特許 6890377 表示装置の検査装置及び表示装置の検査方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6890377

(24)【登録日】2021年5月27日

(45)【発行日】2021年6月18日

(54)【発明の名称】表示装置の検査装置及び表示装置の検査方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/956 20060101AFI20210607BHJP

   G01N 21/88 20060101ALI20210607BHJP

【ＦＩ】

   G01N21/956 Z

   G01N21/88 H

【請求項の数】8

【全頁数】20

(21)【出願番号】特願2015-241090(P2015-241090)

(22)【出願日】2015年12月10日

(65)【公開番号】特開2016-126005(P2016-126005A)

(43)【公開日】2016年7月11日

【審査請求日】2018年11月29日

(31)【優先権主張番号】10-2014-0192097

(32)【優先日】2014年12月29日

(33)【優先権主張国】KR

(73)【特許権者】

【識別番号】512187343

【氏名又は名称】三星ディスプレイ株式會社

【氏名又は名称原語表記】Ｓａｍｓｕｎｇ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｃｏ．，Ｌｔｄ．

(74)【代理人】

【識別番号】110002619

【氏名又は名称】特許業務法人ＰＯＲＴ

(72)【発明者】

【氏名】金 白 濬

(72)【発明者】

【氏名】柳 重 永

(72)【発明者】

【氏名】白 承 楹

(72)【発明者】

【氏名】柳 彰 賢

(72)【発明者】

【氏名】林 徳 柱

【審査官】 大河原 綾乃

(56)【参考文献】

【文献】 特開昭６２−７３１４１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１４−１４２３３９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１２−６３２４５（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２０１１／００５８０３８（ＵＳ，Ａ１）

【文献】 特開２００２−１６２３６０（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２００５−４３３７１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平５−３３４４２０（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｎ ２１／８４ − ２１／９５８

Ｇ０１Ｂ １１／００ − １１／３０

Ｇ０１Ｍ １１／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

表示パネル及び前記表示パネル上に配置される保護フィルムを含む表示装置に第１入射角を有するように第１入射光を提供する第１照明ユニットと、
前記表示装置に前記第１入射角より大きい第２入射角を有するように第２入射光を提供する第２照明ユニットと、
前記表示装置に前記第２入射角より大きい第３入射角を有するように第３入射光を提供する第３照明ユニットと、
前記第１入射光が前記表示装置で第１反射角に反射されて提供される第１反射光、前記第２入射光が前記表示装置で第２反射角に反射されて提供される第２反射光、及び前記第３入射光が前記表示装置で第３反射角に反射されて提供される第３反射光のそれぞれの光を受信して、前記表示装置の欠陥を検出する欠陥検出部と、を含み、
前記第１照明ユニットは、第１偏光板を含み、
前記第２照明ユニットは、第２偏光板を含み、
前記第３照明ユニットは、第３偏光板を含み、
前記第１偏光板及び前記第２偏光板は、互いに同一の成分を偏光し、
前記第１偏光板及び前記第３偏光板は、互いに異なる成分を偏光し、
前記欠陥検出部は、
前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれの光を受信して、前記表示装置の画像を撮影する撮影ユニットと、
前記撮影ユニットから前記表示装置の前記画像を受信し前記表示装置の欠陥を検出する制御部と、を含み、
前記制御部は、
前記保護フィルムの欠陥領域と正常領域を区別するために、
i）前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれが前記保護フィルムの上面で反射されたそれぞれの保護反射光と、
ii）前記保護フィルム上の埃または廃棄物の異物によって散乱された保護異物質散乱光と、
iii）前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれの保護フィルム上に存在する前記欠陥によって散乱された保護散乱光と、によって撮影された前記表示装置の前記画像を受信し、
前記表示パネルの欠陥領域と正常領域を区別するために、
i）前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれが前記表示パネルの上面で反射されたそれぞれの表示反射光と、
ii）前記表示パネル上の埃または廃棄物の異物によって散乱された表示異物質散乱光と、
iii）前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれの前記表示パネル上に存在する前記欠陥によって散乱された表示散乱光と、によって撮影された前記表示装置の前記画像を受信する、
表示装置の検査装置。

【請求項2】

前記第１照明ユニットは、
前記表示装置に光を提供する第１光源を含み、
前記第１偏光板は、
前記第１光源及び前記表示装置の間に配置され、
直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板である請求項１に記載の表示装置の検査装置。

【請求項3】

前記第１照明ユニットは、
前記第１光源及び前記表示装置の間に配置されるバンドパスフィルターをさらに含む請求項２に記載の表示装置の検査装置。

【請求項4】

前記第２照明ユニットは、
前記表示装置に光を提供する第２光源を含み、
前記第２偏光板は
前記第２光源及び前記表示装置の間に配置され、
直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板である請求項１に記載の表示装置の検査装置。

【請求項5】

前記第３照明ユニットは、
前記表示装置に光を提供する第３光源を含み、
前記第３偏光板は、
前記第３光源及び前記表示装置の間に配置され、
直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板である請求項１に記載の表示装置の検査装置。

【請求項6】

前記撮影ユニットは、
前記表示装置を撮影するカメラと、
前記カメラ及び前記表示装置の間に配置される第４偏光板と、を含む請求項１に記載の表示装置の検査装置。

【請求項7】

前記カメラは、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）カメラ及びＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）カメラのうち、少なくとも１つを含む請求項６に記載の表示装置の検査装置。

【請求項8】

表示パネル及び前記表示パネル上に配置される保護フィルムを含む表示装置に第１入射角を有するように第１入射光を提供する第１照明ユニットと、
前記表示装置に前記第１入射角より大きい第２入射角を有するように第２入射光を提供する第２照明ユニットと、
前記表示装置に前記第２入射角より大きい第３入射角を有するように第３入射光を提供する第３照明ユニットと、
前記第１入射光が前記表示装置で第１反射角に反射されて提供される第１反射光、前記第２入射光が前記表示装置で第２反射角に反射されて提供される第２反射光、及び前記第３入射光が前記表示装置で第３反射角に反射されて提供される第３反射光のそれぞれの光を受信して、前記表示装置の欠陥を検出する欠陥検出部と、を含み、
前記欠陥検出部は、
前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれの光を受信して、前記表示装置の画像を撮影する撮影ユニットと、
前記撮影ユニットから前記表示装置の前記画像を受信し前記表示装置の欠陥を検出する制御部と、を含み、
前記第１照明ユニットは、第１偏光板を含み、
前記第２照明ユニットは、第２偏光板を含み、
前記第３照明ユニットは、第３偏光板を含み、
前記撮影ユニットは、第４偏光板を含み、
前記第１偏光板及び前記第２偏光板は、互いに同一の成分を偏光し、
前記第３偏光板及び前記第４偏光板は、互いに同一の成分を偏光し、
前記第１偏光板及び前記第３偏光板は、互いに異なる成分を偏光し、
前記制御部は、
前記保護フィルムの欠陥領域と正常領域を区別するために、
i）前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれが前記保護フィルムの上面で反射されたそれぞれの保護反射光と、
ii）前記保護フィルム上の埃または廃棄物の異物によって散乱された保護異物質散乱光と、
iii）前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれの保護フィルム上に存在する前記欠陥によって散乱された保護散乱光と、によって撮影された前記表示装置の前記画像を受信し、
前記表示パネルの欠陥領域と正常領域を区別するために、
i）前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれが前記表示パネルの上面で反射されたそれぞれの表示反射光と、
ii）前記表示パネル上の埃または廃棄物の異物によって散乱された表示異物質散乱光と、
iii）前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のそれぞれの前記表示パネル上に存在する前記欠陥によって散乱された表示散乱光と、によって撮影された前記表示装置の前記画像を受信する、
表示装置の検査装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は表示装置の検査装置及び表示装置の検査方法に関し、より詳細には表示パネルに付着された保護フィルムを含む表示装置の検査装置及び該表示装置の検査方法に関する。

【背景技術】

【0002】

最近、陰極線管（Ｃａｔｈｏｄｅ Ｒａｙ Ｔｕｂｅ）の短所である重さと体積とを減らすことができる各種表示装置が開発されている。前記表示装置としては液晶表示装置、エレクトロ・ウェッティング表示装置、電気泳動表示装置等がある。前記表示装置はＴＶ、モニター、ノート型コンピューター、及び携帯電話等の多様な情報処理装置に映像を表示する用途として使用されている。前記表示装置は、表示パネル及び前記表示パネル上に形成される保護フィルムを含む。

【0003】

従来の表示装置は、製造ラインで検査員が視覚的検査を遂行して、表示装置の欠陥を検査している。しかし、このような視覚的検査は検査員によって欠陥を検出できる水準に差異があり、表示パネルの欠陥、保護フィルムの欠陥、表示パネルに付着された異物質、及び保護フィルムに付着された異物質を区分できない問題点があった。したがって、表示装置の欠陥を検査することができる表示装置の検査装置及び表示装置の検査方法に対する研究が活発に進行されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】韓国公開特許第１０−２００７−０００９７０５号公報

【特許文献2】韓国公開特許公開第１０−２０１１−０００４１８８号公報

【特許文献3】韓国公開特許公開第１０−２０１０−００２１０５１号公報

【特許文献4】特開２００７−０５７４８７号公報

【特許文献5】特開２００８−０５８２７０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本発明の目的は表示パネルの欠陥、保護フィルムの欠陥、表示パネルに付着された異物質、及び保護フィルムに付着された異物質を区分できる表示装置の検査装置を提供することにある。

【0006】

本発明の他の目的は表示パネルの欠陥、保護フィルムの欠陥、表示パネルに付着された異物質、及び保護フィルムに付着された異物質を区分できる表示装置の検査方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一実施形態による表示装置の検査装置は、第１照明ユニット、第２照明ユニット、第３照明ユニット、及び欠陥検出部を含む。前記第１照明ユニットは、表示パネル及び前記表示パネル上に配置される保護フィルムを含む表示装置に第１入射角を有するように第１入射光を提供する。前記第２照明ユニットは、前記表示装置に前記第１入射角より大きい第２入射角を有するように第２入射光を提供する。前記第３照明ユニットは、前記表示装置に前記第２入射角より大きい第３入射角を有するように第３入射光を提供する。前記欠陥検出部は、前記第１入射光が前記表示装置で第１反射角に反射されて提供される第１反射光、前記第２入射光が前記表示装置で第２反射角に反射されて提供される第２反射光及び前記第３入射光が前記表示装置で第３反射角に反射されて提供される第３反射光のうち、少なくとも１つの光を受信して前記表示装置の欠陥を検出する。

【0008】

前記第１照明ユニットは、第１光源及び第１偏光板を含む。前記第１光源は、前記表示装置に光を提供する。前記第１偏光板は、前記第１光源及び前記表示装置の間に配置される。前記第１偏光板は、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0009】

前記第１照明ユニットは、バンドパスフィルターをさらに含む。前記バンドパスフィルターは、前記第１光源及び前記表示装置の間に配置される。

【0010】

前記第２照明ユニットは、第２光源及び第２偏光板を含む。前記第２光源は、前記表示装置に光を提供する。前記第２偏光板は、前記第２光源及び前記表示装置の間に配置される。前記第２偏光板は、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0011】

前記第３照明ユニットは、第３光源及び第３偏光板を含む。前記第３光源は、前記表示装置に光を提供する。前記第３偏光板は、前記第３光源及び前記表示装置の間に配置される。前記第３偏光板は、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0012】

前記第１照明ユニットは、第１偏光板を含む。前記第２照明ユニットは、第２偏光板を含む。前記第３照明ユニットは、第３偏光板を含む。前記第１偏光板及び前記第２偏光板は、互いに同一の成分を偏光する。前記第１偏光板及び前記第３偏光板は、互いに異なる成分を偏光してもよい。

【0013】

前記欠陥検出部は、撮影ユニット及び制御部を含む。前記撮影ユニットは、前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のうち、少なくとも１つの光を受信して前記表示装置を撮影する。前記制御部は、前記撮影ユニットから表示装置のイメージを受けて前記表示装置の欠陥を検出する。

【0014】

前記撮影ユニットは、カメラ及び第４偏光板を含む。前記カメラは、前記表示装置１００を撮影する。前記第４偏光板は、前記カメラ及び前記表示装置の間に配置される。

【0015】

前記カメラは、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）カメラ及びＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）カメラのうち、少なくとも１つを含んでもよい。前記第４偏光板は、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0016】

前記第１照明ユニットは、第１偏光板を含む。前記第２照明ユニットは、第２偏光板を含む。前記第３照明ユニットは、第３偏光板を含む。前記撮影ユニットは、第４偏光板を含む。前記第１偏光板及び前記第２偏光板は、互いに同一の成分を偏光する。前記第３偏光板及び前記第４偏光板は、互いに同一の成分を偏光する。前記第１偏光板及び前記第３偏光板は、互いに異なる成分を偏光する。

【0017】

前記第１入射角は、０°乃至５°であり、前記第２入射角は、１０°乃至２０°であり、前記第３入射角は、３０°乃至５０°である。

【0018】

本発明の一実施形態による表示装置の検査方法は、表示パネル及び前記表示パネル上に配置される保護フィルムを含む表示装置に第１入射角を有するように第１入射光を提供する段階、前記表示装置に前記第１入射角より大きい第２入射角を有するように第２入射光を提供する段階、前記表示装置に前記第２入射角より大きい第３入射角を有するように第３入射光を提供する段階、及び前記第１入射光が前記表示装置で第１反射角に反射されて提供される第１反射光、前記第２入射光が前記表示装置で第２反射角に反射されて提供される第２反射光及び前記第３入射光が前記表示装置で第３反射角に反射されて提供される第３反射光のうち、少なくとも１つの光を受信して、前記表示装置の欠陥を検出する段階を含む。

【0019】

前記第１入射光を提供する段階は、光を提供する第１光源を配置する段階及び前記第１光源及び前記表示装置の間に第１偏光板を配置する段階を含むことができる。

【0020】

前記第１入射光を提供する段階は、前記第１光源及び前記表示装置の間にバンドパスフィルターを配置する段階をさらに含むことができる。

【0021】

前記第２入射光を提供する段階は、光を提供する第２光源を配置する段階及び前記第２光源及び前記表示装置の間に第２偏光板を配置する段階を含むことができる。

【0022】

前記第３入射光を提供する段階は、光を提供する第３光源を配置する段階及び前記第３光源及び前記表示装置の間に第３偏光板を配置する段階を含むことができる。

【0023】

前記表示装置の欠陥を検出する段階は、前記第１反射光、前記第２反射光、及び前記第３反射光のうち少なくとも１つを受信して、前記表示装置を撮影して表示装置のイメージを提供する段階、及び前記表示装置のイメージを受けて前記表示装置の欠陥を検出する段階を含む。

【0024】

前記表示装置のイメージを提供する段階は、前記第１反射光を受信して、前記表示装置を撮影して第１表示装置のイメージを提供する段階、前記第２反射光を受信して、前記表示装置を撮影して第２表示装置のイメージを提供する段階、及び前記第３反射光を受信して、前記表示装置を撮影して第３表示装置のイメージを提供する段階を含む。

【0025】

前記表示装置のイメージを提供する段階は、前記表示装置を撮影するカメラを配置する段階及び前記カメラ及び前記表示装置の間に第４偏光板を配置する段階を含むことができる。

【発明の効果】

【0026】

本発明の一実施形態による表示装置の検査装置によれば、表示パネルの欠陥、保護フィルムの欠陥、表示パネルに付着された異物質、及び保護フィルムに付着された異物質を区分することができる。

【0027】

本発明の一実施形態による表示装置の検査方法によれば、表示パネルの欠陥、保護フィルムの欠陥、表示パネルに付着された異物質、及び保護フィルムに付着された異物質を区分することができる。

【図面の簡単な説明】

【0028】

【図1】本発明の一実施形態による表示装置の検査装置の構成を概略的に示した概略図である。

【図2】本発明の一実施形態による表示装置の検査装置の構成を概略的に示した概略図である。

【図3A】本発明の一実施形態による表示装置の検査装置に含まれる第１照明ユニットから表示装置に第１入射光が提供されて、反射及び散乱されることを簡略に示した断面図である。

【図3B】本発明の一実施形態による表示装置の検査装置に含まれる第２照明ユニットから表示装置に第２入射光が提供されて、反射及び散乱されることを簡略に示した断面図である。

【図3C】本発明の一実施形態による表示装置の検査装置に含まれる第３照明ユニットから表示装置に第３入射光が提供されて、反射及び散乱されることを簡略に示した断面図である。

【図4】本発明の一実施形態による表示装置の検査方法を概略的に示したフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0029】

以上の本発明の目的、他の目的、特徴及び長所は添付された図面に関連された以下の望ましい実施形態を通じて容易に理解できる。しかし、本発明はここで説明される実施形態に限定されなく、他の形態に具体化されることもあり得る。むしろ、ここで紹介される実施形態は開示された内容が徹底して完全になるように、そして当業者に本発明の思想が十分に伝達されるために提供される。

【0030】

各図面を説明しながら、類似な参照符号を類似な構成要素に対して使用した。添付された図面において、構造物の寸法は本発明を明確に説明するために実際より拡大して示している。第１、第２等の用語は多様な構成要素を説明するために使用されるが、構成要素は用語によって限定されない。前記用語は１つの構成要素を他の構成要素から区別する目的のみに使用される。例えば、本発明の権利範囲を逸脱することなく第１構成要素は第２構成要素と称されることもあり、同様に、第２構成要素も第１構成要素と称されることもある。単数の表現は文脈の上で明確に異なるように記述されない限り、複数の表現を含む。

【0031】

本出願で、“含む”又は“有する”等の用語は、明細書に記載された特徴、数字、段階、動作、構成要素、部品又はこれらを組合したものが存在することを指定するためのものであるが、１つ又はその以上の他の特徴や数字、段階、動作、構成要素、部分品又はこれらを組合したものの存在又は付加可能性を予め排除しないこととして理解しなければならない。

【0032】

また、層、膜、領域、板等の部分が他の部分の“上に”あるとする場合、これは他の部分の“直ちに上に”にある場合のみでなく、その中間にその他の部分がある場合も含む。反対に層、膜、領域、板等の部分が他の部分の“下に”あるとする場合、これは他の部分の“直ちに下に”にある場合のみでなく、その中間にその他の部分がある場合も含む。

【0033】

以下では、本発明の一実施形態による表示装置の検査装置に対して説明する。

【0034】

図１は本発明の一実施形態による表示装置の検査装置の構成を概略的に示した概略図である。

【0035】

図２は本発明の一実施形態による表示装置の検査装置の構成を概略的に示した概略図である。

【0036】

図１及び図２を参照すれば、本発明の一実施形態による表示装置１００の検査装置１０は、第１照明ユニット２１０、第２照明ユニット２２０、第３照明ユニット２３０、及び欠陥検出部３００を含む。

【0037】

本発明の一実施形態による表示装置１００の検査装置１０は、表示装置１００のキズ、スクラッチ等のような欠陥を検査する。表示装置１００は表示パネル１１０及び表示パネル１１０上に配置される保護フィルム１２０を含む。

【0038】

表示パネル１１０は通常的に使用することであれば、特別に限定しないが、例えば、有機発光表示パネル（ｏｒｇａｎｉｃ ｌｉｇｈｔ ｅｍｉｔｔｉｎｇ ｄｉｓｐｌａｙ ｐａｎｅｌ）、液晶表示パネル（ｌｉｑｕｉｄ ｃｒｙｓｔａｌ ｄｉｓｐｌａｙ ｐａｎｅｌ）、電気泳動表示パネル（ｅｌｅｃｔｒｏｐｈｏｒｅｔｉｃ ｄｉｓｐｌａｙ ｐａｎｅｌ）、及びエレクトロ・ウェッティング表示パネル（ｅｌｅｃｔｒｏｗｅｔｔｉｎｇ ｄｉｓｐｌａｙ ｐａｎｅｌ）からなる群から選択される。

【0039】

表示パネル１１０にはキズ、スクラッチのような欠陥１１１と表示パネル１１０に付着されたほこり、ごみ等のような異物質１１２とが存在することがある。

【0040】

保護フィルム１２０は表示パネル１１０上に配置される。保護フィルム１２０は表示パネル１１０を保護する。保護フィルム１２０は透明性、機械的強度、熱安定性、水分遮蔽性が優れたフィルムを使用する。保護フィルム１２０は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、例えば、トリアセチルセルロース（ＴＡＣ）、ディスコティック液晶コーティング層、ポリ酢酸ビニル（ＶＡＣ、住友化学製、日本国）、シクロオレフィンポリマー（ＣＯＰ）、シクロオレフィンコポリマー（ＣＯＣ）、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリスルホン（ＰＳＦ）、及びポリメチルメタクリラート（ＰＭＭＡ）のうち、少なくとも１つで形成されてもよい。

【0041】

保護フィルム１２０は光学的異方性を有する。保護フィルム１２０は光の位相を遅延させる。例えば、保護フィルム１２０は図示しないが、偏光軸又は遅い軸（ｓｌｏｗ ａｘｉｓ）を持ち、偏光軸又は遅い軸に沿って振動する光の位相を遅延させる。これに限定されないが、保護フィルム１２０は線偏光された光を円偏光させるか、或いは円偏光された光を線偏光させる。

【0042】

保護フィルム１２０にはキズ、スクラッチのような欠陥１２１と保護フィルム１２０に付着されたほこり、ごみ等のような異物質１２２とが存在することがある。

【0043】

図３Ａは本発明の一実施形態による表示装置１００の検査装置１０に含まれる第１照明ユニット２１０から表示装置１００に第１入射光Ｌ１１が提供されて、反射及び散乱されることを簡略に示した断面図である。

【0044】

図１、図２、及び図３Ａを参照すれば、第１照明ユニット２１０は、表示装置１００に第１入射角θ１１を有するように第１入射光Ｌ１１を提供する。第１入射光Ｌ１１は表示装置の基準軸ＡＸと第１入射角θ１１をなす。表示装置の基準軸ＡＸは表示パネル１１０の厚さ方向と平行である。第１入射角θ１１はこれに限定されないが、例えば、０°乃至５°である。

【0045】

表示装置１００に第１入射光Ｌ１１が提供されれば、第１入射光Ｌ１１は表示装置１００で第１反射角θ１２に反射されて、第１反射光Ｌ１２を発生させる。第１反射光Ｌ１２は欠陥検出部３００に提供される。図１では、説明を簡単にするため、第１反射角θ１２が第１入射角θ１１と異なることを例として説明したが、第１反射角θ１２は第１入射角θ１１と同一であってもよい。

【0046】

第１反射光Ｌ１２は保護フィルム１２０の上面で反射される第１保護反射光Ｌ１２＿１及び保護フィルム１２０を透過して表示パネル１１０の上面で反射される第１表示反射光Ｌ１２＿２を含む。第１反射光Ｌ１２は表示パネル１１０のうち、表示パネル１１０の欠陥１１１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２が存在しない領域で反射される光、保護フィルム１２０のうち、保護フィルム１２０の欠陥１２１、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在しない領域で反射される光を含む。

【0047】

表示装置１００に第１入射光Ｌ１１が提供されれば、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２等によって第１散乱光Ｌ１３が発生する。第１散乱光Ｌ１３は欠陥検出部３００に提供される。

【0048】

第１散乱光Ｌ１３は保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第１保護異物質散乱光Ｌ１３＿１、表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第１表示異物質散乱光Ｌ１３＿２、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第１保護散乱光Ｌ１３＿３、及び表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第１表示散乱光Ｌ１３＿４を含む。

【0049】

第１照明ユニット２１０は第１光源２１１及び第１偏光板２１２を含む。第１光源２１１は表示装置１００に光を提供する。第１偏光板２１２は第１光源２１１及び表示装置１００の間に配置される。第１偏光板２１２は第１光源２１１から提供された光を偏光する。第１偏光板２１２は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0050】

例えば、第１光源２１１から提供される光が偏光されていない光であり、第１偏光板２１２が円偏光板である時、第１光源２１１から提供される光は第１偏光板２１２を透過しながら、左円偏光になる。即ち、左円偏光された光は第１入射光Ｌ１１として、表示装置１００に第１入射角θ１１で提供される。

【0051】

第１入射光Ｌ１１は保護フィルム１２０の上面で反射されて右円偏光になる。これによって、保護フィルム１２０の上面で反射された第１保護反射光Ｌ１２＿１、保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第１保護異物質散乱光Ｌ１３＿１、及び保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第１保護散乱光Ｌ１３＿３の各々は右円偏光された光となる。

【0052】

第１入射光Ｌ１１は光学的異方性を有する保護フィルム１２０を透過しながら、水平方向に線偏光になり、水平方向に線偏光された光は表示パネル１１０の上面で反射されて、垂直方向に線偏光になる。垂直方向に線偏光された光は保護フィルム１２０を透過しながら、右円偏光になる。

【0053】

これによって、表示パネル１１０の上面で反射された第１表示反射光Ｌ１２＿２、表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第１表示異物質散乱光Ｌ１３＿２、及び表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第１表示散乱光Ｌ１３＿４の各々は右円偏光された光となる。

【0054】

図２を参照すれば、第１照明ユニット２１０はバンドパスフィルターＢＰＦをさらに含む。バンドパスフィルターＢＰＦは第１光源２１１及び表示装置１００の間に配置される。図２では、バンドパスフィルターＢＰＦが第１光源２１１及び第１偏光板２１２の間に配置されることを例として図示したが、これに限定することではなく、バンドパスフィルターＢＰＦは第１偏光板２１２及び表示装置１００の間に配置されてもよい。

【0055】

図３Ｂは本発明の一実施形態による表示装置１００の検査装置１０に含まれる第２照明ユニット２２０で表示装置１００に第２入射光Ｌ２１が提供されて、反射及び散乱されることを簡略に示した断面図である。

【0056】

図１、図２、及び図３Ｂを参照すれば、第２照明ユニット２２０は表示装置１００に第２入射光Ｌ２１を提供する。第２入射光Ｌ２１は表示装置の基準軸ＡＸと第２入射角θ２１をなす。表示装置の基準軸ＡＸは表示パネル１１０の厚さ方向と平行である。第２入射角θ２１は第１入射角θ１１より大きい。第２入射角θ２１はこれに限定されないが、例えば、１０°乃至２０°である。第２照明ユニット２２０は第２入射光Ｌ２１が表示装置１００に提供される時、第１入射角θ１１と異なる第２入射角θ２１を有するように配置されて、第１照明ユニット２１０で検査し難い欠陥を追加的に検査することができる。

【0057】

表示装置１００に第２入射光Ｌ２１が提供されれば、第２入射光Ｌ２１は表示装置１００で第２反射角θ２２に反射されて、第２反射光Ｌ２２を発生させる。第２反射光Ｌ２２は欠陥検出部３００に提供される。図１では、説明を簡単にするため、第２反射角θ２２が第２入射角θ２１と異なることを例として説明したが、第２反射角θ２２は第２入射角θ２１と同一であってもよい。

【0058】

第２反射光Ｌ２２は保護フィルム１２０の上面で反射される第２保護反射光Ｌ２２＿１及び保護フィルム１２０を透過して、表示パネル１１０の上面で反射される第２表示反射光Ｌ２２＿２を含む。第２反射光Ｌ２２は表示パネル１１０のうち、表示パネル１１０の欠陥１１１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２が存在しない領域で反射される光、保護フィルム１２０のうち、保護フィルム１２０の欠陥１２１、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在しない領域で反射される光を含む。

【0059】

表示装置１００に第２入射光Ｌ２１が提供されれば、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２等によって第２散乱光Ｌ２３が発生する。第２散乱光Ｌ２３は欠陥検出部３００に提供される。

【0060】

第２散乱光Ｌ２３は、保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第２保護異物質散乱光Ｌ２３＿１、表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第２表示異物質散乱光Ｌ２３＿２、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第２保護散乱光Ｌ２３＿３、及び表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第２表示散乱光Ｌ２３＿４を含む。

【0061】

第２照明ユニット２２０は第２光源２２１及び第２偏光板２２２を含む。第２光源２２１は表示装置１００に光を提供する。第２偏光板２２２は第２光源２２１及び表示装置１００の間に配置される。第２偏光板２２２は第２光源２２１から提供された光を偏光する。第２偏光板２２２は第１偏光板２１２と同一の成分を偏光する。第２偏光板２２２は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0062】

例えば、第２光源２２１から提供される光が偏光されていない光であり、第２偏光板２２２が円偏光板である時、第２光源２２１から提供される光は第２偏光板２２２を透過しながら、左円偏光になる。左円偏光された光は第２入射光Ｌ２１として、第２入射角θ２１で表示装置１００に提供される。

【0063】

第２入射光Ｌ２１は保護フィルム１２０の上面で反射されて右円偏光になる。これによって、保護フィルム１２０の上面で反射された第２保護反射光Ｌ２２＿１、保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第２保護異物質散乱光Ｌ２３＿１、及び保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第２保護散乱光Ｌ２３＿３の各々は右円偏光された光となる。

【0064】

第２入射光Ｌ２１は光学的異方性を有する保護フィルム１２０を透過しながら、水平方向に線偏光になり、水平方向に線偏光された光は表示パネル１１０の上面で反射されて、垂直方向に線偏光になる。垂直方向に線偏光された光は保護フィルム１２０を透過しながら、右円偏光になる。

【0065】

これによって、表示パネル１１０の上面で反射された第２表示反射光Ｌ２２＿２、表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第２表示異物質散乱光Ｌ２３＿２、及び表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第２表示散乱光Ｌ２３＿４の各々は右円偏光された光となる。

【0066】

図３Ｃは本発明の一実施形態による表示装置１００の検査装置１０に含まれる第３照明ユニット２３０から表示装置１００に第３入射光Ｌ３１が提供されて、反射及び散乱されることを簡略に示した断面図である。

【0067】

図１、図２、及び図３Ｃを参照すれば、第３照明ユニット２３０は表示装置１００に第３入射光Ｌ３１を提供する。第３入射光Ｌ３１は表示装置の基準軸ＡＸと第３入射角θ３１をなす。表示装置の基準軸ＡＸは表示パネル１１０の厚さ方向と平行である。第３入射角θ３１は第１入射角θ１１及び第２入射角θ２１の各々より大きい。第３入射角θ３１はこれに限定されないが、例えば、３０°乃至５０°である。

【0068】

表示装置１００に第３入射光Ｌ３１が提供されれば、第３入射光Ｌ３１は表示装置１００で第３反射角θ３２に反射されて、第３反射光Ｌ３２を発生させる。第３反射光Ｌ３２は欠陥検出部３００に提供される。図１では、説明を簡単にするため、第３反射角θ３２が第３入射角θ３１と異なることを例として説明したが、第３反射角θ３２は第３入射角θ３１と同一であってもよい。

【0069】

第３反射光Ｌ３２は保護フィルム１２０の上面で反射される第３保護反射光Ｌ３２＿１及び保護フィルム１２０を透過して、表示パネル１１０の上面で反射される第３表示反射光Ｌ３２＿２を含む。第３反射光Ｌ３２は表示パネル１１０のうち、表示パネル１１０の欠陥１１１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２が存在しない領域で反射される光、保護フィルム１２０のうち、保護フィルム１２０の欠陥１２１、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在しない領域で反射される光を含む。

【0070】

表示装置１００に第３入射光Ｌ３１が提供されれば、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２等によって第３散乱光Ｌ３３が発生する。第３散乱光Ｌ３３は欠陥検出部３００に提供される。

【0071】

第３散乱光Ｌ３３は保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第３保護異物質散乱光Ｌ３３＿１、表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第３表示異物質散乱光Ｌ３３＿２、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第３保護散乱光Ｌ３３＿３、及び表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第３表示散乱光Ｌ３３＿４を含む。

【0072】

第３照明ユニット２３０は第３保護異物質散乱光Ｌ３３＿１の量が極大化されるように配置される。第３照明ユニット２３０は第３光源２３１及び第３偏光板２３２を含む。第３光源２３１は表示装置１００に光を提供する。第３偏光板２３２は第３光源２３１及び表示装置１００の間に配置される。第３偏光板２３２は第３光源２３１から提供された光を偏光する。第３偏光板２３２は第１偏光板２１２及び第２偏光板２２２の各々と異なる成分を偏光する。第３偏光板２３２は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板である。

【0073】

例えば、第３光源２３１から提供される光が偏光されていない光であり、第３偏光板２３２が直線偏光板である時、第３光源２３１から提供される光は第３偏光板２３２を透過しながら、水平方向に線偏光になる。即ち、水平方向に線偏光された光は第３入射光Ｌ３１として、表示装置１００に第３入射角θ３１で提供される。

【0074】

第３入射光Ｌ３１は保護フィルム１２０の上面で反射されて垂直方向に線偏光になる。これによって、保護フィルム１２０の上面で反射された第３保護反射光Ｌ３２＿１、保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第３保護異物質散乱光Ｌ３３＿１、及び保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第３保護散乱光Ｌ３３＿３の各々は垂直に線偏光された光となる。

【0075】

第３入射光Ｌ３１は光学的異方性を有する保護フィルム１２０を透過しながら、左円偏光になり、左円偏光された光は表示パネル１１０の上面で反射されて、右円偏光になる。右円偏光された光は保護フィルム１２０を透過しながら、水平方向に線偏光になる。

【0076】

これによって、表示パネル１１０の上面で反射された第３表示反射光Ｌ３２＿２、表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第３表示異物質散乱光Ｌ３３＿２、及び表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第３表示散乱光Ｌ３３＿４の各々は水平方向に線型偏光された光となる。

【0077】

図１、図２、図３Ａ、図３Ｂ、及び図３Ｃを参照すれば、欠陥検出部３００は表示装置１００の欠陥を検出する。欠陥検出部３００は第１反射光Ｌ１２、第２反射光Ｌ２２、第３反射光Ｌ３２、第１散乱光Ｌ１３、第２散乱光Ｌ２３、及び第３散乱光Ｌ３３のうち、少なくとも１つの光を受信する。

【0078】

欠陥検出部３００は撮影ユニット３１０及び制御部３２０を含む。撮影ユニット３１０は表示装置１００を撮影して、制御部３２０に表示装置のイメージＰＳを提供する。撮影ユニット３１０は第１反射光Ｌ１２、第２反射光Ｌ２２、及び第３反射光Ｌ３２、第１散乱光Ｌ１３、第２散乱光Ｌ２３、及び第３散乱光Ｌ３３のうち、少なくとも１つの光を受信して表示装置１００を撮影する。

【0079】

撮影ユニット３１０は第１反射光Ｌ１２及び第１散乱光Ｌ１３のうち、少なくとも１つの光を受信して表示装置１００を撮影し、撮影された第１表示装置のイメージを制御部３２０に提供する。撮影ユニット３１０は第２反射光Ｌ２２及び第２散乱光Ｌ２３のうち、少なくとも１つの光を受信して表示装置１００を撮影し、撮影された第２表示装置のイメージを制御部３２０に提供する。撮影ユニット３１０は第３反射光Ｌ３２及び第３散乱光Ｌ３３のうち、少なくとも１つの光を受信して表示装置１００を撮影し、撮影された第３表示装置のイメージを制御部３２０に提供する。

【0080】

表示パネル１１０及び保護フィルム１２０に光が提供される時、表示パネル１１０及び保護フィルム１２０に欠陥、異物質等が存在する欠陥領域に提供された光は散乱される等の原因のため、表示パネル１１０及び保護フィルム１２０に欠陥、異物質等が存在しない正常領域に提供された光と異なる進行経路を有する。これによって、撮影ユニット３１０で表示装置１００を撮影すれば、欠陥領域及び正常領域が区別される。例えば、欠陥領域には表示装置のイメージＰＳが歪曲されて表示される。

【0081】

撮影ユニット３１０はカメラ３１１及び第４偏光板３１２を含む。カメラ３１１は表示装置１００を撮影する。カメラ３１１は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）カメラ及びＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）カメラのうち、少なくとも１つを含む。

【0082】

第４偏光板３１２はカメラ３１１及び表示装置１００の間に配置される。第４偏光板３１２は第１反射光Ｌ１２、第２反射光Ｌ２２、第３反射光Ｌ３２、第１散乱光Ｌ１３、第２散乱光Ｌ２３、及び第３散乱光Ｌ３３のうち、少なくとも１つの光を偏光させる。第４偏光板３１２は第１偏光板２１２及び第２偏光板２２２の各々と互いに異なる成分を偏光する。第４偏光板３１２は第３偏光板２３２と同一の成分を偏光する。第４偏光板３１２は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板である。

【0083】

制御部３２０は撮影ユニット３１０から表示装置のイメージＰＳを受けて表示装置１００の欠陥を検出する。制御部３２０は表示パネル１１０の欠陥、保護フィルム１２０の欠陥、及び表示パネル１１０に付着された異物質１１２、及び保護フィルム１２０に付着された異物質１２２を区別することができる。

【0084】

制御部３２０は撮影ユニット３１０から提供された第１表示装置のイメージ、第２表示装置のイメージ、及び第３表示装置のイメージを比較して、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１、表示パネル１１０の上面及び保護フィルム１２０の上面の各々に付着されたほこりやごみ等の異物質を区別することができる。

【0085】

例えば、第１表示装置のイメージには表示パネル１１０の欠陥１１１、保護フィルム１２０の欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、及び保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域が歪曲されて表示される。第２表示装置のイメージには表示パネル１１０の欠陥１１１、保護フィルム１２０の欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、及び保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域が歪曲されて表示される。第３表示装置のイメージには表示パネル１１０の欠陥１１１、保護フィルム１２０の欠陥１２１、及び表示パネル１１０に付着された異物質１１２が存在する領域が歪曲されて表示される。先に言及したように、第３照明ユニット２３０は第３保護散乱光Ｌ３３＿３の量が最大化されるように配置されるので、第３表示装置のイメージでは保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域は明るく表示される。

【0086】

したがって、第１表示装置のイメージ及び第２表示装置のイメージの各々を第３表示装置のイメージと比べると、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域を検出することができる。

【0087】

第１表示装置のイメージ、第２表示装置のイメージの各々では保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域を除外すれば、保護フィルム１２０の欠陥１２１が存在する領域が最も明るく表示され、表示パネル１１０の欠陥１１１が存在する領域が最も暗く表示される。表示パネル１１０の欠陥１１１が存在する領域の場合、表示パネル１１０の欠陥１１１で散乱された散乱光が表示パネル１１０と保護フィルム１２０とを透過し、撮影ユニット３１０に提供されるので、光損失量が多く、相対的に暗く表示される。

【0088】

本発明の一実施形態による表示装置の検査装置は第１照明ユニット、第２照明ユニット及び第３照明ユニットを含み、表示パネルに保護フィルムが付着されていても、表示パネルの欠陥、保護フィルムの欠陥、及び表示パネルに付着された異物質及び保護フィルムに付着された異物質を区別することができる。

【0089】

以下では、本発明の一実施形態による表示装置の検査方法に対して説明する。以下では、先に説明した本発明の一実施形態による表示装置の検査方法との差異点を主に具体的に説明し、説明されなかった部分は先に説明した本発明の一実施形態による表示装置の検査装置の説明にしたがう。

【0090】

図４は本発明の一実施形態による表示装置１００の検査方法を概略的に示したフローチャートである。

【0091】

図１、図２、図３Ａ、図３Ｂ、図３Ｃ、及び図４を参照すれば、本発明の一実施形態による表示装置１００の検査方法は、表示パネル１１０及び表示パネル上に配置される保護フィルム１２０を含む表示装置１００に第１入射角θ１１を有するように第１入射光Ｌ１１を提供する段階（Ｓ１１０）、表示装置１００に第１入射角θ１１より大きい第２入射角θ２１を有するように第２入射光Ｌ２１を提供する段階（Ｓ１２０）、表示装置１００に第２入射角θ２１より大きい第３入射角θ３１を有するように第３入射光Ｌ３１を提供する段階（Ｓ１３０）、及び第１入射光Ｌ１１が表示装置１００で第１反射角θ１２に反射されて提供される第１反射光Ｌ１２、第２入射光Ｌ２１が表示装置１００で第２反射角θ２２に反射されて提供される第２反射光Ｌ２２、及び第３入射光Ｌ３１が表示装置１００で第３反射角θ３２に反射されて提供される第３反射光Ｌ３２のうち、少なくとも１つの光を受信して、表示装置１００の欠陥を検出する段階（Ｓ２００）を含む。

【0092】

第１入射光Ｌ１１を提供する段階（Ｓ１１０）、第２入射光Ｌ２１を提供する段階（Ｓ１２０）、及び第３入射光Ｌ３１を提供する段階（Ｓ１３０）は順次的になされてもよく、ランダムな順序になされてもよい。

【0093】

第１入射光Ｌ１１を提供する段階（Ｓ１１０）は第１照明ユニット２１０によって遂行される。第１照明ユニット２１０は表示装置１００に第１入射角θ１１を有するように第１入射光Ｌ１１を提供する。第１入射光Ｌ１１は表示装置の基準軸ＡＸと第１入射角θ１１をなす。表示装置の基準軸ＡＸは表示パネル１１０の厚さ方向と平行である。第１入射角θ１１はこれに限定されないが、例えば、０°乃至５°である。

【0094】

表示装置１００に第１入射光Ｌ１１が提供されれば、第１入射光Ｌ１１は表示装置１００で第１反射角θ１２に反射されて、第１反射光Ｌ１２を発生させる。第１反射光Ｌ１２は欠陥検出部３００に提供される。

【0095】

第１反射光Ｌ１２は保護フィルム１２０の上面で反射される第１保護反射光Ｌ１２＿１及び保護フィルム１２０を透過して、表示パネル１１０の上面で反射される第１表示反射光Ｌ１２＿２を含む。

【0096】

表示装置１００に第１入射光Ｌ１１が提供されれば、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２等によって、第１散乱光Ｌ１３が発生する。第１散乱光Ｌ１３は欠陥検出部３００に提供される。

【0097】

第１散乱光Ｌ１３は保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第１保護散乱光Ｌ１３＿３、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第１表示散乱光Ｌ１３＿４、保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第１保護異物質散乱光Ｌ１３＿１、及び表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第１表示異物質散乱光Ｌ１３＿２を含む。

【0098】

第１入射光Ｌ１１を提供する段階（Ｓ１１０）は、光を提供する第１光源２１１を配置する段階及び第１光源２１１及び表示装置１００の間に第１偏光板２１２を配置する段階を含む。第１光源２１１は表示装置１００に光を提供する。第１偏光板２１２は第１光源２１１及び表示装置１００の間に配置される。第１偏光板２１２は第１光源２１１から提供された光を偏光する。第１偏光板２１２は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0099】

第１入射光Ｌ１１を提供する段階（Ｓ１１０）は、第１光源２１１及び表示装置１００の間にバンドパスフィルターＢＰＦを配置する段階をさらに含む。図２では、バンドパスフィルターＢＰＦが第１光源２１１及び第１偏光板２１２の間に配置されることを例として図示したが、これに限定されなく、バンドパスフィルターＢＰＦは第１偏光板２１２及び表示装置１００の間に配置されてもよい。

【0100】

第２入射光Ｌ２１を提供する段階（Ｓ１２０）は第２照明ユニット２２０によって遂行される。第２照明ユニット２２０は表示装置１００に第２入射光Ｌ２１を提供する。第２入射光Ｌ２１は表示装置の基準軸ＡＸと第２入射角θ２１をなす。表示装置の基準軸ＡＸは表示パネル１１０の厚さ方向と平行である。第２入射角θ２１は第１入射角θ１１より大きい。第２入射角θ２１はこれに限定されないが、例えば、１０°乃至２０°である。第２照明ユニット２２０は第２入射光Ｌ２１が表示装置１００に提供される時、第１入射角θ１１と異なる第２入射角θ２１を有するように配置されて、第１照明ユニット２１０で検査し難い欠陥を追加的に検査することができる。

【0101】

表示装置１００に第２入射光Ｌ２１が提供されれば、第２入射光Ｌ２１は表示装置１００で第２反射角θ２２に反射されて、第２反射光Ｌ２２を発生させる。第２反射光Ｌ２２は欠陥検出部３００に提供される。

【0102】

第２反射光Ｌ２２は保護フィルム１２０の上面で反射される第２保護反射光Ｌ２２＿１及び保護フィルム１２０を透過して、表示パネル１１０の上面で反射される第２表示反射光Ｌ２２＿２を含む。

【0103】

表示装置１００に第２入射光Ｌ２１が提供されれば、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２等によって第２散乱光Ｌ２３が発生する。第２散乱光Ｌ２３は欠陥検出部３００に提供される。

【0104】

第２散乱光Ｌ２３は保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第２保護散乱光Ｌ２３＿３、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第２表示散乱光Ｌ２３＿４、保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第２保護異物質散乱光Ｌ２３＿１、及び表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第２表示異物質散乱光Ｌ２３＿２を含む。

【0105】

第２入射光Ｌ２１を提供する段階（Ｓ１２０）は光を提供する第２光源２２１を配置する段階及び第２光源２２１及び表示装置１００の間に第２偏光板２２２を配置する段階を含む。第２光源２２１は表示装置１００に光を提供する。第２偏光板２２２は第２光源２２１及び表示装置１００の間に配置される。第２偏光板２２２は第２光源２２１から提供された光を偏光する。第２偏光板２２２は第１偏光板２１２と同一の成分を偏光する。第２偏光板２２２は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0106】

第３入射光Ｌ３１を提供する段階Ｓ１３０は第３照明ユニット２３０によって遂行される。第３照明ユニット２３０は表示装置１００に第３入射光Ｌ３１を提供する。第３入射光Ｌ３１は表示装置の基準軸ＡＸと第３入射角θ３１をなす。表示装置の基準軸ＡＸは表示パネル１１０の厚さ方向と平行である。第３入射角θ３１は第１入射角θ１１及び第２入射角θ２１の各々より大きい。

【0107】

表示装置１００に第３入射光Ｌ３１が提供されれば、第３入射光Ｌ３１は表示装置１００で第３反射角θ３２に反射されて、第３反射光Ｌ３２を発生させる。第３反射光Ｌ３２は欠陥検出部３００に提供される。

【0108】

第３反射光Ｌ３２は保護フィルム１２０の上面で反射される第３保護反射光Ｌ３２＿１及び保護フィルム１２０を透過して、表示パネル１１０の上面で反射される第３表示反射光Ｌ３２＿２を含む。

【0109】

表示装置１００に第３入射光Ｌ３１が提供されれば、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２等によって第３散乱光Ｌ３３が発生する。第３散乱光Ｌ３３は欠陥検出部３００に提供される。

【0110】

第３散乱光Ｌ３３は保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１によって散乱される第３保護散乱光Ｌ３３＿３、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１によって散乱される第３表示散乱光Ｌ３３＿４、保護フィルム１２０に付着されたほこりやごみ等の異物質１２２によって散乱される第３保護異物質散乱光Ｌ３３＿１、及び表示パネル１１０に付着されたほこりやごみ等の異物質１１２によって散乱される第３表示異物質散乱光Ｌ３３＿２を含む。第３照明ユニット２３０は第３保護異物質散乱光Ｌ３３＿１の量が極大化されるように配置される。

【0111】

第３入射光Ｌ３１を提供する段階Ｓ１３０は光を提供する第３光源２３１を配置する段階及び第３光源２３１及び表示装置１００の間に第３偏光板２３２を配置する段階を含む。第３光源２３１は表示装置１００に光を提供する。第３偏光板２３２は第３光源２３１及び表示装置１００の間に配置される。第３偏光板２３２は第３光源２３１から提供された光を偏光する。第３偏光板２３２は第１偏光板２１２及び第２偏光板２２２の各々と異なる成分を偏光する。第３偏光板２３２は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0112】

表示装置１００の欠陥を検出する段階（Ｓ２００）は、第１反射光Ｌ１２、第２反射光Ｌ２２及び第３反射光Ｌ３２のうち、少なくとも１つの光を受信して表示装置１００を撮影して表示装置のイメージＰＳを提供する段階、及び表示装置のイメージＰＳを受けて表示装置１００の欠陥を検出する段階を含む。

【0113】

表示装置のイメージＰＳを提供する段階は第１反射光Ｌ１２を受け、表示装置１００を撮影して第１表示装置のイメージを提供する段階、第２反射光Ｌ２２を受け、表示装置１００を撮影して第２表示装置のイメージを提供する段階、及び第３反射光Ｌ３２を受け、表示装置１００を撮影して第３表示装置のイメージを提供する段階を含む。

【0114】

表示装置のイメージＰＳを提供する段階は表示装置１００を撮影するカメラ３１１を配置する段階及びカメラ３１１及び表示装置１００の間に第４偏光板３１２を配置する段階を含む。

【0115】

カメラ３１１は表示装置１００を撮影する。カメラ３１１は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）カメラ及びＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）カメラのうち、少なくとも１つを含む。

【0116】

第４偏光板３１２はカメラ３１１及び表示装置１００の間に配置される。第４偏光板３１２は第１反射光Ｌ１２、第２反射光Ｌ２２、第３反射光Ｌ３２、第１散乱光Ｌ１３、第２散乱光Ｌ２３、及び第３散乱光Ｌ３３のうち、少なくとも１つの光を偏光させる。第４偏光板３１２は第１偏光板２１２及び第２偏光板２２２の各々と互いに異なる成分を偏光する。第４偏光板３１２は第３偏光板２３２と同一の成分を偏光する。第４偏光板３１２は通常的に使用するものであれば、特別に限定しないが、直線偏光板、円偏光板、又は楕円偏光板であってもよい。

【0117】

表示装置１００の欠陥を検出する段階は制御部３２０によって遂行される。制御部３２０は表示パネル１１０の欠陥１１１、保護フィルム１２０の欠陥１２１、及び表示パネル１１０に付着された異物質１１２及び保護フィルム１２０に付着された異物質１２２を区別することができる。

【0118】

制御部３２０は第１表示装置のイメージ、第２表示装置のイメージ及び第３表示装置のイメージを比較して、表示パネル１１０に存在する欠陥１１１、保護フィルム１２０に存在する欠陥１２１、表示パネル１１０の上面及び保護フィルム１２０の上面の各々に付着されたほこりやごみ等の異物質を区別することができる。

【0119】

例えば、第１表示装置のイメージには表示パネル１１０の欠陥１１１、保護フィルム１２０の欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２、及び保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域が歪曲されて表示される。第２表示装置のイメージには表示パネル１１０の欠陥１１１、保護フィルム１２０の欠陥１２１、表示パネル１１０に付着された異物質１１２及び保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域が歪曲されて表示される。第３表示装置のイメージには表示パネル１１０の欠陥１１１、保護フィルム１２０の欠陥１２１及び表示パネル１１０に付着された異物質１１２が存在する領域が歪曲されて表示される。先に言及したように、第３照明ユニット２３０は第３保護散乱光Ｌ３３＿３の量が最大化されるように配置されるので、第３表示装置のイメージでは保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域は明るく表示される。

【0120】

したがって、第１表示装置のイメージ及び第２表示装置のイメージの各々を第３表示装置のイメージと比べると、保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域を検出することができる。

【0121】

第１表示装置のイメージ、第２表示装置のイメージの各々では保護フィルム１２０に付着された異物質１２２が存在する領域を除外すれば、保護フィルム１２０の欠陥１２１が存在する領域が最も明るく表示され、表示パネル１１０の欠陥１１１が存在する領域が最も暗く表示される。表示パネル１１０の欠陥１１１が存在する領域の場合、表示パネル１１０の欠陥１１１で散乱された散乱光が表示パネル１１０と保護フィルム１２０とを透過し、撮影ユニット３１０に提供されるので、光損失量が多く、相対的に暗く表示される。

【0122】

本発明の一実施形態による表示装置の検査方法は第１入射光を提供する段階、第２入射光を提供する段階、及び第３入射光を提供する段階を含み、表示パネルに保護フィルムが付着されていても、表示パネルの欠陥、保護フィルムの欠陥及び表示パネルに付着された異物質、及び保護フィルムに付着された異物質を区別することができる。

【0123】

以上、添付された図面を参照して本発明の実施形態を説明したが、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者は、本発明がその技術的思想や必須的な特徴を変形せず、他の具体的な形態に実施できることを理解できる。したがって、以上で記述した実施形態は、すべての面で例示的なことであり、限定的なことではないと理解しなければならない。

【符号の説明】

【0124】

１０ 表示装置の検査装置
１００ 表示装置
１１０ 表示パネル
１２０ 保護フィルム
２１０ 第１照明ユニット
２１１ 第１光源
２１２ 第１偏光板
２２０ 第２照明ユニット
２２１ 第２光源
２２２ 第２偏光板
２３０ 第３照明ユニット
２３１ 第３光源
２３２ 第３偏光板
３００ 欠陥検出部
３１０ 撮影ユニット
３１１ カメラ
３１２ 第４偏光板
３２０ 制御部
２３０ 第３照明ユニット

【図1】

【図2】

【図3A】

【図3B】

【図3C】

【図4】