特許 6926761 光学モジュール、及び電子機器

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6926761

(24)【登録日】2021年8月10日

(45)【発行日】2021年8月25日

(54)【発明の名称】光学モジュール、及び電子機器

(51)【国際特許分類】

   G01J 3/50 20060101AFI20210812BHJP

   B41J 2/01 20060101ALI20210812BHJP

   G01J 3/02 20060101ALI20210812BHJP

【ＦＩ】

   G01J3/50

   B41J2/01 303

   G01J3/02 C

【請求項の数】3

【全頁数】24

(21)【出願番号】特願2017-138795(P2017-138795)

(22)【出願日】2017年7月18日

(65)【公開番号】特開2019-20254(P2019-20254A)

(43)【公開日】2019年2月7日

【審査請求日】2020年4月9日

(73)【特許権者】

【識別番号】000002369

【氏名又は名称】セイコーエプソン株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100116665

【弁理士】

【氏名又は名称】渡辺 和昭

(74)【代理人】

【識別番号】100179475

【弁理士】

【氏名又は名称】仲井 智至

(74)【代理人】

【識別番号】100216253

【弁理士】

【氏名又は名称】松岡 宏紀

(72)【発明者】

【氏名】小口 智

【審査官】 平田 佳規

(56)【参考文献】

【文献】 特開２００６−２２７０１２（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０１１−０６４９８４（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｊ ３／００ − ３／５１

Ｇ０１Ｊ １／０２ − １／０４

Ｇ０１Ｎ ２１／００ − ２１／０１

Ｇ０１Ｎ ２１／１７ − ２１／６１

Ｂ４１Ｊ ２／０１

Ｂ４１Ｆ ３３／００

Ｈ０４Ｎ １／０２４− １／０３６

Ｈ０４Ｎ １／０４ − １／２０７

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

測定対象の測定位置で反射される光を測定する測定部、前記測定位置から前記測定部に
向かう測定光軸に対して交差する方向から前記測定位置に光を照射する光源、前記光源か
らの光が出射する照明窓、及び、前記測定部に入射する光が通過する窓部、を有する測定
装置と、
前記測定装置の前記窓部を開放する開放位置から前記窓部を閉塞する閉塞位置までの間
で移動可能に構成されたシャッターと、
前記シャッターに設けられた基準物であって、前記窓部を閉塞した際に前記測定部に対
向する面で、かつ、前記測定光軸において前記測定位置よりも前記測定部側に配置される
基準物と、
前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に、前記光源からの光を前記基準物に導く
導光手段と、を備え、
前記導光手段は、前記光源の光を前記基準物に向かって屈折させるプリズムであり、
前記プリズムは、前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に、前記照明窓を覆うよ
うに構成されており、
前記シャッターが前記開放位置に位置する際の前記光源からの前記光の前記測定位置で
の照射角度と、前記シャッターが前記閉塞位置に位置する際に前記プリズムによって屈折
された前記光源からの前記光の前記基準物での照射角度と、が等しくなるように、前記プ
リズムが配置されており、
前記測定部は、前記シャッターが前記開放位置に位置する際に、前記照射角度の前記光
で照射された前記測定対象からの反射光を受光し、前記シャッターが前記閉塞位置に位置
する際に、前記照射角度の前記光で照射された前記基準物からの反射光を受光する、よう
に構成されている、
ことを特徴とする光学モジュール。

【請求項2】

測定対象の測定位置で反射される光を測定する測定部、前記測定位置から前記測定部に
向かう測定光軸に対して交差する方向から前記測定位置に光を照射する光源、前記光源か
らの光が出射する照明窓、及び、前記測定部に入射する光が通過する窓部、を有する測定
装置と、
前記測定装置の前記窓部を開放する開放位置から前記窓部を閉塞する閉塞位置までの間
で移動可能に構成されたシャッターと、
前記シャッターに設けられた基準物であって、前記窓部を閉塞した際に前記測定部に対
向する面で、かつ、前記測定光軸において前記測定位置よりも前記測定部側に配置される
基準物と、
前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に、前記光源からの光を前記基準物に導く
導光手段と、
前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に、前記シャッターよりも前記測定部側に
配置される透光部材と、
を備え、
前記導光手段は、前記光源の光を乱反射させる乱反射部を備え、
前記シャッターは、前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に、前記照明窓を覆う
ように構成されており、
前記乱反射部は、前記透光部材の前記測定部に対向する第一面、及び前記第一面とは反
対側の第二面の少なくともいずれか一方で、前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際
に前記測定光軸とは異なる位置に設けられており、
前記シャッターが前記閉塞位置に位置する際に、前記乱反射部の一部が前記照明窓に対
向するように前記乱反射部が設けられており、
前記シャッターが前記閉塞位置に位置する際に、前記光源からの前記光が、前記乱反射
部の前記一部を介して前記透光部材に入射し、前記透光部材内で前記乱反射部により拡散
されて前記基準物に到達するように、前記透光部材と前記乱反射部とが配置されている、
ことを特徴とする光学モジュール。

【請求項3】

請求項１または請求項２に記載の光学モジュールと、
前記測定部による測定処理を制御する制御部と、
を備えることを特徴とする電子機器。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、光学モジュール、及び電子機器に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、インクジェット記録ヘッドからインク滴を吐出してメディア上に画像を形成するプリンター（印刷装置）が知られている。このような印刷装置では、インク滴を吐出した際のインクミストが、例えば撮像カメラや分光器等の測定装置に付着し、測定装置の機能を低下させるおそれがある。これに対して、インクミストの付着を抑制する構成が知られている（例えば、特許文献１）。

【0003】

特許文献１に記載の印刷装置は、インクジェット記録ヘッドからインク滴を吐出し、メディアに着弾したインク滴を光照射部から照射される光により硬化させる光照射部を備える。この光照射部は、回転可能な円柱状のレンズを備えており、この円柱レンズを回転させることで、気流を発生させて、インクミストの付着を抑制している。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開２０１２−２０４２３号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、特許文献１に記載の装置では、レンズを回転させるため、レンズの光学特性が低下する。したがって、例えば撮像カメラや分光器等、入射光に基づいた処理を行う測定装置に上記構成を適用すると、レンズの回転によって入射光が歪み、精度の高い撮像画像が得られなかったり、分光測定精度が低下したりする。つまり測定装置による測定精度が低下するという課題がある。

【0006】

さらに、上記光学装置によって得られた撮像画像や分光測定結果を校正したり、測定における基準値を取得したりするために、白色基準板等の基準物を印刷装置の内部に設ける場合がある。この場合、白色基準板へのインクミストの付着を抑制することは困難であり、白色基準板の測定精度が低下し、当該白色基準板の測定結果に基づいて測定対象を測定する際の測定精度も低下するとの課題がある。

【0007】

本発明は、精度の高い測定を実施可能な光学モジュール、及び電子機器を提供することを目的の一つとする。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本発明の一適用例に係る光学モジュールは、測定対象の測定位置で反射される光を測定する測定部、前記測定位置から前記測定部に向かう測定光軸に対して交差する方向から前記測定位置に光を照射する光源、及び、前記測定部に入射する光が通過する窓部、を有する測定装置と、前記測定装置の前記窓部を開閉するシャッターと、を備え、前記シャッターには、前記窓部を閉塞した際に前記測定部に対向する面で、かつ、前記測定光軸において前記測定位置よりも前記測定部側に配置される基準物が設けられ、前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に、前記光源からの光を前記基準物に導く導光手段を備えることを特徴とする。

【0009】

本適用例では、測定装置には、測定位置を測定する測定部の測定光軸上に、測定位置からの反射光が通過する窓部が設けられており、この窓部を開閉するシャッターを備えている。よって、シャッターによって窓部を閉塞することで、窓部から測定部への異物の侵入を抑制でき、測定部の劣化等に伴う測定精度の低下を抑制できる。また、シャッターにて窓部を閉塞した際に、シャッターの測定部に対向する位置に、例えば測定を実施するための基準値を測定するための基準物が設けられている。このため、シャッターで窓部を閉塞した状態で、基準物の測定を実施することができ、基準物への異物の付着等を抑制できる。
一方、基準物が測定位置とは異なる位置に設けられている場合、基準物に照射される光源の光の光量が、測定位置に照射される光の光量よりも小さくなる。これに対して、本適用例では、シャッターにより窓部が閉塞された際に、光源からの光を基準物に導く導光手段が設けられている。このため、測定位置よりも測定部側に基準物が有る場合でも、基準物への照明光の光量を増大させることができる。これにより、基準物の測定を行う場合に、精度の高い測定結果を得ることができる。

【0010】

本適用例の光学モジュールにおいて、前記導光手段は、前記光源の光を前記基準物に向かって屈折させるプリズムであることが好ましい。
本適用例では、導光手段はプリズムであり、光源からの光を基準物に向かって屈折させる。これにより、基準物に対して、光源からの光を高精度に導くことができ、精度の高い測定を行うことができる。また、プリズムの屈折率や形状に応じて、基準物に対する光の入射角度を変更することが可能となる。したがって、測定位置に光源からの光を照射する場合と同じ角度で基準物に光を照射することもできる。この場合、測定位置に基準物を配置した場合と同じ照明光量で基準物の測定を行うことができる。

【0011】

本適用例の光学モジュールにおいて、前記測定装置は、前記光源からの光が出射する照明窓を備え、前記プリズムは、前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に、前記照明窓を覆うことが好ましい。
本適用例では、照明窓から出射される光がプリズムに入射される。これにより、基準物が測定位置に位置する場合と略同じ光量を、測定位置よりも測定部側に位置する基準物に照射することができる。

【0012】

本適用例の光学モジュールにおいて、前記導光手段は、前記光源の光を乱反射させる乱反射部を備えることが好ましい。
本適用例では、乱反射部により光源からの光を乱反射させることで、測定位置よりも測定部側に位置する基準物に到達する光の量が増大する。これにより、基準物の測定を高精度に実施できる。

【0013】

本適用例の光学モジュールにおいて、前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に、前記シャッターよりも前記測定部側に配置される透光部材を備え、前記乱反射部は、前記透光部材の前記測定部に対向する第一面、及び前記第一面とは反対側の第二面の少なくともいずれか一方で、前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に前記測定光軸とは異なる位置に設けられていることが好ましい。
本適用例では、透光部材の第一面又は第二面に設けられた乱反射部によって、透光部材内で光が乱反射される。これにより、シャッターの測定部に対向する位置に設けられた基準物に乱反射により均一化された（光量が増大された）光が照射させることができ、基準物に対する精度の高い測定を行うことができる。

【0014】

本適用例の光学モジュールにおいて、前記測定装置は、前記窓部が設けられる基台を備え、前記シャッターは、前記基台から前記測定位置側に所定寸法離れた位置で、前記窓部を閉塞し、前記乱反射部は、前記基台の前記シャッターに対向する面及び前記シャッターの前記基台に対向する面の少なくともいずれか一方で、前記シャッターにより前記窓部を閉塞した際に前記測定光軸とは異なる位置に設けられていることが好ましい。
本適用例においても、シャッターと基台との間で光が乱反射される。これにより、上記適用例と同様に、シャッターの測定部に対向する位置に設けられた基準物に乱反射により均一化された（光量が増大された）光が照射させることができ、基準物に対する精度の高い測定を行うことができる。

【0015】

本発明の一適用例に係る電子機器は、上述したような光学モジュールと、前記測定部による測定処理を制御する制御部と、を備えることを特徴とする。
本適用例では、上述した光学モジュールを備えているため、シャッターによる異物の侵入を抑制でき、例えば測定部の劣化が抑制され、精度の高い測定を実施できる。また、シャッターの測定部側に基準物が設けられているので、基準物への異物の付着を抑制できる。さらに、導光手段によって基準物に対して光を導くことができるので、精度の高い基準物の測定を実施することができる。
このため、電子機器において、制御部により測定対象に対する測定処理を実施する場合でも、高い精度で測定された基準物の測定結果に基づいた測定処理を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0016】

【図1】第一実施形態のプリンターの概略構成を示す外観図。

【図2】第一実施形態のプリンターの概略構成を示すブロック図。

【図3】第一実施形態のプリンターを要部の構成を模式的に示す平面図。

【図4】第一実施形態の測色部の概略構成を示す断面図。

【図5】第一実施形態のキャリッジにおいて、シャッターが開放位置に位置する際の概略構成を示す断面図。

【図6】第一実施形態のキャリッジにおいて、シャッターが閉塞位置に位置する際の概略構成を示す断面図。

【図7】第一実施形態の光学モジュールにおいて、シャッターが閉塞位置に位置する際のシャッター近傍の概略構成を示す断面図。

【図8】第一実施形態のプリンターのＣＰＵの機能構成を示したブロック図。

【図9】第一実施形態のプリンターにおける補正処理の一例を示すフローチャート。

【図10】第二実施形態の光学モジュールにおいて、シャッターが閉塞位置に位置する際のシャッター近傍の概略構成を示す断面図。

【図11】第三実施形態の光学モジュールにおいて、シャッターが閉塞位置に位置する際のシャッター近傍の概略構成を示す断面図。

【図12】第三実施形態のプリズム内での光源から出射された光の光路を示す概略図。

【図13】変形例２に係る光学モジュールにおいて、シャッターが閉塞位置に位置する際のシャッター近傍の概略構成を示す断面図。

【発明を実施するための形態】

【0017】

［第一実施形態］
以下、本発明に係る第一実施形態について、図面に基づいて説明する。本実施形態では、本発明の光学モジュールを備えた電子機器の一例として、プリンター１（インクジェットプリンター）について、以下説明する。

【0018】

［プリンターの概略構成］
図１は、本実施形態のプリンター１の外観の構成例を示す斜視図である。図２は、本実施形態のプリンター１の概略構成を示すブロック図である。図３は、本実施形態のプリンター１の要部の構成を模式的に示す図である。
図１に示すように、プリンター１は、本発明の電子機器に相当し、ユニット筐体１０と、供給ユニット１１と、搬送ユニット１２と、キャリッジ１３と、キャリッジ移動ユニット１４と、本発明の制御部に相当する制御ユニット１５（図２参照）と、メンテナンスユニット２０と、を備えている。また、キャリッジ１３には、図３に示すように、印刷部１６と、測色部１７と、インクミスト等の異物から測色部１７を保護するためのシャッター機構１９と、が設けられている。

【0019】

このように構成されたプリンター１は、例えばパーソナルコンピューター等の外部機器３０から入力された印刷データに基づいて、各ユニット１１，１２，１４及びキャリッジ１３を制御し、メディアＭ上に画像を印刷する。この画像として、例えば、濃度むらを補正するための補正用パターンを用いることができる。プリンター１は、測色部１７によって補正用パターンを撮像し、当該補正用パターンの測色結果に基づいて色ずれの補正等の各種補正処理を行う。
以下、プリンター１の各構成について具体的に説明する。

【0020】

ユニット筐体１０は、各ユニット１１，１２，１４，１５，２０及びキャリッジ１３が設けられる。このユニット筐体１０は、＋Ｚ側に位置し、搬送ユニット１２やメンテナンスユニット２０等が配置される底面部１０１と、底面部１０１から−Ｚ方向に立ち上る第一側面部１０２、第二側面部１０３、背面部１０４と、を備える。第一側面部１０２は−Ｘ側に位置し、第二側面部１０３は＋Ｘ側に位置し、背面部１０４はＸ方向に沿って、第一側面部１０２と第二側面部１０３との間に位置する。
ここで、第一側面部１０２は、後述するシャッター機構１９の第一端部１９４が当接する面であり、第二側面部１０３は、シャッター機構１９の第二端部１９５が当接する面である。なお、図示を省略するが、プリンター１は、ユニット筐体１０の少なくとも一部を覆う外装筐体を備える。

【0021】

供給ユニット１１は、測定対象となるメディアＭ（本実施形態では、紙面を例示）を、画像形成位置に供給するユニットである。この供給ユニット１１は、例えばメディアＭが巻装されたロール体１１１（図１参照）、ロール駆動モーター（図示略）、及びロール駆動輪列（図示略）等を備える。そして、制御ユニット１５からの指令に基づいて、ロール駆動モーターが回転駆動され、ロール駆動モーターの回転力がロール駆動輪列を介してロール体１１１に伝達される。これにより、ロール体１１１が回転し、ロール体１１１に巻装された紙面がＹ方向（副走査方向）における下流側（＋Ｙ方向）に供給される。
なお、本実施形態では、ロール体１１１に巻装された紙面を供給する例を示すがこれに限定されない。例えば、トレイ等に積載された紙面等のメディアＭをローラー等によって例えば１枚ずつ供給する等、如何なる供給方法によってメディアＭが供給されてもよい。

【0022】

搬送ユニット１２は、供給ユニット１１から供給されたメディアＭを、Ｙ方向に沿って搬送する。この搬送ユニット１２は、搬送ローラー１２１と、搬送ローラー１２１とメディアＭを挟んで配置され、搬送ローラー１２１に従動する従動ローラー（図示略）と、プラテン１２２と、を含んで構成されている。
搬送ローラー１２１は、図示略の搬送モーターからの駆動力が伝達され、制御ユニット１５の制御により搬送モーターが駆動されると、その回転力により回転駆動されて、従動ローラーとの間にメディアＭを挟み込んだ状態でＹ方向に沿って搬送する。また、搬送ローラー１２１のＹ方向の下流側（＋Ｙ側）には、キャリッジ１３に対向するプラテン１２２が設けられている。

【0023】

キャリッジ１３は、メディアＭに対してインクを吐出して画像を印刷する印刷部１６と、メディアＭ上の画像の色を測定する測色部１７、シャッター機構１９と、を搭載する筐体である。なお、測色部１７は、本発明の測定装置に相当し、測色部１７及びシャッター機構１９により本発明の光学モジュール１００（図３参照）が構成される。
このキャリッジ１３は、キャリッジ移動ユニット１４によって、主走査方向（Ｘ方向）に沿って移動される。なお、キャリッジ１３、印刷部１６、測色部１７、及びシャッター機構１９の詳細な構成については後述する。
以降の説明にあたり、主走査方向（Ｘ方向）における、−Ｘ側をＨｏｍｅ側と称し、＋Ｘ側をＦｕｌｌ側と称す場合がある。ここで、Ｈｏｍｅとは、印刷処理を実施しない待機状態に、キャリッジ１３が退避される位置である。また、Ｆｕｌｌは、Ｈｏｍｅとは反対側である。

【0024】

キャリッジ移動ユニット１４は、制御ユニット１５からの指令に基づいて、キャリッジ１３をＸ方向に沿って往復移動させる。
このキャリッジ移動ユニット１４は、例えば、図１に示すように、キャリッジガイド軸１４１と、キャリッジモーター１４２と、タイミングベルト１４３と、を含んで構成されている。
キャリッジガイド軸１４１は、Ｘ方向に沿って配置され、両端部がプリンター１の例えば筐体に固定されている。キャリッジモーター１４２は、タイミングベルト１４３を駆動させる。タイミングベルト１４３は、キャリッジガイド軸１４１と略平行に支持され、キャリッジ１３の一部が固定されている。そして、制御ユニット１５の指令に基づいてキャリッジモーター１４２が駆動されると、タイミングベルト１４３が正逆走行され、タイミングベルト１４３に固定されたキャリッジ１３がキャリッジガイド軸１４１にガイドされて往復移動する。

【0025】

メンテナンスユニット２０は、印刷部１６が備える後述するノズルユニット１６１（図３参照）のメンテナンスを行う際に用いられる。このメンテナンスユニット２０は、図１及び図３に示すように、プリンター１のＨｏｍｅ位置に設けられている。プリンター１は、メンテナンス時に、キャリッジ１３をＨｏｍｅ位置まで移動させた後、ノズルユニット１６１が備えるノズルからインクを吸引する、キャップや吸引ポンプ等（図示略）を備えている。

【0026】

制御ユニット１５は、図２に示すように、Ｉ／Ｆ１５１と、ユニット制御回路１５２と、メモリー１５３と、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１５４と、を含んで構成され
ている。
Ｉ／Ｆ１５１は、外部機器３０から入力される印刷データをＣＰＵ１５４に入力する。
ユニット制御回路１５２は、供給ユニット１１、搬送ユニット１２、キャリッジ移動ユニット１４、メンテナンスユニット２０、印刷部１６、及び測色部１７をそれぞれ制御する制御回路を備えており、ＣＰＵ１５４からの指令信号に基づいて、各ユニットの動作を制御する。なお、各ユニットの制御回路が、制御ユニット１５とは別体に設けられ、制御ユニット１５に接続されていてもよい。

【0027】

メモリー１５３は、プリンター１の動作を制御する各種プログラムや各種データを記憶している。各種データとしては、例えば、印刷データとして含まれる色データに対する各インクの吐出量を記憶した印刷プロファイルデータ等が挙げられる。また、後述する光源１７９の各波長に対する発光特性や、分光デバイス１７３Ａの分光特性等が記憶されていてもよい。

【0028】

ＣＰＵ１５４は、メモリー１５３に記憶された各種プログラムを読み出し実行することで、供給ユニット１１、搬送ユニット１２、及びキャリッジ移動ユニット１４の駆動制御、印刷部１６の印刷制御、測色部１７の測定制御、並びに、測色部１７の測定結果に基づく補正処理（例えば濃度むらの補正処理や、色ずれの補正処理）等を実施する。ＣＰＵ１５４の具体的な機能については後述する。

【0029】

［キャリッジの構成］
次に、キャリッジ１３及び、当該キャリッジ１３に設けられる印刷部１６、測色部１７、及びシャッター機構１９の構成について説明する。
図３に示すように、キャリッジ１３は、印刷部１６と、測色部１７と、シャッター機構１９と、を搭載する筐体であり、キャリッジ移動ユニット１４によって主走査方向（Ｘ方向）に沿って移動可能に構成される。これらのうち印刷部１６、及び測色部１７は、フレキシブル回路１３０（図１参照）によって制御ユニット１５に接続され、制御ユニット１５から制御信号に基づいて駆動される。
また、後に詳述するが、シャッター機構１９が備えるシャッター１９２は、Ｘ方向に沿ったキャリッジ１３の移動に応じて、測色部１７の窓部１７６Ａ（図４参照）を閉塞する状態と、窓部１７６Ａを開放する状態（測色部１７への光の入射が可能となる状態）と、を変更可能に構成されている。

【0030】

［印刷部の構成］
印刷部１６は、制御ユニット１５からの指令信号に基づいて、メディアＭと対向する部分に、インクを個別にメディアＭ上に吐出して、メディアＭ上に画像を形成する印刷処理（メディアＭに対する画像形成処理）を行う。
この印刷部１６は、図３に示すように、複数色のインクに対応したノズルユニット１６１と、各ノズルユニット１６１にインクを供給するインクカートリッジ（図示略）と、インクカートリッジからノズルユニット１６１にインクを供給する供給管（図示略）と、を含み構成される。
ノズルユニット１６１は、メディアＭに吐出する色毎（例えば、シアン、マゼンタ、イエロー、ライトシアン、ライトマゼンタ、グレー、ライトグレー、マットブラック、フォトブラック等）に対応してそれぞれ設けられている。これらノズルユニット１６１は、インク滴を吐出するノズル（図示略）が設けられている。これらのノズルには、例えばピエゾ素子が配置されており、ピエゾ素子を駆動させることで、インクタンクから供給されたインク滴が＋Ｚ側に吐出されてメディアＭに着弾し、ドットが形成される。

【0031】

［測色部の構成］
図４は、測色部１７の概略構成を示す断面図である。なお、図４では、窓部１７６Ａが開放された状態（シャッター１９２が窓部１７６Ａから離れた位置（開放位置）に移動した状態）での測色部１７の構成を示している。
測色部１７は、図４に示すように、基台１７１と、基台１７１に固定された基板保持部１７２と、基板保持部１７２に保持される分光デバイス保持基板１７３及び受光素子保持基板１７４と、カバー部１７５と、を備えている。

【0032】

基台１７１は、メディアＭの測定位置にて反射された光が通過する測定光導入部１７６と、光源１７９が配置される光源配置部１７７とを備える。
測定光導入部１７６は、例えばＺ方向に沿った貫通孔であり、＋Ｚ側端部に、窓部１７６Ａが配置されている。また、測定光導入部１７６の−Ｚ側には、例えばアパーチャー１７８Ａや入射レンズ１７８Ｂ等の入射光学系を保持する光学保持部１７８が固定されている。窓部１７６Ａ、アパーチャー１７８Ａ、入射レンズ１７８Ｂの光軸は、後述する分光デバイス１７３Ａや、受光素子１７４Ａの光軸と一致し、本発明の測定光軸Ｌを構成する。なお、分光デバイス１７３Ａ及び受光素子１７４Ａは、本発明の測定部に相当する。

【0033】

光源配置部１７７は、例えば、中心軸が＋Ｚ側に向かうに従って、測定光軸Ｌに近接する筒状孔部１７７Ａを有する。この筒状孔部１７７Ａの−Ｚ側には、光源１７９が配置されている。光源１７９としては、例えばＬＥＤを例示でき、ＬＥＤが設けられたＬＥＤ基板を筒状孔部１７７Ａの−Ｚ側端部に例えばねじ止め等により固定することで、基台１７１に対してＬＥＤ（光源１７９）が固定される。なお、光源１７９を保持する基板（ＬＥＤ基板等）は、後述するコネクター１７５Ｂに接続されている。
また、筒状孔部１７７Ａの＋Ｚ側端部は、光源１７９の光が出射される照明窓１７７Ｂとなる。シャッター１９２が開放位置に位置する場合、図４に示すように、照明窓１７７Ｂも開放され、プラテン１２２上に載置されたメディアＭに対向する。この状態で光源１７９が発光されると、光源１７９の光が、メディアＭと、測定光軸Ｌとの交点を中心とした所定範囲の測定位置Ｐに照射される。なお、本実施形態では、測色規格（JIS Z 8722）により規定された光学的幾何条件における（４５°ｘ：０°）の方式に従って分光測定を実施する。すなわち、本実施形態では、光源１７９からの照明光を測定位置Ｐに対して４５°±２°の入射角で入射され、測定対象にて０°±１０°で法線方向に反射された光が測定光軸Ｌに沿って受光素子１７４Ａに入射する。

【0034】

また、基台１７１のメディアＭ（プラテン１２２）に対向する基台底面１７１Ａのうち、少なくともシャッター１９２が窓部１７６Ａを閉塞する閉塞位置に移動した際に、シャッター１９２と対向する部分には、表面に複数の凹凸が形成された乱反射部１７１Ｂ（図７参照）が形成されている。
この乱反射部１７１Ｂは、例えば基台底面１７１Ａをエッチング処理や、ブラスト処理等により所定寸法掘り下げて複数の凹部を形成する（粗面を形成する）ことで形成される。
また、少なくとも基台１７１のうち乱反射部１７１Ｂが設けられる部分は、例えば白色等の各波長に対する反射率が高い色（例えば各波長に対する反射率が９９％以上となる白色）を有することが好ましく、例えば、基台１７１自体を当該色の素材により構成してもよく、基台１７１に白色塗料を塗布してもよい。

【0035】

基板保持部１７２は、基台１７１に対して、例えばねじ止め等によって固定されている。この基板保持部１７２には、分光デバイス保持基板１７３及び受光素子保持基板１７４が固定される。
分光デバイス保持基板１７３は、分光デバイス１７３Ａが保持された基板であり、分光デバイス１７３Ａの光軸（測定光軸Ｌ）上に貫通孔を有する。分光デバイス保持基板１７３は、光学保持部１７８の−Ｚ側の位置で、かつ、分光デバイス１７３Ａの光軸が測定光軸Ｌと一致する位置で、基板保持部１７２に固定される。なお、分光デバイス１７３Ａは、入射光から特定の波長の光と透過させる光学装置であり、例えば、エタロン素子や、液晶チューナブルフィルター（ＬＣＴＦ）や、音響光学可変波長フィルター（ＡＯＴＦ）等を例示できる。なお、分光デバイス保持基板１７３には、分光デバイス１７３Ａを制御する各種回路が設けられ、当該回路はコネクター１７５Ｂに接続されている。

【0036】

受光素子保持基板１７４は、受光素子１７４Ａが保持された基板である。受光素子保持基板１７４は、分光デバイス保持基板１７３の−Ｚ側の位置で、かつ、受光素子１７４Ａの光軸が測定光軸Ｌと一致する位置で、基板保持部１７２に固定される。また、受光素子保持基板１７４は、受光素子１７４Ａを制御する各種回路を備え、当該回路はコネクター１７５Ｂに接続されている。

【0037】

カバー部１７５は、図４に示すように、例えば、基台１７１の外周縁に固定され、基台１７１とともに、基板保持部１７２、分光デバイス保持基板１７３、受光素子保持基板１７４、及び光学保持部１７８を収納する閉空間（暗空間）を形成する。
また、カバー部１７５の一部には、開口１７５Ａが設けられ、当該開口１７５Ａには、コネクター１７５Ｂが設けられている。このコネクター１７５Ｂは、制御ユニット１５と電気的に接続されており、光源１７９や、分光デバイス保持基板１７３、受光素子保持基板１７４に、制御ユニット１５からの制御信号を伝達する。

【0038】

［シャッター機構の構成］
図５及び図６は、シャッター機構１９を備えたキャリッジの概略構成を示す断面図である。図５は、シャッター１９２が、窓部１７６Ａを開放する開放位置に位置する際の断面図であり、図６は、シャッター１９２が、窓部１７６Ａを閉塞するする閉塞位置に位置する際の断面図である。
本実施形態で示すシャッター機構１９は、キャリッジ１３、シャッター１９２を有するシャッター保持部１９１、及びユニット筐体１０により構成されている。
具体的には、キャリッジ１３の底部１３１には、図５及び図６に示すように、Ｚ方向において測色部１７（窓部１７６Ａ）と重なる位置に、メディアＭからの反射光を測色部１７へ入射させる開口部１３２が形成されている。また、キャリッジ１３の±Ｘ側の側面１３３には、シャッター保持部１９１が挿通される挿通孔１３４が形成されている。この挿通孔１３４の＋Ｚ側の面は、ＸＹ平面に平行な平坦面であり、キャリッジ１３の底部１３１における上面１３１Ａ（−Ｚ側の面）と面一となる。
さらに、±Ｘ側の挿通孔１３４の少なくともいずれか一方（本実施形態では＋Ｘ側の挿通孔１３４）には、シャッター保持部１９１を位置決めするための位置決め機構１３５が配置されている。位置決め機構１３５としては、例えば、挿通孔１３４内又はシャッター保持部１９１のいずれか一方に設けられる係止突起と、他方に設けられて係止突起を係合する係合穴とを備える構成等が例示できる。

【0039】

シャッター保持部１９１は、図５及び図６に示すように、例えばＸ方向に長手の平板形状に形成されている。このシャッター保持部１９１の一部にはシャッター１９２が設けられており、当該シャッター１９２の＋Ｘ側で距離ｍだけ離れた位置に、光通過部１９３が設けられている。
シャッター１９２は、窓部１７６Ａを閉塞する部分である。シャッター１９２の具体的な構成は後述する。
また、光通過部１９３は、測定位置Ｐからの反射光を測色部１７に通過させる部分である。光通過部１９３としては、例えば、シャッター保持部１９１をＺ方向に貫通する貫通孔により構成されてもよく、当該貫通孔にガラス板等の透光性の光学部材が嵌合されていてもよい。

【0040】

そして、シャッター保持部１９１は、下面（＋Ｚ側の面）がキャリッジ１３の底部１３１の上面１３１Ａに摺動可能に載置されるとともに、両端部が挿通孔１３４に挿通されており、キャリッジ１３をＸ方向に貫通して配置されている。
すなわち、シャッター保持部１９１の−Ｘ側端部（第一端部１９４）は、キャリッジ１３の−Ｘ側の挿通孔１３４を介して−Ｘ側に突出し、シャッター１９２の＋Ｘ側端部（第二端部１９５）は、キャリッジ１３の＋Ｘ側の挿通孔１３４を介して＋Ｘ側に突出する。そして、これらの第一端部１９４及び第二端部１９５はフランジ形状に形成されており、これにより、シャッター保持部１９１のキャリッジ１３からの抜け落ちが抑制される。

【0041】

このような構成のシャッター機構１９では、キャリッジ１３の移動によって、窓部１７６Ａがシャッター１９２により開閉される。具体的には、キャリッジ１３が＋Ｘ側の端部（ＦＵＬＬ位置）に移動されると、第二端部１９５がユニット筐体１０の第二側面部１０３に当接され、図５に示すように、キャリッジ１３に対してシャッター保持部１９１が−Ｘ側に所定の距離ｍだけ移動する（開放位置）。これにより、光通過部１９３が、窓部１７６Ａに対向し、測色部１７に測定位置Ｐからの反射光が入射可能となる。
一方、キャリッジ１３が−Ｘ側の端部（ＨＯＭＥ位置）に移動されると、第一端部１９４がユニット筐体１０の第一側面部１０２に当接され、図６に示すように、キャリッジ１３に対してシャッター保持部１９１が＋Ｘ側に所定の距離ｍだけ移動する（閉塞位置）。これにより、窓部１７６Ａにシャッター１９２が対向し、シャッター１９２により閉塞される。

【0042】

次に、本実施形態のシャッター１９２の具体的な構成について説明する。
図７は、シャッター１９２が閉塞位置に移動された際の光学モジュール１００のシャッター１９２近傍の概略構成を示す断面図である。
シャッター１９２は、図７に示すように、基台１７１に対向するシャッター面１９２Ａと、シャッター面１９２Ａの外周縁から−Ｚ側に立ち上がる枠部１９２Ｂとを備える。

【0043】

シャッター面１９２Ａは、プラテン１２２（メディアＭ）と略平行なＸＹ平面に略平行な平面である。シャッター面１９２Ａの位置としては、シャッター保持部１９１の上面（測色部１７に対向する面）と面一であってもよく、シャッター保持部１９１の上面と異なる面であってもよい。
また、シャッター面１９２Ａは、シャッター１９２が閉塞位置に位置する際に、基台１７１の窓部１７６Ａ及び照明窓１７７Ｂに対向して位置する。
このシャッター面１９２Ａには、測色処理における基準値を測定するための白色基準板１９２Ｃが設けられている。本実施形態では、シャッター面１９２Ａの全面に対して白色基準板１９２Ｃが設けられている。また、白色基準板１９２Ｃのうち、測定光軸Ｌと交点を中心とした所定範囲であり、窓部１７６Ａに対向する領域が、測色部１７により測定される基準測定位置Ｑとなる。

【0044】

枠部１９２Ｂは、シャッター面１９２Ａの外周縁に亘って設けられている。ここで、シャッター１９２が閉塞位置に位置する際に、枠部１９２Ｂによって囲われる領域内に窓部１７６Ａ及び照明窓１７７Ｂが位置する。
また、枠部１９２Ｂの−Ｚ側の端面は、基台１７１に接している。よって、シャッター面１９２Ａは、枠部１９２Ｂの突出寸法分だけ、基台１７１から離れた位置に窓部１７６Ａを閉塞する。
上述したように、基台１７１には、複数の凹凸を有する乱反射部１７１Ｂが設けられているが、当該乱反射部１７１Ｂの凸部先端が、基台１７１の基台底面１７１Ａと同一面となる。よって、シャッター１９２の移動時における、乱反射部１７１Ｂの凸部への枠部１９２Ｂの干渉が抑制される。
このような構成では、インクミスト等の異物のシャッター１９２の内部（シャッター面１９２Ａと、枠部１９２Ｂと、基台１７１とに囲われる空間）への侵入が抑制されている。また、シャッター１９２の内部が暗空間となることで、外光の影響を抑制した測定を実施できる。例えば暗電圧の測定等を精度良く行うことができる。
なお、本実施形態では、枠部１９２Ｂが基台１７１に当接する構成を示すが、枠部１９２Ｂと基台１７１との間に所定寸法の隙間を設けてもよい。当該隙間としては、インクミスト等の異物の平均径寸法以下の寸法とすることで、異物の侵入が抑制可能となる。

【0045】

［閉塞位置での白色基準板への導光］
白色基準板１９２Ｃを用いて基準値を測定する場合、測定位置Ｐを測定する際の測定環境と、白色基準板１９２Ｃを測定する際の測定環境を略同じとすることが好ましい。
すなわち、図４に示すようにシャッター１９２が開放位置に位置し、測定位置Ｐに対する測定を実施する場合、光源１７９からの光は、光源１７９の光軸を中心として照明窓１７７Ｂから拡散して出射され、出射光のうち、光軸に沿った一部の光が測定位置Ｐに到達する。したがって、白色基準板１９２Ｃの測定においても、測定位置Ｐの測定時に測定位置Ｐに照射される光の光量と同じ光量を白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑに照射することが好ましい。
しかしながら、シャッター１９２のシャッター面１９２Ａに白色基準板１９２Ｃを配置する構成では、白色基準板１９２Ｃが測定位置Ｐよりも測色部１７側に位置することになる。よって、単に、窓部１７６Ａを閉塞するシャッター１９２に白色基準板１９２Ｃを設ける構成では、白色基準板１９２Ｃに到達する照明光の光量が少なく、白色基準板１９２Ｃの測定精度が低下する。

【0046】

これに対して、本実施形態では、基台１７１の基台底面１７１Ａに設けられた乱反射部１７１Ｂが、本発明における導光手段を構成し、基準測定位置Ｑに照射される光の光量を増大させる。
具体的には、図７に示すように、基台１７１の基台底面１７１Ａには、シャッター１９２が閉塞位置に位置する際に、シャッター面１９２Ａに対向する面に乱反射部１７１Ｂが設けられている。本実施形態では、閉塞位置において、シャッター面１９２Ａは、照明窓１７７Ｂの外側（窓部１７６Ａとは反対側）の領域までを覆う。したがって、乱反射部１７１Ｂは、窓部１７６Ａと照明窓１７７Ｂとの間の基台底面１７１Ａだけではなく、照明窓１７７Ｂの窓部１７６Ａとは反対側の基台底面１７１Ａにも設けられる。
なお、乱反射部１７１Ｂは、測定光軸Ｌを中心とした基準測定位置Ｑに対向する領域以外に設けられていればよく、例えば、乱反射部１７１Ｂが、光源配置部１７７の筒状孔部１７７Ａのうち、シャッター面１９２Ａに対向する位置にも設けられる構成としてもよい。

【0047】

照明窓１７７Ｂから出射されて拡散された光（照明光）は、一部が白色基準板１９２Ｃの窓部１７６Ａに対向する位置（基準測定位置Ｑ）に照射され、残りが基準測定位置Ｑ以外に照射される。ここで、本実施形態では、照明窓１７７Ｂから基準測定位置Ｑに直接照射される光の光量は少ない。しかしながら、白色基準板１９２Ｃは、各波長に対する光の反射率が例えば９９％を超える反射特性を有する。したがって、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑ以外の部分に照射された光は、当該白色基準板１９２Ｃにより反射され、基台１７１側に向かう。この反射光のうち、基台１７１の乱反射部１７１Ｂに到達した光は、当該乱反射部１７１Ｂにより乱反射され、様々な方向に光が拡散される。以上のような白色基準板１９２Ｃでの正反射と乱反射部１７１Ｂでの乱反射とが繰り返されることで、基台１７１と白色基準板１９２Ｃ（シャッター面１９２Ａ）との間で光の光量が均一化され、その結果、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑに均一化された光が照射される。
この場合、例えば、導光手段である乱反射部１７１Ｂが設けられていない場合に比べて、基準測定位置Ｑに到達する照明光の光量が増大する。これにより、測色部１７において、精度良く白色基準板１９２Ｃの測定を行うことができる。

【0048】

［ＣＰＵの機能構成］
図８は、ＣＰＵ１５４の機能構成を示したブロック図である。
ＣＰＵ１５４は、メモリー１５３に記憶された各種プログラムを読み出し実行することで、図８に示すように、走査制御手段１５４Ａ、印刷制御手段１５４Ｂ、測定制御手段１５４Ｃ、及び補正手段１５４Ｄとして機能する。

【0049】

走査制御手段１５４Ａは、供給ユニット１１、搬送ユニット１２、及びキャリッジ移動ユニット１４を駆動させる旨の指令信号をユニット制御回路１５２に出力する。これにより、ユニット制御回路１５２は、供給ユニット１１のロール駆動モーターを駆動させて、メディアＭを搬送ユニット１２に供給させる。また、ユニット制御回路１５２は、搬送ユニット１２の搬送モーターを駆動させて、メディアＭの所定領域をプラテン１２２のキャリッジ１３に対向する位置まで、Ｙ方向に沿って搬送させる。また、ユニット制御回路１５２は、キャリッジ移動ユニット１４のキャリッジモーター１４２を駆動させて、キャリッジ１３をＸ方向に沿って移動させる。

【0050】

また、走査制御手段１５４Ａは、シャッター１９２の位置を変更する際に、キャリッジ移動ユニット１４を駆動させる旨の指令信号をユニット制御回路１５２に出力する。これにより、ユニット制御回路１５２は、シャッター１９２を閉塞位置に移動させる場合、キャリッジ１３をＨｏｍｅに移動させ、開放位置に移動させる場合、キャリッジ１３をＦｕｌｌに移動させる。

【0051】

印刷制御手段１５４Ｂは、印刷制御部に相当し、例えば外部機器３０から入力された印刷データに基づいて、供給ユニット１１、搬送ユニット１２、キャリッジ移動ユニット１４、及び印刷部１６を駆動制御する旨の印刷指令信号をユニット制御回路１５２に出力する。ユニット制御回路１５２は、印刷部１６に印刷制御信号を出力し、ノズルに設けられたピエゾ素子を駆動させてメディアＭに対してインクを吐出させる。

【0052】

測定制御手段１５４Ｃは、測色部１７を駆動する旨の測定指令信号を、ユニット制御回路１５２に出力し、測色部１７に測定処理を実施させて、測定位置Ｐに対する各波長の反射率を取得する。
また、測定制御手段１５４Ｃは、白色基準板１９２Ｃの測定結果を基準値とし、メディアＭに対する測定結果から、メディアＭの各波長の光に対する反射率を測定する。
具体的には、測定制御手段１５４Ｃは、シャッター１９２が閉塞位置に移動され、光源１７９が点灯されている際の測色部１７からの測定結果（各波長の光に対する受光量の測定結果）を基準値Ｗとして、測色部１７から取得する。
また、測定制御手段１５４Ｃは、シャッター１９２が閉塞位置に移動され、光源１７９が消灯されている際の測色部１７からの測定結果を暗電圧値Ｄとして、測色部１７から取得する。
さらに、測定制御手段１５４Ｃは、シャッター１９２が閉塞位置に移動され、光源１７９が消灯されている際の測色部１７からの測定結果を、メディアＭの実測値Ｓとして取得する。
この後、測定制御手段１５４Ｃは、実測値Ｓ、基準値Ｗ、及び暗電圧値Ｄを用いて、メディアＭの測定位置Ｐにおける各波長の反射率ｘを、例えばｘ＝（Ｓ−Ｄ）／Ｗにより算出する。

【0053】

補正手段１５４Ｄは、測色部１７により得られた各波長に対する反射率に基づいて、各種補正処理を実施する。補正処理としては、例えば、濃度むらや色ずれの補正等が挙げられる。

【0054】

［プリンターの動作］
次に、本実施形態のプリンター１の動作の一例として、色ずれの補正処理について、図面に基づいて説明する。
図９は、プリンター１における補正処理の一例を示すフローチャートである。
本実施形態のプリンター１による補正処理は色ずれ、例えば、電源投入時や、補正処理の実行指示を受けた場合に実施される。プリンター１は、メディアＭに対する測定処理等の本測定実施時には、シャッター１９２を開放位置に移動させ、それ以外の場合、例えば待機時や白色基準板１９２Ｃの測定時、画像の印刷処理時等には、シャッター１９２を閉塞位置に移動させる。

【0055】

図９に示す補正処理では、まず、走査制御手段１５４Ａは、キャリッジ１３をＨＯＭＥに移動させ、シャッター１９２を閉塞位置に移動させる（ステップＳ１）。
この後、印刷制御手段１５４Ｂは、色ずれ補正用のパターン画像をメディアＭに印刷する（ステップＳ２）。なお、色ずれ補正用のパターン画像は、例えば、互いに色が異なる複数のカラーパッチがＸ方向及びＹ方向に沿って配置されたカラーチャート等を例示できる。
この際、シャッター１９２が閉塞位置に位置するため、印刷時におけるインクミスト等の異物の測色部１７内への侵入が抑制される。

【0056】

次に、測定制御手段１５４Ｃは、測色部１７の光源１７９を消灯させたまま、受光素子１７４Ａの出力（つまり暗電圧）を検出して暗電圧値を測定する（ステップＳ３）。
この際、受光素子１７４Ａからの出力値が、所定値を超える場合、シャッター１９２によって窓部１７６Ａが閉塞されていない可能性がある。したがって、所定値以上の出力値を検出した場合、走査制御手段１５４Ａは、キャリッジ１３をＨｏｍｅ位置に移動させ、シャッター１９２を閉塞位置に移動させてもよい。これにより、キャリッジ１３の移動時にシャッター１９２が閉塞位置から移動していた場合でも、当該シャッター１９２の移動を検出することができ、シャッター１９２を閉塞位置へ移動させることができる。

【0057】

次に、測定制御手段１５４Ｃは、測色部１７を駆動させて白色基準板１９２Ｃの分光測定を行う（ステップＳ４）。つまり、測定制御手段１５４Ｃは、光源１７９を点灯させて白色基準板１９２Ｃを照明し、当該白色基準板１９２Ｃからの反射光について複数の測定波長について基準値を取得する。
この際、光源１７９を点灯させると、導光手段である乱反射部１７１Ｂにより照明光が拡散され、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑに照射される光の光量が増大する。

【0058】

なお、光源１７９への出力電圧（光源電圧）を適宜調整してもよい。
例えば、シャッター１９２を開放位置に移動させた際に、測定位置Ｐに配置された白色基準板１９２Ｃを測定した第１の基準値を予め測定する。また、シャッター１９２を閉塞位置に移動させた際の白色基準板１９２Ｃの第２の基準値を、光源１７９に対する光源電圧を変化させながら取得する。そして、第１の基準値と第２の基準値との差分が、所定の許容値以下となる光源電圧を取得し、白色基準板１９２Ｃを測定する際の光源１７９への光源電圧としてメモリー１５３に記憶しておく。当該光源電圧の設定は、例えば工場等においてプリンター１の製造時に予め実施されてもよく、ユーザーにより任意のタイミングで実施されてもよい。

【0059】

この後、走査制御手段１５４Ａは、キャリッジ１３をＦｕｌｌに移動させ、シャッター１９２を開放位置に移動させる（ステップＳ５）。
そして、測定制御手段１５４Ｃは、測色部１７を駆動させてパターン画像（各カラーパッチ）に対する分光測定処理を行い、実測値を取得する（ステップＳ６）。
ステップＳ６の分光測定処理が終了したら、走査制御手段１５４Ａは、キャリッジ１３をＨｏｍｅ位置に移動させ、シャッター１９２を閉塞位置に移動させる（ステップＳ７）。

【0060】

次に、測定制御手段１５４Ｃは、得られた基準値、暗電圧値、及び実測値に基づいて、各カラーパッチに対する測色結果（各波長に対する反射率データ）を算出する（ステップＳ８）。
そして、補正手段１５４Ｄは、ステップＳ８により得られた測色結果に基づいて、色ずれの補正処理を行う（ステップＳ９）。例えば、補正手段１５４Ｄは、各カラーパッチに対する測色結果と、各カラーパッチの各波長に対する反射率基準値との差分値を算出する。そして、当該差分値が所定の閾値を超えている場合に、当該差分値に応じた補正値を算出して、メモリー１５３に記憶されている印刷プロファイルデータを更新する。

【0061】

［第一実施形態の作用効果］
本実施形態のプリンター１は、Ｘ方向に移動可能なキャリッジ１３に搭載される測色部１７と、測色部１７の基台１７１に設けられる窓部１７６Ａを閉塞可能なシャッター１９２を備えたシャッター機構１９とを備える。このシャッター１９２は、基台１７１に対向するシャッター面１９２Ａに白色基準板１９２Ｃが設けられており、当該白色基準板１９２Ｃは、シャッター１９２が閉塞位置に移動した際に、測定位置Ｐよりも測色部１７側に配置される。そして、本実施形態では、基台１７１のシャッター面１９２Ａに対向して乱反射部１７１Ｂが設けられており、この乱反射部１７１Ｂによって、光源１７９からの光を乱反射させることで、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑに光源１７９の光を導く。

【0062】

このような構成では、シャッター１９２によって、窓部１７６Ａが閉塞されることで、窓部１７６Ａから測色部１７の内部への異物の侵入を抑制できる。よって、インクミスト等が測色部１７の各部材に付着することによる、測色部１７の劣化を抑制でき、測色部１７の測定精度の低下を抑制できる。また、シャッター１９２に白色基準板１９２Ｃが設けられているので、例えばプラテン１２２等に別途白色基準板１９２Ｃを設ける必要がない。さらに、白色基準板１９２Ｃがシャッター１９２のシャッター面１９２Ａに設けられるので、白色基準板１９２Ｃへの異物の付着をも抑制できる。
そして、本実施形態では、白色基準板１９２Ｃが測定位置Ｐよりも測色部１７側に位置するが、導光手段である乱反射部１７１Ｂにより、光源１７９からの光が乱反射されて、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑに照射される。このため、基準測定位置Ｑに照射される光の光量が増大し、白色基準板１９２Ｃに対して精度の高い測定を実施することができ、高精度な基準値を得ることができる。
したがって、測定制御手段１５４Ｃは、高精度な基準値に基づいて、メディアＭに対する反射率を精度良く算出することができる。

【0063】

本実施形態では、基台１７１の基台底面１７１Ａのうち、シャッター１９２が閉塞位置に移動した際にシャッター１９２に対向する位置に乱反射部１７１Ｂが設けられている。このため、光源１７９からの光を、白色基準板１９２Ｃと、乱反射部１７１Ｂとの間で複数回乱反射させることができ、基準測定位置Ｑに到達させる光の光量を増大させることができる。
また、照明光がシャッター１９２と基台１７１との間で乱反射を繰り返すことで、基準測定位置Ｑに到達させる光の光量が均一化される。よって、例えば、受光素子１７４Ａが複数の画素を有し、測色部１７により分光画像を取得する場合等において、照明ムラの発生を抑制でき、適正な基準値を測定することができる。

【0064】

［第二実施形態］
次に、第二実施形態について説明する。
上記第一実施形態では、本発明の導光手段として、基台１７１に設けられた乱反射部１７１Ｂを例示したが、第二実施形態では、導光手段を構成する部材が、上記第一実施形態と相違する。

【0065】

図１０は、第二実施形態において、シャッター１９２が閉塞位置に移動された際の光学モジュール１００Ａのシャッター１９２近傍の概略構成を示す断面図である。なお、以降の説明にあたり、既に説明した構成については同符号を付し、その説明を省略又は簡略化する。
第二実施形態では、図１０に示すように、基台１７１の基台底面１７１Ａには、乱反射部１７１Ｂが設けられていない。

【0066】

また、第二実施形態では、シャッター１９２は、シャッター面１９２Ａ（白色基準板１９２Ｃ）と枠部１９２Ｂとに囲われるスペース内において、本発明の透光部材である透光板１９６が設けられている。
図１０に示すように、透光板１９６は、基台１７１の窓部１７６Ａ及び照明窓１７７Ｂを覆って設けられている。すなわち、基台１７１の窓部１７６Ａを中心とし、照明窓１７７Ｂの外側（窓部１７６Ａとは反対側）の所定領域の範囲までを覆う。
この透光板１９６は、測色部１７に対向する第一面１９６Ａと、第一面１９６Ａとは反対側の面であって、シャッター面１９２Ａ（白色基準板１９２Ｃ）に対向する第二面１９６Ｂとを備える。そして、この透光板１９６には、第一面１９６Ａにおいて、測定光軸Ｌから見た平面視で基準測定位置Ｑと重なる位置以外の領域に乱反射部１９６Ｃが設けられている。当該乱反射部１９６Ｃは、本発明の導光手段を構成する。
また、透光板１９６の第二面１９６Ｂは、白色基準板１９２Ｃに密着されている。これにより、透光板１９６と白色基準板１９２Ｃとの間の隙間により干渉縞が生じる不都合が抑制される。

【0067】

このような光学モジュール１００Ａでは、光源１７９から出射された光は、照明窓１７７Ｂから透光板１９６に入射される。透光板１９６の照明窓１７７Ｂに対向する第一面１９６Ａには、乱反射部１９６Ｃが設けられているので、光源１７９からの光は、照明窓１７７Ｂから透光板１９６に入射する際に、乱反射部１９６Ｃで散乱され、透光板１９６内に散乱する。透光板１９６に入射された光は、第一実施形態と同様、白色基準板１９２Ｃにて反射され、第一面１９６Ａに設けられた乱反射部１９６Ｃによって乱反射されることで、さらに透光板１９６内で拡散される。以上のような乱反射が繰り返されることで、透光板１９６内において、光源１７９からの光が均一化されて、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑに到達する。
よって、第一実施形態と同様、本実施形態においても、基準測定位置Ｑに照射される光の光量が増大し、白色基準板１９２Ｃに対して精度の高い測定を実施することができ、高精度な基準値を得ることができる。

【0068】

また、透光板１９６が照明窓１７７Ｂを覆って設けられている。
透光板１９６が照明窓１７７Ｂの一部のみを覆っている場合、透光板１９６により覆われていない部分から出射された光が、透光板１９６外に逃げ、基準測定位置Ｑに照射される光の光量が減少する。これに対して、本実施形態では、照明窓１７７Ｂから出射された光のうち、透光板１９６に入射されない光が減少し、基準測定位置Ｑに照射される光の光量を増大させることができる。

【0069】

さらに、透光板１９６の第一面１９６Ａにおいて、照明窓１７７Ｂに対向する位置にも乱反射部１９６Ｃが設けられている。これにより、白色基準板１９２Ｃにて反射された光が、照明窓１７７Ｂに対向する乱反射部１９６Ｃにおいても光が乱反射され、照明窓１７７Ｂから筒状孔部１７７Ａ内に抜ける光の光量を減少できる。

【0070】

［第三実施形態］
上記第一実施形態及び第二実施形態では、本発明の導光手段として、光源１７９からの光を乱反射させることで、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑに導く例を示した。これに対して、第三実施形態では、導光手段が、光源１７９からの光を基準測定位置Ｑに向かって屈折させる点で上記実施形態と相違する。

【0071】

図１１は、第三実施形態において、シャッター１９２が閉塞位置に移動された際の光学モジュール１００Ｂのシャッター１９２近傍の概略構成を示す断面図である。
第三実施形態の光学モジュール１００Ｂでは、シャッター１９２は、シャッター面１９２Ａと白色基準板１９２Ｃと枠部１９２Ｂとに囲われるスペース内において、プリズム１９７が設けられている。
なお、本実施形態では、プリズム１９７により、光源１７９からの光を基準測定位置Ｑに向かって屈折させるため、白色基準板１９２Ｃにおいて反射させる必要がない。よって、本実施形態では、図１１に示すように、白色基準板１９２Ｃは、シャッター面１９２Ａのうち基準測定位置Ｑに対応する位置（窓部１７６Ａに対向する位置）に設けられている。なお、白色基準板１９２Ｃとしては、第一実施形態や第二実施形態と同様に、シャッター面１９２Ａの全体に亘って設けられていてもよい。

【0072】

プリズム１９７は、各照明窓１７７Ｂに対してそれぞれ設けられ、それぞれ、照明窓１７７Ｂを覆って配置されている。また、基準測定位置Ｑ上（窓部１７６Ａに対向する位置）には、プリズム１９７は設けられていない。すなわち、プリズム１９７は、照明窓１７７Ｂに対向して照明窓１７７Ｂを覆う第一面１９７Ａと、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑから窓部１７６Ａの間の測定光軸Ｌに沿った空間に面する第三面１９７Ｂとを備える。

【0073】

図１２は、プリズム１９７内での光源１７９から出射された光の光路を示す概略図である。
これらのプリズム１９７は、図１２に示すように、屈折率が異なる複数の光学層１９７Ｄにより構成されている。このため、図１２に示すように、隣り合う光学層１９７Ｄの界面において屈折率の比に応じた角度で光が屈折する。
これにより、図１１に示すように、照明窓１７７Ｂに対向する第一面１９７Ａに入射された光源１７９からの光は、プリズム１９７内で進行方向が変更され、第三面１９７Ｂから基準測定位置Ｑに向かって、例えば測色規格（JIS Z 8722）に応じた角度（４５°）で出射される。
なお、図１２に示すプリズム１９７は、光源１７９からの光を基準測定位置Ｑに導くための一例であり、これに限定されるものではなく、より多くの光学層１９７Ｄにより屈折方向が制御されていてもよい。また、第三面１９７Ｂがシャッター面１９２Ａに対して垂直となる例を示すが、例えばシャッター面１９２Ａに対して傾斜していてもよい。

【0074】

本実施形態の光学モジュール１００Ｂでは、プリズム１９７によって光源１７９から出射された光が屈折されて、基準測定位置Ｑに導かれる。したがって、上記第一実施形態や第二実施形態と同様に、基準測定位置Ｑに照射される光の光量が増大することで、白色基準板１９２Ｃの測色精度を向上させることができる。
また、基準測定位置Ｑに対して、所望の角度（例えば測色規格に応じた角度）で光を照射することができ、測色部１７により測定位置Ｐの測定を実施する場合と、同じ測定条件で基準測定位置Ｑの測定を実施することができる。

【0075】

［変形例］
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
［変形例１］
例えば、第一実施形態において、基台１７１の基台底面１７１Ａのうちシャッター面１９２Ａに対向する位置に乱反射部１７１Ｂを設ける例を示したが、これに限定されず、例えば、シャッター１９２側にも導光手段である乱反射部を設けてもよい。
この場合、例えば、第三実施形態と同様に、白色基準板１９２Ｃを窓部１７６Ａに対向する領域のみに設け、シャッター面１９２Ａに乱反射部を形成する。或いは、白色基準板１９２Ｃの基準測定位置Ｑ以外の領域に乱反射部を形成してもよい。

【0076】

［変形例２］
また、第二実施形態において、透光板１９６の第一面１９６Ａのみに乱反射部１９６Ｃを設ける構成を例示したが、これに限定されない。
図１３は、変形例２に係る光学モジュール１００Ｃにおいて、シャッター１９２が閉塞位置に移動された際のシャッター１９２近傍の概略構成を示す断面図である。
この光学モジュール１００Ｃでは、第二実施形態と同様に、透光板１９８が設けられている。
なお、図１３に示す光学モジュール１００Ｃでは、透光板１９８及び白色基準板１９２Ｃにより、窓部１７６Ａを閉塞するシャッターが構成されている。このようなシャッターは、例えばシャッター保持部１９１に貫通孔を形成し、当該貫通孔に白色基準板１９２Ｃが固定された透光板１９８を固定（例えば嵌合）することで構成することができる。
また、図１３に示す光学モジュール１００Ｃでは、白色基準板１９２Ｃは、第三実施形態と同様、窓部１７６Ａに対向する位置のみに設けられ、透光板１９８が密着固定されている。
そして、この透光板１９８は、基台１７１に対向する第一面１９８Ａと、第一面１９８Ａとは反対側の第二面１９８Ｂとの双方において、測定光軸Ｌから見た平面視で基準測定位置Ｑと重なる位置以外の領域に、乱反射部１９８Ｃ，１９８Ｄが設けられている。
また、透光板１９８の、第一面１９８Ａ及び第二面１９８Ｂに交差する側面１９８Ｅにも乱反射部を設ける構成などとしてもよい。
このような構成の光学モジュール１００Ｃでは、透光板１９８の第一面１９８Ａ側の乱反射部１９８Ｃと、第二面１９８Ｂ側の乱反射部１９８Ｄとの間で、光源１７９から入射された光が乱反射される。これにより、第二実施形態と同様に、透光板１９８内で光が均一化されて、基準測定位置Ｑに照射される光の光量が増大する。

【0077】

［変形例３］
第二実施形態において、透光板１９６がシャッター面１９２Ａ上に保持される構成を例示し、第三実施形態において、プリズム１９７がシャッター面１９２Ａ上に保持される構成を例示したが、これに限定されない。
例えば、上述した変形例２に示すように、シャッター保持部１９１のシャッター１９２の位置に対して、貫通孔を形成し、当該貫通孔に対して、透光板１９６や、プリズム１９７を固定する構成などとしてもよい。この場合でも、図１３に示すように、白色基準板１９２Ｃや、透光板１９６又はプリズム１９７が窓部１７６Ａを閉塞することで、インクミスト等の異物が測色部１７の内部に侵入する不都合等を抑制できる。

【0078】

［変形例４］
上記各実施形態において、本発明の導光手段が乱反射部１７１Ｂ，１９６Ｃ，１９８Ｃ，１９８Ｄや、プリズム１９７により構成される例を示したが、これに限定されない。例えば、入射光を正反射させる反射ミラー等を用いて光源１７９の光を基準測定位置Ｑに導いてもよく、さらに、これらの乱反射部やプリズム、反射ミラー等を組み合わせることで、光源１７９の光を基準測定位置Ｑに導いてもよい。

【0079】

［変形例５］
上記各実施形態において、基準物として、白色基準板１９２Ｃを例示したが、これに限定されない。例えば、基準物として、シャッター面１９２Ａに塗布された白色塗料等であってもよく、ブロック状の白色基準物が設けられていてもよい。また、基準物の色においても白色に限定されるものではなく、測定を実施する際の基準が設定できればよく、例えば、各波長に対する反射率が既知のものであれば、如何なる色であってもよい。この場合、既知の反射率と測色部１７等の測定装置により測定される測定値とによって、例えば光源の各波長に対する光量等を算出することができる。

【0080】

［変形例６］
第二実施形態において、透光板１９６が照明窓１７７Ｂを覆う構成を例示したが、これに限定されない。例えば、照明窓１７７Ｂの一部が透光板１９６に覆われていない構成としてもよい。この場合、例えば、透光板１９６を用いて基準測定位置Ｑに光を照射した際に、照射光の光量が大きすぎる場合において、光源１７９からの光の一部を透光板１９６に入らないように逃がすことができる。

【0081】

［変形例７］
第三実施形態において、プリズム１９７の第一面１９７Ａが照明窓１７７Ｂを覆う構成を例示したが、例えば、第一面１９７Ａが照明窓１７７Ｂの開口面（基台底面１７１Ａ）に対して傾斜していてもよい。この場合でも、プリズム１９７を構成する各光学層１９７Ｄの各界面の傾斜角が適正に設定されていれば、基準測定位置Ｑに対して光を所望の角度から照射させることができる。

【0082】

［変形例８］
第一実施形態において、シャッター保持部１９１の移動によりシャッター１９２がキャリッジ１３に対してＸ方向に移動可能となる構成を例示したが、これに限定されない。例えば、シャッター１９２がＺ方向に平行な回転軸を中心に回転可能に設けられ、回転軸を中心に回転させることで、閉塞位置と開放位置とに移動可能な構成としてもよい。
また、キャリッジ１３を移動させて、第一端部１９４や第二端部１９５をユニット筐体１０に当接させることで、シャッター１９２を移動させたが、例えばモーター等の駆動源をキャリッジ１３に搭載し、当該駆動源からの駆動力によってシャッター１９２を移動させてもよい。

【0083】

［変形例９］
第一実施形態において、測定部として、分光デバイス１７３Ａ及び受光素子１７４Ａを備えた測色部１７を例示したが、これに限定されない。測定部としては、例えばＲＧＢフィルターと、複数の画素を有する撮像素子とを備える撮像部であってもよい。
また、複数の測定装置を備える構成などとしてもよく、例えば、測色部１７と、上記のような撮像素子を備えた撮像部とをキャリッジ１３に設ける構成としてもよい。この場合、各測定装置（測色部１７及び撮像部）のそれぞれに対応して上記各実施形態で説明したシャッター１９２を設けることが好ましい。

【0084】

［変形例１０］
第一実施形態において、プリンターとして、インクを吐出して画像形成する印刷部１６を備える、所謂、インクジェットプリンターを例示したが、これに限定されず、画像形成材料をメディアＭに転写して画像形成する印刷部を備えるプリンターに、上記各実施形態の構成を適用することができる。このようなプリンターとしては、例えば、画像形成材料としてのインクリボンを加熱溶融させてメディアＭに転写する、所謂、熱転写プリンターや、トナーを用いて潜像画像を現像し、現像された画像をメディアＭに転写する、所謂、電子写真プリンターが挙げられる。このように、インクジェット方式以外の他の方式のプリンターに、上記各実施形態の構成を適用した場合でも、飛散した画像形成材料による光学装置の汚れや劣化を好適に抑制することができる。

【0085】

また、電子機器としてプリンター１を例示したが、これに限定されない。例えば、印刷部１６を備えず、メディアＭの測定のみを実施する測定装置であってもよい。また、例えば工場等において製造された印刷物の品質検査を行う品質検査装置に、本発明の光学モジュールを組み込んでもよく、その他、如何なる電子機器に本発明の光学モジュールを組み込んでもよい。

【0086】

その他、本発明の実施の際の具体的な構造は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造等に適宜変更できる。

【符号の説明】

【0087】

１…プリンター（電子機器）、１０…ユニット筐体、１３…キャリッジ、１５…制御ユニット（制御部）、１７…測色部（測定装置）、１９…シャッター機構、１００、１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｃ…光学モジュール、１７１…基台、１７１Ａ…基台底面、１７１Ｂ…乱反射部、１７３Ａ…分光デバイス（測定部）、１７４Ａ…受光素子（測定部）、１７６…測定光導入部、１７６Ａ…窓部、１７７…光源配置部、１７７Ａ…筒状孔部、１７７Ｂ…照明窓、１７９…光源、１９２…シャッター、１９２Ａ…シャッター面、１９２Ｂ…枠部、１９２Ｃ…白色基準板（基準物）、１９６，１９８…透光板、１９６Ａ，１９８Ａ…第一面、１９６Ｂ，１９８Ｂ…第二面、１９６Ｃ，１９８Ｃ，１９８Ｄ…乱反射部、１９７…プリズム、１９７Ａ…第一面、１９７Ｂ…第三面、１９７Ｄ…光学層、Ｌ…測定光軸、Ｍ…メディア（測定対象）、Ｐ…測定位置、Ｑ…基準測定位置。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】