時点で立ち上がり、終了時点で立ち下がる矩形状のゲートパルス信号として示している。微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ、及び、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳは、ゲートパルス信号に限定されるものではなく、例えば開始時点、及び、終了時点でそれぞれハイレベルとなるトリガパルス信号であってもよい。

【0143】

低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳにより受光信号ＬＲＳから抽出された低周波成分ＬＦＣから補間低周波成分ＣＬＦＣを算出する場合、図１３、または、図１５では各低周波成分ＬＦＣに対して２つのサンプリングポイントを示している。各低周波成分ＬＦＣに対するサンプリングポイントは２つに限定されるものではなく、３つ以上であってもよい。

【0144】

反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける微粒子１３１を計測する場合、微粒子計測機９または４０９は、トラックＴＲｉにおいて、低周波成分計測タイミング信号ＬＴＳ＿１＿ｉ及びＬＴＳ＿２＿ｉにより、夾雑領域２２２、及び、反応領域２１２に対応するトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉの前後のトラック区間Ｔｂｓ＿１＿ｉ及びＴｂｓ＿２＿ｉにおける受光信号ＬＲＳから低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ及びＬＦＣ＿１＿ｉを抽出するようにしてもよい。

【0145】

微粒子計測機９または４０９は、微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉにより、トラック区間Ｔｃｓ＿２＿ｉにおける受光信号ＬＲＳを抽出する。微粒子計測機９または４０９は、抽出された受光信号ＬＲＳと、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ及びＬＦＣ＿１＿ｉとを記憶部１０に記憶させる。微粒子計測機９または４０９は、記憶部１０から低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ及びＬＦＣ＿１＿ｉを読み出し、低周波成分ＬＦＣ＿１＿ｉ及びＬＦＣ＿１＿ｉに基づいて、トラックＴＲｉのトラック区間Ｔｐｓ＿２＿ｉにおける補間低周波成分ＣＬＦＣ＿２＿ｉを算出する。

【0146】

微粒子計測機９または４０９は、予め設定されている閾値ＴＨを補間低周波成分ＣＬＦＣ＿２＿ｉに基づいて補正し、反応領域２１２のトラックＴＲｉにおける補正閾値ＣＴＨ＿２＿ｉを設定する。微粒子計測機９または４０９は、記憶部１０から微粒子計測タイミング信号ＢＴＳ＿２＿ｉにより抽出された受光信号ＬＲＳを読み出す。微粒子計測機９または４０９は、補正閾値ＣＴＨ＿２＿ｉにより、受光信号ＬＲＳから微粒子パルス信号ＢＳを抽出し、カウントする。

【0147】

上記の微粒子計測機、分析装置、及び、分析方法によれば、第１または第２実施形態の微粒子計測機９または４０９、分析装置１または４０１、及び、分析方法と同様の効果を得ることができる。

【符号の説明】

【0148】

１，４０１ 分析装置
２ ターンテーブル
４ ターンテーブル駆動部
５ ターンテーブル駆動回路
８ 光ピックアップ駆動回路
９，４０９ 微粒子計測機
２０ 光ピックアップ
２０ａ レーザ光
９２ タイミング信号生成部
９４ 計測部
９５ 低周波成分抽出部
９６ 低周波成分演算部
９７ 閾値補正部
１２１ 検出対象物質
１３１ 微粒子
２００ 試料分析用ディスク
２１０，２１１，２１２，２１３，２１４，２１５，２１６，２１７，２１８ 反応領域
１２１ 検出対象物質
１３１ 微粒子
２００ 試料分析用ディスク
ＢＳ 微粒子パルス信号
ＢＴＳ 微粒子計測タイミング信号（第１のタイミング信号）
ＣＬＦＣ 補間低周波成分
ＣＴＨ 補正閾値
ＬＦＣ 低周波成分
ＬＲＳ 受光信号
ＬＴＳ 低周波成分計測タイミング信号（第２〜第６のタイミング信号）
Ｔｂｓ トラック区間（第２のトラック区間）
Ｔｃｓ トラック区間（第１のトラック区間）
ＴＨ 閾値
ＴＲ トラック

【図1】

【図2】

【図3A】

【図3B】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8A】

【図8B】

【図8C】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14A】

【図14B】

【図14C】

【図14D】

【図15】