特許6955172IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

窒化物半導体発光素子とその製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

特許文献1にも開示されているように、障壁層にn型不純物をドープすると順方向電圧Vfを低くすることができるが発光効率が低下するという課題がある。 そこで、本発明は、順方向電圧Vfが低くかつ発光効率の高い窒化物半導体発光素子とその製造方法を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

以上の目的を達成するために、本発明に係る窒化物半導体発光素子の製造方法は、 基板上にn側窒化物半導体層を成長させるn側窒化物半導体層成長工程と、 前記n側窒化物半導体層上に活性層を成長させる活性層成長工程と、 前記活性層の上にp側窒化物半導体層を成長させるp側窒化物半導体層成長工程と、 を含み、 前記活性層成長工程は、 最も前記n側窒化物半導体層側に位置する井戸層を成・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
【発明の効果】
以上のように構成された本発明に係る窒化物半導体発光素子の製造方法によれば、順方向電圧Vfが低くかつ発光効率の高い窒化物半導体発光素子を製造することができる。 また、以上のように構成された本発明に係る窒化物半導体発光素子によれば、順方向電圧Vfが低くかつ発光効率の高い窒化物半導体発光素子を提供することができる。

この発明についての権利主張の範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】本発明の発光素子の断面図である。

【図2】発光素子の製造方法の工程の流れを示す工程フロー図である。

【図3】図2に示した第1障壁層成長工程における工程の流れを詳細に示す工程フロー図である。

選択図 図1出願人が指定した本件の代表的な図

1 基板   2 下地層   3 n型コンタクト層   4 n側超格子層   5 活性層   5b1 第1障壁層   5b2 第2障壁層   5b11 InGaN障壁層(下部窒化物半導体層)   5b11u 下部領域(第1の窒化物半導体層)   5b11m 中央領域(第2の窒化物半導体層)   5b11t 上部領域(第3の窒化物半導体層)   5b12 GaN障壁層(上部窒化物半導体層)   5w 井戸層   6 第1層   7 第2層   8 p型コンタクト層   10 n側窒化物半導体層   11 n電極   20 p側窒化物半導体層   21 p電極

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