特許 6953657 校正装置及び校正方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】6953657

(24)【登録日】2021年10月4日

(45)【発行日】2021年10月27日

(54)【発明の名称】校正装置及び校正方法

(51)【国際特許分類】

   G01J 1/02 20060101AFI20211018BHJP

   G01J 1/42 20060101ALI20211018BHJP

【ＦＩ】

   G01J1/02 T

   G01J1/42 K

【請求項の数】5

【全頁数】12

(21)【出願番号】特願2017-175856(P2017-175856)

(22)【出願日】2017年9月13日

(65)【公開番号】特開2019-52886(P2019-52886A)

(43)【公開日】2019年4月4日

【審査請求日】2020年7月31日

(73)【特許権者】

【識別番号】390010054

【氏名又は名称】コイト電工株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100104215

【弁理士】

【氏名又は名称】大森 純一

(74)【代理人】

【識別番号】100196575

【弁理士】

【氏名又は名称】高橋 満

(74)【代理人】

【識別番号】100168181

【弁理士】

【氏名又は名称】中村 哲平

(74)【代理人】

【識別番号】100117330

【弁理士】

【氏名又は名称】折居 章

(74)【代理人】

【識別番号】100160989

【弁理士】

【氏名又は名称】関根 正好

(74)【代理人】

【識別番号】100168745

【弁理士】

【氏名又は名称】金子 彩子

(74)【代理人】

【識別番号】100176131

【弁理士】

【氏名又は名称】金山 慎太郎

(74)【代理人】

【識別番号】100197398

【弁理士】

【氏名又は名称】千葉 絢子

(74)【代理人】

【識別番号】100197619

【弁理士】

【氏名又は名称】白鹿 智久

(72)【発明者】

【氏名】小平 恭宏

【審査官】 小野 健二

(56)【参考文献】

【文献】 特開平０５−１４２０４１（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開平０３−１１０４２８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特表２０１５−５１０１２８（ＪＰ，Ａ）

【文献】 特開２０００−２７５０９９（ＪＰ，Ａ）

【文献】 米国特許出願公開第２０１５／０２４１２７４（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】（Int.Cl.，ＤＢ名）

Ｇ０１Ｊ １／００−１１／００

Ｇ０１Ｄ １８／００−２１／０２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

光源と、前記光源の輝度を測定する基準輝度計と、前記光源及び前記基準輝度計を支持する支持部とを有する校正ユニットと、
前記校正ユニットと、校正対象となる輝度計とを収容可能な遮光性の筐体と、
前記基準輝度計及び前記輝度計の出力に基づき、前記基準輝度計の測定値を基準として、前記輝度計を校正する制御部と
を具備する輝度計の校正装置。

【請求項2】

請求項１に記載の輝度計の校正装置であって、
前記筐体は、前記校正ユニットと連結可能に構成される
輝度計の校正装置。

【請求項3】

請求項１又は２に記載の輝度計の校正装置であって、
前記光源は、前記基準輝度計及び前記輝度計に対向し、前記基準輝度計及び前記輝度計の光軸に直交する光出射面を有する面光源である
輝度計の校正装置。

【請求項4】

光源と、前記光源の輝度を測定する基準輝度計と、前記光源及び前記基準輝度計を支持する支持部とを有する校正ユニットと、校正対象となる輝度計とが遮光性の筐体で収容される工程と、
前記光源の輝度が測定される工程と、
前記基準輝度計の測定値を基準として、前記輝度計が校正される工程と
を具備する輝度計の校正方法。

【請求項5】

請求項４に記載の輝度計の校正方法であって、
前記校正ユニットと前記輝度計とが前記筐体に収容される工程は、前記光源の光出射面が前記輝度計の光軸と直交するように、前記輝度計を前記校正ユニットに連結された前記筐体で収容する
輝度計の校正方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、例えばトンネルの坑口を含む範囲の輝度を測定する坑口輝度計を校正する校正装置及び校正方法に関する。

【背景技術】

【0002】

一般的に、トンネルには基本照明灯と入口照明灯が取り付けられる。基本照明灯はトンネルの全長に亘ってトンネル内に明るさを確保するために設置された照明灯である。一方、入口照明灯は、運転手が明るい野外から暗いトンネル内に進入した際に、運転手の眼を順応させる照明灯でありトンネルの坑口付近に設置される。

【0003】

入口照明灯は、トンネルの坑口から１５０ｍ離れた位置に設置された坑口輝度計の出力に基づき、照明光の出力レベルが制御される。坑口輝度計は、トンネル外部からトンネルに向かって坑口を含む広い範囲の平均輝度を測定する（例えば特許文献１）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特開平０７−２９４３３０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

坑口輝度計は正確な輝度を測定するために、定期的に校正されることが必要である。しかしながら、従来の校正作業は、現地に設置されている坑口輝度計を取り外し、機器メーカーに送り返す必要がある。このため、坑口輝度計の取り外しや輸送、さらには、代替機を設置しなければならない等、校正に多大な労力と時間を費やさなければならない課題がある。

【0006】

以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、坑口輝度計の校正作業にかかる手間を軽減可能な校正装置及び校正方法を提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記目的を達成するため、本発明の一形態に係る輝度計の校正装置は、校正ユニットと、筐体と、制御部と、を有する。
上記校正ユニットは、光源と、上記光源の輝度を測定する基準輝度計と、上記光源及び上記基準輝度計を支持する支持部とを有する。
上記筐体は、遮光性であり、上記校正ユニットと、校正対象となる輝度計とを収容可能に構成される。
上記制御部は、上記基準輝度計及び上記輝度計の出力に基づき、上記基準輝度計の測定値を基準として、上記輝度計を校正する。

【0008】

この構成によれば、校正装置は遮光性の筐体で、校正ユニットと、校正対象となる輝度計を被覆した状態で、当該輝度計を校正する。これにより、上記輝度計が設置された現地にて、校正作業を完結させることができる。

【0009】

従って、従来の校正作業のように現地に設置されている輝度計を取り外し、機器メーカーに送り返す等の必要がなくなる。よって、本発明によれば、校正対象となる輝度計の校正作業にかかる手間を軽減可能な校正装置を提供することができる。

【0010】

上記筐体は、上記校正ユニットと連結可能に構成されてもよい。
これにより、校正装置の設置が完了すると同時に、校正対象となる輝度計に対する校正ユニットの位置決めが可能となる。従って、輝度計に校正装置を設置する設置時間を短縮することができる。

【0011】

上記光源は、上記基準輝度計及び上記輝度計に対向し、上記基準輝度計及び上記輝度計の光軸に直交する光出射面を有する面光源であってもよい。

【0012】

上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る輝度計の校正方法は、光源と、上記光源の輝度を測定する基準輝度計と、上記光源及び上記基準輝度計とを支持する支持部とを有する校正ユニットと、校正対象となる輝度計とが遮光性の筐体で収容される。
上記光源の輝度が測定される。
上記基準輝度計の測定値を基準として、上記輝度計が校正される。

【0013】

上記校正ユニットと上記輝度計とが上記筐体に収容される工程では、上記光源の光出射面が上記輝度計の光軸と直交するように、上記輝度計を上記校正ユニットに連結された上記筐体で収容してもよい。

【発明の効果】

【0014】

以上のように、本発明によれば、坑口輝度計の校正作業にかかる手間を軽減可能な校正装置及び校正方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0015】

【図1】本発明の校正装置が適用される坑口輝度計が、トンネルの坑口を含む視野範囲内の輝度を測定している状態を示す模式図である。

【図2】上記校正装置の構成例を示す模式図である。

【図3】上記校正装置の平面図である。

【図4】上記校正装置の構成方法を示すフローチャートである。

【図5】上記校正装置を設置する様子を示す模式図である。

【図6】本発明の第２の実施形態に係る校正装置の構成例を示す模式図である。

【図7】上記実施形態での坑口輝度計の校正方法を示すフローチャートである。

【図8】本発明の変形例に係る校正装置の構成例を示す模式図である。

【発明を実施するための形態】

【0016】

以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。本実施形態では、例えば、トンネルの坑口を含む範囲の輝度を測定する坑口輝度計を対象とした校正装置及び校正方法について説明する。

【0017】

＜第１の実施形態＞
図１は本実施形態に係る校正装置１が適用される坑口輝度計Ｌが、トンネルＴの坑口Ｍを含む視野範囲Ｅ内の輝度を測定している状態を示す模式図である。

【0018】

坑口輝度計Ｌは、校正装置１の校正対象となる輝度計であり、特許請求の範囲の「輝度計」に相当する。坑口輝度計Ｌは、図１に示すように、トンネルＴの坑口Ｍから１５０ｍ離れた位置に設置される。坑口輝度計Ｌは、坑口Ｍから１５０ｍ離れた位置からトンネルＴの坑口Ｍを見たときの、坑口Ｍ中央を中心とする２０°の円形視野角の範囲Ｅ内の平均輝度を測定し、測定結果をトンネル照明制御機Ｃに出力する。

【0019】

本実施形態の坑口輝度計Ｌは、予め設定されている濃淡値と輝度値とが対応づけられた輝度変換テーブルに従い、視野範囲Ｅ内の濃淡値を輝度値に変換し、当該輝度値をトンネル照明制御機Ｃに出力する。なお、坑口輝度計Ｌが測定した濃淡値の階調段階は、例えば１２ビット（４０９６段階）である。

【0020】

トンネル照明制御機Ｃは、後述する入口照明灯Ｌ１及び坑口輝度計Ｌと無線又は有線により電気的に接続される。トンネル照明制御機Ｃは、坑口輝度計Ｌの出力結果に基づき、入口照明灯Ｌ１を最適な明るさに制御可能に構成される。

【0021】

本実施形態のトンネルＴは、その内壁に入口照明灯Ｌ１と基本照明灯Ｌ２とが設置される。入口照明灯Ｌ１は、図１に示すように、トンネルＴの坑口Ｍ付近において、基本照明灯Ｌ２の間に複数設置される。入口照明灯Ｌ１は、明るい屋外から暗いトンネルＴ内に進入した運転手の眼を順応させる機能を有する。

【0022】

基本照明灯Ｌ２は、トンネルＴの全長に亘って所定の間隔を空けて複数設置され、トンネルＴ内を照明する。なお、基本照明灯Ｌ２及び入口照明灯Ｌ１の数やレイアウトは図１に示すものに限定されず、実際はより多数の基本照明灯Ｌ２及び入口照明灯Ｌ１がトンネルＴ内に設置される。

【0023】

［校正装置の構成］
図２は、本実施形態に係る校正装置１の構成例を示す模式図である。なお、以下の図においてＸ、Ｙ及びＺ軸方向は相互に直交する３軸方向を示す。

【0024】

本実施形態に係る校正装置１は坑口輝度計Ｌを校正する校正装置であり、坑口輝度計ＬをＺ軸方向から収容する。校正装置１は、図２に示すように、校正ユニット１００と、筐体４０と、制御部５０とを有する。なお、校正装置１の構成は、以下の説明に限定されるものではない。

【0025】

（校正ユニット）
校正ユニット１００は、図２に示すように、光源１０と、基準輝度計２０と、支持部３０とを有する。光源１０は、Ｘ軸方向に照明光を出射可能に構成された面光源である。光源１０は、基準輝度計２０及び坑口輝度計ＬとＸ軸方向に対向し、基準輝度計２０及び坑口輝度計Ｌの光軸に直交する光出射面１０ａを有する。

【0026】

光源１０は、例えば１０ｃｄ／ｍ^２以上１００万ｃｄ／ｍ^２以下の輝度の照明光を出力可能に構成される。光源１０が出射する照明光の色は特に限定されないが、典型的には白色である。

【0027】

本実施形態の光源１０は、複数個のＬＥＤ（Light Emitting Diode）光源からなるアレイ状光源とすることができる。この場合、このアレイ状光源を構成するＬＥＤ光源の種類は、特に限定されず、例えば砲弾タイプや表面実装タイプ（ＳＭＤ）、あるいは、ＣＯＢタイプ等が採用されてもよい。

【0028】

基準輝度計２０は、光源１０からＸ軸方向に所定距離離れた位置に設置され、支持部３０（第１板部３０ａ）の一端に支持される。基準輝度計２０は、光出射面１０ａから出射された照明光の輝度を測定可能に構成される。

【0029】

基準輝度計２０の輝度の測定範囲は、例えば１０ｃｄ／ｍ^２以上１００万ｃｄ／ｍ^２以下であり、坑口輝度計Ｌを校正する上で真値となる測定値（輝度値）を制御部５０に出力可能に構成される。

【0030】

支持部３０は、図２に示すように、第１板部３０ａと第２板部３０ｂとから構成される。第１板部３０ａはＹ軸方向に長手方向を取り、光源１０を支持する。第２板部３０ｂはＸ軸方向に長手方向を取り、一端が第１板部３０ａに接続され、他端が基準輝度計２０を支持する。

【0031】

支持部３０は、第１及び第２板部３０ａ，３０ｂから構成されたＬ字型の板状部材に限定されず、光源１０及び基準輝度計２０を支持可能な構成であれば、校正装置１の仕様及び用途に応じて適宜変更されてもよい。

【0032】

（筐体）
図３は、校正装置１をＺ軸方向から見た平面図である。なお、図３では制御部５０の図示を省略する。筐体４０は、図３に示すように、校正ユニット１００と坑口輝度計Ｌとを収容する箱型の容器である。本実施形態の筐体４０は、図示を省略した連結部を介して校正ユニット１００又は光源１０と連結可能に構成される。

【0033】

筐体４０は、図３に示すように、光源１０とＸ軸方向に対向し、且つ、基準輝度計２０とＹ軸方向に対向する収容空間４１を有する。本実施形態の坑口輝度計Ｌは、筐体４０が有する収容空間４１に収容される。

【0034】

筐体４０は、その内面又は外面が例えば金属材料で被覆されるか、または外面が遮光性成形物で被覆されるか、あるいは、遮光性材料そのもので形成されることにより、外界からの光を遮光する性質を有する。

【0035】

金属材料としては、光を多く反射するものが好ましく、例えばアルミニウム、銀、チタン、クロムなどが挙げられる。ただし、筐体４０の内面は迷光の影響を抑制するために、艶消しの黒色塗装が施されることが望ましい。

【0036】

遮光性成形物としては、例えば、遮光性合成樹脂等が採用される。遮光性合成樹脂としては、例えばポリスチレン、ポリ塩化ビニル又はポリカーボネート等の合成樹脂をベースとし、それに酸化チタン、アルミナ等の白色系塗料やカーボンブラック、あるいは、上記で列挙した金属材料が配合された混合物等が採用される。

【0037】

遮光性材料としては、例えば遮光性成形物と同様に、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル又はポリカーボネート等の合成樹脂をベースとし、それに酸化チタン、アルミナ等の白色系塗料やカーボンブラック、あるいは、上記で列挙した金属材料が配合された混合物等が採用される。

【0038】

（制御部）
制御部５０は、校正ユニット１００及び筐体４０の外部に配置され、光源１０、基準輝度計２０及び坑口輝度計Ｌと無線又は有線により電気的に接続される。制御部５０は、基準輝度計２０及び坑口輝度計Ｌの出力に基づき、基準輝度計２０の測定値を基準として、坑口輝度計Ｌを校正する。

【0039】

制御部５０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等のコンピュータに必要なハードウェアを有する。ＣＰＵが、ＲＯＭやＨＤＤに格納されたプログラムをＲＡＭにロードして実行することにより、光源１０、基準輝度計２０及び坑口輝度計Ｌの動作を制御する。

【0040】

プログラムは、例えば種々の記憶媒体（内部メモリ）を介して制御部５０にインストールされる。あるいは、インターネット等を介してプログラムのインストールが実行されてもよい。本実施形態では、制御部５０として、例えばラップトップＰＣ（Personal Computer）やタブレット端末等が用いられるが、他の任意のコンピュータが用いられてもよい。

【0041】

［校正方法］
図４は、校正装置１が坑口輝度計Ｌを校正する方法を示すフローチャートである。以下、校正装置１の校正方法について、図４を適宜参照しながら説明する。

【0042】

（ステップＳ０１：校正装置設置）
ステップＳ０１では、校正ユニット１００と坑口輝度計Ｌが遮光性の筐体４０に収容される。

【0043】

図５は、校正装置１を設置する様子を示す模式図である。なお、図５では制御部５０の図示を省略する。

【0044】

先ず、校正ユニット１００が連結された筐体４０を、坑口輝度計Ｌに取り付けられた載置板Ｂに載置する。この際、筐体４０に設けられた複数の取付け孔Ｈ１と載置板Ｂに形成された複数の貫通孔Ｈ２とがＺ軸方向にそれぞれ対向する。これにより、坑口輝度計Ｌが筐体の収容空間４１に収容され、光出射面１０ａが坑口輝度計Ｌの光軸と直交する。

【0045】

次に、貫通孔Ｈ２を貫通したネジＳやボルト等が、取付け孔Ｈ１に螺合する。これにより、載置板Ｂに筐体４０が固定されると共に、坑口輝度計Ｌに対して校正ユニット１００が位置決めされる。

【0046】

本実施形態では、上記したような設置方法が採用されることによって、校正装置１の設置が完了すると同時に、坑口輝度計Ｌに対して校正ユニット１００が位置決めされる。これにより、坑口輝度計Ｌに校正装置１を設置する設置時間の短縮化が図られる。

【0047】

なお、ステップＳ０１では、予め校正ユニット１００に連結された筐体４０で坑口輝度計Ｌを収容する方法に限定されず、例えば坑口輝度計Ｌに対して校正ユニット１００を位置決めしてから、校正ユニット１００と坑口輝度計Ｌが筐体４０に収容されてもよい。

【0048】

（ステップＳ０２：輝度測定）
ステップＳ０２では、基準輝度計２０が光源１０から出射された照明光の輝度を測定し、坑口輝度計Ｌが光源１０から出射された照明光の濃淡値を測定する。

【0049】

先ず、光源１０が低レベルから限界値まで出力レベルを上げながら、多段階に亘って照明光を照射する。基準輝度計２０及び坑口輝度計Ｌは、この照明光を受光する。ここで、基準輝度計２０は光源１０の出力レベル毎に応じた輝度値を測定し、これらの輝度値を制御部５０に出力する。一方、抗口輝度計Ｌは光源１０の出力レベルに応じた濃淡値を測定し、これらの濃淡値を制御部５０に出力する。

【0050】

制御部５０は、基準輝度計２０から出力された輝度値と、坑口輝度計Ｌから出力された濃淡値に基づき、光源１０の出力レベル毎に、基準輝度計２０が測定した輝度値と、坑口輝度計Ｌが測定した濃淡値とが対応づけられた第１対応テーブルを作成する。

【0051】

なお、本実施形態の基準輝度計２０は、光源１０の輝度を測定する際に、その輝度値が真値となるように予め校正されているため、上記第１対応テーブルは、光源１０の出力レベル毎に、坑口輝度計Ｌが測定した濃淡値と真値の輝度値とが対応づけられたものとなる。

【0052】

（ステップＳ０３：坑口輝度計の校正）
ステップＳ０３では、制御部５０が基準輝度計２０の測定値を基準として、坑口輝度計Ｌを校正する。具体的には、先のステップＳ０２で作成された第１対応テーブルを坑口輝度計Ｌに適用することで、坑口輝度計Ｌを校正する。

【0053】

より詳細には、第１対応テーブルにおいて、光源１０の出力レベル毎の濃淡値に対応する輝度値が真値の輝度値とずれている場合に、制御部５０が基準輝度計２０から出力された輝度値に基づき補正する。即ち、第１対応テーブルにおける光源１０の出力レベル毎の濃淡値に対応する輝度値を、制御部５０が基準輝度計２０から出力された真値の輝度値となるように補正する。これにより、坑口輝度計Ｌの測定値が真値となるように校正される。

【0054】

［作用］
本実施形態の校正装置１は、遮光性の筐体４０で校正ユニット１００と坑口輝度計Ｌを収容した状態で、坑口輝度計Ｌを校正可能に構成される。これにより、坑口輝度計Ｌが設置された現地にて、校正作業を完結させることができる。

【0055】

即ち、本実施形態の校正装置１を坑口輝度計Ｌに適用させることによって、従来の校正作業のように現地に設置されている坑口輝度計Ｌを取り外し、機器メーカーに送り返す等の必要がなくなる。従って、本発明によれば、坑口輝度計Ｌの校正作業にかかる手間を軽減可能な校正装置１を提供することができる。

【0056】

＜第２の実施形態＞
図６は本実施形態の校正装置２の構成例を示す模式図である。以下、第１の実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その説明は省略する。

【0057】

［校正装置の構成］
本実施形態の校正装置２は、図６に示すように、基準輝度計２０と支持部３０とが省略された構成である点において、第１の実施形態と異なる。これにより、校正装置２を構成する上で部品点数が削減され、校正装置２のハンドリング性が向上する。従って、坑口輝度計Ｌが設置されている現地に校正装置２を運搬する際の運搬性の向上や運搬コストの削減が図られる。

【0058】

［校正方法］
図７は、本実施形態での坑口輝度計Ｌを校正する方法を示すフローチャートである。本実施形態の坑口輝度計Ｌの校正方法は、光源１０が予め既知の輝度の照明光を出射するように校正されてから、光源２０と筐体４０のみを坑口輝度計Ｌが設置された現地に運び、校正するものである。以下、その詳細な校正方法について、図７を適宜参照しながら説明する。

【0059】

（ステップＳ２１：光源校正）
先ず、光源１０が低レベルから限界値まで出力レベルを上げながら、多段階に亘って照明光を照射する。この際、制御部５０により光源２０に流れる電流値が制御される。

【0060】

これにより、光源２０が各電流値に対応した真値の輝度の照明光を出射するように校正され、制御部５０により、光源１０に流れる電流値と真値の輝度値とが対応づけられた第２対応テーブルが作成される。

【0061】

なお、一般にＬＥＤは周囲温度によって発光レベルが変動する。そこで、本実施形態のステップＳ２１では、光源１０を校正する際にＬＥＤのある決められた箇所の温度を測定し、記録しておく。そして、後述のステップＳ２４において、坑口輝度計Ｌの校正時に同じ箇所の温度を測定し、温度差から輝度を補正してもよい。

【0062】

また、本実施形態のステップＳ２１は、校正ユニット１００が筐体４０に収容された状態で実行されてもよく、暗室等の外界からの光が遮断された環境下で実行されてもよい。

【0063】

（ステップＳ２２：校正装置設置）
ステップＳ２２では、光源１０と坑口輝度計Ｌが筐体４０に収容される。この際、典型的には、光出射面１０ａが坑口輝度計Ｌの光軸と直交するように、坑口輝度計ＬをＺ軸方向から、光源１０に連結された筐体４０で覆う。

【0064】

なお、ステップＳ２２では、予め光源１０に連結された筐体４０で坑口輝度計Ｌを収容する方法に限定されず、例えば坑口輝度計Ｌに対して光源１０を位置決めしてから、光源１０と坑口輝度計Ｌとが筐体４０に収容されてもよい。

【0065】

（ステップＳ２３：濃淡値測定）
ステップＳ２３では、坑口輝度計Ｌが、光源１０から出射された照明光の濃淡値を測定する。

【0066】

先ず、制御部５０が第２対応テーブルに基づき、真値の輝度値に対応した電流値が光源１０に流れるように制御することで、光源１０が低レベルから限界値まで出力レベルを上げながら、多段階に亘って真値の輝度の照明光を照射する。坑口輝度計Ｌはこの照明光を受光し、光源１０の出力レベルに応じた濃淡値を測定し、これらの濃淡値を制御部５０に出力する。

【0067】

制御部５０は、予め坑口輝度計Ｌに設定されている上述した輝度変換テーブルに従い、坑口輝度計Ｌから出力された濃淡値と、当該濃淡値に対応する輝度値とが対応づけられた第３対応テーブルを作成する。

【0068】

（ステップＳ２４：坑口輝度計の校正）
ステップＳ２４では、第３対応テーブルにおける光源１０の出力レベル毎の輝度値が真値の輝度値とずれている場合に、制御部５０が第２対応テーブルに基づき、第３対応テーブルの輝度値を補正する。

【0069】

即ち、制御部５０は、第２対応テーブルと第３対応テーブルとを比較し、第３対応テーブルの輝度値が、第２対応テーブルの輝度値となるように補正する。これにより、坑口輝度計Ｌの測定値が真値となるように校正される。

【0070】

＜変形例＞
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく種々変更を加え得ることは勿論である。

【0071】

図８は本発明の変形例に係る校正装置１の構成例を示す模式図である。上記実施形態の校正装置１は、光源１０の光出射面１０ａが基準輝度計２０及び坑口輝度計Ｌの光軸と直交する構成であるが、これに限られない。例えば、校正装置１は図８に示すように、基準輝度計２０及び坑口輝度計Ｌの光軸が、光出射面１０ａに直交する方向に対して所定角度傾斜するように構成されてもよい。

【0072】

また、上記実施形態の校正装置１，２は、光源１０の輝度を測定する輝度計を有する構成であるがこれに限られず、例えば光源１０の光束、光度、照度又は光束発散度等を測定可能な測定機器を有する構成であってもよい。さらに、上記実施形態の基準輝度計２０は、白黒カメラであるがこれに限られず、例えば光源１０の輝度を測定可能な輝度センサ等であってもよい。

【0073】

加えて、以上の実施形態では、校正装置１，２は、トンネルの坑口を含む範囲の輝度を測定する坑口輝度計に適用されるがこれに限られない。校正装置１，２は、他の任意の輝度計に適用されてもよく、その用途は問わない。

【符号の説明】

【0074】

１,２…校正装置
１０…光源
１０ａ…光出射面
２０…基準輝度計
３０…支持部
４０…筐体
４１…収容空間
５０…制御部
１００…校正ユニット
Ｌ…坑口輝度計（輝度計）

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】